一种服务器VR芯片测试方法、装置、设备及介质与流程

一种服务器vr芯片测试方法、装置、设备及介质
技术领域
1.本发明涉及服务器测试领域，尤其涉及一种服务器vr芯片测试方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.服务器中给cpu供电的vr芯片(voltage regulator，稳压器)是将psu(power supply unit，供电模块)输入的电源转化成后端负载使用的固定电压值的电源。它需要随着cpu动态负载的变化而发生快速的响应，但是响应的质量好坏需要通过电压的稳定性及大小来判断。如果vr芯片没有调试好，就会出现负载变化时，电压过高、过低、电压抖动、电压不稳等情况发生。
3.为了验证vr芯片的这个性能，将负载变化占空比从10％到90％，负载变化频率从1khz到1mhz的vr芯片进行3d扫频测试。由于自动化改进，将这些动态负载的变化改成脚本，可以自动覆盖占空比及负载的变化，由于占空比有9个，频率跨度较大。因此，针对一个完整的3d扫频需要长达6h。为了提高测试效率，特别是回板验证的板卡，会将脚本扫频放到晚上进行测试。但是这样也有一个弊端，那就是无人值守时，会遗漏一些异常波形。因为3d扫频日志中可以找到电压最大值与最小值的最差频点，抓取最差频点的电压波形，但是非最差频点的波形，虽然电压可能不是最差的，但是可能存在异常情况。例如：电压不稳、电压抖动、大小波等问题。电压超规格、电压不稳、电压抖动、大小波等问题可能会引起电压不稳，在负载端不断累积与放大，会造成服务器宕机，严重时可能造成烧板等后果。
4.现有的vr 3d扫频方案是将电流的动态变化大小、占空比范围、频率范围进行设定，并编写为自动化脚本，设备连接成功后，运行3d扫频脚本，加载tool会根据脚本的命令将占空比及频率进行覆盖。扫频的占空比从10％开始，按照10％的步长一直增加到90％。固定占空比，频率从1khz一直扫频到1mhz。频率点选取100个，就需要记录900个测试数据。测试结束后会输出一个脚本日志，里面包含相应频率及占空比下的电压最大值及最小值。
5.然而，现有的vr 3d扫频方案存在以下缺陷：(1)由于扫频脚本优化升级，在每个频率、占空比拉载之前需要进行电流校准，所以有的power rail的扫频脚本扫频时间可长达6小时，但是人不能时时刻刻盯着数据波形，因此可能会漏掉一些异常波形。(2)现在测试手法中，会发现脚本跑出来的最差结果并不是实际中的最差结果，因为脚本波形累计次数少，异常波形发生频率低的情况抓不到，所以扫频结果准确度需要提高。(3)扫频结果日志只会识别出电压最大值与最小值相应的频率占空比，即最差频点。抓取波形时也是根据扫频日志中的最差频点去拉载测试，保证最大电压与最小电压在规定范围内。如果最差频点的波形没有异常，就可能遗漏掉非最差频点的电压异常波形。例如：电压不稳、电压抖动、大小波等问题。(4)除电压异常波形外，电压fail的情况，一般也只关注最差频点的问题，最重要的一点，会遗漏最差频点以外超过规格的一些异常情况。(5)电压超规格、电压不稳、电压抖动、大小波等问题可能会引起电压不稳，在负载端不断累积与放大，会造成服务器宕机，严重时可能造成烧板等后果。(6)扫频结束后，手动找到最差频点，手动拉载用示波器抓图，最
后将示波器波形贴进报告中，耗费人力工时。


技术实现要素：

6.有鉴于此，有必要针对以上技术问题，提供一种服务器vr芯片测试方法、装置、设备及介质。
7.根据本发明的第一方面，提供了一种服务器vr芯片测试方法，所述方法包括：
8.利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
9.由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
10.通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
11.在一些实施例中，所述方法还包括：
12.由上位机记录每个波形图中最大电压值和最小电压值；
13.通过上位机将所有最大电压值中的最大值和所有最小电压值中的最小值及其对应的波形图保存到第三路径下。
14.在一些实施例中，所述利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图包括：
15.对vrtt拉载软件、3d扫频脚本形成波形累计时间进行加长处理以使获取的每个波形图中电压波形及电流波形有至少5个周期、且电压波形大小各占据至少3个电压格。
16.在一些实施例中，所述由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类包括：
17.对每个波形图执行以下操作：
18.获取波形图中每一周期的峰值和谷值，
19.计算峰值最大值和峰值最小值的差值以得到第一差值；
20.计算谷值最大值和谷值最小值的差值以得到第二差值；
21.响应于所述第一差值和第二差值均小于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于正常；
22.响应于所述第一差值和/或第二差值均大于等于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于异常。
23.在一些实施例中，所述方法还包括：
24.响应于接收到用户触发的波形查询请求，则从所述第一路径下获取与所述波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示
25.其中，所述波形查询请求包括查询频率和/或占空比。
26.在一些实施例中，所述方法还包括：
27.响应于接收到用户触发的异常波形查询请求，则通过上位机依次对第二路径下的异常波形进行展示。
28.在一些实施例中，所述方法还包括：
29.响应于接收到用户触发的最大电压波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最
大电压波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示；
30.响应于接收到用户触发的求或最小波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最小波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示。
31.根据本发明的第二方面，提供了一种服务器vr芯片测试装置，所述装置包括：
32.测试模块，配置用于利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
33.分析模块，配置用由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
34.保存模块，配置用于通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
35.根据本发明的第三方面，还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：
36.至少一个处理器；以及
37.存储器，存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行前述的服务器vr芯片测试方法。
38.根据本发明的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时执行前述的服务器vr芯片测试方法。
39.上述一种服务器vr芯片测试方法，首先通过利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图，然后由上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，最后通过上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下，可以解决时间较长脚本扫频无人值守问题，使得扫频所有波形均被记录，异常波形单独提取，便于后续快捷查看波形，不遗漏任何异常波形，提高测试效率保证测试数据的可靠性。
40.此外，本发明还提供了一种服务器vr芯片测试装置、一种计算机设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果，这里不再赘述。
附图说明
41.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
42.图1为本发明一个实施提供的一种服务器vr芯片测试方法流程示意图；
43.图2为本发明一个实施例提供的服务器vr 3d扫频监测系统框架图；
44.图3为本发明另一个实施例提供应用于图2架构的另一种服务器vr芯片测试方法的流程图；
45.图4为本发明另一个实施例提供的波形采集控制界面示意图；
46.图5为本发明一个实施例提供的示波器累计数据示意图；
47.图6a为本发明一个实施例提供的正常正弦波波形示意图；
48.图6b为本发明一个实施例提供的正常方波波形示意图；
49.图6c为本发明一个实施例提供的存在抖动波形示意图；
50.图6d为本发明一个实施例提供的电压不稳波形示意图；
51.图6e为本发明一个实施例提供的有过冲波形示意图；
52.图6f为本发明一个实施例提供的大小波波形示意图；
53.图7为本发明一个实施例提供的一种服务器vr芯片测试装置结构示意图；
54.图8为本发明另一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
55.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
56.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
57.在一个实施例中，请参照图1所示，本发明提供了一种服务器vr芯片测试方法100，具体来说，所述方法包括以下步骤：
58.步骤101，利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
59.步骤102，由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
60.步骤103，通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
61.上述一种服务器vr芯片测试方法，首先通过利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图，然后由上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，最后通过上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下，可以解决时间较长脚本扫频无人值守问题，使得扫频所有波形均被记录，异常波形单独提取，便于后续快捷查看波形，不遗漏任何异常波形，提高测试效率保证测试数据的可靠性。
62.在一些实施例中，所述方法还包括：
63.由上位机记录每个波形图中最大电压值和最小电压值；
64.通过上位机将所有最大电压值中的最大值和所有最小电压值中的最小值及其对应的波形图保存到第三路径下。
65.在一些实施例，前述步骤101，利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图包括：
66.对vrtt拉载软件、3d扫频脚本形成波形累计时间进行加长处理以使获取的每个波形图中电压波形及电流波形有至少5个周期、且电压波形大小各占据至少3个电压格。
67.在一些实施例中，前述步骤102,，由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类包括：
68.对每个波形图执行以下操作：
69.获取波形图中每一周期的峰值和谷值，
70.计算峰值最大值和峰值最小值的差值以得到第一差值；
71.计算谷值最大值和谷值最小值的差值以得到第二差值；
72.响应于所述第一差值和第二差值均小于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于正常；
73.响应于所述第一差值和/或第二差值均大于等于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于异常。
74.在一些实施例中，所述方法还包括：
75.响应于接收到用户触发的波形查询请求，则从所述第一路径下获取与所述波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示
76.其中，所述波形查询请求包括查询频率和/或占空比。
77.在一些实施例中，所述方法还包括：
78.响应于接收到用户触发的异常波形查询请求，则通过上位机依次对第二路径下的异常波形进行展示。
79.在一些实施例中，所述方法还包括：
80.响应于接收到用户触发的最大电压波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最大电压波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示；
81.响应于接收到用户触发的求或最小波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最小波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示。
82.在又一个实施例中，为了便于理解本发明的方案，下面图2示出的架构为例详细说明本发明的方案，如图2所示服务器vr 3d扫频数据异常监测架构主要包含：pc控制器、示波器、vrtt tool、3d波形采集控制四大部分组成，请参照图3所示本实施例还提供了另一种服务器vr芯片测试方法，具体实施过程参考如下：
83.步骤一，pc控制器装有控制vrtt tool拉载的软件、3d扫频脚本、3d波形采集控制器。其中vrtt tool拉载软件及3d扫频脚本使用现有的软件及脚本。只对脚本的波形累计时间进行加长处理，增加数据的可靠性。
84.步骤二，3d波形采集控制主要包含7个模块：抖动阈值设置模块、3d扫频及采集波形模块、制定频率及占空比查看模块、滚动模式查看模块、异常波形集查看模块、最大电压值与最小电压波形查看模块、波形预览模块，具体参照图4所示。
85.步骤三，3d扫频及采集波形控制与脚本关联在一起，点击开始会联动脚本的启动，脚本启动后，3d波形采集控制器也会相应启动波形采集动作。当脚本开始进行频率1k，占空比10％条件控制vrtt tool拉载时，3d波形时采集控制器会根据拉载电流的大小及电压大小及频率来自动调节示波器，使电压波形及电流大小有至少5个周期，并且大小各占据3个电压格。
86.当脚本完成电流校准，真正拉载累计波形时，示波器也会累计相应的波形，并且根据波形评判条件提取电压波形。中间有问题时，可以选择暂停，再次想跑脚本时，可以延续之前暂停的频率占空比继续3d扫频。也可以扫频过程中进行终止。
87.步骤四，抖动阈值是评判异常波形的标准，示波器中累计最大值电压时会将累计的1000次中max的最大值及max的最小值进行记录，例如图5所示。此外也会将min的最大值与min的最小值进行记录，3d波形采集控制器会将max的最大值与max的最小值的差值或min的最大值与min的最小值差值进行计算，并且当计算值超过设置的阈值时，则会判断该波形
异常。
88.步骤五，基于设定的抖动阈值判断是否常见异常波形有电压不稳、抖动、大小波等问题。常见的正常波形和异常波形参考图6a至图6f所示，异常波形判断时可以通过如下条件进行判断：
89.△
vmax＝vmax_max-vmax_min；
90.△
vmin＝vmin_max-vmin_min；
91.其中，vmax_max是指峰值的最大值，vmax_min是指峰值的最小值，vmin_max是指谷值的最大值，vmin_min是指谷值的最小值，
△
vmax大于等于抖动阈值或
△
vmin大于等于抖动阈值，则判断为异常波形，并且将波形记录当异常波形集中。
92.步骤六，其中滚动模式查看及指定频率占空比查看根据各自需要输入相应的频率占空比即可查看波形。其中滚动模式每张图可以停留3s，暂停时可以点击预览波形时即可暂停到当前波形。
93.步骤七，异常波形集可以显示超出抖动阈值的波形有多少张，可以随便查看，方便调试时遗漏其他异常频点。
94.步骤八，最大电压、最小电压波形方便即时查看并且可以将其自动保存到报告中。
95.上述一种服务器vr芯片测试方法至少具备以下有益技术效果：
96.一方面，解决时间较长脚本扫频无人值守问题，增加脚本中抓取数据的累计次数，防止遗漏偶发性异常电压波形，提高测试数据的可靠性。扫频过程中可以控制示波器自动抓图，并存到pc控制器数据集中，扫频结束可以直接调取最大值与最小值的波形自动贴到报告相应位置中。
97.另一方面，扫频所有波形均被记录，异常波形单独提取，并且查看波形方便快捷，不遗漏任何异常波形。避免因电压超规格、电压不稳、电压抖动、大小波等问题引起电压不稳情况被遗漏，避免在负载端不断累积与放大后造成服务器宕机，严重时可能造成烧板等后果，提高测试效率并且能够提高测试数据的可靠性。
98.在一些实施例中，请参照图7所示，本发明还提供了一种服务器vr芯片测试装置200，所述装置包括：
99.测试模块201，配置用于利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
100.分析模块202，配置用由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
101.保存模块203，配置用于通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
102.上述一种服务器vr芯片测试装置，首先通过利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图，然后由上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，最后通过上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下，可以解决时间较长脚本扫频无人值守问题，使得扫频所有波形均被记录，异常波形单独提取，便于后续快捷查看波形，不遗漏任何异常波形，提高测试效率保证测试数据的可靠性。
103.在一些实施例中，所述装置还包括配置用于执行以下步骤的模块：
104.由上位机记录每个波形图中最大电压值和最小电压值；
105.通过上位机将所有最大电压值中的最大值和所有最小电压值中的最小值及其对应的波形图保存到第三路径下。
106.在一些实施例中，所述测试模块201进一步配置用于：
107.对vrtt拉载软件、3d扫频脚本形成波形累计时间进行加长处理以使获取的每个波形图中电压波形及电流波形有至少5个周期、且电压波形大小各占据至少3个电压格。
108.在一些实施例中，所述分析模块202进一步配置用于：
109.对每个波形图执行以下操作：
110.获取波形图中每一周期的峰值和谷值，
111.计算峰值最大值和峰值最小值的差值以得到第一差值；
112.计算谷值最大值和谷值最小值的差值以得到第二差值；
113.响应于所述第一差值和第二差值均小于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于正常；
114.响应于所述第一差值和/或第二差值均大于等于所述预设抖动阈值，则确认波形图种类属于异常。
115.在一些实施例中，所述装置还包括配置用于执行以下步骤的模块：
116.响应于接收到用户触发的波形查询请求，则从所述第一路径下获取与所述波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示
117.其中，所述波形查询请求包括查询频率和/或占空比。
118.在一些实施例中，所述装置还包括配置用于执行以下步骤的模块：
119.响应于接收到用户触发的异常波形查询请求，则通过上位机依次对第二路径下的异常波形进行展示。
120.在一些实施例中，所述装置还包括配置用于执行以下步骤的模块：
121.响应于接收到用户触发的最大电压波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最大电压波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示；
122.响应于接收到用户触发的求或最小波形查询请求，则从所述第三路径下获取与最小波形查询请求匹配的查询结果并通过上位机展示。
123.需要说明的是，关于服务器vr芯片测试装置的具体限定可以参见上文中对服务器vr芯片测试方法的限定，在此不再赘述。上述服务器vr芯片测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
124.根据本发明的另一方面，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图请参照图8所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时实现以上所述的服务器vr芯片测试方法，具体
来说，所述方法包括以下步骤：
125.利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
126.由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
127.通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
128.根据本发明的又一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上所述的服务器vr芯片测试方法，具体来说，包括执行以下步骤：
129.利用装有vrtt拉载软件、3d扫频脚本的上位机对服务器vr芯片进行3d扫频测试并获取若干预设占空比、预设频率对应的波形图；
130.由所述上位机基于预设抖动阈值对每个波形图进行分析以确定波形图种类，其中，所述波形图种类包括正常和异常；
131.通过所述上位机将所有波形图保存到第一路径下，将属于异常种类的波形图保存到第二路径下。
132.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
133.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
134.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。