一种目标检测方法、装置、电子设备及介质与流程

本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种目标检测方法、装置、电子设备及介质。

背景技术：

1、小尺寸目标的检测是目标检测领域中的一个重难点问题，目标检测是通过特征提取在图像中定位目标物体，但对于图像中的小尺寸目标，特征提取过程中的下采样将造成小尺寸目标的特征丢失，从而导致无法检测到图像中的小尺寸目标。

技术实现思路

1、本发明提供了一种目标检测方法、装置、电子设备及介质，以解决相关技术中的不足。

2、根据本发明实施例的第一方面，提供了一种目标检测方法，所述方法包括：对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像；利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像；对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果；将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果。

3、在一些实施例中，所述利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像，包括：以设定步长滑动窗口，将每次滑动窗口后窗口所覆盖的图像确定为待检测子图像，相邻两张待检测子图像中的重叠像素数量大于或等于所述上采样倍数。

4、在一些实施例中，所述对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果，包括：提取所述待检测子图像的第一特征图、第二特征图和第三特征图，所述第一特征图、第二特征图和第三特征图的维度依次增加；提取所述第三特征图的热力图；将所述热力图分别与所述第一特征图、所述第二特征图和所述第三特征图进行特征拼接，得到不同维度的第一融合特征、第二融合特征和第三融合特征；分别对所述第一融合特征、所述第二融合特征和所述第三融合特征进行目标检测，得到待检测子图像的第一目标检测结果。

5、在一些实施例中，所述将所述热力图分别与所述第一特征图、所述第二特征图和所述第三特征图进行特征拼接，得到不同维度的第一融合特征、第二融合特征和第三融合特征，包括：对所述热力图进行多次不同初始位置的下采样，得到子热力图集合；将所述子热力图集合中的各子热力图与所述第一特征图进行特征拼接，得到所述第一融合特征；将所述子热力图集合中的各子热力图与所述第二特征图进行特征拼接，得到所述第二融合特征；将所述子热力图集合中的各子热力图与所述第三特征图进行特征拼接，得到所述第三融合特征。

6、在一些实施例中，所述分别对所述第一融合特征、所述第二融合特征和所述第三融合特征进行目标检测，得到待检测子图像的第一目标检测结果，包括：对所述第一融合特征进行第一子目标检测，得到第一子目标检测结果；对所述第二融合特征进行第二子目标检测，得到第二子目标检测结果；对所述第三融合特征进行第三子目标检测，得到第三子目标检测结果，所述第一子目标、第二子目标和第三子目标的尺寸依次增大；根据所述第一子目标检测结果、所述第二子目标检测结果和所述第三子目标检测结果，得到待检测子图像的第一目标检测结果。

7、在一些实施例中，所述将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果，包括：根据各待检测子图像在所述待检测图像中的位置，将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述待检测图像中，得到所述待检测图像的第二目标检测结果；基于所述上采样倍数对所述第二目标检测结果指示的待检测图像进行尺寸还原，得到所述原始图像的目标检测结果。

8、在一些实施例中，在将各待检测子图像的检测框映射到所述待检测图像中，得到所述待检测图像的第二目标检测结果之后，所述方法还包括：

9、遍历各待检测子图像，若所述待检测子图像的目标边界区域内存在第一目标检测结果，则判断与所述待检测子图像相邻的另一待检测子图像的临近位置是否存在第一目标检测结果；若存在，则在所述待检测图像上采用最小矩形框包围相邻的两个第一目标检测结果映射后的第二目标检测结果，得到候选目标区域；若不存在，则将所述待检测子图像的第一目标检测结果在所述待检测图像上的映射区域，确定为候选目标区域；以候选目标区域为中心区域对待检测图像进行切图，得到第三待检测图像；对所述第三待检测图像进行目标检测，得到第三目标检测结果；若所述第三目标检测结果的置信度满足设定条件，则将所述第三目标检测结果确定为所述候选目标区域的目标检测结果。

10、在一些实施例中，所述方法还包括：根据所述候选目标区域内的第二目标检测结果，得到第四目标检测结果；将所述第四目标检测结果和所述第三目标检测结果进行加权融合，得到所述候选目标区域的第五目标检测结果；若所述第五目标检测结果的置信度满足设定条件，则将所述第五目标检测结果确定为所述候选目标区域的目标检测结果。

11、在一些实施例中，所述对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像，包括：利用卷积层从原始图像中提取浅层特征；利用多个残差组从所述浅层特征中提取深层特征；按照预设的上采样倍数对所述深层特征进行上采样，得到上采样后的特征图；对所述上采样后的特征图进行重建，得到待检测图像。

12、在一些实施例中，所述原始图像为待检测屏幕的屏幕图像，所述方法还包括：根据所述屏幕图像的目标检测结果，确定所述待检测屏幕是否符合验收标准。

13、根据本发明实施例的第二方面，提供了一种目标检测装置，所述装置包括：

14、超分辨率重构模块，用于对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像；

15、滑动切图模块，用于利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像；

16、目标检测模块，用于对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果；

17、检测后处理模块，用于将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果。

18、根据本发明实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器通过运行所述可执行指令以实现上述实施例中任一项所述的方法。

19、根据本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述指令被处理器执行时实现上述实施例中任一项所述的方法。

20、根据上述实施例可知，本发明对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像，利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像，并对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果，然后将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果。本发明通过对原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，完成小尺寸目标的特征扩充，避免在特征提取过程中由于下采样造成的目标丢失，提高小尺寸目标检测的准确度。

21、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

技术特征：

1.一种目标检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述热力图分别与所述第一特征图、所述第二特征图和所述第三特征图进行特征拼接，得到不同维度的第一融合特征、第二融合特征和第三融合特征，包括：

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述分别对所述第一融合特征、所述第二融合特征和所述第三融合特征进行目标检测，得到待检测子图像的第一目标检测结果，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在将各待检测子图像的检测框映射到所述待检测图像中，得到所述待检测图像的第二目标检测结果之后，所述方法还包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像，包括：

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始图像为待检测屏幕的屏幕图像，所述方法还包括：

11.一种目标检测装置，其特征在于，所述装置包括：

12.一种电子设备，其特征在于，包括：

13.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述指令被处理器执行时实现如权利要求1至10中任一项所述的方法。

技术总结
本发明提供了一种目标检测方法、装置、电子设备及介质，涉及图像处理领域。根据本发明的实施例，对获取的原始图像按照预设的上采样倍数进行上采样，得到待检测图像，利用滑动窗口将所述待检测图像切分为多张待检测子图像，并对每张待检测子图像进行目标检测，得到每张待检测子图像的第一目标检测结果，然后将各待检测子图像的第一目标检测结果映射到所述原始图像中，得到所述原始图像的目标检测结果。本发明通过对原始图像进行上采样，完成小尺寸目标的特征扩充，避免在特征提取过程中由于下采样造成的目标丢失，提高小尺寸目标检测的准确度。

技术研发人员：李云龙
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/25