基于阵列分布信息引导的晶圆晶粒检测方法与流程

文档序号:36640922发布日期:2024-01-06 23:25阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于阵列分布信息引导的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述步骤3包括:

3.根据权利要求1所述的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述步骤1采用面阵灰度相机采集晶圆图像。

4.根据权利要求1所述的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述晶粒的类型包括:背景、阴影墨点、部分阴影墨点、正常、墨点、破损、破损墨点。

5.根据权利要求1所述的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述基于组图孪生卷积transformer的分类网络的训练过程包括:

6.根据权利要求5所述的晶圆晶粒检测方法,其特征在于,所述训练集和测试集按照7:3的比例进行划分。

7.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被处理器执行时实现根据权利要求1至6中任一项所述的晶圆晶粒检测方法。


技术总结
本发明公开了基于阵列分布信息引导的晶圆晶粒检测方法,属于数字图像处理技术领域。所述方法首先设计四方向搜索匹配的晶粒重索引算法完成晶圆上的所有晶粒进行定位和索引;然后将提取的晶粒图像进行编码后,输入到共享权重的CNN网络中提取单张图像局部特征,再利用多头自注意力机制的长距离上下文信息增强能力对图像相互之间的信息进行增强建模,最后将增强后的特征输出进行分类预测,获得了更高的晶粒图像分类准确率,同时网络的参数量和计算量也有效降低。实验结果表明发明可以解决阵列状密集排布的复杂形貌晶粒检测难题,未来可以拓展到相同场景下其他密集阵列目标的检测分类任务。

技术研发人员:肖上,吴静静,安聪颖,李天贺
受保护的技术使用者:无锡九霄科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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