一种固态硬盘用安全模组的制作方法

1.本发明涉及安全检测技术领域，特别涉及一种固态硬盘用安全模组。


背景技术：

2.固态硬盘(solid state disk或solid state drive，简称ssd)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。
3.日常使用固态硬盘之前，需要保证固态硬盘的安全可用性，避免因为硬盘中某些电路的元件故障等问题，导致在使用固态硬盘过程中，造成需要存储的数据或调用的数据的缺失等。
4.因此，本发明提出一种固态硬盘用安全模组。


技术实现要素：

5.本发明提供一种固态硬盘用安全模组，用以通过向固态硬盘的每个接口设置安全警示灯以及向每个运行组件设置状态监测器，便于有效的得到固态硬盘在不同测试下所存在的异常问题，且通过警示灯闪烁，便于及时了解对应固态硬盘所存在的故障问题，方便及时解决，避免数据缺失。
6.本发明提供一种固态硬盘用安全模组，包括：
7.与固态硬盘的每个第一接口连接的安全警示灯，其中，所述安全警示灯在不同的安全状态下进行不同频率的安全警示；
8.与固态硬盘的每个运行组件连接的状态监测器，用于基于测试例对所述固态硬盘进行测试时，监测得到所述固态硬盘的当下运转信息；
9.处理中心，用于对所述当下运转信息进行安全分析，并锁定与所述测试例匹配的第二接口，且将安全分析结果配置到相应的第二接口上；
10.所述处理中心，还用于分析每个第二接口的安全分析结果，确定安全状态，并控制与所述第二接口匹配的安全警示灯按照对应的安全频率进行灯光闪烁。
11.优选的，所述处理中心，包括：
12.线路确定模块，用于获取所述测试例基于固态硬盘的标准测试线路，同时，基于测试例对固态硬盘进行测试时，开启所有状态检测器对匹配的运行组件进行状态检测，得到实际测试线路；
13.对齐处理模块，用于基于测试输入组件以及测试输出组件，将所述标准测试线路与实际测试线路进行对齐处理，判定所述标准测试线路与实际测试线路是否完全一致；
14.若一致，则将所述标准测试线路中的每个运行组件的标准测试结果与实际测试线路中每个运行组件的实际测试结果进行比较，构建对比阵列；
15.列分析模块，用于分析所述对比阵列中的匹配列以及非匹配列，并从所述非匹配列中获取断点匹配列以及所述断点匹配列基于标准测试线路的第一位置，同时，从所述非匹配列中获取异常点匹配列以及所述异常点匹配列基于标准测试线路的第二位置，其中，
所述断点匹配列指的是对应非匹配列中的实际测试结果为0，所述异常点匹配列指的是实际测试结果与标准测试结果的结果异常大于预设异常；
16.映射表建立模块，用于根据第一位置的运行组件基于标准测试线路的第一电路设置情况以及第二位置的运行组件基于标准测试线路的第二电路设置情况，从历史数据库中，建立基于第一电路设置情况和匹配列的第三位置的运行组件基于标准测试线路的第三电路设置情况的第一异常映射表，以及基于第二电路设置情况和第三电路情况的第二异常映射表；
17.第一异常获取模块，用于将所述断点匹配列的第一序列与第一异常映射表进行匹配，获取得到第一异常；
18.第二异常获取模块，用于将所述异常点匹配列的第二序列与第二异常映射表进行匹配，获取得到第二异常；
19.互斥性分析模块，用于分析所述第一异常与第二异常的互斥性；
20.当互斥性为极大互斥时，将所述第一异常与第二异常进行叠加处理，并向与所述测试输出组件匹配的安全警示灯发送异常叠加指令，进行闪烁；
21.当互斥性为极小互斥时，对所述第一异常以及第二异常进行异常筛选，得到第三异常，并向与所述测试输出组件匹配的安全警示灯发送第三异常指令，进行闪烁。
22.优选的，所述互斥性分析模块，包括：
23.值确定单元，用于确定所述第一异常的第一因素集合以及每个第一因素的第一值，同时，确定第二异常的第二因素集合以及每个第二因素的第二值；
24.第一计算单元，用于根据互斥关系表，建立每个第一因素与所有第二因素的子互斥表，并基于所述子互斥表以及所述子互斥表中第一因素的第一值以及每个第二因素的第二值，计算得到对应子互斥表的第一互斥值；
[0025][0026]
其中，d1表示对应子互斥表的第一互斥值；y
max
表示基于对应子互斥表获取的最大互斥因子；y(d1,d2i)表示子互斥表中所对应的第一因素的第一值d1与第i个第二因素的第二值d2i的互斥因子；表示平均互斥因子；n1表示对应子互斥表中所存在的第二因素的总个数；
[0027]
第二计算单元，用于基于所有第一互斥值，计算得到所述第一异常与第二异常的第二互斥值d2；
[0028][0029]
其中，max表示最大值函数；d1j表示第j个第一互斥值；表示对应第一个互斥值的权重；n2表示存在的第一互斥值的总个数；
[0030]
值映射单元，用于将所述第二互斥值d2进行值映射，得到互斥性。
[0031]
优选的，所述互斥分析模块，还包括：
[0032]
闪烁处理单元，用于当互斥性为极大互斥时，从异常-闪烁数据库中匹配与所述第一异常相关的第一闪烁频率以及与所述第二异常相关的第二闪烁频率；
[0033]
异常筛选单元，用于从以及以及中筛选最大值，并锁定与所述最大值匹配的主要异常；
[0034]
时长及频率确定单元，用于根据的比值，确定所述主要异常的第一闪烁时长、第一闪烁频率以及次要异常的第二闪烁时长、第二闪烁频率，其中，d2
j1
表示对应的第二因素的第二值与第j1个第一因素的第一值所对应的互斥值；表示对应的第二因素的第二值与第j1个第一因素的第一值所对应的互斥值的权重；n3表示针对第二因素为主所确定的互斥值的总个数；
[0035]
指令设置单元，用于将第一闪烁时长、第二闪烁时长、第一闪烁频率以及第二闪烁频率进行设置，向对应安全警示灯发送异常叠加指令。
[0036]
优选的，所述时长及频率确定单元，包括：
[0037]
若则判定第一异常为主要异常，第二异常为次要异常；
[0038]
若则判定第一异常为次要异常，第二异常为主要异常；
[0039]
若则随机筛选一个异常作为主要异常，另一个异常作为次要异常。
[0040]
优选的，所述处理中心，还包括：
[0041]
时长匹配模块，用于根据所述测试例的测试属性，从属性-时长表中，获取向所述测试输出组件所匹配的安全警示灯的总设置时长；
[0042]
其中，对应闪烁警示灯的第一闪烁时长与第二闪烁时长的累计和为总设置时长。
[0043]
优选的，所述对齐处理模块，包括：
[0044]
组件判定单元，用于当所述标准测试线路与实际测试线路不完全一致时，判定所述实际测试线路时缺失组件还是存在多余组件；
[0045]
第一显示单元，用于当存在缺失组件时，基于所述标准测试线路确定缺失组件，并根据所述实际测试线路中的缺失位置，并输入到缺陷分析模型中，得到所述固态硬盘的第一缺陷，并输出到与固态硬盘所连接的显示屏进行第一提醒显示；
[0046]
分析单元，用于当存在多余组件时，将所述多余组件输入到缺陷分析模型中，得到所述固态硬盘的第二缺陷，同时，分别获取每个多余组件所构成的简单电路，并将所述简单电路的电路信息输入到缺陷分析模型中，分别获取针对每个简单电路的第三缺陷；
[0047]
第二显示单元，用于建立所述第二缺陷与所有第三缺陷，获取所述固态硬盘的第四缺陷，并输出到与固态硬盘所连接的显示屏进行第二提醒显示。
[0048]
优选的，所述第二显示单元，包括：
[0049]
对比分析块，用于将所述第二缺陷与每个第三缺陷进行对比分析，当比较分析结
果满足比较分析标准时，将对应第三缺陷保留，否则，将对应第三缺陷视为待定；
[0050]
缺陷组合块，用于对待定的第三缺陷进行第一组合，得到第五缺陷，并将所述第五缺陷与第二缺陷进行第二组合，得到第四缺陷。
[0051]
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0052]
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
[0053]
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
[0054]
图1为本发明实施例中一种固态硬盘用安全模组的结构图。
具体实施方式
[0055]
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
[0056]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，如图1所示，包括：
[0057]
与固态硬盘的每个第一接口连接的安全警示灯，其中，所述安全警示灯在不同的安全状态下进行不同频率的安全警示；
[0058]
与固态硬盘的每个运行组件连接的状态监测器，用于基于测试例对所述固态硬盘进行测试时，监测得到所述固态硬盘的当下运转信息；
[0059]
处理中心，用于对所述当下运转信息进行安全分析，并锁定与所述测试例匹配的第二接口，且将安全分析结果配置到相应的第二接口上；
[0060]
所述处理中心，还用于分析每个第二接口的安全分析结果，确定安全状态，并控制与所述第二接口匹配的安全警示灯按照对应的安全频率进行灯光闪烁。
[0061]
该实施例中，固态硬盘的第一接口为通信接口、电源接口、数据处理接口等，也就是针对每个接口来设置一个安全警示灯，主要是为了当对应接口所对应的线路存在异常情况下，来基于安全警示灯来实现异常警示，且安全警示灯是led灯(由若干灯片组成的)。
[0062]
该实施例中，状态监测器指的是可以检测到对应组件的电流、电压、电阻等，来实现对相应组件的分析。
[0063]
该实施例中，比如，测试例是将数据a存储到该硬盘中，通过获取该测试例的存储路径也就是标准测试线路。
[0064]
该实施例中，由于固态硬盘中是包含若干电子存储芯片在内的，且每个存储芯片都可以视为对应的组件。
[0065]
该实施例中，比如，固态硬盘存在接口1、2、3，基于测试例进行测试的时候，与接口2匹配，此时，接口2就视为第二接口。
[0066]
该实施例中，安全分析结果配置到相应的第二接口的目的是为了将安全分析结果与第二接口进行联系，目的是为了确定第二接口所存在的故障。
[0067]
该实施例中，安全状态指的是对应存储路径上的线路上的位置a处存在异常等，可
以将存在的故障给明确出来，方便后续控制与第二接口所衔接的灯进行闪烁。
[0068]
该实施例中，当下运转信息指的是通过测试例进行存储测试的过程中，来获取相关的存储信息，也就是存储测试路径中每个元件(组件)的当下工作情况，包括电流、电压、电阻等，还包括对应所存储的内容等，且存储的内容与测试例一致。
[0069]
上述技术方案的有益效果是：通过向固态硬盘的每个接口设置安全警示灯以及向每个运行组件设置状态监测器，便于有效的得到固态硬盘在不同测试下所存在的异常问题，且通过警示灯闪烁，便于及时了解对应固态硬盘所存在的故障问题，方便及时解决，避免数据缺失。
[0070]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述处理中心，包括：
[0071]
线路确定模块，用于获取所述测试例基于固态硬盘的标准测试线路，同时，基于测试例对固态硬盘进行测试时，开启所有状态检测器对匹配的运行组件进行状态检测，得到实际测试线路；
[0072]
对齐处理模块，用于基于测试输入组件以及测试输出组件，将所述标准测试线路与实际测试线路进行对齐处理，判定所述标准测试线路与实际测试线路是否完全一致；
[0073]
若一致，则将所述标准测试线路中的每个运行组件的标准测试结果与实际测试线路中每个运行组件的实际测试结果进行比较，构建对比阵列；
[0074]
列分析模块，用于分析所述对比阵列中的匹配列以及非匹配列，并从所述非匹配列中获取断点匹配列以及所述断点匹配列基于标准测试线路的第一位置，同时，从所述非匹配列中获取异常点匹配列以及所述异常点匹配列基于标准测试线路的第二位置，其中，所述断点匹配列指的是对应非匹配列中的实际测试结果为0，所述异常点匹配列指的是实际测试结果与标准测试结果的结果异常大于预设异常；
[0075]
映射表建立模块，用于根据第一位置的运行组件基于标准测试线路的第一电路设置情况以及第二位置的运行组件基于标准测试线路的第二电路设置情况，从历史数据库中，建立基于第一电路设置情况和匹配列的第三位置的运行组件基于标准测试线路的第三电路设置情况的第一异常映射表，以及基于第二电路设置情况和第三电路情况的第二异常映射表；
[0076]
第一异常获取模块，用于将所述断点匹配列的第一序列与第一异常映射表进行匹配，获取得到第一异常；
[0077]
第二异常获取模块，用于将所述异常点匹配列的第二序列与第二异常映射表进行匹配，获取得到第二异常；
[0078]
互斥性分析模块，用于分析所述第一异常与第二异常的互斥性；
[0079]
当互斥性为极大互斥时，将所述第一异常与第二异常进行叠加处理，并向与所述测试输出组件匹配的安全警示灯发送异常叠加指令，进行闪烁；
[0080]
当互斥性为极小互斥时，对所述第一异常以及第二异常进行异常筛选，得到第三异常，并向与所述测试输出组件匹配的安全警示灯发送第三异常指令，进行闪烁。
[0081]
该实施例中，比如：标准测试线路：组件1-组件3-组件5-组件6(该线路上存储的元件，按照测试例所流经的线路来依次确定的元件)，比如：实际测试线路也为：组件1-组件3-组件5-组件6。
[0082]
该实施例中，对齐处理指的是：
[0083]
将标准测试线路中的组件1与实际测试线路中的组件1对齐，将标准测试线路中的组件6与实际测试线路中的组件6对齐，如果两个线路完全一致，来构建对比阵列，如下：
[0084][0085]
标1、标2、标3以及标4表示的是标准测试结果；
[0086]
实1、实2、实3以及实4表示的是实际测试结果。
[0087]
该实施例中，匹配列指的是同个组件下的实际信息与标准信息基本一致。
[0088]
非匹配列指的同个组件下的实际信息与标准信息不一致。
[0089]
该实施例中，比如，断点匹配列对组件1所对应的标1和实1，对比阵列中存在4列，由这4列来确定存在的非匹配列与匹配列。
[0090]
预设异常指的是同列中的实际测试结果与标准测试结果的结果异常较大，比如，实际测试结果的电流为1a，标准测试结果的电流为0.3a，此时，差为0.7a，但是该差大于0.2a，此时，就视为结果异常大于预设异常，并将对应的列视为异常点匹配列。
[0091]
该实施例中，历史数据库是包含对固态硬盘进行各种测试后，所测试得到的固态硬盘可能存在的异常，该异常的确定是基于固态硬盘中不同电路以及电路所处位置实现的，因此，匹配列的第三位置的运行组件的第三电路设置情况与对应的第一电路情况是可以得到第一位置的运行组件所存在的异常的。
[0092]
该实施例中，比如，第一位置的组件1的当下实际电路设置情况为a1，且基于标准测试线路的第一电路设置情况为a2，第三电路设置情况也是基于标准测试线路得到的，为a3，最后，所得到的异常映射表是可以得到对应第一位置的异常组件的异常的，比如，是a2、a3与a1的比较，得到的异常，是电流、电阻、电压等的异常，比如，是线路断连、短路等导致的。
[0093]
该实施例中，第一电路设置情况指的是第一位置的运行组件的电路连接情况，由于固态硬盘中的各电路都是预先设置好的，所以，可以直接得到第一位置的运行组件的电路连接情况，且第二电路设置情况与第一电路设置情况类似，此处不再赘述。
[0094]
该实施例中，第一序列包括[断点匹配列1的实际与标准比较信息断点匹配列2的实际与标准比较信息...]，因此，第一异常映射表是包含不同的序列以及与序列匹配的异常在内的，因此，就可以基于第一序列得到第一异常，且第二异常与第一异常的获取原理类似，此处不再赘述。
[0095]
该实施例中，互斥性指的是第一异常与第二异常的互斥，两者越互斥，表明两者之间越不相关，得到的异常越是独立，因此，需要对互斥性分析，确定后续是否异常叠加还是异常筛选，有效控制警示灯闪烁。
[0096]
上述技术方案的有益效果是：通过获取标准测试线路与实际测试线路，并构建对比阵列，后旭通过对列的分析，来确定不同情况列所处的位置，进而来得到相匹配的异常，且通过对异常进行互斥性分析，获取警示灯的有效控制指令，便于及时了解对应固态硬盘所存在的故障问题，方便及时解决，避免数据缺失。
[0097]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述互斥性分析模块，包括：
[0098]
值确定单元，用于确定所述第一异常的第一因素集合以及每个第一因素的第一值，同时，确定第二异常的第二因素集合以及每个第二因素的第二值；
[0099]
第一计算单元，用于根据互斥关系表，建立每个第一因素与所有第二因素的子互斥表，并基于所述子互斥表以及所述子互斥表中第一因素的第一值以及每个第二因素的第二值，计算得到对应子互斥表的第一互斥值；
[0100][0101]
其中，d1表示对应子互斥表的第一互斥值；y
max
表示基于对应子互斥表获取的最大互斥因子；y(d1,d2i)表示子互斥表中所对应的第一因素的第一值d1与第i个第二因素的第二值d2i的互斥因子；表示平均互斥因子；n1表示对应子互斥表中所存在的第二因素的总个数；
[0102]
第二计算单元，用于基于所有第一互斥值，计算得到所述第一异常与第二异常的第二互斥值d2；
[0103][0104]
其中，max表示最大值函数；d1j表示第j个第一互斥值；表示对应第一个互斥值的权重；n2表示存在的第一互斥值的总个数；
[0105]
值映射单元，用于将所述第二互斥值d2进行值映射，得到互斥性。
[0106]
该实施例中，第一因素集合是基于第一异常与异常因素数据库进行匹配得到的，该异常因素数据库是包括不同异常以及异常匹配的因素在内，因为因素不同在异常中所起到的作用不同，因此，因素值是不同的。
[0107]
该实施例中，互斥关系表是包括不同的两个的互斥因素在内的，比如，第一因素集合中包含因素1、2、3，第二因素集合中包含因素01、02，且因素1与因素01、02，即可构成对应的子互斥表，来计算第一互斥值。
[0108]
该实施例中，互斥因子的取值范围为[0，1]，其中，子互斥表中是可以包含不同的因素以及值所对应的互斥结果在内的，因此，可以得到互斥因子。
[0109]
该实施例中，值映射指的是d2与极大互斥与极小互斥进行映射，来得到互斥性，d2对应的值越大，越有可能为极大互斥，否则，为极小互斥。
[0110]
上述技术方案的有益效果是：通过确定不同异常的因素集合，来根据互斥关系表构建子互斥表，便于计算得到每个子互斥表的第一互斥值，且通过对所有第一互斥值进行计算，得到第二互斥值，通过值映射，得到互斥性，便于控制灯的闪烁频率以及闪烁时长，避免数据缺失。
[0111]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述互斥分析模块，还包括：
[0112]
闪烁处理单元，用于当互斥性为极大互斥时，从异常-闪烁数据库中匹配与所述第一异常相关的第一闪烁频率以及与所述第二异常相关的第二闪烁频率；
[0113]
异常筛选单元，用于从以及以及中筛选最大值，并锁定与所述最大值匹配的主要异常；
[0114]
时长及频率确定单元，用于根据的比值，确定所述主要异常的第一闪烁时长、第一闪烁频率以及次要异常的第二闪烁时长、第二闪烁频率，其中，d2
j1
表示对应的第二因素的第二值与第j1个第一因素的第一值所对应的互斥值；表示对应的第二因素的第二值与第j1个第一因素的第一值所对应的互斥值的权重；n3表示针对第二因素为主所确定的互斥值的总个数；
[0115]
指令设置单元，用于将第一闪烁时长、第二闪烁时长、第一闪烁频率以及第二闪烁频率进行设置，向对应安全警示灯发送异常叠加指令。
[0116]
优选的，所述时长及频率确定单元，包括：
[0117]
若则判定第一异常为主要异常，第二异常为次要异常；
[0118]
若则判定第一异常为次要异常，第二异常为主要异常；
[0119]
若则随机筛选一个异常作为主要异常，另一个异常作为次要异常。
[0120]
该实施例中，d2
j1
的计算方式与d1的计算方式类似，只是涉及到的参数含义不一样，此处不再赘述。
[0121]
该实施例中，主要异常的闪烁时长大于次要异常的闪烁时长，需要说明的时，在时长不变的情况下，主要异常的闪烁时长越长，对应的次要异常的闪烁时长越短。
[0122]
该实施例中，对应的闪烁时长为：总时长与的乘积，得到针对第一异常的第一闪烁时长，第二闪烁时长＝总时长t-第一闪烁时长。
[0123]
该实施例中，异常-闪烁数据库是预先设置好的，包括不同的异常以及与异常匹配的闪烁频率在内。
[0124]
该实施例中，当该实施例中，当时，对应的第一闪烁时长与第二闪烁时长是一样的。
[0125]
上述技术方案的有益效果是：通过根据数据库确定异常对应的频率以及通过两个最大值的比较，来有效的确定出主要异常以及异常异常，为闪烁时长提供基础，保证灯光闪烁的合理性，便于及时提醒，避免数据缺失。
[0126]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述处理中心，还包括：
[0127]
时长匹配模块，用于根据所述测试例的测试属性，从属性-时长表中，获取向所述测试输出组件所匹配的安全警示灯的总设置时长；
[0128]
其中，对应闪烁警示灯的第一闪烁时长与第二闪烁时长的累计和为总设置时长。
[0129]
该实施例中，属性-时长表是预先设置好的，是包含不同的测试属性，比如存储测试属性等，来得到总设置时长。
[0130]
上述技术方案的有益效果是：通过属性-时长表，便于有效匹配总设置时长，为灯光闪烁提供基础。
[0131]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述对齐处理模块，包括：
[0132]
组件判定单元，用于当所述标准测试线路与实际测试线路不完全一致时，判定所述实际测试线路时缺失组件还是存在多余组件；
[0133]
第一显示单元，用于当存在缺失组件时，基于所述标准测试线路确定缺失组件，并根据所述实际测试线路中的缺失位置，并输入到缺陷分析模型中，得到所述固态硬盘的第一缺陷，并输出到与固态硬盘所连接的显示屏进行第一提醒显示；
[0134]
分析单元，用于当存在多余组件时，将所述多余组件输入到缺陷分析模型中，得到所述固态硬盘的第二缺陷，同时，分别获取每个多余组件所构成的简单电路，并将所述简单电路的电路信息输入到缺陷分析模型中，分别获取针对每个简单电路的第三缺陷；
[0135]
第二显示单元，用于建立所述第二缺陷与所有第三缺陷，获取所述固态硬盘的第四缺陷，并输出到与固态硬盘所连接的显示屏进行第二提醒显示。
[0136]
该实施例中，比如，标准测试线路：组件1-组件3-组件4-组件5，实际测试线路：组件1-组件8-组件9-组件3-组件4-组件5，其中的组件8和组件9就是多余组件，如果实际测试线路：组件1-组件4-组件5，其中的组件3就是缺失组件。
[0137]
该实施例中，缺陷分析模型是预先训练好的，是基于不同的缺失组件所对应的缺失信息以及与缺失信息所匹配线路缺陷、以及多余组件所对应的多余信息以及与多余信息所匹配的线路缺陷为样本训练得到的，可以得到存在的缺陷，因此，可以通过分析实际测试线路中的组件情况，来确定固态硬盘所存在的缺陷，比如，如果实际线路中存在的两个组件的电路短路，那么在测试的过程中可能就会将该两个组件作为缺失的组件，来分析电路短路所造成的线路缺陷。
[0138]
该实施例中，简单电路中也包含各种元器件，比如，电阻、电感等，比如，串联或者并联，以此，通过缺陷分析模型进行分析可以得到对应电路的缺陷。
[0139]
该实施例中，第二缺陷为：缺陷a1，简单电路1的第三缺陷为：b1，简单电路2的第三缺陷为：b2，此时，缺陷a1与缺陷b1匹配，缺陷a1与缺陷b2不匹配，也即是表明对应的简单电路2所存在的缺陷对实际测试线路存在影响。
[0140]
上述技术方案的有益效果是：通过分析组件的多余或者缺失，基于缺陷分析模型对组件相应的信息进行分析，且结合对简单电路的辅助分析，得到缺陷，进行输出显示，保证对缺陷的及时处理，避免数据缺失。
[0141]
本发明提供一种固态硬盘用安全模组，所述第二显示单元，包括：
[0142]
对比分析块，用于将所述第二缺陷与每个第三缺陷进行对比分析，当比较分析结果满足比较分析标准时，将对应第三缺陷保留，否则，将对应第三缺陷视为待定；
[0143]
缺陷组合块，用于对待定的第三缺陷进行第一组合，得到第五缺陷，并将所述第五缺陷与第二缺陷进行第二组合，得到第四缺陷。
[0144]
该实施例中，第二缺陷为：缺陷a1，简单电路1的第三缺陷为：b1，简单电路2的第三缺陷为：b2，此时，缺陷a1与缺陷b1匹配，缺陷a1与缺陷b2不匹配，也即是表明对应的简单电路2所存在的缺陷对实际测试线路存在影响。
[0145]
那么，待定的第三缺陷就是缺陷b2，此时，组合的第五缺陷为：待定的第三缺陷b2,第四缺陷为：b2与a1。
[0146]
上述技术方案的有益效果是：通过将缺陷进行对比分析，来获取待定的第三缺陷，
并与第二缺陷组合，得到第四缺陷，保证对缺陷的及时处理，避免数据缺失。
[0147]
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。