一种数字化KPI绩效考核方法和系统

一种数字化kpi绩效考核方法和系统
技术领域
1.本发明属于kpi绩效考核领域，尤其涉及一种数字化kpi绩效考核方法和系统。


背景技术：

2.kpi考核，指的是关键绩效指标考核法。按管理主题来划分，绩效管理可分为两大类，一类是激励型绩效管理，侧重于激发员工的工作积极性，比较适用于成长期的企业。另一类是管控型绩效管理，侧重于规范员工的工作行为，比较适用于成熟期的企业。
3.对于电子产品生产加工企业，通常没有一套完整的考核标准对电子产品加工辅助的治具设计部门进行绩效考核，导致治具设计部门通常只是按照加工辅助的功能进行辅具治具的设计，而不能够将辅具治具的稳定性与通用性进行结合，在保证辅具治具功能稳定的同时，尽可能的减少辅具治具的数量，造成电子产品加工企业中辅具治具复杂多样，既占用了很多存储空间，又浪费了很多制造原料，因此需要一种数字化kpi绩效考核方法和系统对电子产品加工辅助的治具设计部门进行绩效考核。


技术实现要素：

4.本发明实施例的目的在于提供一种数字化kpi绩效考核方法和系统，旨在解决背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种数字化kpi绩效考核方法，所述方法具体包括以下步骤：根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率；对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据；基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分；获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
6.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率具体包括以下步骤：对治具存储空间进行拍摄，获取空间监控拍摄数据；对所述空间监控拍摄数据分析，计算绩效考核周期前后的第一存储占用空间和第二存储占用空间；将所述第二存储占用空间与所述第一存储占用空间进行空间对比，计算存储空间减小率。
7.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述对所述绩效考核周期内的产品生
产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据具体包括以下步骤：对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，提取生产过程中的产品生产问题数据；对所述产品生产问题数据进行分析，标记生产过程中因治具故障造成的产品生产问题，得到治具故障标记；统计多个所述治具故障标记，得到生产过程中的治具故障数据。
8.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分具体包括以下步骤：根据所述存储空间减小率进行通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分；根据所述治具故障数据进行稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分；综合所述治具通用性kpi考核评分和所述治具稳定性kpi考核评分，获取治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
9.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分具体包括以下步骤：获取治具设计部门各成员的对接治具类型；根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率；根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分故障数据；综合分析多个所述划分空间减小率和对应的划分故障数据，得到治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
10.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率具体包括以下步骤：获取多个所述对接治具类型对应的划分存储位置；对所述空间监控拍摄数据分析，计算多个所述划分存储位置在绩效考核周期前后的第一划分占用空间和第二划分占用空间；根据多个所述第一划分占用空间和对应的第二划分占用空间，计算多个治具设计部门各成员的划分空间减小率。
11.一种数字化kpi绩效考核系统，所述系统包括存储空间对比单元、治具故障记录单元、综合考核分析单元和成员考核分析单元，其中：存储空间对比单元，用于根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率；治具故障记录单元，用于对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据；综合考核分析单元，用于基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分；成员考核分析单元，用于获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所
述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
12.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述存储空间对比单元具体包括：空间监控拍摄模块，用于对治具存储空间进行拍摄，获取空间监控拍摄数据；占用空间计算模块，用于对所述空间监控拍摄数据分析，计算绩效考核周期前后的第一存储占用空间和第二存储占用空间；占用空间对比模块，用于将所述第二存储占用空间与所述第一存储占用空间进行空间对比，计算存储空间减小率。
13.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述综合考核分析单元具体包括：通用性考核模块，用于根据所述存储空间减小率进行通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分；稳定性考核模块，用于根据所述治具故障数据进行稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分；综合考核模块，用于综合所述治具通用性kpi考核评分和所述治具稳定性kpi考核评分，获取治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
14.作为本发明实施例技术方案进一步的限定，所述成员考核分析单元具体包括：对接治具获取模块，用于获取治具设计部门各成员的对接治具类型；划分空间分析模块，用于根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率；划分故障分析模块，用于根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分故障数据；成员绩效评分模块，用于综合分析多个所述划分空间减小率和对应的划分故障数据，得到治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
15.与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明实施例通过对绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率；获取生产过程中的治具故障数据；基于存储空间减小率和治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分；获取治具设计部门各成员的对接治具类型，进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。能够将电子产品生产加工企业中治具设计部门设计的辅具治具，通过存储空间和治具故障两方面进行考核，使得治具设计部门的绩效考核与治具的稳定性和通用性挂钩，实现对治具设计部门绩效考核的数字化自动综合分析。
附图说明
16.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例。
17.图1示出了本发明实施例提供的方法的流程图。
18.图2示出了本发明实施例提供的方法中治具存储空间拍摄对比的流程图。
19.图3示出了本发明实施例提供的方法中产品生产跟踪记录的流程图。
20.图4示出了本发明实施例提供的方法中综合kpi考核数字化分析的流程图。
21.图5示出了本发明实施例提供的方法中成员kpi考核数字化分析的流程图。
22.图6示出了本发明实施例提供的方法中划分空间减小率获取的流程图。
23.图7示出了本发明实施例提供的系统的应用架构图。
24.图8示出了本发明实施例提供的系统中存储空间对比单元的结构框图。
25.图9示出了本发明实施例提供的系统中综合考核分析单元的结构框图。
26.图10示出了本发明实施例提供的系统中成员考核分析单元的结构框图。
具体实施方式
27.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
28.可以理解的是，现有技术中，对于电子产品生产加工企业，通常没有一套完整的考核标准对电子产品加工辅助的治具设计部门进行绩效考核，导致治具设计部门通常只是按照加工辅助的功能进行辅具治具的设计，而不能够将辅具治具的稳定性与通用性进行结合，在保证辅具治具功能稳定的同时，尽可能的减少辅具治具的数量，造成电子产品加工企业中辅具治具复杂多样，既占用了很多存储空间，又浪费了很多制造原料。
29.为解决上述问题，本发明实施例通过对绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率；获取生产过程中的治具故障数据；基于存储空间减小率和治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分；获取治具设计部门各成员的对接治具类型，进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。能够将电子产品生产加工企业中治具设计部门设计的辅具治具，通过存储空间和治具故障两方面进行考核，使得治具设计部门的绩效考核与治具的稳定性和通用性挂钩，实现对治具设计部门绩效考核的数字化自动综合分析。
30.图1示出了本发明实施例提供的方法的流程图。
31.具体的，一种数字化kpi绩效考核方法，所述方法具体包括以下步骤：步骤s101，根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率。
32.在本发明实施例中，按照产品的生产周期，进行绩效考核周期划分，在电子产品生产的指定区域设置治具存储空间，用于存放辅助电子产品生产的辅具与治具，通过对治具存储空间进行拍摄，获取绩效考核周期前后的治具存储空间的占用率并进行比对，生成存储空间减小率。
33.具体的，图2示出了本发明实施例提供的方法中治具存储空间拍摄对比的流程图。
34.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率具体包括以下步骤：步骤s1011，对治具存储空间进行拍摄，获取空间监控拍摄数据。
35.步骤s1012，对所述空间监控拍摄数据分析，计算绩效考核周期前后的第一存储占用空间和第二存储占用空间。
36.在本发明实施例中，通过对空间监控拍摄数据进行分析，识别绩效考核周期前后
治具存储空间的空间占用情况，生成第一存储占用空间和第二存储占用空间。
37.步骤s1013，将所述第二存储占用空间与所述第一存储占用空间进行空间对比，计算存储空间减小率。
38.进一步的，所述数字化kpi绩效考核方法还包括以下步骤：步骤s102，对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据。
39.在本发明实施例中，通过对绩效考核周期内电子产品生产的加工过程进行实时跟踪，对加工过程中的故障问题进行记录分析，并提取由治具造成产品生产问题的治具故障数据。
40.具体的，图3示出了本发明实施例提供的方法中产品生产跟踪记录的流程图。
41.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据具体包括以下步骤：步骤s1021，对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，提取生产过程中的产品生产问题数据。
42.在本发明实施例中，对绩效考核周期内，电子产品的生产加工过程进行跟踪监测，对于生产加工过程中的生产问题进行提取与记录，得到产品生产问题数据。
43.步骤s1022，对所述产品生产问题数据进行分析，标记生产过程中因治具故障造成的产品生产问题，得到治具故障标记。
44.在本发明实施例中，通过对产品生产问题数据进行分析，将产品生产问题中由治具故障造成的问题进行标记，从而得到治具故障标记。
45.步骤s1023，统计多个所述治具故障标记，得到生产过程中的治具故障数据。
46.在本发明实施例中，对绩效考核周期内的治具故障标记进行统计，整合统计的治具故障标记，得到生产过程中的治具故障数据。
47.进一步的，所述数字化kpi绩效考核方法还包括以下步骤：步骤s103，基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
48.在本发明实施例中，通过对存储空间减小率的分析，进行治具的通用性评价，通过对治具故障数据的分析，进行治具的稳定性评价，综合通用性评价和稳定性评价进行kpi考核数字化分析，获得治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
49.具体的，图4示出了本发明实施例提供的方法中综合kpi考核数字化分析的流程图。
50.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分具体包括以下步骤：步骤s1031，根据所述存储空间减小率进行通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分。
51.在本发明实施例中，根据存储空间减小率，对治具设计部门的治具通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分。具体的，存储空间减小率越大，说明治具通用性越高，治具通用性kpi考核评分也越高。
52.步骤s1032，根据所述治具故障数据进行稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分。
53.在本发明实施例中，根据治具故障数据，对治具设计部门的治具稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分。具体的，治具故障越少，说明治具稳定性越高，治具稳定性kpi考核评分也越高。
54.步骤s1033，综合所述治具通用性kpi考核评分和所述治具稳定性kpi考核评分，获取治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
55.在本发明实施例中，按照一定的比例，对治具通用性kpi考核评分和治具稳定性kpi考核评分进行综合评价，得到治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
56.进一步的，所述数字化kpi绩效考核方法还包括以下步骤：步骤s104，获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
57.在本发明实施例中，治具设计部门由多个部门成员组成，每个成员负责不同类型的辅具与治具，通过获取治具设计部门各成员的对接治具类型，按照每个成员的对接治具类型进行治具通用性评价和稳定性评价，进而根据评价结果进行部门成员kpi考核数字化分析，获得治具设计部门中每个成员对应的成员kpi考核绩效评分。
58.具体的，图5示出了本发明实施例提供的方法中成员kpi考核数字化分析的流程图。
59.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分具体包括以下步骤：步骤s1041，获取治具设计部门各成员的对接治具类型。
60.步骤s1042，根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率。
61.在本发明实施例中，根据多个对接治具类型，获取各个成员的划分存储位置，并对多个划分存储位置进行空间占用的识别，得到与多个划分存储位置相应的绩效考核周期前后的划分空间减小率。
62.具体的，图6示出了本发明实施例提供的方法中划分空间减小率获取的流程图。
63.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率具体包括以下步骤：步骤s10421，获取多个所述对接治具类型对应的划分存储位置。
64.步骤s10422，对所述空间监控拍摄数据分析，计算多个所述划分存储位置在绩效考核周期前后的第一划分占用空间和第二划分占用空间。
65.步骤s10423，根据多个所述第一划分占用空间和对应的第二划分占用空间，计算多个治具设计部门各成员的划分空间减小率。
66.进一步的，所述获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分还包括以下步骤：步骤s1043，根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分故障数
据。
67.步骤s1044，综合分析多个所述划分空间减小率和对应的划分故障数据，得到治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
68.进一步的，图7示出了本发明实施例提供的系统的应用架构图。
69.其中，在本发明提供的又一个优选实施方式中，一种数字化kpi绩效考核系统，包括：存储空间对比单元101，用于根据预设的绩效考核周期，对所述绩效考核周期前后的治具存储空间进行拍摄对比，生成存储空间减小率。
70.在本发明实施例中，按照产品的生产周期，进行绩效考核周期划分，在电子产品生产的指定区域设置治具存储空间，用于存放辅助电子产品生产的辅具与治具，通过存储空间对比单元101对治具存储空间进行拍摄，获取绩效考核周期前后的治具存储空间的占用率并进行比对，生成存储空间减小率。
71.具体的，图8示出了本发明实施例提供的系统中存储空间对比单元101的结构框图。
72.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述存储空间对比单元101具体包括：空间监控拍摄模块1011，用于对治具存储空间进行拍摄，获取空间监控拍摄数据。
73.占用空间计算模块1012，用于对所述空间监控拍摄数据分析，计算绩效考核周期前后的第一存储占用空间和第二存储占用空间。
74.在本发明实施例中，占用空间计算模块1012通过对空间监控拍摄数据进行分析，识别绩效考核周期前后治具存储空间的空间占用情况，生成第一存储占用空间和第二存储占用空间。
75.占用空间对比模块1013，用于将所述第二存储占用空间与所述第一存储占用空间进行空间对比，计算存储空间减小率。
76.进一步的，所述数字化kpi绩效考核系统还包括：治具故障记录单元102，用于对所述绩效考核周期内的产品生产进行跟踪记录，获取生产过程中的治具故障数据。
77.在本发明实施例中，治具故障记录单元102通过对绩效考核周期内电子产品生产的加工过程进行实时跟踪，对加工过程中的故障问题进行记录分析，并提取由治具造成产品生产问题的治具故障数据。
78.综合考核分析单元103，用于基于所述存储空间减小率和所述治具故障数据进行综合kpi考核数字化分析，生成治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
79.在本发明实施例中，综合考核分析单元103通过对存储空间减小率的分析，进行治具的通用性评价，通过对治具故障数据的分析，进行治具的稳定性评价，综合通用性评价和稳定性评价进行kpi考核数字化分析，获得治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
80.具体的，图9示出了本发明实施例提供的系统中综合考核分析单元103的结构框图。
81.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述综合考核分析单元103具体包括：通用性考核模块1031，用于根据所述存储空间减小率进行通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分。
82.在本发明实施例中，通用性考核模块1031根据存储空间减小率，对治具设计部门的治具通用性kpi考核数字化分析，得到治具通用性kpi考核评分。具体的，存储空间减小率越大，说明治具通用性越高，治具通用性kpi考核评分也越高。
83.稳定性考核模块1032，用于根据所述治具故障数据进行稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分。
84.在本发明实施例中，稳定性考核模块1032根据治具故障数据，对治具设计部门的治具稳定性kpi考核数字化分析，得到治具稳定性kpi考核评分。具体的，治具故障越少，说明治具稳定性越高，治具稳定性kpi考核评分也越高。
85.综合考核模块1033，用于综合所述治具通用性kpi考核评分和所述治具稳定性kpi考核评分，获取治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
86.在本发明实施例中，综合考核模块1033按照一定的比例，对治具通用性kpi考核评分和治具稳定性kpi考核评分进行综合评价，得到治具设计部门的综合kpi考核绩效评分。
87.进一步的，所述数字化kpi绩效考核系统还包括：成员考核分析单元104，用于获取治具设计部门各成员的对接治具类型，根据多个所述对接治具类型进行部门成员kpi考核数字化分析，生成治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
88.在本发明实施例中，治具设计部门由多个部门成员组成，每个成员负责不同类型的辅具与治具，成员考核分析单元104通过获取治具设计部门各成员的对接治具类型，按照每个成员的对接治具类型进行治具通用性评价和稳定性评价，进而根据评价结果进行部门成员kpi考核数字化分析，获得治具设计部门中每个成员对应的成员kpi考核绩效评分。
89.具体的，图10示出了本发明实施例提供的系统中成员考核分析单元104的结构框图。
90.其中，在本发明提供的优选实施方式中，所述成员考核分析单元104具体包括：对接治具获取模块1041，用于获取治具设计部门各成员的对接治具类型。
91.划分空间分析模块1042，用于根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分空间减小率。
92.在本发明实施例中，划分空间分析模块1042根据多个对接治具类型，获取各个成员的划分存储位置，并对多个划分存储位置进行空间占用的识别，得到与多个划分存储位置相应的绩效考核周期前后的划分空间减小率。
93.划分故障分析模块1043，用于根据多个所述对接治具类型，获取治具设计部门各成员的划分故障数据。
94.成员绩效评分模块1044，用于综合分析多个所述划分空间减小率和对应的划分故障数据，得到治具设计部门各成员的成员kpi考核绩效评分。
95.综上所述，本发明实施例能够将电子产品生产加工企业中治具设计部门设计的辅具治具，通过存储空间和治具故障两方面进行考核，使得治具设计部门的绩效考核与治具的稳定性和通用性挂钩，实现对治具设计部门绩效考核的数字化自动综合分析。
96.应该理解的是，虽然本发明各实施例的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，各实施例
中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
97.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器（rom）、可编程rom（prom）、电可编程rom（eprom）、电可擦除可编程rom（eeprom）或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器（ram）或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram（sram）、动态ram（dram）、同步dram（sdram）、双数据率sdram（ddrsdram）、增强型sdram（esdram）、同步链路（synchlink） dram（sldram）、存储器总线（rambus）直接ram（rdram）、直接存储器总线动态ram（drdram）、以及存储器总线动态ram（rdram）等。
98.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
99.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
100.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。