技术特征：
技术总结
本发明公开一种基于硬件白盒测试的电子类产品性能评估方法及装置，该方法步骤包括：S1.获取目标产品处于不同运行阶段的多个产品样本作为测试样本；S2.分别对各测试样本按照预先确定的测试项目执行硬件白盒测试，得到多个测试波形及性能参数数据；S3.根据得到的各测试波形评估目标产品的运行状态，以及从得到的各性能参数数据中识别出所有退化参数，根据识别出的退化参数评估目标产品的寿命；该装置包括测试样本获取模块、硬件白盒测试模块以及产品性能评估模块。本发明能够全面评估产品的性能，且具有实现方法简单、评估精度高等优点。
技术研发人员：匡芬;汪旭;潘宇雄;陈旭鸿;杜绍华;尹超;王磊;易君谓;刘海洋;邓洲洋
受保护的技术使用者：中车株洲电力机车研究所有限公司
技术研发日：2017.06.27
技术公布日：2019.01.04