显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备与流程

本公开涉及硬件测试，具体地，涉及一种显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术：

1、随着图形技术的不断发展，显卡对于计算机设备的重要性也越来越高。对于生产厂商来说，通过对显卡进行测试来评估显卡的稳定性，进而确定显卡的质量是否合格是十分必要的。

2、当前，对显卡的测试主要依赖于手动测试，而手动测试不仅效率低下，而且容易受到测试人员主观意志的影响，无法满足测试可靠性的要求。并且，当前对显卡的测试是通过针对视频播放、开关机、休眠唤醒等单一场景去评估显卡的稳定性的，测试场景较为单一，可能会遗漏部分常见的显卡使用场景，同时也无法覆盖一些复杂的组合场景，这会导致显卡测试结果的准确度较低。

技术实现思路

1、为了解决相关技术中存在的问题，本公开提供了一种显卡测试方法、装置、存储介质和电子设备。

2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种显卡测试方法，所述方法包括：

3、根据待测显卡的显卡使用场景，生成所述待测显卡对应的多个测试用例；

4、对多个所述测试用例进行关联性分析，得到每个所述测试用例对应的关联信息；每个所述测试用例对应的关联信息用于表征该测试用例与多个所述测试用例中除该测试用例外的其他测试用例是否互斥；

5、根据所述关联信息和预设测试规则，控制所述待测显卡执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据；

6、根据所述测试数据，确定所述待测显卡的测试结果。

7、可选地，在所述根据待测显卡的显卡使用场景，生成所述待测显卡对应的多个测试用例之前，所述方法还包括：

8、根据用户对目标显卡的使用行为数据，确定所述显卡使用场景；所述目标显卡为已经过测试的显卡。

9、可选地，所述根据待测显卡的显卡使用场景，生成所述待测显卡对应的多个测试用例，包括：

10、对每个所述显卡使用场景中的用户操作事件进行模拟，得到该显卡使用场景对应的模拟操作指令和所述模拟操作指令对应的模拟交互信息；

11、根据每个所述显卡使用场景对应的模拟操作指令和该显卡使用场景对应的模拟交互信息，生成该显卡使用场景对应的至少一个所述测试用例。

12、可选地，所述根据所述关联信息和预设测试规则，控制所述待测显卡执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据，包括：

13、根据所述关联信息和所述预设测试规则，确定多个所述测试用例的执行序列；

14、控制所述待测显卡按照所述执行序列依次执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据。

15、可选地，所述预设测试规则包括执行规则信息；所述执行规则信息用于指示是否并发执行所述测试用例以及每次并发执行的测试用例的数量；所述根据所述关联信息和所述预设测试规则，确定多个所述测试用例的执行序列，包括：

16、对多个所述测试用例进行随机排序，得到多个所述测试用例的待选序列，并根据所述关联信息和所述执行规则信息，对所述待选序列进行调整，得到所述执行序列。

17、可选地，所述预设测试规则还包括每个所述测试用例的执行次数以及两个所述测试用例之间的执行时间间隔；所述测试数据包括测试图像和测试日志数据；所述控制所述待测显卡按照所述执行序列依次执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据，包括：

18、根据所述执行次数和所述执行时间间隔，控制所述待测显卡按照所述执行序列依次执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试图像以及该测试用例对应的测试日志数据。

19、可选地，所述根据所述测试数据，确定所述待测显卡的测试结果，包括：

20、针对每个所述测试用例，若该测试用例对应的测试图像与该测试用例对应的参考图像不匹配，将该测试用例对应的测试图像作为异常测试图像；

21、针对每个所述测试用例，若该测试用例对应的测试日志数据与该测试用例对应的参考日志数据不匹配，将该测试用例对应的测试日志数据作为异常日志数据；

22、根据所述异常测试图像和所述异常日志数据，确定所述待测显卡的测试结果。

23、根据本公开实施例的第二方面，提供一种显卡测试装置，所述显卡测试装置包括：

24、生成模块，用于根据待测显卡的显卡使用场景，生成所述待测显卡对应的多个测试用例；

25、关联模块，用于对多个所述测试用例进行关联性分析，得到每个所述测试用例对应的关联信息；每个所述测试用例对应的关联信息用于表征该测试用例与多个所述测试用例中除该测试用例外的其他测试用例是否互斥；

26、控制模块，用于根据所述关联信息和预设测试规则，控制所述待测显卡执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据；

27、确定模块，用于根据所述测试数据，确定所述待测显卡的测试结果。

28、可选地，所述生成模块，还用于在所述根据待测显卡的显卡使用场景，生成所述待测显卡对应的多个测试用例之前，根据用户对目标显卡的使用行为数据，确定所述显卡使用场景；所述目标显卡为已经过测试的显卡。

29、可选地，所述生成模块用于：

30、对每个所述显卡使用场景中的用户操作事件进行模拟，得到该显卡使用场景对应的模拟操作指令和所述模拟操作指令对应的模拟交互信息；

31、根据每个所述显卡使用场景对应的模拟操作指令和该显卡使用场景对应的模拟交互信息，生成该显卡使用场景对应的至少一个所述测试用例。

32、可选地，所述控制模块包括：

33、确定子模块，用于根据所述关联信息和所述预设测试规则，确定多个所述测试用例的执行序列；

34、控制子模块，用于控制所述待测显卡按照所述执行序列依次执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试数据。

35、可选地，所述预设测试规则包括执行规则信息；所述执行规则信息用于指示是否并发执行所述测试用例以及每次并发执行的测试用例的数量；所述确定子模块，用于对多个所述测试用例进行随机排序，得到多个所述测试用例的待选序列，并根据所述关联信息和所述执行规则信息，对所述待选序列进行调整，得到所述执行序列。

36、可选地，所述预设测试规则还包括每个所述测试用例的执行次数以及两个所述测试用例之间的执行时间间隔；所述测试数据包括测试图像和测试日志数据；所述控制子模块，用于根据所述执行次数和所述执行时间间隔，控制所述待测显卡按照所述执行序列依次执行每个所述测试用例，得到每个所述测试用例对应的测试图像以及该测试用例对应的测试日志数据。

37、可选地，所述确定模块用于：

38、针对每个所述测试用例，若该测试用例对应的测试图像与该测试用例对应的参考图像不匹配，将该测试用例对应的测试图像作为异常测试图像；

39、针对每个所述测试用例，若该测试用例对应的测试日志数据与该测试用例对应的参考日志数据不匹配，将该测试用例对应的测试日志数据作为异常日志数据；

40、根据所述异常测试图像和所述异常日志数据，确定所述待测显卡的测试结果。

41、根据本公开实施例的第三方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以上第一方面所述方法的步骤。

42、根据本公开实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括：

43、存储器，其上存储有计算机程序；

44、处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现以上第一方面所述方法的步骤。

45、通过上述技术方案，本公开实施例提供的显卡测试方法首先根据待测显卡的显卡使用场景，生成待测显卡对应的多个测试用例，然后对多个测试用例进行关联性分析，得到每个测试用例对应的关联信息，再根据关联信息和预设测试规则，控制待测显卡执行每个测试用例，得到每个测试用例对应的测试数据，最后根据测试数据，确定待测显卡的测试结果。本公开可以根据显卡使用场景生成多个测试用例，并通过执行每个测试用例来对显卡进行自动测试，测试场景丰富，可以覆盖各种显卡使用场景以及复杂的组合场景，提高了测试结果的准确度，并且，不需要依赖于手动测试，能够提高测试效率和测试可靠性。

46、本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。