技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于单元中心点位移的反射面天线随机误差分析方法，包括：输入反射面天线几何参数与电参数；计算理想天线远区辐射电场；计算理想天线远区辐射功率；进行反射面三角形网格划分；计算电场相对单元中心点位移的单元一阶、二阶系数；输入表面随机误差均方根值；计算天线远区辐射功率平均值；判断电性能是否满足要求；输出辐射功率方向图；更新表面随机误差均方根值。本发明将单元中心点位移描述为反射面天线随机误差，基于单元中心点位移二阶近似公式，获得了反射面天线表面随机误差对电性能的影响，可指导反射面天线面板加工与制造。
技术研发人员：张树新;张顺吉;段宝岩;叶靖
受保护的技术使用者：西安电子科技大学
技术研发日：2018.10.23
技术公布日：2019.03.15