技术特征：
技术总结
本发明公开了一种利用微分几何理论提取空间曲线曲率特征的方法，包括下述步骤：(1)由二维图像恢复目标曲线的三维空间坐标；(2)建立标架；(3)推算建立标架的点与其邻域点的关系式；(4)求解曲率k。本发明在提取空间曲线曲率特征的过程中，根据曲线在每点都可建立单位正交的右旋Frenet标架，将其邻域内点的坐标表示成由该标架的分量描述的一个表达式，从而提出一种基于微分几何理论提取空间曲线曲率特征的方法。本发明将微分几何理论应用于模式识别领域，通过实验数据及结果分析，该方法在提取曲率特征时简单易行，精确性高，适用于复杂三维空间表面未知参数方程空间曲线的曲率特征提取。
技术研发人员：胡跃明;姚灵芝;杜娟
受保护的技术使用者：华南理工大学
技术研发日：2017.10.16
技术公布日：2018.04.13