一种半导体测试程序自动化调用方法和系统与流程

本发明涉及半导体测试相关，具体涉及一种半导体测试程序自动化调用方法和系统。

背景技术：

1、现有的半导体测试工序中，需要作业人员根据随工单上的型号、生产日期、印字代码手动键盘输入调用程序，作业人员容易输错或者选错程序并效率低下；或者流程卡上加上程序条码，作业人员使用扫描枪扫描，将程序名输入，再手动调用程序后点击开始，该方法做不到完全自动化，每个程序都需要扫描一次，测试站点较多时效率较低，并且作业人员容易扫错，多次扫描也增大了出错的概率。

2、有鉴于上述的缺陷，当前亟需设计一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，来满足需求。

技术实现思路

1、为了解决上述内容中提到的问题，本发明提供了一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，其通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出多个测试程序，提高了效率，同时降低了出错的风险。

2、其技术方案是这样的：

3、一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

4、步骤s1、根据不同的产品型号和测试站点需求编写对应的测试程序，并存入rms系统(程序管理系统)，同时与产品型号关联；

5、步骤s2、订单在mes系统(生产制造系统)中生成批次号，所述批次号关联产品型号；

6、步骤s3、测试开始时，作业人员将批次号发送给eap系统(设备自动化程序系统)；

7、步骤s4、eap系统将批次号发送给mes系统，mes系统通过批次号查询得到产品型号，然后通过产品型号得到测试程序名并传回给eap系统；

8、步骤s5、eap系统将测试程序名发送给rms系统，rms系统根据测试程序名将测试程序发送给eap系统；

9、步骤s6、eap系统将测试程序下载到对应的测试站点并自动调用。

10、进一步的，步骤s3中作业人员通过掌上电脑扫描录入批次号，并且账上电脑与eap系统服务器相连接。

11、进一步的，所述测试站点包括：激光印字、测试机、分选机。

12、进一步的，所述步骤s5中的测试程序包括：激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序。

13、基于上述方法，本发明还提供了一种半导体测试程序自动化调用系统，其特征在于：

14、所述系统包括：批次号输入装置、eap系统、mes系统、rms系统和测试站点；所述eap系统分别与批次号输入装置、mes系统、rms系统和测试站点相连接。

15、进一步的，所述批次号输入装置具体为扫描枪和掌上电脑，所述账上电脑与eap系统服务器相连接。

16、进一步的，所述eap系统用于根据批次号获取测试程序，并下载给对应的测试站点，所述测试站点再自动调用测试程序；所述mes系统用于生成批次号，并且将所述批次号关联产品型号；所述rms系统用于保存测试程序，并且将测试程序与产品型号关联。

17、本发明的有益效果为：

18、1、本发明通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出多个测试程序，提高生产自动化程度，进而提高了效率，人机比由一比三提高到一比五，同时降低了对人的要求，进而降低了出错的风险，保证了产品的质量，并且减少了潜在质量成本与实际人工成本，降低比例30％，提高了生产效益。

19、2、本发明中的测试程序通过rms系统后台维护，并且与产品信息做了提前关联，提高了测试程序维护的效率，同时降低了维护的成本。

技术特征：

1.一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：步骤s3中作业人员通过掌上电脑扫描录入批次号，并且账上电脑与eap系统服务器相连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述测试站点包括：激光印字、测试机、分选机。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述步骤s5中的测试程序包括：激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序。

5.基于权利要求1所述的方法的一种半导体测试程序自动化调用系统，其特征在于：

6.根据权利要求5所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述批次号输入装置具体为扫描枪和掌上电脑，所述账上电脑与eap系统服务器相连接。

7.根据权利要求5所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述测试站点包括：激光印字、测试机、分选机。

8.根据权利要求5所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述eap系统用于根据批次号获取测试程序，并下载给对应的测试站点，所述测试站点再自动调用测试程序。

9.根据权利要求5所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述mes系统用于生成批次号，并且将所述批次号关联产品型号。

10.根据权利要求5所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述rms系统用于保存测试程序，并且将测试程序与产品型号关联。

技术总结
本发明提供了一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，其通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序，提高了效率，同时降低了出错的风险。

技术研发人员：杨建,晏长春,任文豪,丁长锋,卢登辉
受保护的技术使用者：江苏捷捷微电子股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15