技术特征：
技术总结
本发明涉及可配置的调试方法和系统。本发明提供了一种用于处理器的调试单元，所述调试单元对来自处理系统的多个组件的调试踪迹数据划分优先级。所述调试单元识别所述踪迹的优先级，并且按照优先级顺序处理所述踪迹以生成所述组件的状态信息。通过对来自所述处理系统的所述多个组件中的一个或多个的踪迹的处理划分优先级，所述调试单元可以提供有关所述组件的运行的目标更明确的状态信息。所述调试单元另外可以独立于所述处理系统的其余部分而被供电，并且可以将调试踪迹数据存储在踪迹控制缓冲区处，所述踪迹控制缓冲区是由所述处理系统在正常操作期间采用的存储器资源的一部分。
技术研发人员：毛晟
受保护的技术使用者：超威半导体(上海)有限公司
技术研发日：2017.07.21
技术公布日：2019.01.29