一种HIL自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明涉及诊断测试技术领域，尤其涉及一种hil自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

当下许多控制单元的测试自动化水平偏低，对于目前业内流行的硬件在环测试系统(hardwareintheloop，以下简称hil)是非常有效的、能够最大限度贴近真实使用情况的测试方法。但是目前在进行控制器系统的全功能测试时，关于诊断部分的测试十分繁琐，同时也是十分重要的部分，只有充分、及时有效的识别出系统失效的部分，才能启动冗余设计的程序或者替代值等，从而避免引起不必要的损失。所以对控制单元的诊断功能进行全方位、有效的测试十分有必要。但是相比于整个控制单元的其它功能，诊断测试占用的测试时间非常多，所以如果能够进行自动化测试，将可以节省很多人力物力，大大提供工作效率，同时还可以减少测试时人为疏忽所造成的漏测或测试不全面的问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种hil自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质，以解决现有技术中的诊断测试存在耗时长、效率低的问题。

基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提供了一种hil自动化诊断测试方法，包括：

收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，所述测试用例包括至少一个预设值；

执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试；

获取所述待测系统的测定值，判定所述测定值与所述预设值是否一致；

若一致，则测试结束；

若不一致，则对所述待测系统进行调试，并在调试之后返回所述执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试的步骤。

可选的，还包括：在执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试之后，自动采集并存储测试数据。

其中，在所述测定值与所述预设值不一致时，对所述待测系统进行调试包括：分析原因，对所述待测系统的软件进行修改，并对修改后的所述待测系统进行循环测试，直至所述测定值与所述预设值一致，则测试结束。

所述hil自动化诊断测试方法，应用于hil自动化诊断测试系统，所述自动化诊断测试系统包括上位机、api(applicationprogramminginterface)接口和遵循mcd3(measurementcalibrationdiagnosis3)协议的硬件设备，所述自动执行所述测试用例，包括：上位机通过api接口与遵循mcd3协议的硬件设备连接。

所述自动化诊断测试系统还包括hil机柜，所述对所述待测系统进行测试包括：

所述hil机柜与所述遵循mcd3协议的硬件设备连接，所述hil机柜根据调取出的所述测试用例进行自动化测试。

可选的，所述遵循mcd3协议的硬件设备是canape设备。

本发明实施例的第二个方面，提供了一种hil自动化诊断测试装置，包括：

调取模块，用于在收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，所述测试用例包括至少一个预设值；

执行模块，用于执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试；

获取模块，用于获取所述待测系统的测定值，判定所述测定值与所述预设值是否一致；

调试模块，用于在所述测定值与所述预设值不一致时，对所述待测系统进行调试，并在调试之后返回所述执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试的步骤。

可选的，还包括采集与存储模块，用于在执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试之后，自动采集并存储测试数据。

本发明实施例的第三个方面，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现前述所述的方法。

本发明实施例的第四个方面，提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行前述所述的方法。

从上面所述可以看出，本发明提供的hil自动化诊断测试方法、装置及设备，能够实现对待测系统的自动化诊断测试，提高测试的效率、设备和人员的利用率，并能够避免出现测试时由于人为疏忽所造成的漏测或测试不全面的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例的hil自动化诊断测试方法流程示意图；

图2为本发明实施例的hil自动化诊断测试装置示意图；

图3为本发明实施例的hil自动化诊断测试装置又一示意图；

图4为本发明实施例的hil自动化诊断测试系统示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本发明实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

本发明实施例中公开了一种hil自动化诊断测试方法，结合图1所示，包括：

步骤s101，收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，其中，测试用例中包括至少一个预设值，还包括待测系统控制器的测试结果以及基于测试结果的测试报告。预设值用于对待测系统进行测试，并储存在测试用例中。

待测系统，可以是汽车的电机控制器系统、气压abs系统、整车电器功能系统等，不同的待测系统，采用不同的测试用例进行诊断测试。本发明根据待测系统的标识，能够自动搜索并调取出所需要的测试用例，节约测试时间。

测试用例包括测试用途、测试类型、测试项目名称、测试条件、各项的预期测试参数值等。

步骤s102，执行测试用例，对待测系统进行测试。

在执行测试用例中，先进行测试系统的初始化，使系统中的软件和硬件进行自检，保证软件和硬件在被调用后，各参数能够满足测试的需要，然后根据测试用例执行的条件执行测试。

在测试过程中，本发明能够自动采集并存储测试数据，实时保存测试过程中的数据，同时实时判断测定值与预设值是否一致，从而自动判断测试是否通过。

步骤s103，获取待测系统的测定值。

测定值包括待测系统各个测试项的测定结果。

步骤s104，判定测定值与预设值是否一致。

如果测定值与预设值的结果一致，则进入步骤s105，测试结束。

本发明除了输出各个测试项的测定结果外，同时也输出通过或不通过的结果，即如果测定值与预设值一致，则该待测系统通过测试用例的测试。

如果测定值与预设值的结果不一致，则进入步骤s106，对待测系统进行调试，并在调试之后返回步骤s102，继续执行测试用例，对待测系统进行测试，进行重复性操作，提高测试效率。

其中，对待测系统进行调试包括：分析原因，对待测系统的软件进行修改，并对修改后的待测系统进行循环测试，直至测定值与测试用例中的预设值一致时，则待测系统通过测试，进入步骤s105测试结束。

其中，分析原因的步骤包括：向待测系统发送检测请求命令，待测系统进行响应，并给出对应的响应码；

从原因库中查找响应码所对应的原因，给出待测系统诊断检测未通过的原因，基于该原因，对待测系统进行调试修改。

具体实施中，本发明的hil自动化诊断测试方法，其应用于hil自动化诊断测试系统。

如图4所示，本发明的自动化诊断测试系统包括电脑301、遵循mcd3协议的硬件设备302、hil机柜303和待测系统304。其中上位机储存在电脑301中，上位机通过api接口与遵循mcd3协议的硬件设备连接。

在其中一个具体的实施例中，本发明的hil自动化诊断测试系统包括上位机、api接口、遵循mcd3协议的硬件设备302和hil机柜303，其中，上位机通过api接口与遵循mcd3协议的硬件设备302连接，hil机柜303与遵循mcd3协议的硬件设备302连接，hil机柜根据调取出的已制定好的测试用例执行自动化测试。

其中，遵循mcd3协议的硬件设备302通过api接口能够将上位机中的文件、语言或指令自动解析成hil机柜303能够自动识别并运行的文件、语言或指令，并能够将hil机柜303测试出的结果通过遵循mcd3协议的硬件设备302输送到上位机中。

可以理解的是，本发明中所述的语言可以是c++语言、python语言或其它可实施的编程语言。

在其中一个具体的实施例中，遵循mcd3协议的硬件设备可以是canape设备。canape设备还可以在测试过程中采集测试信号。

本发明提供的hil自动化诊断测试方法，能够对待测系统进行自动化诊断测试，实时获取测试数据及测试是否通过的结果，并能够在对待测系统进行调试后进行循环测试，提高了测试的效率、便捷性以及设备和人员的利用率。

图2是本发明实施例的一种hil自动化诊断测试装置。

请参照图2，hil自动化诊断测试装置200包括：

调取模块201，用于在收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，其中测试用例包括至少一个预设值；

执行模块202，用于执行测试用例，对待测系统进行测试；

获取模块203，用于获取待测系统的测定值，判定测定值与预设值是否一致；

调试模块204，用于在测定值与预设值不一致时，对待测系统进行调试，并在调试之后返回执行所述测试用例，对待测系统进行测试的步骤。

其中调试模块204在调试之前，先进行诊断测试未通过的原因分析，即调试模块204向待测系统发送检测请求命令，待测系统进行响应，并给出对应的响应码；

调试模块204从原因库中查找响应码所对应的原因，给出待测系统诊断检测未通过的原因，基于该原因，对待测系统进行进一步的调试修改。

本实施例的具体实施方式可参照前述相应的实施例，此处不再赘述。

图3是本发明实施例的另一种hil自动化诊断测试装置，相比图2中的实施例，本发明的实施例还包括采集与存储模块205，用于在执行测试用例，对待测系统进行测试之后，自动采集并存储测试数据。其中自动采集并存储的测试数据包括在测试期间的过程数据以及测试的通过或不通过的结果数据。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上任意一实施例所述的hil自动化诊断测试方法。

上述实施例的电子设备用于实现前述实施例中相应的方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如上任意一实施例所述的hil自动化诊断测试方法。

上述实施例的存储介质用于实现前述实施例中相应的方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。

需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-onlymemory，rom)或随机存储记忆体(randomaccessmemory，ram)等。所述计算机程序的实施例，其技术效果与前述任意方法实施例相同或者类似。

根据本公开的方法可以被实现为由cpu执行的计算机程序，该计算机程序可以存储在计算机可读存储介质中。在该计算机程序被cpu执行时，执行本公开的方法中限定的上述功能。

此外，上述方法步骤也可以利用控制器以及用于存储使得控制器实现上述步骤的计算机程序的计算机可读存储介质实现。

此外，应该明白的是，本文所述的计算机可读存储介质(例如，存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储器，或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。作为例子而非限制性的，非易失性存储器可以包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦写可编程rom(eeprom)或快闪存储器。易失性存储器可以包括随机存取存储器(ram)，该ram可以充当外部高速缓存存储器。作为例子而非限制性的，ram可以以多种形式获得，比如同步ram(dram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据速率sdram(ddrsdram)、增强sdram(esdram)、同步链路dram(sldram)以及直接rambusram(drram)。所公开的方面的存储设备意在包括但不限于这些和其它合适类型的存储器。

上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本发明难以理解，在所提供的附图中以框图的形式示出装置，以便避免使本发明难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本发明的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。本发明的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。