对齐可W包括标识部分对齐的与该另一 扫描或扫描对的关键点特征匹配的关键点特征。此外或备选地，分析所选部分对齐可W包 括将部分对齐的关键点特征与附加关键点特征组合或合并。
[0051] 响应于分析，可W计算与将部分对齐与附加关键点特征组合相关联的误差值。例 如，可W使用ICP算法计算ICP误差（例如，点到平面误差）值。
[0052] 可各种方式将计算误差与被建立为删除部分对齐的阔值进行比较。例如，如 果计算误差大于阔值，则部分对齐将被拒绝，然而如果计算误差小于或等于阔值，则部分对 齐将被接受W包括在全局对齐中。阔值可W被建立为从学习模型生成的值。
[0053] 总体上，使用本文中描述的技术自动对齐多个扫描表示了相比于单独处理扫描的 改善。例如，当两个扫描被处理为相对于另一扫描的合并扫描时，由于合并扫描通常具有更 大的重叠，可W改善对齐具有小重叠的两个扫描的准确性。
[0054] 图4描绘使用图1的对齐模块114 W采用本文中描述的技术的示例对齐400。例 如，如图示的，示例对齐400包括扫描402、404和406、W及全局对齐408。如图示的，扫描 402、404和406中的每个扫描表示个体（例如，图2的对象204)的不同视角。
[00巧]总的来说，扫描402和404构成已经沿着对应关键点的路径对齐的扫描对。扫描 402和404表示其将与扫描406的附加关键点特征组合的部分对齐。为了产生全局对齐 408,基于对齐模块114计算用于将扫描402和404的匹配关键点与扫描406的关键点组合 的误差，部分对齐被确定为接受。在运一具体示例中，将计算误差与阔值进行比较指示了要 接受部分对齐。响应于接受部分对齐，部分对齐内的匹配关键点特征可W与附加扫描内的 关键点特征组合，W产生全局对齐408。
[0056] 如果计算误差指示要拒绝部分对齐，则从扫描402和404或者未示出的不同扫描 制成的附加部分对齐将被处理。通过示例的方式，响应于拒绝部分对齐，计算与将从扫描 402和404制成的备选部分对齐与附加关键点特征（例如，与对象的附加扫描相关联的）组 合相关联的新的误差。基于将计算的新误差与阔值进行比较，可W做出是接受还是拒绝附 加部分对齐的确定。
[0057] 本文中讨论了由各种模块执行的诸如分析、比较、分派、计算、生成、确定等之类的 各种动作。应该理解的是，各种模块可各种组合被配置有用于使得运些和其它动作被 执行的功能。与特定模块相关联的功能可W在不同模块之中进一步划分，和/或由多个模 块表示的功能可W-起组合成单个逻辑模块。而且，特定模块可W被配置为使得动作直接 由特定模块来执行。此外或备选地，通过调用或W其它方式访问其它部件或模块W执行特 定动作（或者执行与该特定模块结合的动作），特定模块可W造成特定动作。
[0058] 示例过括
[0059] W下讨论描述对齐技术，其可W利用先前描述的系统和设备来实现。过程中的每 个过程的方面可W实现在硬件、固件、或软件、或其组合中。过程被示出为块集，块集指定由 一个或多个设备执行的操作，并且过程不必要限于用于由相应块执行操作的所示顺序。而 且，在不同实施方式中，过程中的任何一个或多个块可W组合在一起或者完全省略。而且， 本文中与不同表示性过程和对应图相关联的块可W-起应用。从而，跨各种不同过程指定 的单独操作可W W任何适合组合来使用，并且不限于由示例图所表示的特定组合。在W下 讨论的部分中，可W参照图1至图4的示例。
[0060] 图5是描绘其中图1的对齐模块114确定是接受还是拒绝针对多个扫描的部分对 齐的过程500的流程图。
[0061] 针对从不同视角获得的对象的多个扫描，形成部分对齐（块502)。例如，对齐模 块114可W使用本文中描述的技术中的任何技术来形成部分对齐。特别地，通过识别多个 扫描内的关键点特征、向多个扫描的关键点特征之间的潜在匹配分派误差值、和/或是用 分派的误差值来匹配两个或更多关键点特征W产生部分对齐，对齐模块114可W形成部分 对齐。
[0062] 计算与将部分对齐与一个或多个附加关键点特征组合相关联的误差（块504)。例 如，对齐模块114可W使用标识ICP误差的ICP算法来计算误差。在一个或多个实施方式 中，可W在确定针对扫描的全局对齐是否要包括部分对齐前，计算部分对齐和附加关键点 特征之间的误差。
[0063] 基于计算误差与被建立为删除潜在对齐的阔值的比较，做出关于是接受还是拒绝 部分对齐的确定（块506)。例如，对齐优化器模块118可W执行计算误差和阔值之间的比 较。在其中接受部分对齐的实施方式中，全局对齐将包括接受的部分对齐。在其中拒绝部 分对齐的实施方式中，全局对齐将不包括拒绝的部分对齐，并且附加部分对齐将被选择用 于处理。
[0064] 图6是描绘其中图1的对齐模块114选择和处理扫描对之间的多个潜在匹配之一 的过程600的流程图。
[0065] 向扫描对的关键点特征之间的潜在匹配分派误差值（块602)。例如，如本文中联 系图1至图4和在其它地方讨论的，对齐模块114可W向潜在匹配分派误差值。例如，每个 相应误差值可W指示关键点特征之间的匹配程度。本文中，每个潜在匹配表示匹配的关键 点特征的不同部分对齐。
[0066] 基于分派的误差，部分对齐被选择用于进一步处理（块604)。例如，对齐模块114 可W选择与扫描对的匹配关键点特征之间的最低误差相关联的部分对齐。
[0067] 计算与将所选部分对齐与另一扫描的一个或多个附加关键点特征组合相关联的 误差化06)。例如，对齐模块114可W使用标识ICP误差的ICP算法来计算误差。
[0068] 基于计算误差与被建立为删除不准确对齐的阔值的比较，确定是接受还是拒绝所 选部分对齐化08)。例如，对齐优化器模块118可W执行在计算误差和阔值之间的比较。
[0069] 示例系统巧巧备
[0070] 图7图示总体上包括示例计算设备702的示例系统700,其表示可W实现本文中描 述的各种技术的一个或多个计算系统和/或设备。运通过包括其可W被配置为对齐扫描的 图像处理模块113来图示。计算设备702可W是例如服务提供者的服务器、与客户端相关 联的设备（例如，客户端设备）、片上系统、和/或任何其它适合的计算设备或计算系统。
[0071] 如图示的示例计算设备702包括一个到另一个通信地禪合的处理系统704、一个 或多个计算机可读介质706 W及一个或多个I/O接口 708。虽然未示出，但是计算设备702 可W进一步包括将各种部件一个到另一个禪合的系统总线或者其它数据和命令传送系统。 系统总线可W包括不同总线结构中的任何一个或组合，诸如存储器总线或存储器控制器、 外围总线、通用串行总线、和/或利用各种总线结构中的任何一个的处理器或局部总线。还 设想诸如控制和数据线之类的各种其它示例。
[0072] 处理系统704表示用于使用硬件来执行一个或多个操作的功能。据此，处理系统 704被图示为包括硬件元件710,硬件元件710可W被配置作为处理器、功能块等。运可W 包括作为专用集成电路或者使用一个或多个半导体形成的其它逻辑设备的W硬件的实施 方式。硬件元件710不受形成它们的材料或者其中采用的处理机制的限制。例如，处理器 可W由一个或多个半导体和/或晶体管（例如，电子集成电路（1C))组成。在运样的上下 文中，处理器可执行指令可W是电子可执行指令。
[0073] 计算机可读存储介质706被图示为包括存储器/存储712。存储器/存储712表示 与一个或多个计算机可读介质相关联的存储器/存储能力。存储器/存储部件712可W包 括易失性介质（诸如随机存取存储器（RAM))和/或非易失性介质（诸如只读存储器（ROM)、 闪速存储器、光盘、磁盘等）。存储器/存储部件712可W包括固定介质（例如，RAM、ROM、 固定硬盘驱动器等）W及可移除介质（例如，闪速存储器、可移除硬盘驱动器、光盘等）。如 下面进一步描述的，计算机可读介质706可各种其它方式来配置。
[0074] -个或多个输入/输出接口 708表示用于使用各种输入/输出设备允许用户向计 算设备702输入命令和信息并且还允许向用户和/或其它部件或设备呈现信息的功能。输 入设备的示例包括键盘、光标控制设备（例如，鼠标）、麦克风、扫描仪、触摸功能（例如，被 配置为检测物理触摸的电容性或其它传感器）、相机（例如，其可W采用诸如红外频率之类 的可见或不可见波长来将移动识别为不设及触摸的姿势）等。输出设备的示例包括显示设 备（例如，监控器或投影仪）、扬声器、打印机、网卡、触觉响应设备等。从而，如下面进一步 描述的，计算设备702可各种方式来配置，W支持用户交互。
[0075] 本文中可W在软件、硬件元件或程序模块的一般上下文中描述各种技术。通常，运 样的模块包括其执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、元件、部件、数 据结构等。如本文中使用的术语"模块"、"功能"和"部件"通常表示软件、固件、硬件或它 们的组合。本文中描述的技术的特征是与平台无关的，从而意指技术可W实现在具有各种 处理器的各种商用计算平台上。
[0076] 所描述的模块和技术的实施方式可W被存储在一些形式的计算机可读介质上、或 者跨一些形式的计算机可读介质传输。计算机可读介质可W包括其可W由计算设备702访 问的各种介质。通过示例且非限制的方式，计算机可读介质可W包括"计算机可读存储介 质"和"计算机可读信号介质"。
[0077] "计算机可读存储介质"可W指代其实现信息的永久性和/或非瞬态存储（相比于 仅信号传输、载波或信号本身）的介质和/或设备。从而，计算机可读存储介质指代非信号 承载介质。计算机可