基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统与流程

文档序号:37721179发布日期:2024-04-23 11:56阅读:12来源:国知局
基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统与流程

本发明涉及计量检测,特别涉及一种基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统。


背景技术:

1、目前,自动测量系统能够对物质进行浓度、重量等的自动计量,当前主流的自动测量系统在实际运行时,都要遵从相应的行业规范或操作指导进行定期(或关键时刻)的校准操作,而校准过程的操作权限必须开放给现场运行或运维角色,从而导致运行或运维角色就有了根据自身意图调整标准曲线参数的可能性。在技术层面,虽然在各种行业规范中都明确要求不得肆意更改标准曲线,但结合自动测量系统对标准曲线拟制的开放机制,就相当于对实际操作人员开了一个无限度修改校准参数进而影响测量数据准确性的窗口,导致篡改标准曲线导致测量数据失真的机率就大幅增加,并且篡改数据的行为很难回溯,影响测量系统的可靠性。


技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种基于拟态裁决的测量数据处理方法、装置、测量系统,能够通过拟态系统实现测量数据的裁决,提高测量系统的防篡改能力,提高测量系统的可靠性。

2、第一方面,本发明实施例提供了一种基于拟态裁决的测量数据处理方法,应用于测量系统,所述测量系统包括校准组件、拟态组件和电可擦除可编程只读存储器eeprom,所述基于拟态裁决的测量数据处理方法包括:

3、通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,基于所述可调校准曲线参数生成第一校准参数,基于所述只读校准曲线参数同步生成第二校准参数,将所述第二校准参数保存至eeprom;

4、通过所述校准组件生成第三校准参数,其中,所述第三校准参数等于所述第一校准参数,或者,所述第三校准参数通过修正所述可调校准曲线参数后得到;

5、当获取到目标测量数据,所述拟态组件从所述校准组件获取所述第三校准参数,从所述eeprom获取所述第二校准参数,基于所述第三校准参数和所述目标测量数据确定第一测量结果,基于所述第二校准参数和所述目标测量数据确定第二测量结果;

6、所述拟态组件基于所述第一测量结果和所述第二测量结果确定参考数值差,基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识,其中,当所述参考数值差大于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决不通过,或者,当所述参考数值差小于或等于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决通过;

7、当所述拟态裁决标识表征裁决通过,基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果。

8、根据本发明的一些实施例,所述初始校准数据包括零点校准数据、量程校准数据和标准物校准数据,所述零点校准数据为所述测量系统置零且无承载物时的测量数据,所述量程校准数据用于指示所述测量系统的测量范围,所述标准物校准数据为标准物的测量值,所述标准物为测量值已知的物品。

9、根据本发明的一些实施例,所述通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,包括:

10、当所述校准组件获取到所述初始校准数据,同步复制所述初始校准数据得到镜像校准数据,将所述镜像校准数据保存至所述eeprom;

11、所述校准组件基于所述初始校准数据生成所述可调校准曲线参数,基于所述eeprom存储的所述镜像校准数据生成所述只读校准曲线参数。

12、根据本发明的一些实施例,在将所述镜像校准数据保存至所述eeprom之后,所述方法还包括:

13、所述校准组件获取多组初始校准数据;

14、当多组所述初始校准数据为相同的数据,生成一组所述镜像校准数据。

15、根据本发明的一些实施例,所述基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,包括:

16、当所述参考数值差小于所述预设误差,所述拟态组件将所述第一测量结果确定为所述目标测量结果;

17、或者,当参考数值差等于所述预设误差,且所述第一测量结果大于所述第二测量结果,所述拟态组件将所述第二测量结果与误差随机值之和确定为所述目标测量结果,其中,所述误差随机值为小于所述预设误差的正数;

18、或者,当参考数值差等于所述预设误差,且所述第一测量结果小于所述第二测量结果,所述拟态组件将所述第一测量结果与所述误差随机值之和确定为所述目标测量结果。

19、根据本发明的一些实施例,在将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果之后,所述方法还包括:

20、所述拟态组件将所述第一测量结果确定为原始输出结果;

21、所述拟态组件将所述目标测量结果、所述拟态裁决标识和所述原始输出结果确定为目标输出结果。

22、根据本发明的一些实施例,在所述基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识之后,所述方法还包括:

23、当所述拟态裁决标识表征裁决不通过,将所述第二测量结果确定为所述目标测量结果;

24、将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果;

25、基于预设的放行条件确定是否输出所述目标输出结果,其中,所述放行条件用于指示所述拟态裁决标识表征裁决不通过时输出所述目标输出结果的条件。

26、第二方面,本发明实施例提供了一种基于拟态裁决的测量数据处理装置,包括少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器;所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个控制处理器执行,以使所述至少一个控制处理器能够执行如上述第一方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

27、第三方面,本发明实施例提供了一种测量系统,包括有如上述第二方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理装置。

28、第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行如上述第一方面所述的基于拟态裁决的测量数据处理方法。

29、根据本发明实施例的基于拟态裁决的测量数据处理方法,至少具有如下有益效果:通过所述校准组件获取初始校准数据,基于所述初始校准数据同步生成可调校准曲线参数和只读校准曲线参数,基于所述可调校准曲线参数生成第一校准参数,基于所述只读校准曲线参数同步生成第二校准参数,将所述第二校准参数保存至eeprom;通过所述校准组件生成第三校准参数,其中,所述第三校准参数等于所述第一校准参数,或者,所述第三校准参数通过修正所述可调校准曲线参数后得到;当获取到目标测量数据,所述拟态组件从所述校准组件获取所述第三校准参数,从所述eeprom获取所述第二校准参数,基于所述第三校准参数和所述目标测量数据确定第一测量结果,基于所述第二校准参数和所述目标测量数据确定第二测量结果;所述拟态组件基于所述第一测量结果和所述第二测量结果确定参考数值差,基于所述参考数值差和预设误差确定拟态裁决标识,其中,当所述参考数值差大于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决不通过,或者,当所述参考数值差小于或等于所述预设误差,所述拟态裁决标识表征裁决通过;当所述拟态裁决标识表征裁决通过,基于所述第一测量结果和所述第二测量结果的大小关系确定目标测量结果,将所述目标测量结果和所述拟态裁决标识确定为目标输出结果。根据本发明实施例的技术方案,能够利用eeprom存储的只读数据对初始校准数据进行监控,能够实现初始校准数据的全景回溯;利用拟态组件对实际测量的数据进行拟态裁决,从而对数据的合规性进行实时评判,有利于对不符合规则要求的测量数据进行实时拦截或报警,提高测量系统的防篡改能力和可靠性。

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