1.一种装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述装配体包括目标部件和测量基准部件，所述目标部件垂直于所述测量基准部件，所述几何功能需求为垂直度公差，所述进行装配体几何功能分析，获取几何功能需求对应的方向位置公差的步骤，包括：
3.根据权利要求2所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述测量所述被测理想特征平面与实际被测特征平面之间的最大变化量，得到所述方向位置公差的步骤，包括：
4.根据权利要求2所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述目标部件包含装配连接平面，所述装配连接平面为所述目标部件与所述测量基准部件的接触平面，所述基于分析装配连接特征对所述方向位置公差的影响，根据所述装配体建立整体坐标系和局部坐标系的步骤中，所述整体坐标系的构建步骤，包括：
5.根据权利要求4所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述基于分析装配连接特征对所述方向位置公差的影响，根据所述装配体建立整体坐标系和局部坐标系的步骤中，所述局部坐标系的构建步骤，包括：
6.根据权利要求4所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述在所述整体坐标系和所述局部坐标系上，分析接触位移变动对所述方向位置公差产生影响的位置变动量的步骤，包括：
7.根据权利要求6所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述定义所述被测理想特征平面上一点为被测量点，获取所述装配连接平面绕所述整体坐标系x轴、所述整体坐标系y轴、所述整体坐标系z轴旋转时，所述被测量点分别对应的第一位置变动量、第二位置变动量和第三位置变动量的步骤中，所述第一位置变动量的获取步骤，包括：
8.根据权利要求7所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述解析所述被测量点对应的位置矢量转换关系式的步骤，包括：
9.根据权利要求8所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述位置变动量关系式为：其中，δr表征所述被测量点的位置变动量。
10.根据权利要求9所述的装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法，其特征在于，所述根据所述第一改变位置矢量和所述位置变动量关系式解析得到所述第一位置变动量的步骤，包括：