技术特征：
技术总结
本发明公开了一种待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统，其中方法包括：获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像；对该图像进行二值化处理；获取经过二值化处理的第一图像的左边缘点和右边缘点，并根据左边缘点的坐标和右边缘点的坐标，拟合第一直线；将第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点；根据新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线，并根据该曲线获取待测物中的第一屏蔽区域。该方法实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角。
技术研发人员：疏义桂;刘松;张凯;杨逃;汪庆花;李建峰;朱维宁
受保护的技术使用者：合肥美亚光电技术股份有限公司
技术研发日：2016.03.31
技术公布日：2017.10.24