技术特征：
技术总结
本发明属于片上系统设计领域，提供了一种实现SoC芯片低压实时检测的系统及其检测方法。其中，中央处理器内部的寄存器组包括多个与VBAT电压的不同电压档位分别一一对应的寄存器，片内电源管理模块的处理器根据各寄存器的值对VBAT电压进行阶梯性监控，产生相应的中断，中央处理器将根据中断类型快速响应进行低电流程。通过多个VBAT电压档位的设置，可以对多个VBAT电压档位同时进行监控、预警，丰富了低压检测功能，拓展了应用范围。
技术研发人员：郑国立
受保护的技术使用者：建荣半导体（深圳）有限公司;建荣集成电路科技（珠海）有限公司
技术研发日：2018.07.18
技术公布日：2018.12.21