减轻电容感测中的干扰的制作方法

本发明总体上涉及电子设备。

背景技术：

包括接近传感器设备（通常也被称为触摸板或触摸传感器设备）在内的输入设备被广泛用在各种各样的电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面区分的感测区，接近传感器设备在该感测区中确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以被用来为电子系统提供接口。例如，接近传感器设备常常被用作较大的计算系统的输入设备（诸如集成在笔记本或桌上型计算机中的或者作为笔记本或桌上型计算机外设的不透明触摸板）。接近传感器设备还常常被用在较小的计算系统中（诸如集成在蜂窝电话中的触摸屏）。

技术实现要素：

总体来说，在一个方面中，一个或多个实施例涉及用于电容感测的处理系统。该处理系统包括用于基于所产生的信号、通过利用传感器电极和发射器电极执行电容感测来获得第一电容传感器数据的功能，该传感器电极被配置成从发射器电极接收所述所产生的信号。该处理系统还包括用于使用传感器电极获得分布（profile）、基于第一分布估计干扰测量结果的功能。该分布沿电容感测的接收器轴，并且干扰测量结果与干扰相对应。通过使用干扰测量结果来减轻干扰在第一电容传感器数据中的影响以获得第二电容传感器数据，并且使用第二电容传感器数据来确定输入对象在感测区中的位置信息。

总体来说，在一个方面中，一个或多个实施例涉及用于减轻电容感测中的干扰的方法。该方法包括：基于所产生的信号、通过利用传感器电极和发射器电极执行电容感测来获得第一电容传感器数据，该传感器电极被配置成从发射器电极接收所述所产生的信号。该方法还包括使用传感器电极获得分布，基于第一分布估计干扰测量结果。该分布沿电容感测的接收器轴，并且干扰测量结果与干扰相对应。通过使用干扰测量结果来减轻干扰在第一电容传感器数据中的影响以获得第二电容传感器数据，并且使用第二电容传感器数据来确定输入对象在感测区中的位置信息。

总体来说，在一个方面中，一个或多个实施例涉及用于电容感测的输入设备。该输入设备包括用于从发射器电极接收所产生的信号的传感器电极。该输入设备还包括处理系统，其包括用于基于所产生的信号、通过利用传感器电极和发射器电极执行电容感测来获得第一电容传感器数据的功能，该传感器电极被配置成从发射器电极接收所述所产生的信号。该处理系统还包括用于使用传感器电极获得分布、基于第一分布估计干扰测量结果的功能。该分布沿电容感测的接收器轴，并且干扰测量结果与干扰相对应。通过使用干扰测量结果来减轻干扰在第一电容传感器数据中的影响以获得第二电容传感器数据，并且使用第二电容传感器数据来确定输入对象在感测区中的位置信息。

根据下面的描述和所附权利要求，本发明的其他方面将是显而易见的。

附图说明

在下文中将结合附图描述本发明的优选示例性实施例，其中相似的命名表示相似的元件。

图1是根据本发明的一个实施例的、包括输入设备的示例系统的框图。

图2是根据本发明的一个或多个实施例的、示例感测区的图示。

图3是根据本发明的一个或多个实施例的流程图。

图4、5和6是根据本发明的一个或多个实施例的示例。

具体实施方式

下面的详细描述本质上仅是示例性的，并且不意在限制本发明或本发明的应用和使用。此外，不意在受前述技术领域、背景技术、发明内容或者下面的具体实施方式中所给出的任何明示或暗示的理论的限制。

在下面本发明实施例的详细描述中，阐述了许多具体细节以便提供对本发明的更彻底理解。然而，对本领域普通技术人员来说显而易见的是可以在没有这些具体细节的情况下实施本发明。在其他实例中，不会详细描述公知特征以避免使本说明书不必要地复杂化。

遍及本申请，序数（例如第一、第二、第三等等）可以被用作一个元素（即本申请中的任何名词）的形容词。序数的使用不是为了暗示或创建元素的任何特定排序，也不是为了将任何元素限制成仅是单个元素，除非被明确公开，诸如通过使用术语“之前”、“之后”、“单个”以及其他这样的术语。相反地，序数的使用是为了区分各元素。举例来说，第一元素不同于第二元素，并且第一元素可以包含多于一个元素并且在元素的排序上在第二元素之后（或之前）。

本发明的各种实施例提供促进提高的可用性的输入设备和方法。特别地，本发明的一个或多个实施例针对使用分布来减轻干扰在电容感测中的影响。在一个或多个实施例中，干扰是与输入对象耦合的干扰。换言之，干扰可位于诸如手指、触控笔或笔的输入对象正触摸的接收器电极上。通过另一示例，干扰可归因于具有共模噪声的、伴有噪声的充电器。在伴有噪声的充电器的示例中，该伴有噪声的充电器可使得手指在电容性测量结果中显得伴有噪声。

一个或多个实施例可通过至少一个发射器电极发射信号并且所产生的信号被第一组传感器电极接收来获得电容传感器数据。沿与第一组传感器电极相同的轴来获得分布。使用该分布，可以估计干扰测量结果并将该干扰测量结果用于减轻干扰在传感器数据中的影响。因此，可以根据经修正的传感器数据来确定输入对象的位置信息。

现转向图，图1是根据本发明的实施例的示例性输入设备（100）的框图。输入设备（100）可以被配置成向电子系统（未示出）提供输入。如在本文档中所使用的那样，术语“电子系统”（或“电子设备”）泛指能够电子地处理信息的任何系统。电子系统的一些非限制性示例包括所有尺寸和形状的个人计算机，诸如桌上型计算机、膝上型计算机、上网本计算机、平板电脑、网络浏览器、电子书阅读器以及个人数字助理（pda）。另外的示例电子系统包括组合输入设备，诸如包括输入设备（100）和独立操纵杆或按键开关的物理键盘。其他的示例电子系统包括诸如数据输入设备（包括远程控制器和鼠标）和数据输出设备（包括显示屏和打印机）之类的外围设备。其他示例包括远程终端、信息亭和视频游戏机（例如视频游戏控制台、便携式游戏设备等等）。其他示例包括通信设备（包括蜂窝电话，诸如智能电话），以及媒体设备（包括录音机、编辑器和诸如电视、机顶盒、音乐播放器、数字照片相框和数字照相机之类的播放器）。另外，电子系统可以是输入设备的主机或从机。

输入设备（100）可以被实施为电子系统的物理部分，或者可以与电子系统物理地分开。此外，输入设备（100）的各部分可以是电子系统的一部分。例如，确定模块的全部或部分可以在电子系统的设备驱动器中实施。视情况而定，输入设备（100）可以使用以下各项中的任何一个或多个来与电子系统的各个部分通信：总线、网络、和其他有线或无线互连。示例包括i2c、spi、ps/2、通用串行总线（usb）、蓝牙、rf和irda。

在图1中，输入设备（100）被示出为接近传感器设备（常常也被称为“触摸板”或“触摸传感器设备”），其被配置成感测由一个或多个输入对象（140）在感测区（120）中提供的输入。示例输入对象包括手指和触控笔，如图1所示。遍及本说明书，使用输入对象的单数形式。尽管使用单数形式，但是在感测区（120）中可以存在多个输入对象。此外，在感测区中的特定输入对象可以随着一个或多个手势的过程改变。为了避免使本说明书不必要地复杂化，使用输入对象的单数形式并且其指示所有上述变化。

感测区（120）包围输入设备（100）上方、周围、之内和/或附近的任何空间，在该感测区中输入设备（100）能够检测用户输入（例如由一个或多个输入对象（140）提供的用户输入）。特定感测区的尺寸、形状和位置可能随着不同实施例变化很大。

在一些实施例中，感测区（120）在一个或多个方向上从输入设备（100）的表面延伸到空间中直到信噪比阻碍足够准确的对象检测为止。输入设备的表面上方的延伸可以被称为上方表面感测区。在各种实施例中，该感测区（120）在特定方向上延伸的距离可能是小于一毫米、几毫米、几厘米或更多的量级，并且可能随着所使用的感测技术的类型和期望的准确度而显著变化。因此，一些实施例感测下面这样的输入：其包括不与输入设备（100）的任何表面的接触、与输入设备（100）的输入表面（例如触摸表面）的接触、与一定量的所施加的力或压力耦合的与输入设备（100）的输入表面的接触、和/或其组合。在各种实施例中，输入表面可能由其中存在传感器电极的外壳的表面、施加在传感器电极或任何外壳上的面板等来提供。在一些实施例中，感测区（120）在被投影到输入设备（100）的输入表面上时具有矩形形状。

输入设备（100）可以利用传感器组件和感测技术的任何组合来检测感测区（120）中的用户输入。输入设备（100）包括用于检测用户输入的一个或多个感测元件。作为若干个非限制性示例，输入设备（100）可以使用电容性、弹性、电阻性、电感性、磁性、声学、超声和/或光学技术。

一些实施方式被配置成提供跨越一维、二维、三维或更高维空间的图像。一些实施方式被配置成提供输入沿特定轴或平面的投影。此外，一些实施方式可以被配置成提供一个或多个图像以及一个或多个投影的组合。

在输入设备（100）的一些电阻性实施方式中，通过一个或多个间隔件元件将柔性且导电的第一层与导电的第二层分开。在操作期间，产生跨多层的一个或多个电压梯度。按压柔性第一层可能使其足够偏转以在各层之间产生电接触，从而产生反映各层之间的（一个或多个）接触点的电压输出。这些电压输出可被用来确定位置信息。

在输入设备（100）的一些电感性实施方式中，一个或多个感测元件拾取谐振线圈或线圈对所感应的环路电流。电流的幅度、相位和频率的一些组合然后可被用来确定位置信息。

在输入设备（100）的一些电容性实施方式中，施加电压或电流以产生电场。附近的输入对象引起电场的变化，并且产生可以被检测为电压、电流等的变化的、电容耦合的可检测到的变化。

一些电容性实施方式利用电容感测元件的阵列或者其他规则或不规则模式来产生电场。在一些电容性实施方式中，独立的感测元件可被一起欧姆短路以形成较大的传感器电极。一些电容性实施方式利用电阻薄膜，其可以是均匀电阻性的。

一些电容性实施方式利用基于传感器电极与输入对象之间的电容耦合的变化的“自电容”（或“绝对电容”）感测方法。在各种实施例中，传感器电极附近的输入对象改变传感器电极附近的电场，由此改变测得的电容耦合。在一种实施方式中，绝对电容感测方法通过关于基准电压（例如系统的地线）调制传感器电极以及通过检测传感器电极与输入对象之间的电容耦合来操作。基准电压可以是基本上恒定的电压或变化的电压，并且在各种实施例中，基准电压可以是系统的地线。使用绝对电容感测方法获取的测量结果可以被称为绝对电容性测量结果。

一些电容性实施方式利用基于各传感器电极之间的电容耦合的变化的“互电容”（或“跨越电容”）感测方法。在各种实施例中，传感器电极附近的输入对象改变各传感器电极之间的电场，由此改变测得的电容耦合。在一种实施方式中，互电容感测方法通过检测一个或多个发射器传感器电极（也称为“发射器电极”或“发射器”）与一个或多个接收器传感器电极（也称为“接收器电极”或“接收器”）之间的电容耦合来操作。可以相对于基准电压（例如系统的地线）来调制发射器传感器电极以发射发射器信号。接收器传感器电极可以保持相对于基准电压基本上不变以促进对所产生的信号的接收。基准电压可以是基本上恒定的电压，并且在各种实施例中，基准电压可以是系统的地线。在一些实施例中，发射器传感器电极可两者都被调制。相对于接收器电极来调制发射器电极以发射发射器信号并促进对所产生的信号的接收。所产生的信号可以包括对应于一个或多个发射器信号和/或对应于环境干扰的一个或多个来源（例如其他电磁信号）的（一个或多个）影响。该（一个或多个）影响可以是发射器信号、由一个或多个输入对象和/或环境干扰引起的发射器信号的变化、或其他这样的影响。传感器电极可以是专用发射器或接收器，或者可以被配置成既发射又接收。使用互电容感测方法获取的测量结果可被称为互电容测量结果。

此外，传感器电极可以具有变化的形状和/或尺寸。传感器电极的相同形状和/或尺寸可在同一组中或者不在同一组中。例如，在一些实施例中，接收器电极可以具有相同的形状和/或尺寸，而在其他实施例中，接收器电极可以具有变化的形状和/或尺寸。

在图1中，处理系统（110）被示出为输入设备（100）的一部分。处理系统（110）被配置成操作输入设备（100）的硬件以检测感测区（120）中的输入。处理系统（110）包括一个或多个集成电路（ic）和/或其他电路部件的部分或全部。例如，用于互电容传感器设备的处理系统可以包括被配置成利用发射器传感器电极发射信号的发射器电路，和/或被配置成利用接收器传感器电极接收信号的接收器电路。此外，用于绝对电容传感器设备的处理系统可以包括被配置成将绝对电容信号驱动到传感器电极上的驱动电路，和/或被配置成利用那些传感器电极接收信号的接收器电路。在一个或多个实施例中，用于组合的互电容传感器设备和绝对电容传感器设备的处理系统可以包括上述互电容电路和绝对电容电路的任何组合。在一些实施例中，处理系统（110）还包括电子可读指令，诸如固件代码、软件代码和/或诸如此类的电子可读指令。在一些实施例中，组成处理系统（110）的部件被设置在一起，诸如在输入设备（100）的（一个或多个）感测元件附近。在其他实施例中，处理系统（110）的部件与靠近输入设备（100）的（一个或多个）感测元件的一个或多个部件以及别处的一个或多个部件物理上分开。例如，输入设备（100）可以是耦合到计算设备的外围设备，并且处理系统（110）可以包括被配置成在计算设备的中央处理单元以及与该中央处理单元分开的一个或多个ic（可能具有相关联的固件）上运行的软件。作为另一示例，输入设备（100）可以物理地集成在移动设备中，并且处理系统（110）可以包括作为移动设备的主处理器的部分的电路和固件。在一些实施例中，处理系统（110）专用于实施输入设备（100）。在其他实施例中，处理系统（110）还执行其他功能，诸如操作显示屏、驱动触觉致动器等等。

处理系统（110）可以被实施为操控处理系统（110）的不同功能的一组模块。每个模块可以包括固件、软件、处理系统（110）的一部分的电路或其组合。在各种实施例中，可以使用模块的不同组合。例如，如图1中所示，处理系统（110）可以包括确定模块（150）和传感器模块（160）。该确定模块（150）可以包括以下功能：确定至少一个输入对象何时在感测区中、确定信噪比、确定输入对象的位置信息、识别手势、基于该手势、手势的组合或其他信息确定要执行的动作、和/或执行其他操作。

传感器模块（160）可以包括驱动感测元件以发射发射器信号和接收所产生的信号的功能。例如，传感器模块（160）可以包括耦合到感测元件的传感器电路。传感器模块（160）可以包括例如发射器模块和接收器模块。发射器模块可以包括耦合到感测元件的发射部分的发射器电路。接收器模块可以包括耦合到感测元件的接收部分的接收器电路并且可以包括接收所产生的信号的功能。

尽管图1仅示出确定模块（150）和传感器模块（160），但是根据本发明的一个或多个实施例可以存在替代或额外模块。这样的替代或额外模块可以对应于与上文讨论的模块中的一个或多个有区别的模块或子模块。示例的替代或额外模块包括用于操作诸如传感器电极和显示屏之类的硬件的硬件操作模块、用于处理诸如传感器信号和位置信息之类的数据的数据处理模块、用于报告信息的报告模块以及被配置成识别诸如模式改变手势之类的手势的识别模块和用于改变操作模式的模式改变模块。此外，各种模块可被组合在独立的集成电路中。例如，第一模块可被至少部分包括在第一集成电路内，并且独立模块可至少部分被包括在第二集成电路内。此外，单个模块的各部分可跨越多个集成电路。在一些实施例中，处理系统作为一个整体可执行各种模块的操作。

在一些实施例中，处理系统（110）直接通过引起一个或多个动作来响应于感测区（120）中的用户输入（或用户输入的缺失）。示例动作包括改变操作模式，以及诸如光标移动、选择、菜单导航及其他功能的图形用户界面（gui）动作。在一些实施例中，处理系统（110）向电子系统的一些部分（例如在电子系统的与处理系统（110）分开的中央处理系统存在的情况下向这样的独立中央处理系统）提供关于输入（或输入的缺失）的信息。在一些实施例中，电子系统的一些部分处理从处理系统（110）接收的信息以作用于用户输入，诸如促进完整范围的动作，包括模式改变动作和gui动作。

例如，在一些实施例中，处理系统（110）操作输入设备（100）的（一个或多个）感测元件以产生指示感测区（120）中的输入（或输入的缺失）的电信号。处理系统（110）可以在产生提供给电子系统的信息的过程中对电信号执行任何适当数量的处理。例如，处理系统（110）可以对从传感器电极获得的模拟电信号进行数字化。作为另一示例，处理系统（110）可以执行滤波或其他信号调节。作为又一示例，处理系统（110）可以去掉或以其他方式计及基线，使得信息反映电信号与基线之间的差别。作为再一示例，处理系统（110）可以确定位置信息、将输入识别为命令、识别手写等等。

如在这里使用的“位置信息”广泛地包括绝对位置、相对位置、速度、加速度及其他类型的空间信息。示例性的“零维”位置信息包括近/远或者接触/无接触的信息。示例性的“一维”位置信息包括沿轴的位置。示例性的“二维”位置信息包括平面中的运动。示例性的“三维”位置信息包括空间中的瞬时或平均速度。其他示例包括空间信息的其他表示。关于一种或多种类型的位置信息的历史数据也可以被确定和/或存储，例如包括随着时间追踪位置、运动或瞬时速度的历史数据。

在一些实施例中，利用通过处理系统（110）或通过一些其他处理系统操作的额外输入部件来实施输入设备（100）。这些额外输入部件可以提供用于感测区（120）中的输入的冗余功能或一些其他功能。图1示出感测区（120）附近可被用来便于使用输入设备（100）促进项目选择的按钮（130）。其他类型的额外输入部件包括滑动条、滚珠、轮盘、开关等等。反过来，在一些实施例中，可以在没有其他输入部件的情况下实施输入设备（100）。

在一些实施例中，输入设备（100）包括触摸屏接口，并且感测区（120）覆盖显示屏的有效面积的至少一部分。例如，输入设备（100）可以包括覆盖显示屏的基本上透明的传感器电极并且为相关联的电子系统提供触摸屏接口。显示屏可以是能够向用户显示视觉界面的任何类型的动态显示器，并且可以包括任何类型的发光二极管（led）、有机led（oled）、阴极射线管（crt）、液晶显示器（lcd）、等离子体、电致发光（el）或其他显示技术。输入设备（100）和显示屏可以共享物理元件。例如，一些实施例可以利用一些用于显示和感测的相同电子部件。在各种实施例中，显示设备的一个或多个显示电极可被配置用于显示更新和输入感测二者。作为另一示例，显示屏可以部分或整体地由处理系统（110）来操作。

应该理解，尽管在全功能装置的背景中描述本发明的许多实施例，但是本发明的各机构能够以各种形式被分配为程序产品（例如软件）。例如，本发明的各机构可以被实施并分配为能够被电子处理器读取的信息承载介质（例如能够被处理系统（110）读取的非瞬时计算机可读和/或可记录/可写信息承载介质）上的软件程序。另外，本发明的实施例等同地适用，不管被用来实施该分配的特定类型的介质是什么。例如，采用计算机可读程序代码形式的、执行本发明的实施例的软件指令可整体或部分地、临时或永久地存储在非瞬时计算机可读存储介质上。非瞬时电子可读介质的示例包括各种盘、物理存储器、存储器、记忆棒、存储卡、存储模块和/或任何其他计算机可读存储介质。电子可读介质可以基于闪存、光、磁、全息或任何其他存储技术。

尽管图1中未示出，但是处理系统、输入设备和/或主机系统可包括：一个或多个计算机处理器、相关联的存储器（例如随机存取存储器（ram）、高速缓冲存储器、闪存等等）、一个或多个存储设备（例如硬盘、诸如压缩光盘（cd）驱动器或数字多功能光盘（dvd）驱动器之类的光学驱动器、闪存记忆棒等等）以及许多其他元件和功能。（一个或多个）计算机处理器可以是用于处理指令的集成电路。例如，（一个或多个）计算机处理器可以是处理器的一个或多个核或微核。此外，一个或多个实施例的一个或多个元件可位于远程位置处并通过网络连接到其他元件。此外，本发明的实施例可在具有若干个节点的分布式系统上实施，其中本发明的每个部分可位于分布式系统内的不同节点上。在本发明的一个实施例中，该节点对应于一个不同的计算设备。可替代地，该节点可对应于具有相关联的物理存储器的计算机处理器。该节点可替代地对应于计算机处理器或具有共享存储器和/或资源的计算机处理器的微核。

尽管图1示出部件的配置，但是在不偏离本发明范围的情况下可使用其他配置。例如，各种部件可组合以产生单个部件。作为另一示例，由单个部件执行的功能可由两个或更多部件来执行。

图2示出根据本发明的一个或多个实施例的感测区（120）的一部分的示例图示。在本发明的一个或多个实施例中，该感测区具有发射器轴（202）和接收器轴（204）。发射器轴（202）具有第一组传感器电极，其包括发射感测信号的功能。接收器轴包括第二组传感器电极，其包括接收感测信号的功能。对于跨越电容感测，当发射器电极或发射器轴上的感测电极发射感测信号时，由接收器轴上的接收器电极或第二组传感器电极来接收所产生的信号。从所产生的信号获得的测量结果可被称为电容传感器数据。所使用的测量结果可以是未加工的测量结果或预处理的测量结果。在一个或多个实施例中，来自使用每个发射器电极来执行互电容感测的电容传感器数据可用于二维电容图像。在二维电容图像中，发射器电极与接收器电极之间的每个交叉（intersection）具有对应的值。

继续看图2，一个或多个实施例可包括执行混合感测的功能。换言之，图1中示出的输入设备可包括从感测区获得一个或多个分布的功能。该分布是沿感测区的特定轴来自感测区的单维的一组值。例如，接收器轴分布是沿感测区（200）的接收器轴（204）获得的分布。值得注意地，接收器轴分布并不会将传感器电极在获取分布期间的功能提及为作为接收器，而是提及为传感器电极在对应的互电容或主动式笔感测中的功能。也就是说，接收器轴分布指的是沿传感器电极获取的分布，在跨越电容感测或主动式笔感测期间，该传感器电极位于接收器轴上。反过来，发射器轴分布指的是沿传感器电极获取的分布，在跨越电容感测期间，该传感器电极位于发射器轴上。因此，接收器轴分布或发射器轴分布中的值集合不是感测区的二维电容图像而是单维的，并且包括针对图2所示的位于发射器轴（202）和接收器轴（204）上的每个影线标记的单个未加工的测量值。

如上文所讨论的，图2仅是一个示例。在不偏离本发明范围的情况下，电极的尺寸、形状、数目和配置可以与图2中示出的示例不同。特别地，尽管图2示出以网格模式配置的电极，但是电极可以以不同的模式来布置。

此外，尽管图2示出用于主动式笔感测的发射器轴，但一个或多个发射器电极可处于主动式笔中。在这样的场景中，沿发射器轴的传感器电极可能不被用于主动式笔感测。在本发明的一个或多个实施例中，接收器传感器电极可从主动式笔中的（一个或多个）发射器电极接收所产生的信号。如这里所使用的，不管是使用主动式笔感测还是使用输入设备上的发射器电极，使用发射器电极和与发射器电极不同的独立接收器电极获得的测量结果在这里都可被指示为电容传感器数据。

图3示出根据本发明的一个或多个实施例的流程图。尽管该流程图中的各个步骤被按顺序给出和描述，但是本领域普通技术人员将会认识到可以不同顺序来执行这些步骤中的一些或全部且它们可被组合或省略，并且可并行执行这些步骤中的一些或所有。此外，可主动或被动地执行这些步骤。例如，根据本发明的一个或多个实施例可使用轮询来执行一些步骤或者一些步骤可被中断驱动。举例来说，根据本发明的一个或多个实施例，确定步骤可能不需要处理器来处理指令，除非接收到意指该状况存在的中断。作为另一示例，根据本发明的一个或多个实施例，可通过执行测试来执行确定步骤，诸如检查数据值以测试该值是否与被测试的状况一致。

在步骤301中，根据本发明的一个或多个实施例，从感测区获得电容传感器数据。在一个或多个实施例中，使用跨越电容感测来获得电容传感器数据。换言之，发射器电极发射感测信号并且由接收器轴上的传感器电极来接收所产生的信号。接收所产生的信号的传感器电极可以同时接收所产生的信号。此外，多个发射器电极可使用一个或多个编码方案或其他这样的技术同时发射感测信号。

在本发明的一个或多个实施例中，执行主动式笔感测。主动式笔感测可以补充或取代跨越电容感测。例如，可以轮替方式（roundrobinfashion）来执行跨越电容感测、主动式笔感测和分布的获取（下面讨论）。在主动式笔感测中，主动式笔中的（一个或多个）发射器电极发射感测信号。由沿接收器轴定位的传感器电极来接收所产生的信号。从所产生的信号来获取测量结果。如果既使用主动式笔感测又使用跨越电容感测，则当根据本发明的一个或多个实施例执行主动式笔感测时沿发射器轴的传感器电极可被禁用或者以其他方式不发射。

不管是执行跨越电容感测还是主动式笔感测，所产生的信号都包括感测信号、感测区中的任何输入对象以及任何干扰的影响。换言之，所产生的信号的测量结果会受到感测区中的输入对象、所发射的感测信号的值以及感测区中的任何干扰（诸如与输入对象耦合的噪声干扰）的影响。所产生的信号可额外包括其他影响，诸如输入设备的接地状态（例如输入设备是处于低接地质量模式（groundmassmode）还是处于高接地质量模式）。所产生的信号可被处理以获得电容传感器数据。例如，可从所产生的信号获取测量结果以生成电容传感器数据。时间和/或空间滤波器可被应用于电容传感器数据。类似地，在进行之前可从电容传感器数据去掉基线。可替代地，如下文所讨论的，可在减轻干扰在电容传感器数据中的影响之后执行前述预处理。

继续图3，在步骤303中，获得针对感测区的发射器轴分布（profiletx）和接收器轴分布（profilerx）。可执行不同类型的感测来获得发射器轴分布。例如，可使用绝对电容感测来获得发射器轴分布。换言之，可利用感测信号来驱动沿发射器轴的传感器电极并且从沿发射器轴的相同传感器电极获取测量结果。类似地，可使用绝对电容感测来获得profilerx。特别地，可利用感测信号来驱动沿接收器轴的传感器电极并且从沿接收器轴的相同传感器电极获取测量结果。可从对应测量结果获得profiletx和profilerx。和电容传感器数据一样，可在profiletx和profilerx上执行滤波和基线移除。

尽管上文是关于绝对电容感测讨论的，但是可使用其他类型的分布。例如，获得分布的一种方法可以是使发射器电极不使用相同的发射器信号同时发射感测信号并且使接收器电极同时接收所产生的信号。在这样的场景中，所产生的信号包括进行发射的每个发射器电极的影响。来自所产生的信号的测量结果可与profilerx相对应。可对profiletx执行类似的操作，除了沿接收器轴的传感器电极使用相同的信号同时发射并且沿发射器轴的传感器电极同时接收以便获得profiletx之外。

在步骤305中，根据本发明的一个或多个实施例，获取电容传感器数据的子集。当电容传感器数据与跨越电容测量结果相对应时，所述子集与所述电容传感器数据的与发射器电极相对应的一部分相对应，或者当电容传感器数据与主动式笔测量结果相对应时，所述子集与单个时间样本相对应。换言之，对于跨越电容测量结果，所获取的子集是从输入设备上的发射感测信号的发射器电极产生的部分。对于主动式笔，根据本发明的一个或多个实施例所获取的子集与主动式笔的一次突发（aburst）相对应。一个或多个实施例单独地（尽管可能同时地）处理与发射器电极相对应的电容传感器数据的每个子集。

在步骤307中，根据本发明的一个或多个实施例，将电容传感器数据的子集与profilerx拟合以获得干扰测量结果。特别地，电容传感器数据中的噪声与profilerx中的噪声成比例。换言之，对于单个发射器电极，一定量的干扰影响存在于输入对象触摸感测区的位置，并且手指耦合噪声在图像中的位置与在profilerx中的相同。另外，干扰在profilerx中的影响与干扰在电容传感器数据中的影响成比例。因此，可将拟合技术应用于profilerx以确定干扰在电容传感器数据的子集中的影响。在一个或多个实施例中，该影响可被反映在profilerx中的每个值因为干扰而增加的噪声幅度或单个量上。因此，干扰测量结果可是噪声幅度增加量。可使用的一种拟合技术是最小二乘法。然而，可在不偏离本发明范围的情况下使用其他拟合技术。

在步骤309中，根据本发明的一个或多个实施例，使用干扰测量结果来减轻干扰在电容图像的子集中的影响以获得电容图像的经修正的子集。例如，使用步骤307中的拟合技术，可获得干扰测量结果的值。在步骤309中，可从电容传感器数据中的每个值去掉该值以获得经修正的电容传感器数据。减轻可以是对干扰影响的校正或去除干扰影响。在其他实施例中，减轻可降低干扰影响。然而，在减轻之后干扰的某些影响可能仍存在。

在步骤311中，根据本发明的一个或多个实施例，可确认电容传感器数据的经修正的子集。换言之，可将验证程序应用于电容传感器数据的经修正的子集。特别地，就拟合技术的本质而言，在干扰测量结果中不仅计及噪声的影响而且还计及输入对象的影响。因此，步骤309中的减轻可无意之中降低输入对象在感测区中的影响。可应用不同技术来基于电容传感器数据是影响主动式笔信号还是影响跨越电容信号来确认电容传感器数据的经修正的子集。

如果电容传感器数据反映主动式笔信号，则可应用下面的验证程序。首先，电容传感器数据的经修正的子集可被用于检测该笔的位置。换言之，该笔的位置可具有在从电容传感器数据的子集中去掉干扰测量结果之后仍存在的峰值。基于该笔的位置，拟合程序可被应用于profilerx。更具体地，在profilerx中，在估计干扰测量结果时拟合程序省略与该笔的位置相对应的值。因此，由于在执行分析时省略了与主动式笔相对应的profilerx的子集，在估计第二干扰测量结果时，诸如最小二乘法拟合的拟合程序不拟合与笔在感测区中的影响相对应的数据。因此，第二干扰测量结果可提供比第一干扰测量结果更准确的对干扰影响的测量结果。可从在步骤301中获得的电容传感器数据去掉第二干扰测量结果以用于步骤315中的处理（下文讨论）。

值得注意地，根据本发明的一个或多个实施例，如果手指不靠近传感器，则主动式笔可以是该噪声进入笔突发的唯一耦合。步骤307和309中描述的技术可能不能正确地识别干扰的影响并且可能完全去除合理的笔信号，导致笔完全不被检测（acompletenon-detectionofthepen）。在一个或多个实施例中，如下执行额外检查。如果profilerx上的总值小于或等于仅对某个笔所预期的阈值量，则对于当前帧的数据可跳过步骤307和309。

继续步骤311，当电容传感器数据与跨越电容测量结果相对应时，可应用不同技术来确认经修正的电容传感器数据。特别地，与在步骤305中指定的发射器电极相对应的经修正的电容传感器数据的子集的值可被求和以获得总值。可将该总值与发射器电极位置处的profiletx值相比较。如果该总值小于profiletx值，则步骤309中的减轻包括减轻输入对象的影响。在这样的场景中，根据本发明的一个或多个实施例，经修正的电容传感器数据的沿发射器电极的值被增加直到总值匹配为止。

在步骤313中，根据本发明的一个或多个实施例作出是否存在另一未被处理的发射器电极的确定。特别地，一个或多个实施例可遍历发射器电极进行迭代。一个或多个实施例可仅遍历输入对象存在于其中的发射器电极进行迭代，而不是遍历所有发射器电极进行迭代。换言之，可在电容传感器数据上执行最初的一遍丛检测（clumpdetection）以识别感测区的具有输入对象的子区域。电容传感器数据的不具有可能的输入对象的任何子集可具有从进一步处理去除的对应发射器电极。如果存在另一未经处理的发射器电极，则该流程可返回步骤305以处理下一个发射器电极。

在步骤315中，经修正的电容传感器数据被处理以获得针对感测区中的任何输入对象的位置信息。例如，可使用分割来执行对经修正的电容图像的处理以识别经修正的电容图像中的丛（clump）、对每个丛执行峰值检测、基于丛的尺寸及其他属性来滤除错误的输入对象（例如手掌或其他大的输入对象）以及执行其他处理。在一个或多个实施例中，对于每个丛，输入对象的位置可与丛中的峰值相对应。因此，该位置可作为位置信息的一部分被添加。诸如丛的尺寸以及电容传感器数据中在该位置处的值的额外信息可被添加到位置信息。

在步骤317中，报告位置信息。例如，输入设备可向主机设备报告位置信息。如果主机设备执行处理系统的全部或部分，则处理系统可向主机操作系统报告位置信息，或者主机操作系统可向应用程序报告位置信息。不管位置信息的发送方和接收方如何，主机设备都可基于位置信息执行动作。例如，主机设备可改变用户界面中的显示的状态、改变主机设备的状态或执行另一动作。

尽管上文就针对与输入设备耦合的干扰或归因于充电器的干扰的校正进行了讨论，但是一个或多个实施例可被应用于低接地质量校正。特别地，类似于归因于充电器或输入对象的干扰，与在profilerx中一样，在电容传感器数据中低接地质量的影响可以是成比例的。因此，当干扰的影响被减轻时，低接地质量的影响也可被减轻。

此外，尽管图3中没有给出，但是一个或多个实施例可减轻干扰在分布（例如profiletx、profilerx）中的影响。特别地，在接收器轴上的干扰与profilerx成比例。可通过识别电容传感器数据的为负的子集来校正profiletx上的噪声。对于任何为负的子集，该为负的子集可变成零。接着通过使用经校正的电容传感器数据，可通过使上文就步骤315讨论的确认方法反转来校正profilerx和profiletx。换言之，可使用步骤315中讨论的关系来校正来自电容传感器数据的profiletx，而不是使用profiletx来校正电容传感器数据。

图4、5和6示出根据本发明的一个或多个实施例的示例。图4、5和6中的示例仅用于示例目的并且不意在限制本发明的范围。

图4示出根据本发明的一个或多个实施例的针对笔的一组示例曲线图。特别地，图4示出沿接收器轴获得的绝对电容分布的abs-cap曲线图（402）的示例。如图4所示，虽然单个笔在感测区中，但abs-cap曲线图（402）中也存在多个峰值（例如404、406）。这些峰值指示存在与输入对象耦合的干扰。

图4中的笔突发曲线图（412）示出在使用主动式笔上的发射器电极执行主动式笔感测时的笔突发的曲线图（414）和如由接收器电极反映的噪声的曲线图（418）。尽管图4将笔和噪声分开，但是处理系统可能不能直接从曲线图将笔和噪声区分开。

经校正的曲线图（422）示出使用上文关于图3描述的技术执行的校正。特别地，对abs-cap曲线图（402）执行拟合分析以获得从笔突发曲线图（412）去掉的干扰测量结果。该结果是图4中经校正的曲线图（422）。如由经校正的曲线图中的为负的测量结果所示出的，过拟合可能已发生，从而使得笔所引起的一些影响被错误地去除。为负的测量结果可被指示为残余噪声。上文参考图3讨论的校正程序可被应用以去除残余噪声。

转向图5，示出根据本发明的一个或多个实施例的针对手指的一组示例曲线图。特别地，图5示出沿接收器轴获得的绝对电容分布的abs-cap曲线图（502）的一个示例。abs-cap曲线图（502）示出针对感测区的具有单个手指的一部分的数据。如图5所示，虽然单个手指在感测区的一部分中，但在abs-cap曲线图（502）中存在多个峰值（例如504、506）。该峰值指示存在与输入对象耦合的干扰。

图5中的跨越突发曲线图（512）示出在使用输入设备上的发射器电极执行电容感测时针对感测区的一部分的触摸位置（514）的曲线图以及如由接收器电极反映的噪声（518）的曲线图。换言之，在图5中，突发对应于电容传感器数据的具有手指且与发射器电极相对应的子集。尽管图5将手指和噪声分开，但是处理系统可能不能直接从曲线图将手指和噪声区分开。

经校正的曲线图（522）示出使用上文关于图3描述的技术执行的校正。特别地，对abs-cap曲线图（502）执行拟合分析以获得从跨越突发曲线图（512）去掉的干扰测量结果。在图5中该结果是经校正的曲线图（522）。如由经校正的曲线图中的为负的测量结果所示出的，过拟合可能已发生，从而使得手指所引起的一些影响被错误地去除。为负的测量结果可被指示为残余噪声。可应用上文参考图3讨论的校正程序以去除残余噪声。

图6示出使用本发明的一个或多个实施例的示例模拟。原始曲线图（602）示出受到手指耦合噪声、显示器噪声和低接地质量影响的分布数据和电容传感器数据。如在电容传感器数据（604）中所示出的，因为低接地质量和噪声，可能不能从其他峰值区分输入对象的位置。通过使用接收器轴分布（606），可估计干扰和低接地质量的测量。可从电容传感器数据（604）去掉所估计的量以获得经校正的曲线图（620）。此外，发射器轴分布（608）可被用来执行一致性检查。

如经校正的曲线图（620）所示，可容易地从经修正的电容传感器数据（624）中的周围测量结果区分输入对象的峰值。通过使用经修正的电容传感器数据，还可校正发射器轴分布（628）和接收器轴分布（624）。因此，一个或多个实施例可被计算设备用来识别输入对象在感测区中的位置。

因此，为了最佳地解释本发明及其具体应用并且由此使得本领域技术人员能够完成和使用本发明，给出这里阐述的实施例和示例。然而，本领域技术人员将会认识到，仅为了说明和示例目的给出了前述描述和示例。所阐述的描述并不意在是穷举的或者将本发明限于所公开的精确形式。

因此，尽管已经关于有限数目的实施例描述了本发明，但是受益于本公开，本领域技术人员将会认识到可以设想出不偏离如这里公开的本发明的范围的其他实施例。因此，本发明的范围应该仅由所附权利要求来限制。