输入装置、输入装置的控制方法以及程序与流程

本公开的一个侧面涉及输入装置，输入装置的控制方法以及程序。

背景技术：

探测物体的接近的传感器在各种电子设备中使用于对用户的操作信息等进行输入的装置。在探测物体的接近的传感器中，存在电阻膜方式、光学方式、静电电容方式等各种类型，例如在智能手机等中广泛采用静电电容传感器。

作为一般的静电电容传感器，已知检测物体与检测电极之间的静电电容的自电容型传感器、检测驱动电极与检测电极之间的静电电容的互电容型传感器等。这些传感器都根据静电电容的变化来探测物体的接近。但是，静电电容的变化电会由于物体的接近以外的要因、例如温度、湿度、放置于周围的物体的状态等环境的要因而产生。即，在传感器的静电电容的检测值中，除了因物体的接近而变化的成分以外，还包含因环境的要因而变化的成分。因此，在使用将静电电容的检测值与固定的阈值进行比较的简单的方法的情况下，即使在某温度下能够正常地探测到物体的接近，也会发生在其他温度下无法正常地探测到物体的接近这样的不良状况。

因此，在根据静电电容传感器的检测值来判定物体的接近状态的情况下，一般，使用基于对象物(手指等)未接近时的检测值而设定的基准值(也称为基线值、校准值等)。基准值被视为不会对应于物体的接近而变化的成分，检测值相对于基准值的相对的变化量(差分值)被推定为表示物体的接近状态。通过将差分值与适当的阈值进行比较，来判定有无物体的接近。

在使用基准值的方法中，即使产生了温度等环境的变化，也能通过适当地更新基准值来避免接近状态的误判定。但是，若在对象物正接近的状态下进行基准值的更新，则由于该状态成为判定的基准，因此即使之后对象物接近，也会误判定为处于未接近的状态。因此，在使用基准值的方法中，需要在对象物未接近的适当的状态下进行基准值的更新。

在下述的专利文献1记载的装置中，在全部传感器中的静电电容的各检测值处于固定范围内的状态持续了固定时间以上的情况下，判断为手指并未放置在操作面上，并进行基准值的更新。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：jp特开2017-111507号公报

技术实现要素：

发明想要解决的课题

但是，在上述的专利文献1的方法中，由于将多个传感器的检测值处于固定范围内的状态设为基准值的更新定时，因此在多个传感器的检测值因环境的要因而存在偏差的情况(例如，传感器组的温度的分布因日光的照射等而存在偏差的情况、在一部分传感器的附近放置文具等情况)下，并不进行基准值的更新，容易发生误判定。此外，在传感器是单独的情况下，无法应用该方法。

作为不对多个传感器的检测值进行比较就决定基准值的更新定时的方法，例如，考虑将检测值的变化在固定时间以上持续地小的状态设为更新定时的方法。在该方法中，若在更新定时的决定条件下使检测值的状态的持续时间过度地长，则基准值的更新就会延迟相应的量，容易发生误判定。此外，即使使更新定时的决定条件下的检测值的变化幅度过度地小，也会由于基准值难以被更新而容易发生误判定。但是，预想到在传感器的附近持续放置手的一部分等情况下，检测值的变化也会保持在比较小的状态，因此这样的情况需要使得基准值不被更新。

因此，本公开的一个侧面的目的在于，提供能够抑制在检测对象的物体正接近的状态下进行基准值的更新的输入装置、输入装置的控制方法以及程序。

用于解决课题的手段

在本公开的一个侧面中，提供输入与物体的接近状态相应的信息的输入装置。该输入装置具有：检测部，生成对应于物体的接近的程度而变化的检测信号；判定部，基于在检测部中生成的一系列的检测信号，来判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化；以及基准值更新部，在判定部中判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化的情况下，基于在检测部中生成的检测信号，对表示物体未接近的状态的检测信号的值的基准值进行更新。判定部变更判定基准，以使得检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

发明效果

根据本公开的一个侧面，能够提供能够抑制在检测对象的物体正接近的状态下进行基准值的更新的输入装置、输入装置的控制方法以及程序。

附图说明

图1是表示本实施方式涉及的输入装置的结构的一例的图。

图2是表示检测部的结构的一例的图。

图3是将检测信号的大小与第2时间的关系图解后得到的图。

图4是用于说明在本实施方式涉及的输入装置中从取得检测信号到算出差分值为止的处理的一例的流程图。

图5是用于说明第1实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图6是表示第1时间下的检测信号的最大值与最小值之差的一例的图。

图7是用于说明第1实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。

图8a是表示对第1时间下的检测信号的变化进行近似的回归直线的一例的图。

图8b是表示对第1时间下的检测信号的变化进行近似的回归直线的一例的图。

图9是用于说明第2实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图10是用于说明第2实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。

图11是用于说明第3实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图12是用于说明第3实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一变形例的流程图。

图13是用于说明第4实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图14是用于说明第5实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图15是将检测信号的大小与第1时间的关系图解后得到图。

图16是用于说明第6实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

图17是用于说明第7实施方式涉及的输入装置中的判定部的判定处理的一例的流程图。

具体实施方式

<第1实施方式>

以下，参照附图说明第1实施方式涉及的输入装置。

图1是表示第1实施方式涉及的输入装置的结构的一例的图。图1所示的输入装置具有n个检测部10-1～10-n(以下，有时不加以区别而记为“检测部10”。)、处理部30、存储部40、接口部50。图2是表示检测部10的结构的一例的图。

本实施方式涉及的输入装置是输入与手指、笔等物体的接近程度相应的信息的装置，例如如触摸传感器、触摸垫等这样，输入与操作面中的物体有无接触、接触位置、接近的程度等相关的信息。另外，本说明书中的“接近”的意思是处于附近，并不限定有无接触。

(检测部10)

检测部10-i(i表示1至n的整数。)生成与物体1(手指等)的接近程度相应的检测信号si(以下，有时不加以区别而记为“检测信号s”。)。检测部10按照处理部30的后述的控制部301的控制而反复生成检测信号s。

检测部10例如如图2所示那样包含检测电极101和静电电容检测电路102。检测电极101形成静电电容对应于物体1的接近程度而发生变化的电容器cx。电容器cx是交流地在被视为接地电位的导体的手指等物体1与检测电极101之间形成的寄生的电容成分。物体1越接近检测电极101则电容器cx的静电电容越大。

静电电容检测电路102基于经由检测电极101传送的电容器cx的电荷而生成与电容器cx的静电电容相应的检测信号s。静电电容检测电路102例如如图2所示那样包含运算放大器110、驱动电压供给部111、电容器cf1、模拟-数字转换器(以下，记为“ad转换器”。)112、解调部113、低通滤波器114。

在运算放大器110的反转输入端子与输出端子之间连接电容器cf1。由驱动电压供给部111对运算放大器110的非反转输入端子供给交流的驱动电压vd1。检测电极101与运算放大器110的反转输入端子连接。驱动电压供给部111的驱动电压vd1例如是正弦波的交流电压。由于运算放大器110对输出电压vo1进行控制，以使得反转输入端子的电压和非反转输入端子的电压大致一致，因此在电容器cx产生与驱动电压vd1大致相同的交流电压。在电容器cx产生交流电压时，产生与该交流电压和电容器cx的静电电容成比例的电荷的变化。电容器cx中的电荷的变化与电容器cf1中的电荷的变化大致相等。其结果，在电容器cf1产生的交流电压具有与电容器cx的静电电容大致成比例的振幅。运算放大器110的输出电压vo1成为与在电容器cf1产生的交流电压与驱动电压vd1之和相当的电压。

ad转换器112将运算放大器110的输出电压vo1转换成数字值。例如ad转换器112包含将驱动电压供给部111的驱动电压vd1与运算放大器110的输出电压vo1之差放大的差动放大器，并将该差动放大器的输出信号(与电容器cf1的交流电压相当的信号)转换成数字值。

解调部113从在ad转换器112中转换成数字值的信号中解调与电容器cf1的交流电压的振幅相当的成分，即，解调与电容器cx的静电电容成比例的成分。例如解调部113将在ad转换器112中转换成数字值的信号乘以与驱动电压vd1大致同相的交流信号。低通滤波器114将由解调部113的乘法处理导致的高次谐波成分、由ad转换器112的混叠导致的噪声成分去除。由此，从低通滤波器114输出的检测信号s成为与电容器cx的静电电容大致成比例的信号。

(处理部30)

处理部30是控制输入装置的整体的动作的电路，例如，包含按照保存于存储部40的程序401的命令代码进行处理的计算机、构成为实现特定的功能的专用的硬件(逻辑电路等)。处理部30的处理可以全部在计算机中基于程序401来实现，也可以由专用的硬件来实现其至少一部分。

处理部30从各检测部10分别周期性地取得检测信号s，按每个检测部10算出检测信号s与基准值bv之差。并且，处理部30基于该算出的差进行对各检测部10(各检测电极101)中的物体1的接近状态进行判定的处理。此外，处理部30基于物体1未接近的状态下的检测信号s进行按每个检测部10来算出基准值bv的处理。

处理部30例如如图1所示那样包含控制部301、判定部302、基准值更新部303、差分值算出部304、和位置算出部305。

控制部301控制检测部10-1～10-n中的检测信号s1～sn的生成。例如控制部301分别控制检测部10-1～10-n，以使得以适当的定时来进行驱动电压供给部111中的驱动电压vd1的生成、ad转换器112的模拟-数字转换、解调部113以及低通滤波器114中的数字信号处理。控制部301从各检测部10周期性地取得检测信号s并将其保存于存储部40。

判定部302进行是否在后述的基准值更新部303中进行基准值bv的更新的判定。即，判定部302基于在各检测部10中生成的一系列的检测信号s按每个检测部10判定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

此外，判定部302变更判定基准，以使得检测信号s与基准值bv之差所表示的物体1的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。一般，检测信号s与基准值bv之差所表示的物体1的接近的程度越高，则不是因温度等环境的要因，而是因物体1的接近而产生检测信号s的变化的盖然性就越高。因此，通过进行这样的判定基准的变更，在物体1正接近的盖然性高的情况下，容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。其结果，在物体正接近的状态下，难以在后述的基准值更新部303中对基准值bv进行更新。

例如判定部302反复进行如下处理：算出表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小的第1评价值e1，判定该第1评价值e1是否包含在给定的范围(第1范围)内。在第1评价值e1包含在第1范围中的情况下，检测信号s的变化的大小比较小，未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的可能性比较高。判定部302反复进行该处理，并计测第1评价值e1包含在第1范围中的状态(以下，有时称为“检测信号s的稳定状态”。)的持续时间。并且，判定部302在检测信号s的稳定状态的持续时间成为第2时间t2以上的情况下，判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

判定部302对应于检测信号s与基准值bv之差所表示的物体1的接近的程度来变更第2时间t2。即，检测信号s与基准值bv之差所表示的物体1的接近的程度越高，则判定部302就使第2时间t2越长。通过加长第2时间t2，第1时间t1下的检测信号s的变化就容易从第1范围脱离，因此判定部302就容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

作为表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小的第1评价值e1，判定部302例如算出表示第1时间t1下的检测信号s相对于第1时间t1下检测信号s的平均值的偏差的大小的值。具体来说，判定部302算出与第1时间t1下的检测信号s的方差、标准偏差相应的值来作为第1评价值e1。

在判定部302中判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的情况下，基准值更新部303基于在检测部10中生成的检测信号s来对表示物体1未接近的状态的检测信号s的值的基准值bv进行更新。例如基准值更新部303取得在判定部302中判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化时生成的检测信号s、在判定部302中判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的状态下的一系列的检测信号s的平均值来作为新的基准值bv。

差分值算出部304算出检测信号s与基准值bv之差(s-bv)来作为差分值。如果设物体1的接近程度越大则检测信号s的值越大，那么物体1的接近程度越大则差分值(s-bv)也就越大。

位置算出部305基于在检测部10-1～10-n中生成的检测信号s1～sn来算出手指等物体1所接近的位置。例如，检测部10-1～10-n的各检测电极101在物体1所接近的操作面中排列配置在2个方向(x方向、y方向)上。位置算出部305基于与x方向上排列的检测电极101对应的一组检测信号s的分布和与y方向上排列的检测电极101对应的一组检测信号s的分布，算出操作面中的物体1的接近位置(x方向的坐标以及y方向的坐标)。

(存储部40)

存储部40存储在处理部30中使用于处理的常数数据、在处理的过程中暂时参照的变量数据。此外，存储部40存储由处理部30的计算机执行的程序401。存储部40例如包含dram、sram等易失性存储器、闪速存储器等非易失性存储器、硬盘驱动器等磁存储装置当中的1个以上。

(接口部50)

接口部50是用于在输入装置与其他控制装置(搭载输入装置的电子设备的控制用ic等)之间交换数据的电路。处理部30将存储于存储部40的信息(物体1的坐标的信息等)从接口部50输出到未图示的控制装置。此外，接口部50也可以从光盘、usb存储器等非暂时性记录媒体、网络上的服务器等取得在处理部30的计算机中执行的程序401并加载于存储部40。

(动作)

这里，参照图3～图5来说明具有上述结构的输入装置的动作。

图3是将检测信号的大小与第2时间t2的设定值的关系图解后得到的图。图3中的3个实线分别表示因环境的要因而随着时间的经过发生变化的检测信号s。在图3的例子中，各检测信号s的值(检测值)均在初始状态下是“sa”，随着时间的经过而上升，且分别从到达“sb”、“sc”、“sd”的时刻t0起成为稳定状态。检测值是“sb”最小且按照“sb”、“sc”、“sd”的顺序而变大。由于判定部302是检测信号s与基准值bv之差越大(即，检测值越大)则使第2时间t2越长，因此在图3的例子中，检测值sb的第2时间t2(sb)最短，检测值sd的第2时间t2(sd)最长。因此，判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的时刻是：以检测值sb成为稳定状态的检测信号s最早(时刻t1)，以检测值sd成为稳定状态的检测信号s最晚(时刻t3)。因此，检测信号s越大(物体1的接近程度越大)，就越难以得到未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化这样的判定，越容易避免物体1正接近的状态下的误判定。另一方面，检测信号s越小(物体1的接近程度越小)，就越容易得到未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化这样的判定，且越缩短至得到判定为止的时间。

图4是用于说明从取得检测信号s到算出差分值(s-bv)为止的处理的一例的流程图。输入装置针对n个检测部10的每一个以固定的周期反复执行图4所示的处理。

首先，控制部301在检测部10中进行静电电容的检测，并取得作为检测结果而生成的检测信号s(st100)。判定部302基于由检测部10生成的检测信号s来判定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st105)。在该判定的结果是判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的情况下(st110的“否”)，基准值更新部303基于由步骤st100取得的检测信号s来算出新的基准值bv，并与原来的基准值bv进行置换(st115)。差分值算出部304算出由步骤st100取得的检测信号s与基准值bv的差分值(s-bv)并将其保存于存储部40(st120)。

图5是用于说明判定部302的判定处理(图4的st105)的一例的流程图。

判定部302从存储部40中读出包含最新的检测信号s在内的第1时间t1的量的一系列的检测信号s，构成判定用的时间序列数据(st220)。并且，判定部302基于该时间序列数据，算出表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小的第1评价值e1(第1时间t1下的检测信号s的方差、标准偏差等)(st250)。

判定部302对由步骤st250算出的第1评价值e1和第1阈值th1进行比较，在第1评价值e1比第1阈值th1大的情况下(st255的“是”)，将计时计数器ct初始化为零(st260)。在该例子中，由于第1评价值e1比第1阈值th1小的范围是上述的第1范围，因此在第1评价值e1比第1阈值th1大的情况下，第1评价值e1从第1范围脱离。

因此，判定部302判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st265)。

另一方面，在第1评价值e1比第1阈值th1小的情况下(st255的“否”)，第1评价值e1包含在第1范围中，检测信号s处于稳定状态，因此判定部302将用于测定稳定状态的持续时间的计时计数器ct递增(st270)。

接着，判定部302算出由步骤st100取得的检测信号s与当前的基准值bv之差来作为差分值(s-bv)(st275)。判定部302基于算出的差分值(s-bv)来设定第2时间t2(st280)。第2时间t2是与周期性递增的计时计数器ct的值对应的数值。判定部302例如基于以差分值(s-bv)为变量的给定的函数(一次函数等)来算出第2时间t2，以使得差分值(s-bv)越大则值越大。或者，判定部302也可以基于对差分值(s-bv)与第2时间t2的对应关系进行了规定的给定的数据表格来取得与算出的差分值(s-bv)对应的第2时间t2。

另外，判定部302在第2时间t2的设定中使用的差分值(s-bv)可以是针对1个检测部10的检测信号s算出的1个差分值(s-bv)，也可以是针对n个检测部10的检测信号s算出的n个差分值(s-bv)的合计值、平均值。

判定部302对由步骤st280设定的第2时间t2和计时计数器ct进行比较，在计时计数器ct超出第2时间t2的情况下(st285的“是”)，将计时计数器ct初始化为零(st290)。在该情况下，判定部302判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st295)。

另一方面，在计时计数器ct未超出第2时间t2的情况下(st285的“否”)，检测信号s的稳定状态的持续时间并未达到基准，因此判定部302判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st265)。其中，在该情况下，判定部302并不将计时计数器ct初始化，而是维持计时计数器ct。因此，在第1评价值e1比第1阈值th1小的状态(st255的“否”)持续的期间，判定部302以固定的周期重复进行计时计数器ct的递增(st270)。

如以上说明的那样，根据本实施方式涉及的输入装置，基于对应于物体1的接近的程度而变化的一系列的检测信号s，来判定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。在判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的情况下，对表示物体1未接近的状态的检测信号s的值的基准值bv进行更新。

并且，变更该判定基准，以使得检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。在检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度高的情况下，该差(s-bv)不是由温度等环境的要因导致而是由物体1的接近导致的盖然性高。因此，通过如上述那样变更判定基准，在物体1正接近的盖然性高的情况下，容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。其结果，在物体1正接近的状态下，难以对基准值bv进行更新，因此能够有效避免由不适当的基准值bv的更新导致的物体1的接近状态的误判定。

此外，由于检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越低就越容易进行基准值bv的更新，因此在物体1正接近的盖然性低的情况下，能够提早基准值bv的更新的定时。由此，能够有效避免基准值bv的更新相对于环境的变化发生延迟所导致的物体1的接近状态的误判定。

接着，说明第1实施方式涉及的输入装置的变形例。

图6是表示第1时间t1下的检测信号s的最大值smax与最小值smin之差v1的一例的图。作为判定部302算出的第1评价值e1，在上述的说明中举出方差、标准偏差的例子，但是第1评价值e1也可以表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小，例如也可以将图6所示那样的差v1作为第1评价值e1。

此外，在判定部302中基于检测信号s的变化的大小来判定物体1有无接近，因此为了提高判定的精度，优选使与物体1(例如人体)的活动相比频率显著高的检测信号s的成分衰减。因此，判定部302也可以如图7的流程图中所示那样进行将检测信号s平滑化的低通滤波器处理(st200)，基于由低通滤波器处理平滑化后的检测信号s来构成时间序列数据(st220)，并算出表示检测信号s的第1时间t1下的变化的大小的第1评价值(st250)。

<第2实施方式>

接着，说明第2实施方式涉及的输入装置。第2实施方式涉及的输入装置将上述第1实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第1实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第1实施方式涉及的输入装置的相异点为中心进行说明。

图8a以及图8b是表示对第1时间t1下的检测信号s的变化进行近似的回归直线的一例的图。在图8a以及图8b各自中，虚线表示回归直线。在图8a的例子中，与回归直线不具有相关性的检测信号s的检测值的偏差大，回归直线的倾斜度小(回归直线上的值接近于平均值)。另一方面，在图8b的例子中，检测信号s相对于回归直线的相关性比图8a的例子高，回归直线的倾斜度大。如图b所示那样，在检测信号s示出直线性的变化的倾向的情况下，产生与检测部10的温度因手指等物体1的接近而发生变化这一情况相伴的检测信号s的偏移(drift)的盖然性高。

因此，本实施方式涉及的输入装置的判定部302算出对第1时间t1下的检测信号s的变化进行近似的回归直线的倾斜度a，并变更第1时间t1，以使得回归直线a的倾斜度越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。即，回归直线的倾斜度a越大，则判定部302就越加长第1时间t1。通过加长第1时间t1，第1时间t1下的检测信号s的变化变大，第1评价值e1容易从第1范围脱离，因此判定部302容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。其结果，容易抑制物体1正接近的状态下的基准值bv的更新。

图9是用于说明第2实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图9所示的流程图在图5所示的流程图中追加了步骤st225～st245，其他步骤与图5所示的流程图相同。

在步骤st220中构成第1时间t1的量的检测信号s的时间序列数据后，判定部302根据该时间序列数据算出回归直线的倾斜度a(st225)。

并且，判定部302基于算出的回归直线的倾斜度a来设定第1时间t1(st230)。第1时间t1是与构成时间序列数据的检测信号s的数目对应的数值。判定部302例如基于以倾斜度a为变量的给定的函数(一次函数等)来算出第1时间t1，以使得倾斜度a越大则值越大。或者，判定部302也可以基于对倾斜度a与第1时间t1的对应关系进行了规定的给定的数据表格，来取得与算出的倾斜度a对应的第1时间t1。此外，判定部302也可以从预先确定为第1时间t1的值的2个值中对应于倾斜度a与给定的阈值的比较结果来选择一个值。

在步骤st230中变更了第1时间t1的情况下(st240的“是”)，判定部302基于变更后的第1时间t1重新构成检测信号s的时间序列数据(st245)。根据时间序列数据算出第1评价值e1的步骤st250以后的处理与图4所示的流程图相同，因此省略说明。

根据本实施方式涉及的输入装置，除了检测信号s与基准值bv之差(s-bv)以外，还增加考虑检测信号s的变化的直线性来变更判定部302的判定基准。因此，能够更有效地避免由不适当的基准值bv的更新导致的物体1的接近状态的误判定，并且能够更有效地避免基准值bv的更新相对于环境的变化发生延迟所导致的物体1的接近状态的误判定。

接着，参照图10的流程图来说明第1实施方式涉及的输入装置的变形例。

为了评价检测信号s的变化的直线性，在上述的例子中利用了第1时间t1下的检测信号s的回归直线的倾斜度a。在直线性的评价中，除了回归直线的倾斜度a以外，还能够利用例如基于回归直线的检测信号的推定值与检测信号s的近似程度。作为该近似程度，例如，列举根据基于回归直线的推定值与检测值的残差计算的决定系数等。因此，该变形例中的判定部302算出表示基于回归直线的检测信号s的推定值与检测信号s的近似的程度的第2评价值e2(决定系数等)，并变更第1时间t1，以使得第2评价值e2所表示的近似的程度越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图10所示的流程图将图9所示的流程图中的步骤st225以及st230置换成步骤st225a以及st230a而得到，其他步骤与图9所示的流程图相同。

在步骤st220中构成第1时间t1的量的检测信号s的时间序列数据后，判定部302根据该时间序列数据算出回归直线的倾斜度a、决定系数等的第2评价值e2(st225a)。并且，判定部302基于算出的回归直线的倾斜度a和第2评价值e2，来设定第1时间t1(st230a)。例如判定部302基于以倾斜度a和第2评价值e2为变量的给定的函数，倾斜度a越大就使第1时间t1的值越大，并且第2评价值e2所表示的近似的程度越大就使第1时间t1的值越大。或者，判定部302也可以基于对倾斜度a以及第2评价值e2与第1时间t1的对应关系进行规定的给定的数据表格，来取得与倾斜度a以及第2评价值e2对应的第1时间t1。此外，判定部302也可以从预先确定为第1时间t1的值的2个值中基于倾斜度a与给定的阈值的比较结果及第2评价值e2与给定的阈值的比较结果来选择任一个值。

这样，通过使用表示基于回归直线的检测信号的推定值与检测信号s的近似程度的第2评价值e2来评价检测信号s的变化的直线性，能够更正确地判定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。因此，能够适当避免物体1正接近的状态下的基准值bv的更新。

<第3实施方式>

接着，说明第3实施方式涉及的输入装置。第3实施方式涉及的输入装置将上述的第2实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第2实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第2实施方式涉及的输入装置的相异点为中心来说明。

上述第2实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于第1时间t1下的检测信号s的回归直线的倾斜度a来变更第1时间t1。相对于此，第3实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于回归直线的倾斜度a来变更作为第1评价值e1的判定的基准的第1范围。即，判定部302缩小第1范围，以使得回归直线的倾斜度a越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图11是用于说明第3实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图11所示的流程图将图9所示的流程图中的步骤st230～st245置换成步骤st235而成，其他步骤与图9所示的流程图相同。

在步骤st235中，判定部302基于由步骤st225算出的回归直线的倾斜度a来设定第1阈值th1。即，回归直线的倾斜度a越大，则判定部302就将第1阈值th1设定成越小的值。在该例子中，第1评价值e1比第1阈值th1小的范围是上述第1范围，第1阈值th1越小，则第1评价值e1就越容易从第1范围脱离。因此，回归直线的倾斜度a越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

在本实施方式涉及的输入装置中，增加考虑检测信号s的变化的直线性来变更判定部302的判定基准，因此与第2实施方式涉及的输入装置同样地，能够有效地避免物体1的接近状态的误判定。

接着，参照图12的流程图来说明第3实施方式涉及的输入装置的变形例。图12所示的流程图将图10所示的流程图中的步骤st230a～st245置换成步骤st235a而成，其他步骤与图10所示的流程图相同。

在步骤st235a中，判定部302基于由步骤st225a算出的回归直线的倾斜度a和第2评价值e2，来设定第1阈值th1(st235a)。例如判定部302基于以倾斜度a和第2评价值e2为变量的给定的函数，倾斜度a越大就使第1阈值th1越小，并且第2评价值e2所表示的近似的程度越大就使第1阈值th1越小。或者，判定部302也可以基于对倾斜度a以及第2评价值e2与第1阈值th1的对应关系进行了规定的给定的数据表格，来取得与倾斜度a以及第2评价值e2对应的第1阈值th1。此外，判定部302也可以从预先确定为第1阈值th1的值的2个值中基于倾斜度a与给定的阈值的比较结果及第2评价值e2与给定的阈值的比较结果来选择任一个值。

这样，通过使用第2评价值e2来评价检测信号s的变化的直线性，能够更正确地判定与物体1的接近相伴的检测信号s的变化，因此能够适当避免物体1正接近的状态下的基准值bv的更新。

<第4实施方式>

接着，说明第4实施方式涉及的输入装置。第4实施方式涉及的输入装置将上述第1实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第1实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第1实施方式涉及的输入装置的相异点为中心来说明。

本实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度，不仅变更第2时间t2，还变更第1时间t1。即，在判定部302中，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就使第1时间t1的值越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图13是用于说明第4实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图13所示的流程图在图5所示的流程图中在步骤st220之前追加了步骤st205～st210，并且省略了图5所示的流程图中的步骤st275，其他步骤与图5所示的流程图相同。

判定部302算出由步骤st100取得的检测信号s与当前的基准值bv之差来作为差分值(s-bv)(st205)，基于该差分值(s-bv)来设定第1时间t1(st210)。判定部302例如基于以差分值(s-bv)为变量的给定的函数(一次函数等)，差分值(s-bv)越大就使第1时间t1的值越大。或者，判定部302也可以基于对差分值(s-bv)与第1时间t1的对应关系进行了规定的给定的数据表格，来取得与算出的差分值(s-bv)对应的第1时间t1。此外，判定部302也可以从预先确定为第1时间t1的值的2个值中基于差分值(s-bv)与给定的阈值的比较结果来选择任一个值。

判定部302基于在步骤st210中设定的第1时间t1来构成检测信号s的时间序列数据(步骤st220)。步骤st250以后的处理与图5所示的流程图大致相同。其中，在步骤st280中的第2时间t2的设定中，使用由步骤st205算出的差分值(s-bv)。

根据本实施方式涉及的输入装置，对应于差分值(s-bv)不仅变更第2时间t2，还变更第1时间t1，因此容易灵活地设定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的判定基准，能够提高判定的精度。

<第5实施方式>

接着，说明第5实施方式涉及的输入装置。第5实施方式涉及的输入装置将上述第1实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第1实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第1实施方式涉及的输入装置的相异点为中心进行说明。

本实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度，不仅变更第2时间t2，还变更第1阈值th1(第1范围)。即，在判定部302中，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就使第1阈值th1的值越小，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图14是用于说明第5实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图14所示的流程图在图5所示的流程图中在步骤st220之前追加了步骤st205～st215，并且省略了图5所示的流程图中的步骤st275，其他步骤与图5所示的流程图相同。

判定部302算出由步骤st100取得的检测信号s与当前的基准值bv之差来作为差分值(s-bv)(st205)，基于该差分值(s-bv)来设定第1阈值th1(st215)。判定部302例如基于以差分值(s-bv)为变量的给定的函数(一次函数等)，差分值(s-bv)越大，就使第1阈值th1的值越小。或者，判定部302也可以基于对差分值(s-bv)与第1阈值th1的对应关系进行了规定的给定的数据表格，来取得与算出的差分值(s-bv)对应的第1阈值th1。此外，判定部302也可以从预先确定为第1阈值th1的值的2个值中基于差分值(s-bv)与给定的阈值的比较结果来选择任一个值。

构成检测信号s的时间序列数据的步骤st220以后的处理与图5所示的流程图大致相同。其中，在步骤st280中的第2时间t2的设定中，使用由步骤st205算出的差分值(s-bv)。

根据本实施方式涉及的输入装置，对应于差分值(s-bv)不仅变更第2时间t2，还变更第1阈值th1，因此容易灵活地设定是否产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化的判定基准，能够提高判定的精度。

<第6实施方式>

接着，说明第6实施方式涉及的输入装置。第6实施方式涉及的输入装置将上述第4实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第4实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第4实施方式涉及的输入装置的相异点为中心进行说明。

本实施方式涉及的输入装置的判定部302反复进行以下处理：算出表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小的第1评价值e1，判定该第1评价值e1是否包含在第1范围中。在第1评价值e1包含在第1范围中的情况下，判定部302判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

第1～第5实施方式涉及的输入装置的判定部302在第1评价值e1包含在第1范围中的稳定状态的持续时间超出第2时间t2的情况下，判定为不存在与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。相对于此，本实施方式涉及的输入装置的判定部302在第1评价值e1包含在第1范围中的情况下，判定为不存在与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。因此，本实施方式涉及的输入装置的判定部302将第1时间t1设定为适度长的时间，以便仅根据1个第1评价值e1的判定就可得到适当的判定结果。

此外，本实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度，来变更第1时间t1。即，在判定部302中，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就使第1时间t1的值越大，就越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图15是将检测信号s的大小与第1时间t1的关系图解后得到的图。在图15的例子中，检测信号s的值(检测值)从时刻t11一直到时刻t16都上升。即，时刻t14的检测值sg相比时刻t12的检测值sf较大，时刻t16的检测值sh相比时刻t14的检测值sg较大。检测信号s与基准值bv之差越大(即，检测值越大)，就将第1时间t1的值设定为越大的值，因此设定在时刻t14的第1时间t1(sg)相比设定在时刻t12的第1时间t1(sf)较大，设定在时刻t16的第1时间t1(sh)相比设定在时刻t14的第1时间t1(sg)较大。

在图15的例子中，在时刻t12算出的第1评价值e1表示从时刻t11到时刻t12的第1时间t1(sf)下的检测信号s的变化，在时刻t14算出的第1评价值e1表示从时刻t13到时刻t14为止的第1时间t1(sg)下的检测信号s的变化，在时刻t16算出的第1评价值e1表示从时刻t15到时刻t16为止的第1时间t1(sh)下的检测信号s的变化。将第1时间t1设定成能够根据1个第1评价值e1来判定与物体1的接近相伴的检测信号s有无变化的程度的长度。

图16是用于说明第6实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图16所示的流程图省略了图13所示的流程图(第4实施方式)中的步骤st260、步骤st270～st290，其他步骤与图13所示的流程图相同。

判定部302将步骤st250中算出的第1评价值e1与第1阈值th1进行比较(st255)。在第1评价值e1超出了第1阈值th1的情况下(st255的“是”)，判定部302判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st265)。在第1评价值e1未超出第1阈值th1的情况下(st255的“否”)，判定部302判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化(st295)。

如以上说明的那样，根据本实施方式涉及的输入装置，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就将第1时间t1设定成越长的时间。由此，在物体1正接近的盖然性高的情况下，容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化，难以对基准值bv进行更新，因此能够有效地避免因不适当的基准值bv的更新导致的物体1的接近状态的误判定。

<第7实施方式>

接着，说明第7实施方式涉及的输入装置。第7实施方式涉及的输入装置将上述第5实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理进行一部分变更而成，其他结构与第5实施方式涉及的输入装置相同。以下，以与第5实施方式涉及的输入装置的相异点为中心进行说明。

本实施方式涉及的输入装置的判定部302反复进行以下处理：算出表示第1时间t1下的检测信号s的变化的大小的第1评价值e1，判定该第1评价值e1是否包含在第1范围中。在第1评价值e1包含在第1范围中的情况下，判定部302与上述第6实施方式同样地，判定为未产生与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。因此，本实施方式涉及的输入装置的判定部302也将第1时间t1设定成充分长的时间，以便仅根据1个第1评价值e1的判定就可得到适当的判定结果。

此外，本实施方式涉及的输入装置的判定部302对应于检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度来变更第1阈值th1(第1范围)。即，在判定部302中，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就使第1阈值th1越小，第1评价值e1就越容易脱离第1范围，由此越容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化。

图17是用于说明第7实施方式涉及的输入装置中的判定部302的判定处理的一例的流程图。图17所示的流程图省略了图14所示的流程图(第5实施方式)中的步骤st260、步骤st270～st290，其他步骤与图14所示的流程图相同。由于步骤st250～st295的处理与图16所示的流程图相同，因此省略说明。

如以上所说明的那样，根据本实施方式涉及的输入装置，检测信号s与基准值bv之差(s-bv)所表示的物体1的接近的程度越高，就将第1阈值th1设定成越小的值(第1范围越小)。由此，在物体1正接近的盖然性高的情况下，容易判定为产生了与物体1的接近相伴的检测信号s的变化，难以对基准值bv进行更新，因此能够有效避免因不适当的基准值bv的更新导致的物体1的接近状态的误判定。

另外，本发明并不仅限定于上述实施方式，而是包含各种变形。

例如，在上述的例子中示出的检测部10、10a中，检测在检测电极101与物体1之间产生的电容器cx的静电电容(也称为自电容)，但是本发明并不限定于该例子。在本发明的其他实施方式中，检测部也可以检测在2个电极(驱动电极与检测电极)之间形成的电容器的静电电容(也称为互电容)。此外，检测部中的物体的接近程度的检测方式并不限定于静电电容方式，也可以是其他方式(电阻方式、电磁感应方式等)。

上述各实施方式的构成的一部分(例如，判定部302中的判定处理的构成的一部分)可以追加到其他实施方式的构成中，也可以与其他实施方式的构成的一部分进行置换。

在本公开的一个侧面中，提供输入与物体的接近状态相应的信息的输入装置。该输入装置具有：检测部，生成对应于物体的接近的程度而变化的检测信号；判定部，基于在检测部中生成的一系列的检测信号，来判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化；以及基准值更新部，在判定部中判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化的情况下，基于在检测部中生成的检测信号，对表示物体未接近的状态的检测信号的值的基准值进行更新。判定部变更判定基准，以使得检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

在上述输入装置中，基于对应于物体的接近的程度而变化的一系列的检测信号，来判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。在判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化的情况下，对表示物体未接近的状态的检测信号的值的基准值进行更新。并且，变更该判定基准，以使得检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度越高，就容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。在检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度高的情况下，该差因物体的接近而引起的盖然性高。因此，通过上述的判定基准的变更，在物体正接近的盖然性高的情况，容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。其结果，在物体正接近的状态下，难以对基准值进行更新。

优选，也可以是，判定部反复判定表示第1时间下的检测信号的变化的大小的第1评价值是否包含在第1范围中，在第1评价值包含在第1范围中的状态持续第2时间以上的情况下，判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化，对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间、第1范围以及第2时间中的至少1者。

根据该构成，第1范围越小，则第1评价值就越容易从第1范围脱离，越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。此外，第1时间越长，则第1时间下的检测信号的变化就越大，第1评价值就越容易从第1范围脱离，因此越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

进一步地，第2时间越长，则第1时间下的检测信号的变化就越容易从第1范围脱离，因此就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。因此，通过对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间、第1范围以及第2时间中的至少1者，从而可变更判定部的判定基准。

优选，也可以是，判定部反复判定表示第1时间下的检测信号的变化的大小的第1评价值是否包含在第1范围中，在第1评价值包含在第1范围中的情况下，判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化，对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间以及第1范围中的至少1者。

根据该构成，第1范围越小，则第1评价值就越容易从第1范围脱离，越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。此外，第1时间越长，则第1时间下的检测信号的变化就越大，第1评价值就越容易从第1范围脱离，因此就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

因此，通过对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间以及第1范围中的至少1者，从而可变更判定部的判定基准。

优选，也可以是，判定部算出表示第1时间下的检测信号相对于检测信号的平均值的偏差的大小的第1评价值。例如判定部可以算出与第1时间下的检测信号的方差或标准偏差相应的第1评价值。

优选，也可以是，判定部算出与第1时间下的检测信号的最大值与最小值之差相应的第1评价值。

优选，也可以是，判定部进行将检测信号平滑化的低通滤波器处理，算出表示通过低通滤波器处理平滑化后的检测信号的第1时间下的变化的大小的第1评价值。

根据该构成，和与物体的接近相伴的变化无关的高的频率下的检测信号的变化难以对第1评价值带来影响，是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化的判定精度得到提高。

优选，也可以是，判定部算出对第1时间下的检测信号的变化进行近似的回归直线的倾斜度，并变更第1时间以及第1范围中的至少一者，以使得回归直线的倾斜度越大，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

根据该构成，算出的回归直线的倾斜度越大，则第1时间下的检测信号的变化就越是直线性地变化，作为与物体的接近相伴的变化的盖然性就越高。因此，通过变更第1时间以及第1范围中的至少一者，以使得回归直线的倾斜度越大，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化，从而容易抑制物体正接近的状态下的基准值的更新。

优选，也可以是，判定部算出表示基于回归直线的检测信号的推定值与检测信号的近似的程度的第2评价值，并变更第1时间以及第1范围中的至少一者，以使得第2评价值所表示的近似的程度越大，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化。

根据该构成，算出的回归直线的倾斜度越大，且第2评价值所表示的近似的程度越大，则第1时间下的检测信号的变化就越是直线性的变化，作为与物体的接近相伴的变化的盖然性就更高。因此，通过变更第1时间以及第1范围中的至少一者，以使得第2评价值所表示的近似的程度越大，就越容易判定为产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化，从而容易进一步抑制物体正接近的状态下的基准值的更新。

优选，也可以是，检测部包含：至少1个电极，形成静电电容对应于物体的接近的程度而变化的电容器；以及静电电容检测电路，基于经由电极传送的电容器的电荷，来生成与静电电容相应的检测信号。

根据本公开的其他一个侧面，提供输入与物体的接近状态相应的信息的输入装置的控制方法。输入装置具有生成对应于物体的接近的程度而变化的检测信号的检测部。控制方法具有以下步骤：基于在检测部中生成的一系列的检测信号，来判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化；在判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化的情况下，基于在检测部中生成的检测信号，对表示物体未接近的状态的检测信号的值的基准值进行更新；以及对是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化的判定基准进行变更，以使得检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度越高，就越容易判定为产生了该变化。

优选，也可以是，判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化的步骤包含以下步骤：反复判定第1时间下的检测信号的变化的大小是否包含在第1范围中；以及在第1时间下的检测信号的变化的大小包含在第1范围中的状态持续了第2时间以上的情况下，判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化。也可以是，变更判定基准的步骤包含：对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间、第1范围以及第2时间中的至少1者。

优选，也可以是，判定是否产生了与物体的接近相伴的检测信号的变化的步骤包含以下步骤：反复判定第1时间下的检测信号的变化的大小是否包含在第1范围；以及在第1时间下的检测信号的变化的大小包含在第1范围中的情况下，判定为未产生与物体的接近相伴的检测信号的变化。也可以是，变更判定基准的步骤包含：对应于检测信号与基准值之差所表示的物体的接近的程度，来变更第1时间以及第1范围中的至少1者。

根据本公开的其他一个侧面，提供用于使计算机执行上述输入装置的控制方法的程序。

以上，基于本发明的实施例说明了输入装置、输入装置的控制方法、以及程序，但是本发明并不限定于上述实施例，而是能够在权利要求书记载的范围内进行各种变形。

本申请主张对日本特许庁在2018年3月12日申请的基础申请2018-044504号的优先权，将其全部内容通过参照援用于此。

符号说明

1…物体，10-1～10-n…检测部，101…检测电极，102…静电电容检测电路，103…开关电路，110…运算放大器，111…驱动电压供给部，112…ad转换器，113…解调部，114…低通滤波器，30…处理部，301…控制部，302…判定部302，303…基准值更新部，304…差分值算出部，305…位置算出部，40…存储部，401…程序，50…接口部，s1～sn…检测信号。