一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质与流程

1.本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.随着数据量不断剧增，市场对服务器的需求量仍然在不断扩大，无论是计算型服务器还是存储型服务器，其中存储部分都是服务器对数据处理必不可少的部分；同样，对于云计算、大数据等应用的服务器，对于存储部分的需求也是不可或缺的一部分。存储部分涉及硬盘数量较多，数据中心内部硬盘出现因硬盘质量、寿命等问题，运维人员通常需通过热维护的方式直接对数据中心问题硬盘进行更换维护；如果服务器存在硬盘盘符漂移的问题，通常会存在隐患问题，对于维护好的硬盘并不能与之前存在相同的盘符，业务盘对盘符进行操作时，则会引起业务问题，如造成严重的业务中断、客户体验较差的问题。同时，盘符漂移的问题直接影响系统盘导致无法启动系统。因此，服务器在研发设计时，应考虑服务器系统的盘符漂移的问题。
3.硬盘盘符漂移问题是伴随硬盘热插拔动作产生的，通常会在进行系统的硬盘热插拔功能验证时，一并测试，但当前硬盘热插拔功能验证通常采用人工热插拔的方法，而且，插拔次数较少，这对于验证硬盘盘符漂移来说，速度较慢，而且因插拔次数较少，会遗漏盘符漂移的问题的存在。
4.即在现有技术方案中，实验室通常通过手动的方法将硬盘拔出再插入，达到验证盘符漂移的问题，这种方法通常需要测试人员投入较多的人力资源，并且，热插拔的次数也受到限制，不易发现与复现盘符漂移的问题，从而遗漏问题到客户机房，在服务器运维期间，无法提前提出规避措施，避免业务问题的发生。


技术实现要素：

5.为了克服上述技术缺陷，本发明的目的在于提供一种硬盘盘符稳定性测试方法、装置、设备及介质，本发明所述方法应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。本发明的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试，在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。
6.本发明实施例提供的具体技术方案如下：
7.第一方面，提供了一种硬盘盘符稳定性测试方法，所述方法应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：
8.配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
9.开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
10.通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
11.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
12.进一步地，所述配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境，包括：
13.设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息；
14.设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息；
15.判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配；
16.若是，则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。
17.进一步地，所述通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测，根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移，包括：
18.依次对所述硬盘进行掉电操作；
19.获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息；
20.判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
21.若是，则依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
22.进一步地，所述依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断，包括：
23.获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息；
24.判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
25.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断；若否，系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
26.进一步地，所述对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断，包括：
27.判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第一循环次数是否达到第一阈值；
28.若是，则通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；若否，则继续依次对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
29.进一步地，所述通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测，包括：
30.随机对所述硬盘进行掉电和上电操作；
31.获取系统日志信息中掉电和上电操作后对应消失和出现的硬盘盘符信息；
32.判断所述消失和出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
33.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
34.进一步地，所述对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断，包括：
35.判断随机对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第二循环次数是否达到第二阈值；
36.若是，则结束测试；若否，则继续随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬
盘的盘符状态进行检测。
37.第二方面，提供了一种硬盘盘符稳定性测试装置，所述装置包括：
38.配置模块，用于配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
39.开启模块，用于开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
40.测试模块，用于通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
41.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
42.第三方面，提供了一种计算机设备，所述设备包括：
43.存储器、处理器及存储在存储器上的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序以实现如第一方面任一所述的硬盘盘符稳定性测试方法的步骤。
44.第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述介质包括：
45.其上存储有计算机程序，该计算机程序被存储器执行时实现第一方面任一所述的硬盘盘符稳定性测试方法的步骤。
46.与现有技术相比，本发明实施例提供的技术方案所述方法应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。本发明的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试，在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。
47.本发明实施例提供的技术方案针对硬盘盘符漂移问题，提出一种自动模拟硬盘热插拔动作的方法，从而快速、准确、全面的验证硬盘盘符漂移的问题，快速找出系统盘符漂移的位置，从而提前采取规避措施。
48.本发明实施例提供的技术方案通过模拟热插拔的动作，验证系统是否存在盘符漂移的问题，从而提前识别并规避因硬盘盘符漂移造成的严重问题。
49.本发明实施例提供的技术方案通过硬盘上下电方式来模拟硬盘热插拔动作验证硬盘盘符漂移的方法，可靠的完成系统设计问题，验证了系统的稳定性功能，测试便捷，节约人力成本；同时，验证测试次数较多，能很大程度上发现系统盘符漂移的问题，减少运维过程中严重问题的发生。
附图说明
50.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
51.图1为本发明实施例一提供的硬盘盘符稳定性测试方法的第一流程图；
52.图2为本发明实施例二提供的硬盘盘符稳定性测试方法的具体流程图；
53.图3为本发明实施例三提供的硬盘盘符稳定性测试装置的结构图；
54.图4为本发明实施例五提供的可被用于实施本技术中所述的各个实施例的示例性系统。
具体实施方式
55.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
56.需要说明的是，除非上下文明确要求，否则整个说明书和权利要求书中的“包括”、“包含”等类似词语应当解释为包含的含义而不是排他或穷举的含义；也就是说，是“包括但不限于”的含义。
57.此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
58.实施例一
59.本发明实施例提供了一种硬盘盘符稳定性测试方法，如图1所示，所述方法应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：
60.配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
61.开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
62.通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
63.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
64.具体地，所述服务器的背板硬件设计支持所述硬盘单独上电与下电操作；所述服务器系统管理芯片支持通过i2c总线管理硬盘单独上电与下电控制操作；或所述服务器的复杂可编程逻辑器件(cpld)支持与系统管理芯片交互实现定位硬盘以及对特定硬盘单独上电控制与单独下电控制操作；所述服务器系统下支持检索硬盘盘符与硬盘位置，可以准确定位硬盘与硬盘盘符的位置。
65.这里通过对每个硬盘进行掉电和上电操作模拟热插拔的动作，验证系统是否存在硬盘盘符漂移问题，从而提前识别并规避因盘符漂移造成的严重问题。
66.本发明实施例提供的技术方案应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。本发明的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试，在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。
67.实施例二
68.本发明实施例提供了一种硬盘盘符稳定性测试方法，如图1所示，所述方法应用于服务器，所述服务器包括若干个硬盘，每个硬盘对应一个盘符及一个插槽，所述方法包括：
69.步骤s01，配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境。
70.具体地，待测试服务器根据测试配置要求搭建测试机台，硬盘尽量满配测试，对所述服务器上电后，在linux系统下，确定待测试服务器硬盘数量及硬盘盘符识别。
71.这里安装一块m.2作为系统盘，所述系统盘的盘符对应为sda，以前置12块硬盘为例，12块硬盘的盘符分别对应为sdb、sdc、sdd、sde、sdf、sdg、sdh、sdi、sdj、sdk、sdl、sdm。
72.步骤s01还包括：
73.步骤s011，设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息；
74.设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息；
75.判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配；
76.若是，则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。
77.具体地，系统端根据系统下硬盘盘符信息，分别依次对基板管理控制器(bmc)系统定义的插槽slot0、slot1、slot2、slot3、slot4、slot5、slot6、slot7、slot8、slot9、slot10、slot11依次掉电与上电操作，这里掉电与上电操作模拟硬盘热插拔的动作，该动作可以实现bmc通过i2c控制复杂可编程逻辑器件cpld对所述硬盘进行热插拔，同时确认所述硬盘的盘符sdb、sdc、sdd、sde、sdf、sdg、sdh、sdi、sdj、sdk、sdl、sdm是否与插槽slot0、slot1、slot2、slot3、slot4、slot5、slot6、slot7、slot8、slot9、slot10、slot11相对应匹配，如果信息匹配成功，则提示环境配置成功，开始测试。
78.步骤s02，开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试。
79.步骤s03，通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
80.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
81.这里，对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测分为依次对每个硬盘进行掉电和上电操作后，再随机对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
82.步骤s03还包括：
83.步骤s031，依次对所述硬盘进行掉电操作；
84.获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息；
85.判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
86.若是，则依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
87.步骤s032，获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息；
88.判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
89.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断；若否，系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
90.步骤s033，判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第一循环次数是否达到第一阈值；
91.若是，则通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；若否，则继续依次对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
92.具体地，开始测试，依次通过基板管理控制器进行硬盘盘符稳定性测试，通过对所述硬盘依次掉电与上电操作模拟硬盘热插拔的方式，这里针对12块硬盘进行掉电与上电操作，每块硬盘掉电与上电操作后，分别检测系统下硬盘盘符信息状态以及bmc下日志信息，判断掉电与上电操作后消失和出现的盘符是否与原来的所述硬盘盘符及插槽slot相匹配，若掉电与上电操作后消失和出现的盘符与原来的所述硬盘的盘符及插槽slot相匹配，则继续下一块硬盘的掉电与上电操作；若掉电与上电操作后消失和出现的盘符与原来的所述硬盘的盘符及插槽slot不相匹配，则退出测试，提示系统出现盘符漂移的问题。循环测试直至
1000次的循环次数测试完成。
93.其中，这里对所述硬盘进行上电与下电操作时间间隔大于等于3秒；所述第一阈值为1000。
94.步骤s034，随机对所述硬盘进行掉电和上电操作；
95.获取系统日志信息中掉电和上电操作后对应消失和出现的硬盘盘符信息；
96.判断所述消失和出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
97.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
98.步骤s035，判断随机对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第二循环次数是否达到第二阈值；
99.若是，则结束测试；若否，则继续随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
100.具体地，通过基板管理控制器进行硬盘盘符稳定性测试，系统通过随机函数挑选要进行热插拔的硬盘盘符，通过所述硬盘盘符找到对应的硬盘的插槽slot号，随机对插槽slot号的硬盘掉电与上电操作模拟硬盘热插拔的方式，这里针对12块硬盘随机进行掉电与上电操作，每块硬盘掉电与上电操作后，分别检测系统下硬盘盘符信息状态以及bmc下日志信息，判断掉电与上电操作后消失和出现的盘符是否与原来的所述硬盘盘符及插槽slot相匹配，若掉电与上电操作后消失和出现的盘符与原来的所述硬盘的盘符及插槽slot相匹配，则继续下一块硬盘的掉电与上电操作；若掉电与上电操作后消失和出现的盘符与原来的所述硬盘的盘符及插槽slot不相匹配，则退出测试，提示系统出现盘符漂移的问题。随机循环测试直至1000次的循环次数测试完成。
101.其中，这里同样对所述硬盘进行上电与下电操作时间间隔大于等于3秒；所述第二阈值与第一阈值一致。
102.如图2所示为硬盘盘符稳定性测试方法的具体流程图，本发明涉及一种硬盘盘符稳定性测试方法，首先配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
103.本发明的硬盘盘符稳定性测试方法可以快速高效的完成硬盘热插拔自动化测试，在保证硬盘盘符稳定性测试准确率高的同时也能极大的提高测试效率、降低人力成本。
104.本发明实施例提供的硬盘盘符稳定性测试的方法在不脱离本发明技术方案的前提下，还可以做出若干改进以及优化，这些改进与优化也应当视为本发明的保护范围。
105.本发明实施例提供一种硬盘盘符稳定性测试的方法，本发明实施例提供的技术方案针对硬盘盘符漂移问题，提出一种自动模拟硬盘热插拔动作的方法，从而快速、准确、全面的验证硬盘盘符漂移的问题，快速找出系统盘符漂移的位置，从而提前采取规避措施。
106.本发明实施例提供的技术方案通过模拟热插拔的动作，验证系统是否存在盘符漂移的问题，从而提前识别并规避因硬盘盘符漂移造成的严重问题。
107.本发明实施例提供的技术方案通过硬盘上下电方式来模拟硬盘热插拔动作验证硬盘盘符漂移的方法，可靠的完成系统设计问题，验证了系统的稳定性功能，测试便捷，节约人力成本；同时，验证测试次数较多，能很大程度上发现系统盘符漂移的问题，减少运维
过程中严重问题的发生。
108.实施例三
109.本发明提供了一种硬盘盘符稳定性测试装置，如图3所示，所述装置包括配置模块、开启模块、测试模块。
110.在本实施例中，配置模块，用于配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
111.开启模块，用于开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
112.测试模块，用于通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
113.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
114.进一步地，配置模块用于设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息；
115.设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息；
116.判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配；
117.若是，则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。
118.进一步地，测试模块还用于依次对所述硬盘进行掉电操作；
119.获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息；
120.判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
121.若是，则依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
122.进一步地，测试模块还可用于获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息；
123.判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
124.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断；若否，系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
125.进一步地，测试模块还用于判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第一循环次数是否达到第一阈值；
126.若是，则通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；若否，则继续依次对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
127.进一步地，测试模块还用于随机对所述硬盘进行掉电和上电操作；
128.获取系统日志信息中掉电和上电操作后对应消失和出现的硬盘盘符信息；
129.判断所述消失和出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
130.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
131.进一步地，测试模块还用于判断随机对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第二循环次数是否达到第二阈值；
132.若是，则结束测试；若否，则继续随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
133.本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
134.本发明实施例提供的技术方案通过硬盘上下电方式来模拟硬盘热插拔动作验证
硬盘盘符漂移的方法，可靠的完成系统设计问题，验证了系统的稳定性功能，测试便捷，节约人力成本；同时，验证测试次数较多，能很大程度上发现系统盘符漂移的问题，减少运维过程中严重问题的发生。
135.实施例四
136.本发明提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时可以执行如下硬盘盘符稳定性测试的方法：
137.配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
138.开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
139.通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
140.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
141.本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
142.本发明实施例提供的技术方案针对硬盘盘符漂移问题，提出一种自动模拟硬盘热插拔动作的方法，从而快速、准确、全面的验证硬盘盘符漂移的问题，快速找出系统盘符漂移的位置，从而提前采取规避措施。
143.本发明实施例提供的技术方案通过模拟热插拔的动作，验证系统是否存在盘符漂移的问题，从而提前识别并规避因硬盘盘符漂移造成的严重问题。
144.实施例五
145.本发明提供了一种计算机存储介质，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
146.配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境；
147.开启对所述硬盘盘符进行稳定性测试；
148.通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；
149.根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移。
150.进一步地，所述配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境，包括：
151.设置所述硬盘的盘符信息为第一盘符信息；
152.设置所述硬盘的插槽信息为第一插槽信息；
153.判断所述第一盘符信息与所述第一插槽信息是否匹配；
154.若是，则配置所述硬盘盘符稳定性测试的测试环境成功。
155.进一步地，所述通过对每个硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测，根据检测结果确认所述硬盘的盘符是否漂移，包括：
156.依次对所述硬盘进行掉电操作；
157.获取系统日志信息中掉电操作后消失的硬盘盘符信息；
158.判断所述消失的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
159.若是，则依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
160.进一步地，所述依次对所述硬盘进行上电操作，对上电操作后出现的硬盘盘符信息进行判断，包括：
161.获取系统日志信息中上电操作后出现的硬盘盘符信息；
162.判断所述出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
163.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断；若否，系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
164.进一步地，所述对依次对所述硬盘掉电和上电操作的第一循环次数进行判断，包括：
165.判断依次对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第一循环次数是否达到第一阈值；
166.若是，则通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测；若否，则继续依次对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
167.进一步地，所述通过随机函数随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测，包括：
168.随机对所述硬盘进行掉电和上电操作；
169.获取系统日志信息中掉电和上电操作后对应消失和出现的硬盘盘符信息；
170.判断所述消失和出现的硬盘盘符信息是否与所述硬盘原有的盘符信息一致；
171.若是，则对下一个硬盘进行掉电和上电操作，并对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断；若否，则系统提示出现硬盘盘符漂移问题。
172.进一步地，所述对随机对所述硬盘掉电和上电操作的第二循环次数进行判断，包括：
173.判断随机对所述硬盘进行掉电和上电操作执行的第二循环次数是否达到第二阈值；
174.若是，则结束测试；若否，则继续随机对所述硬盘进行掉电和上电操作，对所述硬盘的盘符状态进行检测。
175.图4为本发明实施例五提供的可被用于实施本技术中所述的各个实施例的示例性系统；
176.如图4所示，在一些实施例中，系统能够作为各所述实施例中的任意一个用于硬盘盘符稳定性测试的上述设备。在一些实施例中，系统可包括具有结果的一个或多个计算机可读介质(例如，系统存储器或nvm/存储设备)以及与该一个或多个计算机可读介质耦合并被配置为执行结果以实现模块从而执行本技术中所述的动作的一个或多个处理器(例如，(一个或多个)处理器)。
177.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来结果相关的硬件来完成，上述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram
(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。
178.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
179.以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。