数据的校验方法、电子设备和存储介质与流程

文档序号:34175791发布日期:2023-05-17 04:23阅读:36来源:国知局
数据的校验方法、电子设备和存储介质与流程

本发明涉及计算机,尤其是涉及一种数据的校验方法、电子设备和存储介质。


背景技术:

1、静态随机存取存储器(static random-access memory,简称“sram”)是随机存取存储器的一种。所谓的“静态”,是指这种存储器只要保持通电,里面储存的数据就可以恒常保持。为了避免sram丢失数据导致数据传输或处理过程中出现错误,需要对sram中存储的数据的正确性进行校验。

2、然而,本发明的发明人发现:现如今对sram中存储的数据进行校验的技术难度比较大,且十分依赖于中央处理器的处理能力。


技术实现思路

1、本发明实施方式的目的在于提供一种数据的校验方法、电子设备和存储介质,用以使得对sram中数据进行校验不再受限于中央处理器的处理性能。

2、为了实现上述目的,本发明的实施方式提供了一种应用于中央处理器的数据的校验方法,包括:发出校验信号,控制校验电路对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果;进行休眠,并在休眠结束后发出校验信号,控制校验电路对所述sram中的数据再次进行校验并得到第二校验结果;若所述第二校验结果等于所述第一校验结果,则确定所述sram中的数据正确。

3、为了实现上述目的,本发明的实施方式还提供了一种应用于校验电路的数据的校验方法,包括:接收中央处理器发出的校验信号,对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果;接收所述中央处理器休眠结束后发出的校验信号,对所述sram中的数据再次进行校验并得到第二校验结果;所述第一校验结果和所述第二校验结果供所述中央处理器在所述第二校验结果等于所述第一校验结果时确定所述sram中的数据正确。

4、为了实现上述目的,本发明的实施方式还提供了一种电子设备,包括:中央处理器和校验电路;其中,所述中央处理器用于执行上述的数据的校验方法;所述校验电路用于执行上述的数据的校验方法。

5、为了实现上述目的,本发明的实施方式还提供了一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,计算机程序被处理器执行时实现上述的数据的校验方法。

6、在本发明的实施方式中,中央处理器首先发出校验信号,控制校验电路对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果。进而进行休眠,并在休眠结束后发出校验信号,控制校验电路对所述sram中的数据再次进行校验并得到第二校验结果。进一步地,若所述第二校验结果等于所述第一校验结果,则说明校验电路进行第二次校验时,sram中的数据相比进行第一次校验时没有发生变化,因此确定所述sram中的数据正确。利用本实施方式提供的数据的校验方法,能够利用硬件校验电路对sram中的数据进行校验,便捷地实现了对sram中的数据进行校验,同时使得对sram中数据进行校验不再受限于中央处理器的处理性能,能够有效提升对sram中数据进行校验的速度。

7、在至少一个实施例中,在所述控制校验电路对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果后,还包括:响应于中断信号,使所述校验电路停止进行所述校验。

8、在至少一个实施例中,所述第一校验结果被所述校验电路存储在芯片内。将中央处理器休眠之前得到的第一校验结果存储在特定的存储介质芯片内,能够在进行后续比较第一校验结果和第二校验结果的步骤时便捷地获取第一校验结果。

9、在至少一个实施例中,所述若所述第二校验结果等于所述第一校验结果,则确定所述sram中的数据正确包括:比较所述aon中存储的第一校验结果和所述第二校验结果。能够在芯片内便捷地获取存储的第一校验结果并与第二校验结果进行比较,进而能够以简单快捷的方式实现确定sram中数据的正确性。



技术特征:

1.一种数据的校验方法,其特征在于,应用于中央处理器,包括:

2.根据权利要求1所述的数据的校验方法,其特征在于,在所述控制校验电路对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果后,还包括:

3.根据权利要求2所述的数据的校验方法,其特征在于,所述第一校验结果被所述校验电路存储在芯片内。

4.根据权利要求3所述的数据的校验方法,其特征在于,所述若所述第二校验结果等于所述第一校验结果,则确定所述sram中的数据正确包括:

5.一种数据的校验方法,其特征在于,应用于校验电路,包括:

6.根据权利要求5所述的数据的校验方法,其特征在于,在所述对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果之后,还包括:

7.根据权利要求5或6所述的数据的校验方法,其特征在于,所述对静态随机存取存储器sram中的数据进行校验并得到第一校验结果,包括:

8.根据权利要求7所述的数据的校验方法,其特征在于,所述对所述sram中的数据再次进行校验并得到第二校验结果,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括:中央处理器和校验电路;

10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的数据的校验方法。


技术总结
本发明涉及计算机技术领域,公开了一种数据的校验方法、电子设备和存储介质。该数据的校验方法应用于校验电路,包括:接收中央处理器发出的校验信号,对静态随机存取存储器SRAM中的数据进行校验并得到第一校验结果;接收中央处理器休眠结束后发出的校验信号,对SRAM中的数据再次进行校验并得到第二校验结果;第一校验结果和第二校验结果供中央处理器在第二校验结果等于第一校验结果时确定SRAM中的数据正确。中央处理器能够控制硬件校验电路对SRAM中的数据进行校验,便捷地实现了对SRAM中的数据进行校验,同时使得对SRAM中数据进行校验不再受限于中央处理器的处理性能,有效提升了对SRAM中数据进行校验的速度。

技术研发人员:肖桂军
受保护的技术使用者:奉加微电子(上海)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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