一种层次DRC验证结果的全实例反标方法与流程

本发明涉及半导体集成电路自动化设计领域，主要涉及后端版图设计、层次drc验证结果以及全版图查错分析。

背景技术：

版图设计和验证是集成电路设计流程中重要的一环，高效准确的验证能够有效的提高集成电路设计的效率，极大降低设计失败的风险。然而随着工艺不断的向着纳米级进展，在超大规模乃至甚大规模集成电路设计中，版图规模急剧膨胀，版图验证每一次所需要的时间越来越长。现阶段，主流版图验证工具通常采用层次化验证、并行等技术来加快版图验证，特定的规则检查只需要一个单元内检查一次，所有引用实例不会重复计算。常规版图验证包括设计规则验证和版图与原理图一致性验证。其中对于设计规则验证，每一次设计规则验证之后，设计工程师需要根据验证工具报告的结果对版图进行查错分析，通常用查错工具高亮出错误位置，进而分析出违反设计规则的图形并相应修改版图，但是层次drc验证结果往往只会输出一个底层单元内部不符合规则的图形，在整个版图上无法清楚知晓所有影响范围。

技术实现要素：

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种层次drc验证结果的全实例反标方法，解决反标层次drc验证结果在版图上只能显示单个或者几个错误图形，影响设计工程师分析判断的问题，通过全实例的反标能够让设计工程师总览全局，避免遗漏错误或修改引出新的错误，从而缩短验证周期。

为实现上述目的，本发明提供的层次drc验证结果的全实例反标方法，包括以下步骤：

1)读取层次drc验证结果底层错误图形；

2)读取原始版图，获得层次结构，计算底层单元对顶层的坐标变换方式；

3)计算验证结果顶层中所有底层实例中对应错误图形；

4)反标所有错误图形。

进一步地，所述步骤2)，是读取具有引用关系的坐标变换方式，递归计算最底层单元对顶层的坐标变换方式。

更进一步地，所述步骤2)进一步包括以下步骤：

21)读取顶层所有引用的实例以及坐标变换方式；

22)对每个读取到的实例，读取下一层实例以及坐标变换方式，并对每一个子实例的坐标变换方式结合上父实例的坐标变换方式；

23)重复步骤22)，直至计算到所有底层单元。

为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述的层次drc验证结果的全实例反标方法的步骤。

本发明在版图设计进行层次drc验证后，能够根据原始版图层次结构和底层单元坐标变换方式以及层次drc验证结果，输出版图所有实例错误图形，进行全实例反标高亮，这样在版图上所有底层单元内部相同错误图形都会显示，不会只高亮一个单元错误图形。

因此，本发明能够反标层次drc验证结果，并且能在版图上高亮所有错误图形，方便了设计工程师对层次drc验证结果的分析，通过全实例的反标能够让设计工程师总览全局，避免遗漏错误或修改引出新的错误，弥补了层次drc验证结果的不足。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本发明的实施例一起，用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为根据本发明的层次drc验证结果的全实例反标方法的流程图；

图2为根据本发明的实施方式的设计单元cella的示意图；

图3为根据本发明的实施方式的顶层单元示意图；

图4为普通反标工具高亮结果的示意图；

图5为根据本发明的实施方式的全实例反标高亮结果示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

图1为根据本发明的层次drc验证结果的全实例反标方法的流程图，下面将参考图1，对本发明的层次drc验证结果的全实例反标方法进行详细描述。

图2为根据本发明的实施方式的设计单元cella的示意图，图3为根据本发明的实施方式的顶层单元示意图。如图3所示，图3的topcell(顶层单元)含有两个设计单元cella的引用。

可以看出，本实例版图和设计规则都做了简化，topcell中的两个设计单元cella的实例，实际应用上层次结构更复杂，坐标变换方式还可以包含旋转和镜面翻转。

假设l1和l2是版图中的所有原始图层，设计规则"checkrule1"检查出所有l2在l1中的图形：

对topcell做层次drc验证后，会得到一个cella中的图形，普通的反标工具会根据图形以及cella对topcell的坐标变换方式，计算出在topcell中的图形并高亮反标，图4为普通反标工具高亮结果的示意图。但是topcell中右边的cella的引用中l2在l1中的图形不会高亮。

本发明的一种层次drc验证结果的全实例反标方法，首先，在步骤101，读取层次drc验证结果底层错误图形。

具体结合本实施例，读取到一个位于cella中左上角的图形rect；

然后，在步骤102，读取原始版图，获得层次结构，计算底层单元对顶层的坐标变换方式。

在该步骤中，读取对应设计的版图，获取从top到所有底层的引用关系和坐标变换方式。

其中，在该步骤中只能读取具有引用关系的坐标变换方式，需要递归计算最底层单元到top(顶层)的坐标变换方式，具体地，包括

1)读取top所有引用的实例以及坐标变换方式；

2)对每个读取到的实例，读取下一层实例以及坐标变换方式，并对每一个子实例的坐标变换方式结合上父实例的坐标变换方式；

3)重复2)，直至计算到所有底层单元。

具体结合本实施例，在本实施例中读取到topcell含有2个对cella的引用，以及两个实例坐标变换方式：trans_1,trans_2，其中trans_2带有180°的旋转。

在步骤103，计算验证结果顶层中所有底层实例中对应错误图形。

在该步骤中，计算在top中所有实例中错误图形。

本实施例中为两个图形：rect*trans_1以及rect*trans_2；

在步骤104，反标所有错误图形。

在该步骤中，在topcell中反标出所有错误图形，图5为根据本发明的实施方式的全实例反标高亮结果示意图。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述的层次drc验证结果的全实例反标方法的步骤，所述层次drc验证结果的全实例反标方法参见前述部分的介绍，不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。