技术总结
本发明公开了一种基于线性学习快速提高芯片验证随机回归覆盖率的方法，包括：对待覆盖功能点相关的逻辑代码进行解析，获取可覆盖所述功能点的激励组合；根据所述逻辑代码的逻辑运算符建立相应的逻辑树；计算每一组激励组合对应所述逻辑树中的路径长度；基于线性原则选取最短路径对应的一组激励组合；根据所选取的激励组合对输入激励进行约束并验证。采用本发明的技术方案，可大大缩短在验证收敛阶段为了提高覆盖率而花费的时间，提高验证人员分析和增加代码覆盖率的效率。
技术研发人员：江源;唐飞;周磊
受保护的技术使用者：盛科网络（苏州）有限公司
文档号码：201611198644
技术研发日：2016.12.22
技术公布日：2017.05.31