一种白缺陷分类方法、装置及电子设备与流程

本申请涉及缺陷分类，尤其涉及一种白缺陷分类方法、装置及电子设备。

背景技术：

1、锂电池隔膜涂覆场景下，白缺陷一般包括撕裂、针孔、亮点(或划伤)和漏涂4种。其中，撕裂是指料膜被撕开产生裂缝，一般是由张力或其它外力导致料膜破损而形成的。不同缺陷对于隔膜使用的影响程度也不相同，撕裂与针孔对隔膜的危害巨大，因此需要对白缺陷进行细分类，以明确隔膜的实际缺陷是哪一种。

2、目前，在对白缺陷进行分类时，可以采集隔膜的明场图像和暗场图像，根据明场图像检测其中的白缺陷以及白缺陷的面积，通过暗场图像中该白缺陷区域的灰度值识别白缺陷的类型。但是在隔膜存在微小抖动或者图像采集器在采集的图像中灰度不均匀的情况下，会导致根据明场图像计算的白缺陷尺寸存在误差。图像采集器污染、性能导致的灰度变化也会导致白缺陷的检测误差。另外，目前针对镜头畸变问题采用分段的补偿系数进行校正，不够精确。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种白缺陷分类方法、装置及电子设备，以提高白缺陷面积检测的准确性，进而提高白缺陷分类准确性。

2、根据本申请的一方面，提供了一种白缺陷分类方法，该方法包括：

3、对包含待测隔膜的明场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的初始缺陷尺寸；其中，所述明场图像为亮度值大于预设亮度的包含待测隔膜的图像；

4、若所述初始缺陷尺寸小于第一预设尺寸，则基于预设平场因子对暗场图像中所述白缺陷预设范围内的灰度值进行处理，得到拉平场图像；其中，所述暗场图像为亮度值小于预设亮度的包含待测隔膜的图像；所述明场图像与所述暗场图像的像素点一一对应；

5、对所述拉平场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的实际缺陷尺寸，并根据所述实际缺陷尺寸确定所述白缺陷的类型。

6、根据本申请的一方面，提供了一种白缺陷分类装置，所述装置包括：

7、初始缺陷尺寸确定模块，用于对包含待测隔膜的明场图像进行检测，确定待测隔膜上的白缺陷的初始缺陷尺寸；其中，所述明场图像为亮度值大于预设亮度的包含待测隔膜的图像；

8、拉平场图像确定模块，用于若所述初始缺陷尺寸小于第一预设尺寸，则基于预设平场因子对暗场图像中所述白缺陷的预设范围内的灰度值进行处理，得到拉平场图像；其中，所述暗场图像为亮度值小于预设亮度的包含待测隔膜的图像；所述明场图像与所述暗场图像的像素点一一对应；

9、检测模块，用于对所述拉平场图像进行检测，确定待测隔膜上的白缺陷的实际缺陷尺寸，并根据所述实际缺陷尺寸确定所述白缺陷的类型。

10、根据本申请的另一方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括：

11、至少一个处理器；以及

12、与至少一个处理器白缺陷分类连接的存储器；其中，

13、存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本申请任一实施例的白缺陷分类方法。

14、根据本申请的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本申请任一实施例的白缺陷分类方法。

15、本申请实施例的技术方案，对包含待测隔膜的明场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的初始缺陷尺寸；其中，所述明场图像为亮度值大于预设亮度的包含待测隔膜的图像；若所述初始缺陷尺寸小于第一预设尺寸，则基于预设平场因子对暗场图像中所述白缺陷预设范围内的灰度值进行处理，得到拉平场图像；其中，所述暗场图像为亮度值小于预设亮度的包含待测隔膜的图像；所述明场图像与所述暗场图像的像素点一一对应；对所述拉平场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的实际缺陷尺寸，并根据所述实际缺陷尺寸确定所述白缺陷的类型。上述方案能够解决在隔膜抖动以及图像采集器采集的图像灰度不均匀的情况下，检测得到的白缺陷面积不准确的问题，通过暗场图像的灰度特征受隔膜抖动以及灰度不均匀影响小的特性，根据暗场图像的拉平场图像对白缺陷进行精准地检测，准确识别白缺陷的尺寸信息，进而提高了白缺陷分类准确性。

16、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种白缺陷分类方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设平场因子对暗场图像中所述白缺陷预设范围内的灰度值进行处理，得到拉平场图像，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述实际缺陷尺寸包括所述白缺陷的面积以及像素范围；

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述对比度和所述白缺陷的像素范围，确定所述白缺陷的类型，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述补偿系数的确定过程包括：

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设平场因子的确定过程包括：

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

10.一种白缺陷分类装置，其特征在于，所述装置包括：

11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

技术总结
本申请实施例公开了一种白缺陷分类方法、装置及电子设备。该方法包括：对包含待测隔膜的明场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的初始缺陷尺寸；若初始缺陷尺寸小于第一预设尺寸，则基于预设平场因子对暗场图像中白缺陷预设范围内的灰度值进行处理，得到拉平场图像；明场图像与暗场图像的像素点一一对应；对拉平场图像进行检测，确定待测隔膜上白缺陷的实际缺陷尺寸，并根据实际缺陷尺寸确定白缺陷的类型。上述方案能够解决因待测隔膜的微小移动导致白缺陷在明场图像中的尺寸存在误差的问题，通过暗场图像的拉平场图像对白缺陷的尺寸进行检测，提高检测的准确性。

技术研发人员：王凯
受保护的技术使用者：苏州凌云视界智能设备有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/21