一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法与流程

文档序号:11951359阅读:539来源:国知局

本发明属于杂散电流诊断领域,具体涉及一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法。



背景技术:

目前,在杂散电流检测过程中,使用杂散电流测绘仪记录杂散电流干扰曲线以及干扰源曲线确定干扰源时,传统的方法是通过经验定性的去判断这两个曲线的相似程度,准确度不高,而且无法判断干扰源对杂散电流的贡献程度。杂散电流干扰源不能准确确定,会导致排流效果不佳。目前缺少一种可靠评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法。



技术实现要素:

针对现有技术中存在的上述技术问题,本发明提出了一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法,设计合理,克服了现有技术的不足,具有良好的推广价值。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法,采用杂散电流测绘仪,按照如下步骤进行:

步骤1:通过杂散电流测绘仪对杂散电流干扰和干扰源进行一段时间的连续监测后,分别得到杂散电流干扰的散点序列和干扰源的散点序列;

步骤2:利用非线性回归法、非线性回归的线性变化分别对杂散电流干扰的散点序列和干扰源的散点序列进行拟合,得到杂散电流函数F1(t)和干扰源函数F2(t)两条曲线;

步骤3:分析函数F1(t)和F2(t)的相关性;

步骤4:通过函数F1(t)和F2(t)的相关性,得出杂散电流干扰曲线和干扰源曲线的相关性。

优选地,在步骤3中,具体包括

步骤3.1:定义F1(t)和F2(t)的互相关函数为

步骤3.2:根据步骤3.1中F1(t)和F2(t)的互相关函数,得到互相关系数且

其中,分别为F1(t)和F2(t)的均方差;

步骤3.3:通过互相关系数得出函数F1(t)和F2(t)的相关性;

当时,表征F1(t)和F2(t)微相关;

表征F1(t)和F2(t)实相关;

当时,表征F1(t)和F2(t)显著相关;

当表征F1(t)和F2(t)高度相关。

本发明所带来的有益技术效果:

本发明提出了一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法,与现有技术相比,本发明可以为埋地管道以及埋地金属(如接地装置等)的杂散电流测检测后干扰源的确定,提供一种新思路新方法,可以有效的确定杂散电流干扰源及某干扰源对杂散电流的贡献程度,为杂散电流的治理提供依据,为长输管道和某些埋地装置的安全运行提供了支撑。

附图说明

图1为本发明一种评价杂散电流干扰曲线和干扰源曲线相似度的方法的流程图。

具体实施方式

使用杂散电流测绘仪对某一管道的杂散电流干扰和某一干扰源进行24小时的连续监测后,获得杂散电流干扰一个散点序列和干扰源一个散点序列。用非线性回归法、非线性回归的线性变化拟合得到杂散电流函数F1(t)和干扰源函数F2(t)两条不规则但连续的曲线。分析函数F1(t)和F2(t)的相关性。根据互相关系数可以判断函数F1(t)和F2(t)在任意两时刻t1,t2的相关程度,经过验证得知,当时,表征两函数微相关;表征两函数实相关;当时,表征两函数显著相关;当表征两函数高度相关。使用互相关算法确定互相关性系数,以此来判断杂散电流曲线和干扰源曲线的相似性,同时评价某一干扰源对杂散电流干扰的贡献程度大小。

当然,上述说明并非是对本发明的限制,本发明也并不仅限于上述举例,本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本发明的保护范围。

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