技术特征：
技术总结
本发明提供一种CP测试探针最佳路径的算法，包括：步骤一，根据晶圆的芯片状态图将需要测试的芯片用坐标表示；步骤二，用基于合并的层次聚类的改进算法对步骤一标识的芯片进行聚类；步骤三，聚类结束距离跟探针卡的探针分布(N*M)一致，步骤四，将每个类的左上角坐标作为本类的新坐标；步骤五，通过蚁群算法找到通过所有类的最短路径，此最短路径即为探针移动的最佳路径。本发明的CP测试探针最佳路径的算法，大大提高了路径设置的效率，有效减少人力成本和测试时间，提高产能。此算法结合多个动态参数，计算最优路径，有效减少探针卡的接触晶圆次数，从而提高测试效率，并尽可能地降低因为测试带给产品质量的影响。
技术研发人员：陈湘芳
受保护的技术使用者：上海哥瑞利软件有限公司
技术研发日：2018.09.14
技术公布日：2019.01.11