图像采集装置成像元件缺陷校准方法与流程

技术特征：

1.一种图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，包括步骤：

(a)利用带成像元件缺陷的图像采集装置采集均匀白场图像；

(b)获取所述均匀白场图像的像素灰度数据；

(c)基于所述像素灰度数据与设定的阈值检测所述均匀白场图像的缺陷像素和正常像素；

(d)基于所述像素灰度数据得到所述均匀白场图像的所述缺陷像素和所述正常像素的像素灰度偏差比例；以及

(e)利用所述均匀白场图像的所述缺陷像素和所述正常像素的所述像素灰度偏差比例定制所述带成像元件缺陷的图像采集装置的配置文件，其中所述配置文件用于后续利用所述带成像元件缺陷的图像采集装置采集图像时对所采集的图像的各个图像像素的像素灰度数据进行校准。

2.如权利要求1所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，在步骤(c)之前还包括步骤：对所述像素灰度数据进行平滑滤波以得到平滑滤波后的像素灰度数据；相应地，步骤(c)为基于所述平滑滤波后的像素灰度数据与设定的阈值检测所述均匀白场图像的缺陷像素和正常像素。

3.如权利要求2所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，所述平滑滤波为高斯滤波。

4.如权利要求2所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，步骤(c)具体包括：

利用所述平滑滤波后的像素灰度数据的均值构造理想均匀白场数据，并逐像素点计算所述平滑滤波后的像素灰度数据与所述理想均匀白场数据的比值；以及

逐像素点判断所述比值是否超过所述阈值以检测出所述缺陷像素和所述正常像素。

5.如权利要求1所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，步骤(d)具体包括：

将所述正常像素的像素灰度偏差比例设为1；以及

利用公式计算所述缺陷像素的像素灰度偏差比例，其中Aver表示所述像素灰度数据的平均值，origin(i,j)表示坐标位置为(i,j)的图像像素的像素灰度数据，ratio(i,j)表示坐标位置为(i,j)的图像像素的像素灰度偏差比例。

6.如权利要求1所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，还包括步骤：

(f)利用所述带成像元件缺陷的图像采集装置采集LED显示装置的校正用图像，并利用所述配置文件校准所述校正用图像的各个图像像素的像素灰度数据。

7.如权利要求6所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，步骤(f)中利用所述配置文件校准所述校正用图像的各个图像像素的像素灰度数据包括：对所述校正用图像的各个图像像素的像素灰度数据按照下列公式进行校准：

G'(i,j)＝G(i,j)*ratio(i,j)

其中，G(i,j)表示所述校正用图像的坐标位置为(i,j)的图像像素的像素灰度数据，ratio(i,j)表示所述配置文件中对应坐标位置为(i,j)的图像像素的像素灰度偏差比例，G'(i,j)表示所述校正用图像的坐标位置为(i,j)的图像像素校准后的像素灰度数据。

8.如权利要求1所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，所述带成像元件缺陷的图像采集装置为带CCD缺陷的面阵相机。

9.一种图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，包括步骤：

利用带成像元件缺陷的图像采集装置采集均匀白场图像；

获取所述均匀白场图像的像素灰度数据；

基于所述像素灰度数据与设定的阈值检测出所述均匀白场图像的缺陷像素；

利用公式计算所述缺陷像素的像素灰度偏差比例，其中Aver表示所述像素灰度数据的平均值，origin(i,j)表示坐标位置为(i,j)的图像像素的像素灰度数据，ratio(i,j)表示坐标位置为(i,j)的缺陷像素的像素灰度偏差比例；以及

利用所述带成像元件缺陷的图像采集装置采集LED显示装置的校正用图像，并利用所述缺陷像素的像素灰度偏差比例调整所述校正用图像中与所述缺陷像素所在位置坐标相同的图像像素的像素灰度数据。

10.如权利要求9所述的图像采集装置成像元件缺陷校准方法，其特征在于，所述基于所述像素灰度数据与设定的阈值检测出所述均匀白场图像的缺陷像素的步骤具体包括：

利用所述像素灰度数据的均值构造理想均匀白场数据，并逐像素点计算所述像素灰度数据与所述理想均匀白场数据的比值；以及

逐像素点判断所述比值是否超过所述阈值、并将所述比值超过所述阈值的图像像素判定为所述缺陷像素。