一种芯片UID生成系统及方法与流程

本申请涉及集成电路测试，尤其涉及一种芯片uid生成系统及方法。

背景技术：

1、现有芯片的身份标识符uid的生成方法主要有两种:一是使用带uid功能支持的ft测试机台，测试芯片时机台直接给出其对应的uid信息,但使用这类测试设备会导致测试成本增加,同时机台需要和待测芯片进行通信，这也会增加生产调试阶段的难度和周期；二是芯片测试板外部挂一个实时时钟芯片，测试芯片时根据当前时间来生成uid信息，实时时钟芯片需要电池供电，这就导致了很多不稳定的因素，比如生产调试时可能会导致测试板大幅度的震荡、电池供电不稳定时间就会丢失等，同时待测芯片有很多残次品，可能会导致测试板短路、发送错误的指令给时钟芯片等，时间也容易丢失。

技术实现思路

1、本申请提供的一种芯片uid生成系统，旨在解决现有技术中芯片的uid生成方法生产调试阶段难度大、周期长且测试成本高的问题。

2、为实现上述目的，本申请采用以下技术方案：

3、本申请的一种芯片uid生成系统，包括待烧写芯片和与所述待烧写芯片通信连接的uid生成装置，所述uid生成装置用于接收所述待烧写芯片发送的uid获取命令，并根据所述uid获取命令对所述待烧写芯片写入uid信息。

4、作为优选，所述uid生成装置包括单片机和与所述单片机连接的flash闪存，所述单片机用于根据所述uid获取命令生成目标uid并将所述目标uid存储在所述flash闪存中。

5、作为优选，所述待烧写芯片安装在ft测试板卡上，并通过所述ft测试板卡的串行接口通信连接所述uid生成装置。

6、一种芯片uid生成方法，应用于上述的一种芯片uid生成系统，包括：

7、在uid生成装置中写入起始uid，于所述uid生成装置接收到待烧写芯片发送的uid获取命令时，基于所述起始uid生成目标uid，并根据所述uid获取命令将所述目标uid写入所述待烧写芯片中。

8、作为优选，所述在uid生成装置中写入起始uid，包括：

9、擦除所述uid生成装置中的整片flash闪存以将所述flash闪存中的初始数据均置为0xff；

10、将所述flash闪存划分为n个空间，分别记为空间0、空间1、......、空间n-1，其中空间0和空间1用于记录各型号芯片uid存储地址，其余空间用于存储uid；

11、将所述空间0中记录的uid存储地址分别与所述0xff进行比较，并根据比较结果确定最新的uid存储地址；

12、将所述最新的uid存储地址分别记录在空间0和空间1的对应位置处，并将起始uid之前设定个数的uid数据保存并备份至所述最新的uid存储地址中。

13、作为优选，在将所述空间0中记录的uid存储地址分别与所述0xff进行比较，并根据比较结果确定最新的uid存储地址之前还包括：

14、比对空间0与空间1中的数据，若一致，则遍历所述空间0，否则重新擦除整片所述flash闪存。

15、作为优选，所述根据比较结果确定最新的uid存储地址，包括：

16、于所述空间0中记录的uid存储地址不均为0xff时，确定所述空间0中记录的uid存储地址的最大值，并将所述最大值加上设定值得到最新的uid存储地址；否则，将所述空间2设定为最新的uid存储地址。

17、作为优选，所述基于所述起始uid生成目标uid，并根据所述uid获取命令将所述目标uid写入所述待烧写芯片中，包括：

18、读取并比较所述空间0和空间1中记录的所述待烧写芯片对应型号的uid存储地址，若一致，则根据读取的uid存储地址获取其保存并备份的两组第一uid数据；

19、根据预设规则对所述第一uid数据进行校验，校验通过则根据所述第一uid数据生成目标uid；

20、将所述flash闪存中保存和备份的所述第一uid数据中的最小值分别替换为所述目标uid。

21、作为优选，所述方法还包括：

22、于校验失败时，将每组所述第一uid数据中唯一不遵循递增规则的数据定义为错误数据，对每组中除所述错误数据外最大的第一uid加1得到所述错误数据对应的正确第一uid,并根据所述正确第一uid生成目标uid。

23、作为优选，所述预设规则包括：判断所述两组第一uid数据的个数是否均为所述设定个数且按照大小顺序依次递增以及所述两组第一uid数据是否相同。

24、本发明具有如下有益效果：

25、本申请具有非常高的可靠性，同时具有完善的数据校验和恢复机制，可避免运行过程中出现的各种断电导致flash数据损坏问题，还同时支持16个不同芯片型号的uid产生，不需要测不同芯片时就更换一次程序，此外，整个uid生成流程由自己掌控，不需要ft测试厂家支持，可节省大量的调试开发时间。

技术特征：

1.一种芯片uid生成系统，其特征在于，包括待烧写芯片和与所述待烧写芯片通信连接的uid生成装置，所述uid生成装置用于接收所述待烧写芯片发送的uid获取命令，并根据所述uid获取命令对所述待烧写芯片写入uid信息。

2.根据权利要求1所述的一种芯片uid生成系统，其特征在于，所述uid生成装置包括单片机和与所述单片机连接的flash闪存，所述单片机用于根据所述uid获取命令生成目标uid并将所述目标uid存储在所述flash闪存中。

3.根据权利要求2所述的一种芯片uid生成系统，其特征在于，所述待烧写芯片安装在ft测试板卡上，并通过所述ft测试板卡的串行接口通信连接所述uid生成装置。

4.一种芯片uid生成方法，其特征在于，应用于权利要求1-3中任一项所述的一种芯片uid生成系统，包括：

5.根据权利要求4所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，所述在uid生成装置中写入起始uid，包括：

6.根据权利要求5所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，在将所述空间0中记录的uid存储地址分别与所述0xff进行比较，并根据比较结果确定最新的uid存储地址之前还包括：

7.根据权利要求5所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，所述根据比较结果确定最新的uid存储地址，包括：

8.根据权利要求7所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，所述基于所述起始uid生成目标uid，并根据所述uid获取命令将所述目标uid写入所述待烧写芯片中，包括：

9.根据权利要求8所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，所述方法还包括：

10.根据权利要求8所述的一种芯片uid生成方法，其特征在于，所述预设规则包括：判断所述两组第一uid数据的个数是否均为所述设定个数且按照大小顺序依次递增以及所述两组第一uid数据是否相同。

技术总结
本申请公开了一种芯片UID生成系统及方法，涉及集成电路测试技术领域，该系统包括待烧写芯片和与待烧写芯片通信连接的UID生成装置，UID生成装置用于接收待烧写芯片发送的UID获取命令，并根据UID获取命令对待烧写芯片写入UID信息。本申请定义了具有非常高的可靠性，同时具有完善的数据校验和恢复机制，可避免运行过程中出现的各种断电导致flash数据损坏问题，还同时支持16个不同芯片型号的UID产生，不需要测不同芯片时就更换一次程序，此外，整个UID生成流程由自己掌控，不需要FT测试厂家支持，可节省大量的调试开发时间。

技术研发人员：蔡攀,何利蓉,肖文勇
受保护的技术使用者：杭州雄迈集成电路技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16