SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估方法及系统与流程

文档序号:25543542发布日期:2021-06-18 20:40
技术总结
本发明公开了一种SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估及系统,方法包括S100、选定配置存储器位置,进行故障注错测试,统计出错地址和异常比特个数;S200、根据不同异常对系统功能造成的影响进行分类,S300、对不同情况进行分类评估。系统包括存储器,用于存储计算机程序;处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如上述的SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估方法。本发明解决了单粒子翻转对系统功能造成不同影响时的量化评估问题,为准确、全面地对抗辐照加固设计的可靠性评估提供了新的解决办法,具有较好的可行性和推广价值。

技术研发人员:倪少杰;刘旭辉;欧钢;毛二坤;孙鹏跃;黄仰博;唐小妹;孙广富
受保护的技术使用者:中国人民解放军国防科技大学
技术研发日:2021.03.18
技术公布日:2021.06.18

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