成电路获得与该测试用例目 标的信号相关的逻辑门包括： 为所述编译后的待测试集成电路生成控制数据流图； 根据所述测试用例目标的信号，对生成的控制数据流图使用图搜索算法，确定该控制 数据流图中与所述测试用例目标的信号相关的逻辑门。3. 根据权利要求1所述的方法，其中所述获得相关的逻辑门上的突变使用如下方式之 为所述编译后的待测试集成电路的所有逻辑门产生突变，以及响应于确定了相关的逻 辑门，获取相关的逻辑门上的突变；或 响应于确定了相关的逻辑门，仅为相关的逻辑门产生突变。4. 根据权利要求2所述的方法，所述计算所述突变与所述测试用例目标的信号之间的 距离使用如下方式之一： 根据所述控制数据流图将所述相关的逻辑门与所述测试用例目标的信号之间相隔的 逻辑门个数作为该相关的逻辑门上的突变与所述测试用例目标的信号之间的距离； 根据所述控制数据流图将所述相关的逻辑门与所述测试用例目标的信号之间相隔的 寄存器个数作为该相关的逻辑门上的突变与所述测试用例目标的信号之间的距离。5. 根据权利要求1所述的方法，其中所述对编译后的待测试集成电路进行电路仿真， 获得突变、测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数包括： 对每个测试用例，执行如下步骤： 对所述编译后的待测试集成电路进行预定次数的电路仿真，其中在每次电路仿真中， 获得该次电路仿真对应的一个随机种子，以及每个所述突变在该测试用例下的激活周期 数。6. 根据权利要求1所述的方法，其中所述根据突变与测试用例目标的信号之间的距 离，突变、测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数，以及突变、测试用例的组合对应的 激活周期数方差，对突变、测试用例、随机种子的组合排序的排序准则包括： 突变与测试用例目标的信号之间的距离越小，该突变、测试用例、随机种子的组合的排 序优先级越大； 突变、测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数越大，该突变、测试用例、随机种子 的组合的排序优先级越大； 突变、测试用例的组合对应的激活周期数方差越大，该突变、测试用例、随机种子的组 合的排序优先级越大。7. 根据权利要求6所述的方法，其中使用如下公式计算突变、测试用例、随机种子的组 合的排序优先级：其中，Pm,t,s为突变、测试用例和随机种子的组合对应的排序优先级；FS为静态距离调节 因子，取值范围为0-1之间的数；Fd为突变激活周期数调节因子，取值范围为0-1之间的数； FD突变激活周期数方差调节因子，取值范围为0-1之间的数；d为突变与测试用例目标的信 号之间的距离；v为突变、测试用例和随机种子的组合对应的突变激活周期数；D为突变和 测试用例的组合对应的激活周期数方差；ctotal为仿真总周期数。8. 根据权利要求6或7所述的方法，还包括： 根据突变、测试用例、随机种子的组合的排序以及测试要求，选择部分突变、测试用例、 随机种子的组合；以及 使用选择的突变、测试用例、随机种子的组合对编译后的待测试集成电路进行突变仿 真。9. 根据权利要求8所述的方法，其中使用下式评估选择的突变、测试用例、随机种子的 组合是否合适：其中，Qp越大，选择的组合越合适。10. 根据权利要求9所述的方法，该方法还包括：响应于Qp不满足设定的阈值，对突变、 测试用例、随机种子的组合重新排序。11. 一种突变测试中对突变、测试用例、随机种子的组合排序的设备，包括： 相关逻辑门及其上的突变获得装置，被配置为根据测试用例目标的信号，对编译后的 待测试集成电路获得与该测试用例目标的信号相关的逻辑门及相关的逻辑门上的突变； 距离计算装置，被配置为计算所述突变与所述测试用例目标的信号之间的距离； 激活周期数获得装置，被配置为对编译后的待测试集成电路进行电路仿真，获得突变、 测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数； 激活周期数方差获得装置，被配置为获得突变、测试用例的组合对应的激活周期数方 差；以及 排序装置，被配置为根据所述距离，所述激活周期数，以及所述激活周期数方差，对突 变、测试用例、随机种子的组合排序。12. 根据权利要求11所述的设备，其中所述相关逻辑门及其上的突变获得装置包括： 控制数据流图生成装置，被配置为为所述编译后的待测试集成电路生成控制数据流 图； 相关逻辑门获得装置，被配置为根据所述测试用例目标的信号，对生成的控制数据流 图使用图搜索算法，确定该控制数据流图中与所述测试用例目标的信号相关的逻辑门。13. 根据权利要求11所述的设备，其中所述相关逻辑门及其上的突变获得装置使用如 下方式之一获得相关的逻辑门上的突变： 为所述编译后的待测试集成电路的所有逻辑门产生突变，以及响应于确定了相关的逻 辑门，获取相关的逻辑门上的突变；或 响应于确定了相关的逻辑门，仅为相关的逻辑门产生突变。14. 根据权利要求12所述的设备，所述距离计算装置使用如下方式之一计算所述突变 与所述测试用例目标的信号之间的距离； 根据所述控制数据流图将所述相关的逻辑门与所述测试用例目标的信号之间相隔的 逻辑门个数作为该相关的逻辑门上的突变与所述测试用例目标的信号之间的距离； 根据所述控制数据流图将所述相关的逻辑门与所述测试用例目标的信号之间相隔的 寄存器个数作为该相关的逻辑门上的突变与所述测试用例目标的信号之间的距离。15. 根据权利要求11所述的设备，其中所述激活周期数获得装置被进一步配置为：对 每个测试用例，执行如下步骤： 对所述编译后的待测试集成电路进行预定次数的电路仿真，其中在每次电路仿真中， 获得该次电路仿真对应的一个随机种子，以及每个所述突变在该测试用例下的激活周期 数。16. 根据权利要求11所述的设备，其中所述排序装置使周的排序准则包括： 突变与测试用例目标的信号之间的距离越小，该突变、测试用例、随机种子的组合的排 序优先级越大； 突变、测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数越大，该突变、测试用例、随机种子 的组合的排序优先级越大； 突变、测试用例的组合对应的激活周期数方差越大，该突变、测试用例、随机种子的组 合的排序优先级越大。17. 根据权利要求16所述的设备，其中所述排序装置使用如下公式计算突变、测试用 例、随机种子的组合的排序优先级：其中，Pm,t,s为突变、测试用例和随机种子的组合对应的排序优先级；FS为静态距离调节 因子，取值范围为0-1之间的数；Fd为突变激活周期数调节因子，取值范围为0-1之间的数； FD突变激活周期数方差调节因子，取值范围为0-1之间的数；d为突变与测试用例目标的信 号之间的距离；v为突变、测试用例和随机种子的组合对应的突变激活周期数；D为突变和 测试用例的组合对应的激活周期数方差；ctotal为仿真总周期数。18. 根据权利要求16或17所述的设备，还包括： 组合选择装置，被配置为根据突变、测试用例、随机种子的组合的排序以及测试要求， 选择部分突变、测试用例、随机种子的组合；以及 突变仿真装置，被配置为使用选择的突变、测试用例、随机种子的组合对编译后的待测 试集成电路进行突变仿真。19. 根据权利要求18所述的设备，进一步包括评估装置，被配置为使用下式评估选择 的突变、测试用例、随机种子的组合是否合适：其中，Qp越大，选择的组合越合适。20.根据权利要求19所述的设备，该设备还包括重新排序装置，被配置为响应于Qp不 满足设定的阈值，对突变、测试用例、随机种子的组合重新排序。
【专利摘要】本发明公开了一种突变测试中对突变、测试用例、随机种子的组合排序的方法和设备，该方法包括：根据测试用例目标的信号，对编译后的待测试集成电路获得与该测试用例目标的信号相关的逻辑门及相关的逻辑门上的突变；计算所述突变与所述测试用例目标的信号之间的距离；对编译后的待测试集成电路进行电路仿真，获得突变、测试用例、随机种子的组合对应的激活周期数；获得突变、测试用例的组合对应的激活周期数方差；以及根据所述距离，所述激活周期数，以及所述激活周期数方差，对突变、测试用例、随机种子的组合排序。该方法和设备能够减少突变仿真选择等价突变的概率。
【IPC分类】G06F17/30
【公开号】CN105335379
【申请号】CN201410293660
【发明人】苟鹏飞, 刘丹, 刘洋, 李阳, B·霍佩
【申请人】国际商业机器公司
【公开日】2016年2月17日
【申请日】2014年6月26日
【公告号】US20150379187