基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法与流程

1.本发明涉及产品回收技术领域，具体为基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法。


背景技术：

2.随着电子信息技术的快速发展，电子产品越来越普及，人们在日常生活中对电子产品的使用也越来越频繁，其也为人们的生产和生活带来了较大的便利。但是，电子产品存在使用寿命，在使用过程中，也存在磨损的情况，因此，人们往往每隔一段时间就会对电子产品进行更换，对于替换的电子产品往往采用丢弃或者转卖给回收人员的方式进行处理。
3.现有的基于人工智能的电子产品回收管理系统，仅仅是对电子产品的外观或者性能情况进行简单的检测，检测精度较差，进而对电子产品的评估结果与实际情况存在较大的差异，因此，现有技术存在较大的缺陷。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：基于人工智能的电子产品回收管理方法，所述方法包括以下步骤：
6.s1、获取电子产品的系统、外观及功能信息；
7.s2、根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度lhz，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl；
8.s3、对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值lhw1及第二外观老化值lhw2，并得到电子产品的外观老化速率比wgl；
9.s4、根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，
10.当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，
11.当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。
12.进一步的，所述s1中电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；
13.电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；
14.电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的比值，记为mqb，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，
15.获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为a1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为a2，将电子产品的电池的标准容量记为a3，则电池老化度为a1与a2的均值除以百分之n与a3的乘积时对应的商，记为lhd，
[0016][0017]
所述n为数据库中预制的常数。
[0018]
本发明在获取电子产品的系统信息、外观信息及功能信息时，是通过相应的传感器进行检测获取的；计算电子产品功能信息时，将电池与各个系统功能区分开始因为系统的各个功能反应的是电子产品的主板性能，而主板与电池均属于独立的个体，且电池性能也直接影响电子产品各个功能的使用及实现；获取a1与a2，是考虑到电池老化过程中，电子设备显示的相应比例的电量对应的实际值出现偏小的情况，即充电过程中实际充入的电量偏小或放电过程中实际消耗的电量偏小。
[0019]
进一步的，所述s2中计算电子产品各项功能的老化值的方法包括以下步骤：
[0020]
s2.1、获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；
[0021]
s2.2、获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为ti；
[0022]
s2.3、根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值，将ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为tci；
[0023]
s2.4、得到电子产品第i项功能的老化值，记为lhi，
[0024]
lhi＝bit1*ti/tci
[0025]
其中，bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；
[0026]
所述电子产品第i项功能的老化系数bit1的获取的方法包括以下步骤：
[0027]
sa1、获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为tji，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2-t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；
[0028]
sa2、将t2为不同值时对应的(t2，tji)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到tji与t2之间的关系函数，记为f(t2)；
[0029]
sa3、得到电子产品第i项功能的老化系数bit1，所述bit1等于函数f(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数f(t2)。
[0030]
本发明计算电子产品各项功能的老化值的过程中，获取电子产品第i项功能的老化系数时，采用线性回归模型拟合函数关系的方式，是考虑到历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延数据的个数是变化的，因此，数据个数每出现一次变化，重新获取一次相应的函数，能够实现对电子产品第i项功能的老化系数的更新，确保获取的电子产品第i项功能
老化值的准确性。
[0031]
进一步的，所述s2中得到电子产品系统主板的综合老化速率比的方法包括以下步骤：
[0032]
s2-1、获取电子产品的屏显信息缺失面积比mqb、电池老化度lhd及电子产品第i项功能的老化值lhi；
[0033]
s2-2、计算电子产品系统主板的综合老化度lhz，默认lhz大于0，
[0034][0035]
其中，i1表示电子产品中功能的总项数；
[0036]
s23、计算电子产品系统主板的寿命预估值m，
[0037][0038]
其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；
[0039]
s2-4、获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值m1；
[0040]
s2-5、得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl，所述zbl等于m与m1的比值。
[0041]
本发明得到电子产品系统主板的综合老化速率比的过程中，获取电子产品系统主板的综合老化度lhz，一方面是为了得到电子产品系统主板的寿命预估值m，另一方面是为了后续过程中获取电子产品的回收评估值pgz；计算电子产品系统主板的寿命预估值m，是因为历史数据库中回收的各个电子产品对应的使用时长是存在差异的，进而相互之间无法直接进行比较，进而通过寿命预估值的方式能够对回收的各个电子产品比较的量进行统一，通过寿命预估值之间的比较结果，准确得到电子产品系统主板的综合老化速率比。
[0042]
进一步的，所述s3中得到电子产品的外观老化速率比的方法包括以下步骤：
[0043]
s3.1、获取电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，所述划痕信息包括划痕深度大于等于第一预设值的硬划痕区域及划痕深度小于第一预设值的细划痕区域，所述第一预设值为数据库中预制的常数，电子产品正面的屏幕破损面积比；
[0044]
s3.2、得到电子产品的第一外观老化值lhw1，默认lhw1大于o，
[0045][0046]
其中，yq表示电子产品外观信息中硬划痕区域面积，e表示第一外观系数且e为数据库中预制的常数，xq表示电子产品外观信息中细划痕区域面积，zm表示电子产品背面及侧面对应总面积；
[0047]
s3.3、得到电子产品的第二外观老化值lhw2，所述lhw2等于lhw1与电子产品正面的屏幕破损面积比的和；
[0048]
s3.4、计算电子产品外观的寿命预估值m2，
[0049][0050]
其中，d1为数据库中电子产品达到报废程度时对应的第一外观老化值的参照值，所述d1为数据库中预制的常数；
[0051]
s3.5、获取历史数据库中各个回收的电子产品外观对应寿命预估值的平均值m3：
[0052]
s3.6、得到电子产品的外观老化速率比wgl，所述wgl等于m2与m3的比值。
[0053]
本发明得到电子产品的外观老化速率比的过程中，设置第一外观老化值lhw1和第二外观老化值lhw2，是考虑到电子产品的显示屏的破损具有偶然性，进而获取第一外观老化值lhw1是为了通过电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，分析电子产品的外观老化程度，进而得到电子产品的外观寿命预估值，但是电子产品的显示屏直接关系到电子产品的回收价值，进而获取第二外观老化值lhw2，是为了后续过程中获取电子产品的回收评估值pgz。
[0054]
进一步的，所述s4中获取电子产品的回收评估值的方法包括以下步骤：
[0055]
s4.1、获取电子产品系统主板的综合老化度lhz、电子产品系统主板的综合老化速率比zbl、电子产品的第二外观老化值lhw2及电子产品的外观老化速率比wgl；
[0056]
s4.2、得到电子产品的回收评估值，
[0057][0058]
其中，pgz表示电子产品的回收评估值。
[0059]
基于人工智能的电子产品回收管理系统，所述系统包括以下模块：
[0060]
产品数据获取模块，所述产品数据获取模块获取电子产品的系统、外观及功能信息；
[0061]
产品系统主板分析模块，所述产品系统主板分析模块根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度lhz，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl；
[0062]
产品外观分析模块，所述产品外观分析模块对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值lhw1及第二外观老化值lhw2，并得到电子产品的外观老化速率比wgl；
[0063]
产品回收管理模块，所述产品回收管理模块根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，
[0064]
当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，
[0065]
当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。
[0066]
进一步的，所述电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；
[0067]
电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；
[0068]
电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的
比值，记为mqb，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，
[0069]
获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为a1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为a2，将电子产品的电池的标准容量记为a3，则电池老化度为a1与a2的均值除以百分之n与a3的乘积时对应的商，记为lhd，
[0070][0071]
所述n为数据库中预制的常数；
[0072]
所述产品系统主板分析模块计算电子产品各项功能的老化值时，获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为ti；根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值，将ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为tci；得到电子产品第i项功能的老化值，记为lhi，
[0073]
lhi＝bit1*ti/tci
[0074]
其中，bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；
[0075]
所述产品系统主板分析模块获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为tji，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2-t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；将t2为不同值时对应的(t2，tji)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到tji与t2之间的关系函数，记为f(t2)；得到电子产品第i项功能的老化系数bit1，所述bit1等于函数f(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数f(t2)。
[0076]
进一步的，所述产品系统主板分析模块得到电子产品系统主板的综合老化速率比的过程中，获取电子产品的屏显信息缺失面积比mqb、电池老化度lhd及电子产品第i项功能的老化值lhi；计算电子产品系统主板的综合老化度lhz，默认lhz大于0，
[0077][0078]
其中，i1表示电子产品中功能的总项数；
[0079]
所述产品系统主板分析模块计算电子产品系统主板的寿命预估值m，
[0080][0081]
其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；
[0082]
所述产品系统主板分析模块获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值m1；得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl，所述zbl等于m与m1的比值；
[0083]
所述产品外观分析模块得到电子产品的外观老化速率比的过程中，获取电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，所述划痕信息包括划痕深度大于等于第一
预设值的硬划痕区域及划痕深度小于第一预设值的细划痕区域，所述第一预设值为数据库中预制的常数，电子产品正面的屏幕破损面积比；所述产品外观分析模块得到电子产品的第一外观老化值lhw1，默认lhw1大于0，
[0084][0085]
其中，yq表示电子产品外观信息中硬划痕区域面积，e表示第一外观系数且e为数据库中预制的常数，xq表示电子产品外观信息中细划痕区域面积，zm表示电子产品背面及侧面对应总面积；
[0086]
所述产品外观分析模块得到电子产品的第二外观老化值lhw2，所述lhw2等于lhw1与电子产品正面的屏幕破损面积比的和；
[0087]
所述产品外观分析模块计算电子产品外观的寿命预估值m2，
[0088][0089]
其中，d1为数据库中电子产品达到报废程度时对应的第一外观老化值的参照值，所述d1为数据库中预制的常数；
[0090]
所述产品外观分析模块获取历史数据库中各个回收的电子产品外观对应寿命预估值的平均值m3；得到电子产品的外观老化速率比wgl，所述wgl等于m2与m3的比值。
[0091]
进一步的，所述产品回收管理模块获取电子产品的回收评估值时，获取电子产品系统主板的综合老化度lhz、电子产品系统主板的综合老化速率比zbl、电子产品的第二外观老化值lhw2及电子产品的外观老化速率比wgl；所述产品回收管理模块得到电子产品的回收评估值，
[0092][0093]
其中，pgz表示电子产品的回收评估值。
[0094]
与现有技术相比，本发明所达到的有益效果是：本发明从电子产品的外观信息、系统信息及功能信息这三个方面对电子产品进行分析，分别获取电子产品各个方面的老化程度，并对其进行综合分析，准确获取电子产品的回收评估值，进而对电子产品进行回收管理；本发明相对于现有技术，能够结合电子产品的获取数据及数据库中历史回收的电子产品数据进行综合分析，对电子产品的评估方式更加深入，对电子产品的评估结果更加准确。
附图说明
[0095]
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
[0096]
图1是本发明基于人工智能的电子产品回收管理方法的流程示意图；
[0097]
图2是本发明基于人工智能的电子产品回收管理系统的结构示意图。
具体实施方式
[0098]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0099]
请参阅图1-2，本发明提供技术方案：基于人工智能的电子产品回收管理方法，所述方法包括以下步骤：
[0100]
s1、获取电子产品的系统、外观及功能信息；
[0101]
s2、根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度lhz，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl；
[0102]
s3、对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值lhw1及第二外观老化值lhw2，并得到电子产品的外观老化速率比wgl；
[0103]
s4、根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，
[0104]
当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，
[0105]
当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。
[0106]
所述s1中电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；
[0107]
电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；
[0108]
电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的比值，记为mqb，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，
[0109]
获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为a1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为a2，将电子产品的电池的标准容量记为a3，则电池老化度为a1与a2的均值除以百分之n与a3的乘积时对应的商，记为lhd，
[0110][0111]
所述n为数据库中预制的常数。
[0112]
本实施例中n为5。
[0113]
所述s2中计算电子产品各项功能的老化值的方法包括以下步骤：
[0114]
s2.1、获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；
[0115]
s2.2、获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为ti；
[0116]
s2.3、根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反
馈时延标准参照值，将ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为tci；
[0117]
本实施例中数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值均是提前人为预制的，不同功能的系统反馈时延标准参照值是存在差异的，不同电子产品的系统版本号或主板型号，在数据库中对应的同一功能的系统反馈时延标准参照值也有可能是存在差异的。
[0118]
s2.4、得到电子产品第i项功能的老化值，记为lhi，
[0119]
lhi＝bit1*ti/tci
[0120]
其中，bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；
[0121]
所述电子产品第i项功能的老化系数bit1的获取的方法包括以下步骤：
[0122]
sa1、获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为tji，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2-t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；
[0123]
本实施例中t3为30天。
[0124]
sa2、将t2为不同值时对应的(t2，tji)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到tji与t2之间的关系函数，记为f(t2)；
[0125]
sa3、得到电子产品第i项功能的老化系数bit1，所述bit1等于函数f(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数f(t2)。
[0126]
所述s2中得到电子产品系统主板的综合老化速率比的方法包括以下步骤：
[0127]
s2-1、获取电子产品的屏显信息缺失面积比mqb、电池老化度lhd及电子产品第i项功能的老化值lhi；
[0128]
s2-2、计算电子产品系统主板的综合老化度lhz，默认lhz大于0，
[0129][0130]
其中，i1表示电子产品中功能的总项数；
[0131]
s2-3、计算电子产品系统主板的寿命预估值m，
[0132][0133]
其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；
[0134]
s2-4、获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值m1；
[0135]
s2-5、得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl，所述zbl等于m与m1的比值。
[0136]
所述s3中得到电子产品的外观老化速率比的方法包括以下步骤：
[0137]
s3.1、获取电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，所述划痕信息包括划痕深度大于等于第一预设值的硬划痕区域及划痕深度小于第一预设值的细划痕区域，所述第一预设值为数据库中预制的常数，电子产品正面的屏幕破损面积比；
[0138]
s3.2、得到电子产品的第一外观老化值lhw1，默认lhw1大于0，
[0139]
[0140]
其中，yq表示电子产品外观信息中硬划痕区域面积，e表示第一外观系数且e为数据库中预制的常数，xq表示电子产品外观信息中细划痕区域面积，zm表示电子产品背面及侧面对应总面积；
[0141]
本实施例中e等于1.5。
[0142]
s3.3、得到电子产品的第二外观老化值lhw2，所述lhw2等于lhw1与电子产品正面的屏幕破损面积比的和；
[0143]
s3.4、计算电子产品外观的寿命预估值m2，
[0144][0145]
其中，d1为数据库中电子产品达到报废程度时对应的第一外观老化值的参照值，所述d1为数据库中预制的常数；
[0146]
s3.5、获取历史数据库中各个回收的电子产品外观对应寿命预估值的平均值m3；
[0147]
s3.6、得到电子产品的外观老化速率比wgl，所述wgl等于m2与m3的比值。
[0148]
所述s4中获取电子产品的回收评估值的方法包括以下步骤：
[0149]
s4.1、获取电子产品系统主板的综合老化度lhz、电子产品系统主板的综合老化速率比zbl、电子产品的第二外观老化值lhw2及电子产品的外观老化速率比wgl；
[0150]
s4.2、得到电子产品的回收评估值，
[0151][0152]
其中，pgz表示电子产品的回收评估值。
[0153]
基于人工智能的电子产品回收管理系统，所述系统包括以下模块：
[0154]
产品数据获取模块，所述产品数据获取模块获取电子产品的系统、外观及功能信息；
[0155]
产品系统主板分析模块，所述产品系统主板分析模块根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度lhz，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl；
[0156]
产品外观分析模块，所述产品外观分析模块对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值lhw1及第二外观老化值lhw2，并得到电子产品的外观老化速率比wgl；
[0157]
产品回收管理模块，所述产品回收管理模块根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，
[0158]
当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，
[0159]
当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。
[0160]
所述电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；
[0161]
电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；
[0162]
电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的比值，记为mqb，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，
[0163]
获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为a1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为a2，将电子产品的电池的标准容量记为a3，则电池老化度为a1与a2的均值除以百分之n与a3的乘积时对应的商，记为lhd，
[0164][0165]
所述n为数据库中预制的常数；
[0166]
所述产品系统主板分析模块计算电子产品各项功能的老化值时，获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为ti；根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值，将ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为tci；得到电子产品第i项功能的老化值，记为lhi，
[0167]
lhi＝bit1*ti/tci
[0168]
其中，bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；
[0169]
所述产品系统主板分析模块获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为tji，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2-t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；将t2为不同值时对应的(t2，tji)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到tji与t2之间的关系函数，记为f(t2)；得到电子产品第i项功能的老化系数bit1，所述bit1等于函数f(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数f(t2)。
[0170]
所述产品系统主板分析模块得到电子产品系统主板的综合老化速率比的过程中，获取电子产品的屏显信息缺失面积比mqb、电池老化度lhd及电子产品第i项功能的老化值lhi；计算电子产品系统主板的综合老化度lhz，默认lhz大于0，
[0171][0172]
其中，i1表示电子产品中功能的总项数；
[0173]
所述产品系统主板分析模块计算电子产品系统主板的寿命预估值m，
[0174][0175]
其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；
[0176]
所述产品系统主板分析模块获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值m1；得到电子产品系统主板的综合老化速率比zbl，所述zbl等于m与m1的比值；
[0177]
所述产品外观分析模块得到电子产品的外观老化速率比的过程中，获取电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，所述划痕信息包括划痕深度大于等于第一预设值的硬划痕区域及划痕深度小于第一预设值的细划痕区域，所述第一预设值为数据库中预制的常数，电子产品正面的屏幕破损面积比；所述产品外观分析模块得到电子产品的第一外观老化值lhw1，默认lhw1大于0，
[0178][0179]
其中，yq表示电子产品外观信息中硬划痕区域面积，e表示第一外观系数且e为数据库中预制的常数，xq表示电子产品外观信息中细划痕区域面积，zm表示电子产品背面及侧面对应总面积；
[0180]
所述产品外观分析模块得到电子产品的第二外观老化值lhw2，所述lhw2等于lhw1与电子产品正面的屏幕破损面积比的和；
[0181]
所述产品外观分析模块计算电子产品外观的寿命预估值m2，
[0182][0183]
其中，d1为数据库中电子产品达到报废程度时对应的第一外观老化值的参照值，所述d1为数据库中预制的常数；
[0184]
所述产品外观分析模块获取历史数据库中各个回收的电子产品外观对应寿命预估值的平均值m3；得到电子产品的外观老化速率比wgl，所述wgl等于m2与m3的比值。
[0185]
所述产品回收管理模块获取电子产品的回收评估值时，获取电子产品系统主板的综合老化度lhz、电子产品系统主板的综合老化速率比zbl、电子产品的第二外观老化值lhw2及电子产品的外观老化速率比wgl；所述产品回收管理模块得到电子产品的回收评估值，
[0186][0187]
其中，pgz表示电子产品的回收评估值。
[0188]
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0189]
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。