电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试方法及系统与流程

本技术涉及电量管理芯片，特别涉及一种电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试方法及系统。

背景技术：

1、在锂电新能源行业中，电量管理方面的半导体器件正逐渐多元化，特别是国产的电量计产品，如荣耀订制的sh366011系列电量计产品。与此同时，国内的半导体行业也在崛起，推动了电子产品功能模组封装的高集成化、小型化和标准化等系统封装趋势，使国产半导体与sip封装制造成为主流。因此，国产半导体的应用和功能检测逐渐渗透到相关制造环节中。

2、针对需要使用sip封装工艺的电子产品，例如荣耀订制的电量计sh366011系列产品，目前的测试需求主要包括以下方面：“电量计的定制烧录”、“电量计类的电压电流精度校准”以及“多种功能保护的测试”等。

3、不过，目前业界的半导体厂商通常提供单个通讯单元和相关通讯软件应用，用户可以在此基础上进行搭架组合测试应用，以满足具体的需求；但是这种方式需要用户具备较高的技术水平和专业知识，才能够完成测试应用的组合和配置，大大提高了技术难度和门槛，并且时间成本和物力成本都较高。

技术实现思路

1、本技术为解决现有技术中完成电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试需要用户自行搭架组合测试应用，导致的技术难度和门槛高，以及时间成本和物力成本都较高的技术问题，提供一种电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试方法及系统。

2、具体的，本技术提供一种电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试方法，包括以下步骤：

3、s100：响应于烧录指令，获取当前芯片的烧录字节集合堆，并对所述烧录字节集合堆进行解析，以获取目标烧录字节进行烧录。

4、s200：响应于校准指令，设置预设延时间隔，以基于所述预设延时间隔对当前芯片的电压、电流、板偏置和温度进行校准。

5、s300：响应于测试指令，对当前芯片的使能功能、中断触发功能和防伪功能进行测试。

6、在上述技术方案中，该方法适用于荣耀电量管理芯片；通过响应烧录指令并解析烧录字节集合堆，有效地获取目标烧录字节进行烧录，这样可以确保烧录的准确性和可靠性，避免错误的烧录导致功能异常或失效；预设延时间隔能够确保校准过程充分完成，提高校准的准确性和稳定性，通过校准能够提高芯片对电压、电流等参数的测量精度，从而提高电量管理的准确性；通过相关功能测试能够提供对电池电量管理芯片的全面评估，确保其正常工作和稳定性能。

7、进一步的，所述步骤s100包括：

8、根据所述烧录字节集合堆获取预设数据块，并对该预设数据块的初始定位索引进行赋值，以根据所述初始定位索引对该预设数据块中的烧录字节进行烧录。

9、同时，根据所述初始定位索引获取当前校验和值，以将当前校验和值与预设校验和值进行比对，若比对通过，则存储所述烧录字节；否则执行烧录报错预警。

10、重复以上过程，直至烧录字节集合堆中的所有烧录字节完成烧录。

11、在上述技术方案中，可以精确定位和处理需要烧录的字节，并通过校验和比对确保数据的准确性，有效降低了烧录错误和数据丢失的风险，提高了烧录的可靠性和成功率。

12、进一步的，所述步骤s200中的对电压进行校准，包括：

13、响应于进入电压校准指令，进入电压校准模式，设置第一电压延时间隔。

14、响应于电压预校准指令，进入电压预校准模式，基于所述第一电压延时间隔设置第二电压延时间隔。

15、获取电压校准参数，并根据所述电压校准参数计算初始电压校验和。

16、获取电压校准起始地址，根据所述电压校准起始地址和初始电压校验和计算第一目标电压校验和，对所述第一目标电压校验和进行第一反码操作，以获取第二目标电压校验和，并基于所述第二电压延时间隔设置第三电压延时间隔。

17、将所述第二目标电压校验和写入第一预设地址，并基于所述第三电压延时间隔设置第四电压延时间隔。

18、响应于退出电压校准指令，并基于所述第四电压延时间隔设置第五电压延时间隔，以在第五电压延时间隔后，退出电压校准模式。

19、在上述技术方案中，逐步优化电压校准的准确性和稳定性，提高了校准结果的可信度；通过对目标校验和进行反码操作，进一步增加了数据的安全性，这样能够更好地确保校准数据的准确性和可靠性；将第二目标电压校验和写入预设地址，有助于保存和识别已校准的数据，这样可以方便以后的电压校准参考，并为后续的电量管理提供正确的电压测量和计算基准；通过设置退出电压校准的指令和对应的延时间隔，能够确保在一定时间后准确地退出校准模式，这样可以保证校准过程的完整性和稳定性，使电压校准结果得到正确应用。

20、进一步的，所述步骤s200中的对电流进行校准，包括：

21、响应于进入电流校准指令，进入电流校准模式，设置第一电流延时间隔。

22、响应于电流预校准指令，进入电流预校准模式，基于所述第一电流延时间隔设置第二电流延时间隔。

23、获取电流校准参数，并根据所述电流校准参数计算初始电流校验和。

24、获取电流校准起始地址，根据所述电流校准起始地址和初始电流校验和计算第一目标电流校验和，对所述第一目标电流校验和进行第二反码操作，以获取第二目标电流校验和，并基于所述第二电流延时间隔设置第三电流延时间隔。

25、将所述第二目标电流校验和写入第二预设地址，并基于所述第三电流延时间隔设置第四电流延时间隔。

26、响应于退出电流校准指令，并基于所述第四电流延时间隔设置第五电流延时间隔，以在第五电流延时间隔后，退出电流校准模式。

27、再次执行以上过程，以完成二次电流校准。

28、在上述技术方案中，在对电流进行校准的过程中，采取了多阶段、多步骤的方法，并结合参数计算、校验和操作和数据写入等措施，确保电流校准的准确性、稳定性和可靠性，这样能够提高电量管理的精度和可信度，并适应电流的变化。

29、进一步的，所述步骤s200中的对板偏置进行校准，包括：

30、响应于进入板偏置校准指令，进入板偏置校准模式，设置第一板偏置延时间隔。

31、响应于板偏置自校准指令，进入板偏置自校准模式，以对板偏置进行校准，并基于所述第一板偏置延时间隔设置第二板偏置延时间隔。

32、响应于退出板偏置校准指令，并基于所述第二板偏置延时间隔设置第三板偏置延时间隔，以在第三板偏置延时间隔后，退出板偏置校准模式。

33、在上述技术方案中，延时间隔的设置可以确保校准过程的稳定性和准确性，避免因过快或过慢的切换导致校准结果的不准确；自校准过程根据设备自身的特性和状态进行调整，有效地减少了外部干扰和误差的影响；通过设置退出板偏置校准的指令和对应的延时间隔，能够确保在一定时间后准确地退出校准模式，这样可以保证校准过程的完整性和稳定性，使板偏置校准结果得到正确应用。

34、进一步的，所述步骤s200中的对温度进行校准，包括：

35、响应于进入温度校准指令，进入温度校准模式，设置第一温度延时间隔。

36、响应于温度预校准指令，进入温度预校准模式，基于所述第一温度延时间隔设置第二温度延时间隔。

37、获取温度校准参数，并根据所述温度校准参数计算初始温度校验和。

38、获取温度校准起始地址，根据所述温度校准起始地址和初始温度校验和计算第一目标温度校验和，对所述第一目标温度校验和进行第三反码操作，以获取第二目标温度校验和，并基于所述第二温度延时间隔设置第三温度延时间隔。

39、将所述第二目标温度校验和写入第三预设地址，并基于所述第三温度延时间隔设置第四温度延时间隔。

40、响应于退出温度校准指令，并基于所述第四温度延时间隔设置第五温度延时间隔，以在第五温度延时间隔后，退出温度校准模式。

41、在上述技术方案中，设定不同的温度延时间隔可以确保校准过程的充分和准确进行；通过反码操作可以增强数据的可靠性和完整性。

42、进一步的，所述步骤s300中的对使能功能进行测试，包括：

43、获取使能状态位，并根据所述使能状态位判断当前芯片是否处于使能状态，若是，则对使能端口进行高低电平的置位切换，以获取当前芯片的使能触发状态和使能恢复状态，并当所述使能触发状态和使能恢复状态均为成功状态时，判定当前芯片的使能功能测试通过；若不是，则发送使能指令，以进入使能状态，并重复以上过程。

44、在上述技术方案中，通过获取使能状态位，可以避免在非使能状态下执行使能功能测试，确保测试结果的准确性；通过判断使能触发状态和使能恢复状态是否都为成功状态，可以准确判定当前芯片的使能功能是否通过测试，这样能够确认芯片的使能功能符合预期，并为后续的操作和应用提供可靠的保证。

45、进一步的，所述步骤s300中的对中断触发功能进行测试，包括：

46、对中断端口进行高低电压切换，获取中断状态位。

47、根据所述中断状态位获取当前芯片的高压触发状态和低压触发状态，以当所述高压触发状态和低压触发状态均为成功状态时，判定当前芯片的中断触发功能测试通过。

48、在上述技术方案中，通过对中断端口的高低电压切换和状态判定，确保了功能测试的准确性、稳定性和可靠性，这样能够验证芯片在不同触发条件下的中断功能，并确保其正常工作，为后续的操作和应用提供可信赖的保证。

49、进一步的，所述步骤s300中的对防伪功能进行测试，包括：

50、接收第一随机数，并将该第一随机数转换为第一结果值。

51、获取预设密钥，并根据所述预设密钥获取第二随机数，将该第二随机数转换为第二结果值；

52、将所述第一结果值与第二结果值进行比较，若一致，则判定当前芯片的防伪功能测试通过；否则判断当前芯片的防伪功能测试不通过。

53、在上述技术方案中，通过对第一随机数和第二随机数的转换、结果值的比较和验证，能够验证芯片的防伪功能的有效性和准确性，这样能够确保芯片具备可靠的防伪功能，对于保护产品的合法性和真实性具有重要意义。

54、基于同一构思，本技术还提供一种电池电量管理芯片的烧录、校准和功能测试系统，所述系统包括：

55、烧录模块：用于响应于烧录指令，获取当前芯片的烧录字节集合堆，并对所述烧录字节集合堆进行解析，以获取目标烧录字节进行烧录。

56、校准模块：用于响应于校准指令，设置预设延时间隔，以基于所述预设延时间隔对当前芯片的电压、电流、板偏置和温度进行校准。

57、测试模块：用于响应于测试指令，对当前芯片的使能功能、中断触发功能和防伪功能进行测试。

58、在上述技术方案中，该系统适用于荣耀电量管理芯片，通过响应烧录指令并解析烧录字节集合堆，确保对目标烧录字节的准确和可靠烧录，以避免错误烧录导致功能异常或失效；另外，预设延时间隔的设置可以确保校准过程充分完成，提高校准的准确性和稳定性，进而提高芯片对电压、电流等参数的测量精度，从而提高电量管理的准确性；最后，通过相关功能测试，能全面评估电池电量管理芯片的性能，以确保其正常工作和稳定性。

59、与现有技术相比，本技术的有益效果在于：

60、本技术首先获取当前芯片的烧录字节集合堆，以根据该烧录字节集合堆获取目标烧录字节进行烧录；然后基于所设置的预设延时间隔对当前芯片的电压、电流、板偏置和温度进行校准；最后对当前芯片的使能功能、中断触发功能和防伪功能进行测试。

61、本技术适用于荣耀电量管理芯片，可以确保烧录的准确性和完整性；并且可以保证校准过程充分完成，提高校准的准确性；此外，还可以通过功能测试全面评估电池电量管理芯片的性能，以确保其正常工作和稳定性。