显示功能检测系统的制作方法

本发明涉及一种显示功能检测系统。

背景技术：

计算机装置在出厂前需要对其功能进行检测，而对计算机装置的显示功能进行检测是其中一个重要的检测项目。通常将该检测项目分为外接显卡的检测和集成显卡的检测两部分。

然而，在检测集成显卡时，需要手动将外接显卡从电子装置上拔出，从而使显示器通过集成显卡进行显示。如此，将降低检测效率。

技术实现要素：

有鉴于此，有必要提供一种能提高检测效率的显示功能检测系统。

一种显示功能检测系统，包括同时具有外接显卡及集成显卡的电子装置、与所述外接显卡电连接的第一显示屏及与集成显卡电连接的第二显示屏，所述电子装置包括bios芯片以及屏蔽单元；

所述bios芯片包括第一检测模块、第二检测模块以及重启模块，所述第一检测模块及所述第二检测模块分别用于测试所述外接显卡及所述集成显卡的显示功能，所述重启模块用于在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能后或者所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能后重启所述电子装置；以及

所述屏蔽单元用于在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能时屏蔽所述集成显卡的显示功能，或者在所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能时屏蔽所述外接显卡的显示功能。

进一步地，所述电子装置还包括连接槽及连接器，所述连接槽与所述连接器均电连接于所述bios芯片，所述连接槽还与所述外接显卡电连接，所述连接器还电连接于所述集成显卡及所述第二显示屏之间。

进一步地，当所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能时，所述bios芯片控制所述屏蔽单元输出第一屏蔽信号至所述连接器，以屏蔽所述集成显卡的显示功能；当所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能时，所述bios芯片控制所述屏蔽单元输出第二屏蔽信号至所述连接槽，以屏蔽所述外接显卡的显示功能。

进一步地，所述电子装置还包括输入输出芯片，所述输入输出芯片电连接于所述bios芯片及所述屏蔽单元之间，所述输入输出芯片用于在所述bios芯片的控制下发出控制信号至所述屏蔽单元，所述屏蔽单元根据所述控制信号输出对应的屏蔽信号以屏蔽所述外接显卡或所述集成显卡的显示功能。

进一步地，所述第一屏蔽信号及所述第二屏蔽信号均为高电平信号。

进一步地，所述屏蔽单元包括电子开关及第一电阻，所述连接槽包括第一侦测引脚，所述连接器包括第二侦测引脚，所述电子开关的第一端电连接至所述连接槽的第一侦测引脚，所述电子开关的第一端还与所述输入输出芯片电连接，所述电子开关的第二端电连接至所述连接器的第二侦测引脚，所述电子开关的第二端还通过所述第一电阻电连接至电源，所述电子开关的第三端接地。

进一步地，所述屏蔽单元还包括第二电阻，所述电子开关的第一端还通过所述第二电阻电连接至所述电源。

进一步地，所述电子开关为n沟道增强型场效应管。

进一步地，所述电子开关的第一端、第二端及第三端分别对应于n沟道增强型场效应管的栅极、漏极及源极。

进一步地，所述电源输出3.3伏特的电压。

上述显示功能检测系统通过所述第一检测模块及所述第二检测模块分别测试所述外接显卡及所述集成显卡的显示功能，通过所述重启模块在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能后或者所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能后重启所述电子装置，还通过所述屏蔽单元在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能时屏蔽所述集成显卡的显示功能，或者在所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能时屏蔽所述外接显卡的显示功能。如此，在不需要插拔所述外接显卡的前提下可分别对所述外接显卡及所述集成显卡的显示功能进行检测，从而提高检测效率。

附图说明

图1为本发明的显示功能检测系统的一较佳实施方式的方框图。

图2为图1中的显示功能检测系统的一较佳实施方式的另一方框图。

图3为图2中bios芯片的一较佳实施方式的模块图。

图4为图2中的显示功能检测系统的一较佳实施方式的电路图。

主要元件符号说明

显示功能检测系统100

电子装置10

bios芯片11

第一检测模块111

第二检测模块112

重启模块113

输入输出芯片12

屏蔽单元13

连接槽14

外接显卡15

连接器16

集成显卡17

显示设备20

显示屏22、24

电阻r1、r2

电子开关q1

电源vcc

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下将会结合附图及实施方式，以对本发明中的显示功能检测系统作进一步详细的描述及相关说明。

请参考图1至图3，本发明一较佳实施方式提供一种显示功能检测系统100，所述显示功能检测系统100包括电子装置10及显示设备20。所述显示功能检测系统100用于对所述电子装置10的显示功能进行检测，并将检测结果通过所述显示设备20进行显示。本实施方式中，所述电子装置10可为电脑主板。

所述电子装置10包括基本输入输出系统(basicinputoutputsystem，bios)芯片11、输入输出芯片12、屏蔽单元13、连接槽14、外接显卡15、连接器16及集成显卡17。所述显示设备20包括显示屏22及显示屏24。

所述bios芯片11与所述连接槽14及所述连接器16电连接。所述输入输出芯片12电连接于所述bios芯片11及所述屏蔽单元13之间。所述屏蔽单元13电连接于所述连接槽14及所述连接器16之间。所述外接显卡15插拔连接于所述连接槽14，所述外接显卡15还与所述显示屏22电连接。所述连接器16与所述集成显卡17电连接。所述连接器16还与所述显示屏24插拔连接。

本实施方式中，所述bios芯片11包括第一检测模块111、第二检测模块112及重启模块113。所述第一检测模块111用于检测所述外接显卡15的显示功能。所述第二检测模块112用于检测所述集成显卡17的显示功能。所述重启模块113用于在所述第一检测模块111测试所述外接显卡15的显示功能后或者所述第二检测模块112测试所述集成显卡17的显示功能后重启所述电子装置10。

所述屏蔽单元13用于在所述第一检测模块111测试所述外接显卡15的显示功能时屏蔽所述集成显卡17的显示功能，或者在所述第二检测模块112测试所述集成显卡17的显示功能时屏蔽所述外接显卡15的显示功能。

举例而言，在所述电子装置10开机并进入检测状态时，所述屏蔽单元13屏蔽所述集成显卡17的显示功能，所述第一检测模块111对所述外接显卡15的显示功能进行检测，此时，可通过所述显示屏22所输出的显示信息来判断所述外接显卡15的显示功能是否正常。接着，当所述第一检测模块111对所述外接显卡15的显示功能检测完毕后，所述重启模块113对所述电子装置10进行重启。所述屏蔽单元13屏蔽所述外接显卡15的显示功能，所述第二检测模块112对所述集成显卡17的显示功能进行检测，此时，可通过所述显示屏24所输出的显示信息来判断所述集成显卡17的显示功能是否正常。可以理解，所述第一检测模块111及所述第二检测模块112分别检测所述外接显卡15及所述集成显卡17的检测手段均为习知检测手段，在此不再赘述。

进一步地，所述输入输出芯片12用于在所述第一检测模块111或所述第二检测模块112的控制下发出控制信号至所述屏蔽单元13，所述屏蔽单元13根据所述控制信号对应屏蔽所述外接显卡15或所述集成显卡17的显示功能。

例如，当所述第一检测模块111需要测试所述外接显卡15的显示功能时，所述输入输出芯片12在所述第一检测模块111的控制下发出控制信号至所述屏蔽单元13，以使得所述屏蔽单元13输出第一屏蔽信号至所述连接器16，以屏蔽所述集成显卡17的显示功能。

当所述第二检测模块112需要测试所述集成显卡17的显示功能时，所述输入输出芯片12在所述第二检测模块112的控制下发出控制信号至所述连接槽14，以屏蔽所述外接显卡15的显示功能。

本实施方式中，所述第一屏蔽信号及所述第二屏蔽信号均为高电平信号。

请参考图4，图4为本申请中所述屏蔽单元13的一较佳实施方式的电路连接图。所述屏蔽单元13包括电子开关q1及两个电阻r1-r2。所述连接槽14包括一侦测引脚ido。所述连接器16包括一侦测引脚prsent。

所述连接槽14的侦测引脚ido电连接至所述bios芯片。所述连接器16的侦测引脚prsent电连接至所述bios芯片。所述电子开关q1的第一端电连接至所述连接槽14的侦测引脚ido，所述电子开关q1的第一端还通过所述电阻r1电连接至电源vcc，所述电子开关q1的第一端还与所述输入输出芯片12电连接。所述电子开关q1的第二端电连接至所述连接器16的侦测引脚prsent，所述电子开关q1的第二端还通过所述电阻r2电连接至所述电源vcc。所述电子开关q1的第三端接地。

本实施方式中，当所述连接槽14的侦测引脚ido处于高电平时，所述外接显卡15的显示功能将被屏蔽。当所述连接器16的侦测引脚prsent处于高点平时，所述集成显卡17的显示功能将被屏蔽。

使用时，所述显示屏22及显示屏24均与所述电子装置10正常连接，开机启动所述显示功能检测系统100，所述第一检测模块111将控制所述输入输出芯片12发出一低电平的控制信号至所述电子开关q1的第一端，所述电子开关q1截止，所述电子开关q1的第二端将保持高电平，从而屏蔽所述集成显卡17的显示功能，所述第一检测模块111对所述外接显卡15的显示功能进行检测，并通过所述显示屏22显示所述外接显卡15的检测结果。接着，当所述第一检测模块111对所述外接显卡15检测完毕后，所述重启模块113将对所述电子装置10进行重启。在所述电子装置10重启后，所述第二检测模块112将控制所述输入输出芯片12发出一高电平的控制信号至所述电子开关q1的第一端，所述电子开关q1导通，所述电子开关q1的第二端为低电平，从而屏蔽所述外接显卡15的显示功能，所述第二检测模块112对所述集成显卡17的显示功能进行检测，并通过所述显示屏24显示所述集成显卡17的检测结果。

在一较佳实施方式中，所述电子开关q1可为n沟道增强型场效应管。所述电子开关q1的第一端、第二端及第三端分别对应于n沟道增强型场效应管的栅极、漏极及源极。

在一较佳实施方式中，所述电源vcc可输出3.3伏特的电压。

上述显示功能检测系统100通过所述第一检测模块111及所述第二检测模块112分别测试所述外接显卡15及所述集成显卡17的显示功能，通过所述重启模块113在所述第一检测模块111测试所述外接显卡15的显示功能后或者所述第二检测模块112测试所述集成显卡17的显示功能后重启所述电子装置10，还通过所述屏蔽单元13在所述第一检测模块111测试所述外接显卡15的显示功能时屏蔽所述集成显卡17的显示功能，或者在所述第二检测模块112测试所述集成显卡17的显示功能时屏蔽所述外接显卡15的显示功能。如此，在不需要插拔所述外接显卡15的前提下可分别对所述外接显卡15及所述集成显卡17的显示功能进行检测，从而提高检测效率。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明。

本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

并且，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都将属于本发明保护的范围。