本实用新型涉及计算机硬件技术领域，更具体地说，特别涉及一种计算机硬件的掉电检测电路。
背景技术：
计算机在使用时，硬件电路需要外界电源驱动。在实际使用过程中，由于电网停电现象时有发生，在停电时，需要及时检测，以告知控制器进行相应的处理，以免损伤计算机。但是现有技术中的掉电检测电路比较复杂，可靠性低。为此，有必要设计一种结构简单的计算机硬件的掉电检测电路。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、可靠性高的计算机硬件的掉电检测电路。
为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
计算机硬件的掉电检测电路，包括依次连接的分压电路、光耦U1和控制电路，所述控制电路包括电阻R8、电阻R10和三极管Q1，所述分压电路连接外部电源插座X1和光耦U1输入端，所述光耦U1输出端集电极与电源V1、电阻R10连接，所述光耦U1输出端发射极通过电阻R8与三极管Q1基极连接，所述三极管Q1发射极接地，所述三极管Q1集电极与电阻R10另一端连接。
进一步地，所述分压电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和二极管D1，所述电阻R3、二极管D1和电阻R4依次串联后连接在外部电源插座X1的两端，所述电阻R5、电阻R6和电阻R7依次串联后连接在外部电源插座X1的两端；所述光耦U1的输入端阳极连接电阻R3与二极管D1之间，且连接在电阻R5和电阻R6之间；所述光耦U1的输入端阴极连接在电阻R4与二极管D1之间，且连接在电阻R6和电阻R7之间。
进一步地，还包括连接在三极管Q1基极与发射极之间相互并联的电阻R9和电容C2。
进一步地，还包括与光耦U1发射极连接的电容C1，且该电容C1接地。
进一步地，还包括连接在三极管Q1发射极与集电极之间的电容C3。
与现有技术相比，本实用新型的优点在于：本实用新型在使用时，当外部电源插座掉电时，光耦不导通，三极管的集电极输出高电平信号，控制器即可判断断电；当外部电源插座通电时，光耦导通，三极管的集电极输出低电平信号，控制器即可判断通电。本实用新型通过光耦隔离和三极管控制，具有结构简单和可靠性高的优点。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型所述计算机硬件的掉电检测电路的电路图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的优选实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参阅图1所示，本实用新型提供一种计算机硬件的掉电检测电路，包括依次连接的分压电路、光耦U1和控制电路，所述控制电路包括电阻R8、电阻R10和三极管Q1，所述分压电路连接外部电源插座X1和光耦U1输入端，所述光耦U1输出端集电极与电源V1、电阻R10连接，所述光耦U1输出端发射极通过电阻R8与三极管Q1基极连接，所述三极管Q1发射极接地，所述三极管Q1集电极与电阻R10另一端连接。
具体的，所述分压电路包括电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和二极管D1，所述电阻R3、二极管D1和电阻R4依次串联后连接在外部电源插座X1的两端，所述电阻R5、电阻R6和电阻R7依次串联后连接在外部电源插座X1的两端；所述光耦U1的输入端阳极连接电阻R3与二极管D1之间，且连接在电阻R5和电阻R6之间；所述光耦U1的输入端阴极连接在电阻R4与二极管D1之间，且连接在电阻R6和电阻R7之间。
本实用新型还包括连接在三极管Q1基极与发射极之间相互并联的电阻R9和电容C2。
本实用新型还包括与光耦U1发射极连接的电容C1，且该电容C1接地。
本实用新型还包括连接在三极管Q1发射极与集电极之间的电容C3。
本实用新型的工作原理为，当外部电源插座X1通电时，通过分压电路分压，使光耦U1导通，此时电源V1通过电阻R8降压至三极管Q1的基极，电源V1通过电阻R10降压至三极管Q1的集电极，三极管Q1不导通，三极管Q1的集电极输出低电平信号，控制器即可判断通电，当外部电源插座X1断电时，光耦U1导通，三极管Q1的集电极输出高电平信号，控制器即可判断断电。
本实用新型通过光耦隔离和三极管控制，具有结构简单和可靠性高的优点。
虽然结合附图描述了本实用新型的实施方式，但是专利所有者可以在所附权利要求的范围之内做出各种变形或修改，只要不超过本实用新型的权利要求所描述的保护范围，都应当在本实用新型的保护范围之内。