电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明一般涉及航天器冲击环境效应领域，具体涉及一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、当航天器在运行过程中遇到冲击载荷时，其内部电子器件会受到相应程度的损坏，而电子器件遭受损坏后的剩余寿命会直接影响到航天器性能。现有技术中，针对普通电子器件，一般会通过搭建真实场景或模拟试验评估电子器件的剩余寿命。

2、但由于航天器冲击环境的特殊性，无法开展大量试验对电子器件进行寿命评估，这就导致电子器件的寿命评估结果仍存在准确性不高的问题。

技术实现思路

1、鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质，能够利用应变模拟模型确定出电子器件的最大应力，并利用最大应力确定出电子器件在各个冲击下的寿命损伤结果，从而提高电子器件的寿命评估结果的准确性。

2、第一方面，提供了一种电子器件的寿命评估方法，该方法包括：

3、获取电子器件在不同应变率下的形变参数，并根据形变参数获取电子器件的应变模拟模型；形变参数用于表征电子器件的形变程度；

4、基于应变模拟模型，获得电子器件在不同应力下的应变响应程度，以确定电子器件的最大应力；

5、基于最大应力，获得电子器件在不同冲击下的寿命损伤结果。

6、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，应变模拟模型用于表征电子器件的稳态蠕变阶段等效塑性应变率以及电子器件的初始蠕变阶段等效塑性应变率。

7、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，稳态蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：

8、

9、其中，用于表示稳态蠕变阶段等效塑性应变率，c用于表示稳态蠕变系数，α用于表示幂律失效应力水平，用于表示等效应力。

10、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，初始蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：

11、

12、其中，用于表示初始蠕变阶段等效塑性应变率，用于表示稳态蠕变阶段等效塑性应变率，∈t用于表示蠕变应变材料常数，b用于表示材料瞬态蠕变系数，t用于表示时间。

13、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，方法还包括：

14、基于应变模拟模型，获取电子器件在不同加载速率下的应力应变曲线，根据应力应变曲线对应变模拟模型进行参数修正。

15、结合第一方面，在一种可能的实现方式中，基于最大应力，获取电子器件在不同冲击下的寿命损伤结果包括：

16、基于最大应力，获得电子器件的损伤参数，以确定寿命损伤结果；损伤参数用于表征电子器件的损伤程度。

17、第二方面，提供了一种电子器件的寿命评估装置，该装置包括：

18、第一获取单元，用于获取电子器件在不同应变率下的形变参数，并根据形变参数获取电子器件的应变模拟模型；形变参数用于表征电子器件的形变程度；

19、确定单元，用于基于应变模拟模型，获得电子器件在不同应力下的应变响应程度，以确定电子器件的最大应力；

20、第二获取单元，用于基于最大应力，获得电子器件在不同冲击下的寿命损伤结果。

21、第三方面，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，该处理器执行该程序时实现如上述的电子器件的寿命评估方法。

22、第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序用于实现如上述的电子器件的寿命评估方法。

23、第五方面，提供了一种计算机程序产品，其上包括指令，该指令被执行时实现如上述的电子器件的寿命评估方法。

24、本申请实施例中提供的电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质，一方面，能够通过电子器件在不同应变率下的形变参数确定出适应于电子器件的应变模拟模型，使得应变模拟模型能够准确反映出电子器件在不同应力下的应变程度；另一方面，能够通过应变模拟模型确定出电子器件能够承受的最大应力，并以最大应力为基础，确定出电子器件在不同冲击类型下的剩余寿命，从而提高了电子器件的寿命评估结果的准确性。

技术特征：

1.一种电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述应变模拟模型用于表征所述电子器件的稳态蠕变阶段等效塑性应变率以及所述电子器件的初始蠕变阶段等效塑性应变率。

3.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述稳态蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：

4.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述初始蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：

5.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述基于所述最大应力，获取所述电子器件在不同冲击下的寿命损伤结果包括：

7.一种电子器件的寿命评估装置，其特征在于，所述装置包括：

8.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器用于执行所述程序时实现如权利要求1-6任一项所述的电子器件的寿命评估方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序用于实现如权利要求1-6任一项所述的电子器件的寿命评估方法。

10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品中包括指令，当所述指令被执行时实现如权利要求1-6任一项所述的电子器件的寿命评估方法。

技术总结
本申请公开了一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取电子器件在不同应变率下的形变参数，并根据形变参数获取电子器件的应变模拟模型；形变参数用于表征电子器件的形变程度；基于应变模拟模型，获得电子器件在不同应力下的应变响应程度，以确定电子器件的最大应力；基于最大应力，获得电子器件在不同冲击下的寿命损伤结果。能够利用应变模拟模型确定出电子器件的最大应力，并利用最大应力确定出电子器件在各个冲击下的寿命损伤结果，从而提高了电子器件的寿命评估结果的准确性。

技术研发人员：朱建斌,杨艳静,李毅,朱云飞,晏廷飞,刘闯,路东东,沈志强,信奇,张君,高海洋,薛倩,刘振皓,齐正磐
受保护的技术使用者：北京卫星环境工程研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/2/6