专利名称：用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法
技术领域：
本发明涉及一种使用标志边沿记录方法在一个可重写光盘上记录数据/从可重写光盘上再现数据的方法和用于调整用在数据记录/再现方法中的记录脉冲和记录补偿参数的波形(写策略(writestrategy))的方法。
图16(a)显示了数据900，作为要被记录的数字数据的例子。数据900包括一个11T(T代表一个记录时钟周期)的高电平信号901和一个7T的低电平信号902，以及一个3T的高电平信号903。图16(b)显示了对应于数据900的激光束的记录脉冲910的波形。图16(c)显示了依据记录脉冲910在光盘的记录轨道934上形成的非晶体标志931和932以及晶体空间933的记录状态。
为了记录对应于数据900的标志931和空间933，记录轨道934中形成标志的部分被作为记录脉冲910的激光束照射，记录脉冲910包括具有峰值功率924的第一脉冲911；对于每一个1/2T周期在峰值功率924和第三偏置功率923之间变化的多脉冲912；具有峰值功率924的末尾脉冲913；以及具有第二偏置功率922的冷却脉冲914。进一步，空间933被包括一个具有第一偏置功率921的脉冲的激光束照射。这样的一个记录脉冲910的波形一般地被称为“写策略(write strategy)”。为了实现用于光盘记录的正确的标志形状，为每一张光盘单独地定义用于每一个上述脉冲的上述四种类型的功率和时间条件。进一步，为了优化标志的再现波形的边沿的位置，为标志和空间的每一种模式自适应地控制记录脉冲的每个边沿的位置的时间条件(参考文献日本专利No.2679596)。图17A和17B分别地显示了作为4.7GB DVD-ROM格式的记录补偿条件的第一脉冲起始位置表和末尾脉冲末端位置表。也就是，根据紧接在一个标志之前的空间和标志本身之间在长度上的关系，定义16(4×4＝16)种类型的时间条件，作为用于记录图16(c)中所示的标志931的第一脉冲911的起始位置，以及，根据标志本身和一个紧接在标志之后的空间之间在长度上的关系，定义16(4×4＝16)种类型的时间条件，作为末尾脉冲913的结束位置。用于获得这些条件的过程一般被称为“记录补偿”。
上述常规的DVD-RAM写策略使用多脉冲912，其中的单脉冲对应于记录时钟周期的一半宽度。为了满足进一步提高光盘的访问速度的要求，可以想到增大记录时钟的频率。在这种情况下，记录时钟周期相反地减小了，因此如果用于记录的激光束的前沿特征不是极其快，则不容易精确地产生多脉冲912。第一个问题是，难以抑制用于需要极其快的激光驱动电路的光盘设备中的元件的成本。
进一步，第二个问题是，在记录操作期间检测和控制每一个标志格式的激光功率的情况下，如果在记录脉冲912中存在转换很快的多脉冲912，则功率监控器上的激光束的波形在多脉冲912的部分极大地波动，因此需要复杂的处理电路。
更进一步，为了满足增大光盘容量的要求，可以想到以高密度记录更小的标志。第三个问题是，在使用标志边沿记录方法以便以更高密度执行记录操作的情况下，如果一个最短标志的再现信号的振幅变得比其他较长标志的振幅小得非常多，那么信号被噪声淹没，使得可能出现光盘的再现错误。
再进一步，在仅仅改变记录脉冲910的边沿的位置以便正确地定位再现信号的边沿的情况下，即使完成了记录补偿，记录功率也被偏置，因此存在标志形状失真的可能性。特别地，在标志的前沿和后沿的大小不同的情况下，标志的再现信号的振幅在标志的前沿和后沿是不对称的，因此在将再现信号数字化时可能出现错误。第四个问题是，即使出于减少误差的目的采用多值检测装置，由于标志的形状的失真而不能达到满意的效果。
进一步，有许多用于记录补偿条件的参数，因此，记录补偿的过程变成一个复杂且费时的任务。因此，第五个问题是，在光盘设备中包括自动记录补偿装置的情况下，难以缩短计算所有参数所需的时间周期。
本发明解决了上述第一个到第五个问题，其目标是提供一种用于调整用在标志边沿记录方法中的记录脉冲和写策略的方法，其中，不需要宽度比记录时钟周期更短的多脉冲，并且可以增大最短标志的再现信号的振幅，并减小长标志的再现信号的形状的失真，因此与常规方法比较，减少记录补偿参数的数目；以及一个使用这样的调整方法和写策略的在可重写光盘上记录数据/从可重写光盘上再现数据的方法。
可以设置第一功率与第一记录脉冲的前沿位置的组合，使其是实现最短标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使最短标志的再现振幅最大的组合。
可以设置第二和第三功率与第一部分脉冲的前沿位置的组合，使其是实现长标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使长标志的再现振幅变平的组合。
第一和第二功率可以彼此相等。
可以固定第二部分脉冲的后沿的位置，使其位于第一部分脉冲的后沿之后一个规定时钟周期。
依据本发明的用于在光盘上记录一个标志的方法采用上述用于调整记录脉冲的方法，包括如下步骤根据至少依据步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；以及，根据至少依据步骤(b)调整的第二记录脉冲记录长标志，从而实现上述目标。
依据本发明的用于在光盘上记录一个标志的方法包括如下步骤(a)根据紧挨在最短标志之前的一个空间的长度调整用于记录最短标志的第一记录脉冲的前沿，其中第一记录脉冲是一单脉冲，其后沿位置和功率被固定；(b)采用在步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；(c)根据紧挨在长标志之前的一个空间的长度调整用于记录具有规定长度的长标志的第二记录脉冲的前沿，其中第二记录脉冲是一个两级脉冲，包括彼此具有不同功率的第一部分和第二部分脉冲，第一部分和第二部分脉冲的各自的后沿位置和各自的功率被固定；以及(d)采用在步骤(c)调整的第二记录脉冲记录长标志，从而实现上述目标。
依据本发明的用于调整用于在光盘上记录标志和空间的记录脉冲的方法包括如下步骤(a)调整用于记录最短标志的第一记录脉冲；(b)调整用于记录长标志的第二记录脉冲；以及(c)调整用于记录标志之间的空间的第三记录脉冲，其中，第一记录脉冲是具有第一功率的单脉冲，第二记录脉冲是一个两级脉冲，包括具有第二功率的第一部分脉冲和具有第三功率的第二部分脉冲，第三记录脉冲是具有第四功率的单脉冲，步骤(a)包括如下步骤(a1)固定第一记录脉冲的后沿的位置，以便满足与一个记录时钟的第一边沿的规定相对关系；(a2)确定第一功率，以便正确地定位最短标志的再现波形的后沿；以及(a3)确定第一记录脉冲的前沿的位置，以便正确地定位最短标志的再现波形的前沿，步骤(b)包括如下步骤(b1)固定第一部分脉冲的后沿的位置，以便满足与记录时钟的第二边沿的规定相对关系；(b2)确定第二功率；(b3)根据长标志的长度确定第二部分脉冲的后沿位置和第三功率，以便正确地定位长标志的再现波形的后沿；以及(b4)根据长标志的长度确定第一部分脉冲的前沿位置，以便正确地定位长标志的再现波形的前沿，以及，步骤(c)包括如下步骤(c1)根据空间的长度确定第四功率，以便消除由于标志之间的热干扰而产生的标志的再现波形的边沿的位置波动，从而实现上述目标。
可以设置第一功率与第一记录脉冲的前沿位置的组合，使其是实现最短标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使最短标志的再现振幅最大的组合。
可以设置第二和第三功率与第一部分脉冲的前沿位置的组合，使其是实现长标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使长标志的再现振幅变平的组合。
第一和第二功率可以彼此相等。
依据本发明的用于在光盘上记录一个标志的方法采用上述用于调整记录脉冲的方法，并包括如下步骤根据至少依据步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；根据至少依据步骤(b)调整的第二记录脉冲记录长标志；以及，根据至少依据步骤(c)调整的第三记录脉冲记录空间，从而实现上述目标。
依据本发明的用于在光盘上在标志之间记录一个空间的方法包括如下步骤(a)根据空间的长度调整用于记录空间的为单脉冲的记录脉冲的功率，以便消除由于标志之间的热干扰而产生的标志的再现波形的边沿的位置波动；以及(b)采用在步骤(a)调整的记录脉冲来记录空间，从而实现上述目标。
图2是显示依据本发明的实施例2用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的示意图。
图3是显示依据本发明的实施例的光盘数据记录/再现设备的示意图。
图4A是显示依据本发明的实施例用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的记录补偿条件的表。
图4B是显示依据本发明的实施例用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的其他记录补偿条件的表。
图4C是显示依据本发明的实施例用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的另一些其他记录补偿条件的表。
图4D是显示依据本发明的实施例用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的另一些其他记录补偿条件的表。
图5是显示依据本发明的实施例1用于记录/再现最短标志的示意图。
图6是显示依据本发明的实施例1用于记录/再现长标志的示意图。
图7是显示依据本发明的实施例2控制标志之间的热干扰的记录方法的示意图。
图8是显示依据本发明的实施例3用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的示意图。
图9是显示依据本发明的实施例1用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的流程图。
图10是显示依据本发明的实施例1用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的另一种方法的流程图。
图11是显示依据本发明的实施例1用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的又一种方法的流程图。
图12是显示依据本发明的实施例1用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的又一种方法的流程图。
图13是显示依据本发明的实施例2用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法的流程图。
图14是显示依据本发明的实施例2用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的另一种方法的流程图。
图15是显示依据本发明的实施例2用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的再一种方法的流程图。
图16是显示常规数据记录方法的示意图。
图17A是显示用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的常规方法的记录补偿条件的表。
图17B是显示用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的常规方法的记录其他补偿条件的表。
首先，描述了记录/再现设备1000的每个单元。如图3中所示，记录/再现设备1000包括记录时钟产生装置20，用于产生用作记录/再现设备1000的操作基准时间轴的记录时钟1；记录数据产生装置2，用于产生期望的要作为记录数据3记录在光盘9上的信息；记录补偿条件调整装置21，用于调整记录补偿条件5；记录补偿装置4，用于从记录数据3产生用于驱动激光(未显示)的记录脉冲6；光头7，用于采用经过强度调制的激光束8照射光盘9来记录数据；以及，用于旋转光盘9的电机10。
记录时钟1被输出到记录数据产生装置2和记录补偿装置4。记录数据3的格式是以时钟为单位的PWM信号。在本发明的实施例中，记录数据3是具有3T(T表示一个记录时钟周期)的最小运转周期限制和11T的最大运转周期限制的调制数据，但并不限于这样的调制数据。记录补偿条件调整装置21调整和确定用于每一个标志和空间的脉冲的功率和位置参数，作为记录补偿条件5，以便执行一个记录操作，使得记录数据3的高电平信号周期和低电平信号周期分别地对应于光盘上的一个标志和一个空间。记录补偿装置4接收记录时钟1、记录数据3和记录补偿条件5，并且把记录脉冲6输出到光头6。记录时钟产生装置20和记录补偿条件调整装置21可以从外部提供给记录/再现设备1000。
形成光盘9使得其上形成螺旋轨道的基底材料上带有薄膜，例如相变薄膜。可以通过使用由激光束8的照射产生的热在光盘上形成标志和空间来将数据写或重写在光盘9上。
记录/再现设备1000进一步包括均衡器12，用于补偿来自光头7的再现信号11的频率特性，所述特性在频率的上界被衰减，以便输出一个模拟均衡再现信号13；二进制化装置14，用于在限制电平上将所述均衡再现信号13二进制化，以便输出一个数字二进制化脉冲15；脉冲间隔测量装置16，用于检测二进制化脉冲15的前沿或后沿，以便测量从脉冲的一个边沿到另一个边沿的间隔，并输出一个时间测量结果17；以及，振幅测量装置18，用于测量振幅信息、例如均衡再现信号13的大小和均衡再现信号13的波形的对称性，以便输出一个振幅测量结果19。时间测量结果17和振幅测量结果19被输入到记录补偿条件调整装置21，用作调整用于每个标志和空间的脉冲功率和位置的参数以及调整写策略的数据。
在再现操作中，光头7用激光束8作为再现功率照射光盘9，检测器(未显示)在从记录在光盘9上的标志和空间反射的光上执行光电转换，以便输出反射光，作为再现信号11。均衡器12例如可以是一个标准均衡器，它是一个横向滤波器和一个贝塞尔低通滤波器的组合，或者可以是一个非线性均衡器，它是一个限幅器和标准均衡器的组合。
二进制化装置14例如可以是一个用于输出被控制为具有恒定限制电平的二进制化的脉冲积分值的负载(duty)反馈二进制化电路，或者是一个使用部分响应方法执行多值检测的二进制化电路。脉冲间隔测量装置16例如可以是专用于记录/再现设备1000的时间间隔分析器或LSI电路。振幅测量装置18例如可以是专用于记录/再现设备1000的示波器或LSI电路。
利用记录/再现设备1000执行依据本发明的用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法。下面描述的记录脉冲的边沿位置和功率值在记录补偿装置4中被设置为记录补偿条件5，以便在光盘9上记录标志。标志的再现信号的波形作为均衡再现信号13输出并且由振幅测量装置18监测。标志的再现信号的边沿作为二进制化脉冲15输出并且由脉冲间隔测量装置16监测。应该注意，在下面的描述中，例如，具有3T长度的标志和具有4T长度的空间分别缩写为3Tm和4Ts。
(实施例1)图1是显示用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法和用于调整在数据记录/再现方法中使用的记录脉冲的波形(写策略)和记录补偿参数的方法的示意图，作为本发明的实施例1进行描述。
在图1中，垂直的虚线代表时间单位，每个分隔对应于记录时钟的一个周期T。从顶部开始，图1(a)显示了数据，其中高电平信号100被分配为标志，低电平信号143、144和145被分配为空间，并且显示了在图3的记录/再现设备1000中使用的记录数据3的波形。在紧挨着3Tm的最短标志108之前的空间的长度是3Ts、4Ts和5Ts甚至更多的情况下，图1(a)中显示的记录数据由一串高电平信号100形成。
图1(b)显示了对应于每一个都有3T长度的高电平信号100的记录脉冲101、101’和101”和分别对应于低电平信号143、144和145的记录脉冲163、164和165。在图1(b)中，纵轴指示激光功率，其等于在图3的记录/再现设备1000中使用的由记录脉冲6调制的激光束8的强度。
图1(c)是显示通过激光束8记录在光盘9的轨道150上的标志108和空间153、154和155的示意图。在图1(c)中，阴影区域代表标志108并对应于相变薄膜的非晶体状态，其它区域代表空间153、154和155并对应于相变薄膜的结晶状态。
图1(d)显示了作为再现的标志108和空间153、154和155的波形并对应于图3的均衡再现信号13的实曲线。在图1(d)中，上端和下端的虚线指示再现信号的振幅范围，中间的虚线指示二进制化的限制电平110。类似地，图1(e)-1(h)分别显示了在记录/再现4Tm的长标志125的情况下的记录的数据、记录脉冲、记录的标志和均衡再现信号，图1(i)-1(1)分别显示了在记录/再现5Tm或更长的长标志129的情况下的记录的数据、记录脉冲、记录的标志和均衡再现信号。依据实施例1的记录/再现方法将在下面逐步描述。
<第一要求>
为了记录图1(a)中所示的对应于每一个都具有3T长度的高电平信号100的最短标志108，执行图1(b)中所示的为单脉冲的记录脉冲101、101’或101”的照射，使得其中之一对应于最短标志108中的一个。
<第二要求>
为了记录比最短标志108长的标志，例如，对应于图1(e)所示的每一个都具有4T长度的高电平信号102的长标志125，执行图1(f)中所示的为两级脉冲的记录脉冲171、171’或171”的照射，使得其中之一对应于长标志125中的一个。记录脉冲171包括第一部分脉冲103和第二部分脉冲104，记录脉冲171’包括第一部分脉冲103’和第二部分脉冲104，以及记录脉冲171”包括第一部分脉冲103”和第二部分脉冲104。
类似地，为了记录5Tm或更长的长标志，例如，对应于图1(i)中所示的每一个都具有5T长度的长标志129，执行图1(j)中所示的为两级脉冲的记录脉冲172、172’或172”的照射，使得其中之一对应于长标志129中的一个。记录脉冲172包括第一部分脉冲106和第二部分脉冲107，记录脉冲172’包括第一部分脉冲106’和第二部分脉冲107，以及记录脉冲172”包括第一部分脉冲106”和第二部分脉冲107。
现在描述标志的再现波形的边沿的确定。标志的再现波形的前沿指的是图3中所示的二进制化脉冲15的上升沿。在图1(d)中所示的当前实施例中，在再现最短标志108的情况下，前沿指均衡再现信号109和限制电平110之间的交点111。标志的再现波形的后沿指的是二进制化脉冲15的下降沿。在图1(d)中所示的当前实施例中，在再现最短标志108的情况下，后沿指交点112。
接着，描述字句“标志的再现波形的边沿被正确定位”所指的意思。标志的再现波形的边沿的定义如上，正确位置意思是边沿之间的所有间隔都是一个时钟单位的倍数。例如，在图1中，正确位置是指标志的再现波形的边沿的位置正好与垂直的虚线重叠的状态。当标志的再现波形的边沿被正确定位时，二进制化脉冲15的波形等于所记录数据的波形(例如，在图1(a)中显示的所记录数据的波形)。
应该注意，为了正确地定位标志的再现波形的边沿，不总是要求所记录标志本身的边沿的位置对应于一个时钟单位，因此仅仅要求再现的二进制化脉冲信号的边沿位置处于正确的位置。例如，仅仅要求具有3T长度的高电平信号100的前沿和后沿之间的间隔等于交点111和112之间的间隔(即，交点111和112之间的长度为3T)。
<第三要求>
为了正确定位标志的再现波形的前沿，基于紧挨在标志之前的空间的长度和标志本身的长度之间的关系来确定记录脉冲的前沿的位置。例如，如图1(b)所示，不同地确定3Tm的记录脉冲101”、101’和101的前沿的位置，使得对应于紧挨着要形成的标志之前的3Ts的空间的记录脉冲101”的前沿被定位于位置113，对应于紧挨着要形成的标志之前的4Ts的空间的记录脉冲101’的前沿被定位于位置114，以及对应于紧挨着要形成的标志之前的5Ts或更长的空间的记录脉冲101的前沿被定位于位置115。
当紧挨着标志之前的空间较小的时候，由记录所述标志之前的一个标志产生的热通过空间传导，使得要形成的标志的温度波动，从而产生一个移动要形成的标志的前沿位置的现象。这一般被称为“热干扰”。为了消除热干扰以便正确地定位标志的再现波形的前沿位置，依据紧挨着要形成的标志之前的空间的长度改变记录脉冲的前沿的位置。
类似地，在4Tm的记录脉冲的情况下，每次紧挨着要形成的标志之前的空间的长度变化时，确定记录脉冲171”、171’和171的前沿位置，使其对应于不同的值，例如图1(f)中所示的位置116、117和118。类似地，在5Tm或更长的记录脉冲的情况下，每次紧挨着要形成的标志之前的空间的长度变化时，确定记录脉冲172、172’和172”的前沿的位置使其对应于不同的值，例如图1(j)中所示的位置119、120和121。
进一步，在标志长度从3Tm经过4Tm变化到5Tm的情况下，即使紧挨着各个标志之前的空间的长度彼此相等，记录脉冲的前沿也需要改变。当标志本身的长度短时，要形成的标志的尺寸小，使得热被辐射到周围，因此标志被迅速地冷却。相反地，当标志本身的长度长时，热被低效率地从连续记录的标志的第二部分辐射，因此标志被慢慢冷却。
因此，由于要记录的标志的自身长度之间的不同，出现一个现象，就是即使当记录脉冲的前沿的位置彼此相等时，要形成的标志的前沿的位置(例如，图1(c)中所示的位置108’)也不同。这被称为取决于标志长度的“热非线性”。为了消除热非线性，以便正确地定位标志的再现波形的前沿，即使在它们的紧挨着要形成的标志之前的各个空间具有相同的3T长度，当要形成的标志分别具有3Tm、4Tm和5Tm或更长的长度时，改变记录脉冲的前沿的位置，以便对应地定位于图1(b)中所示的位置113、图1(f)中所示的位置116和图1(j)中所示的位置119。
因此，如图4A中所示，根据紧挨着标志之前的空间的长度和标志本身的长度之间的关系来确定被用作两维参数的用于正确定位标志的再现波形的前沿的记录脉冲的前沿的位置的条件。在图4A的表中显示的数字对应于指示图1中所示单元的位置的标号。对于对应于表中所示的标号的单元的位置，紧挨着标志之前的空间和由照射提供的用于形成相应标志的记录脉冲的前沿之间的间隔不总是具有不同的值，根据光盘的记录薄膜特性和均衡器特性，一些位置带有相同的值。
<第四要求>
对应于标志的所有长度的记录脉冲的各个后沿的位置被分别地固定，使得相对于一个相应的记录时钟满足一个特定相对位置关系。在图1所示的例子中，所有的记录脉冲的后沿的位置需要与记录时钟的一个相应的边沿匹配。
<第五要求>
为了正确地定位最短标志108的再现波形的后沿(例如，在交叉点112)，单脉冲的记录脉冲101的功率被改变。利用图5描述用于实现这一点的方法。图5显示了对于记录最短标志108的情况当记录脉冲101的前沿的功率122和位置115在四种类型的条件下被改变时标志108和它们各自的均衡再现信号109之间的关系。在图5中所示的记录条件500、501、502和503中，上部、中部和下部分别显示了记录脉冲101的波形、记录轨道150和最短标志108的各自形状、以及均衡再现信号109的波形。
比较图5的记录条件500和501，在记录条件500中，功率122大，而在记录条件501中，功率122相对地小。通过改变大的功率122而使其更小，要形成的最短标志108的宽度变窄了，因此再现信号沿着其电平减小的方向改变。在这个比较例子中，记录条件501是正确的记录功率，其中，可以在由虚点划线指示的限制电平110上看到的均衡再现信号109的边沿间隔(交点111和112之间的宽度)等于记录脉冲101的宽度。
进一步，比较图5的记录条件502和503，记录条件502有大的功率122，记录条件503具有相对小的功率122。通过改变小的功率122而使其更大，最短标志108的宽度变得更宽了，因此均衡再现信号109沿着其电平增加的方向改变。在这个比较例子中，记录条件502是正确的记录功率，其中，可以在限制电平110上看到的均衡再现信号109的边沿间隔等于记录脉冲101的宽度。也就是，在使用最短标志108的为单脉冲的记录脉冲的记录方法中，通过改变记录脉冲的功率来控制标志的再现波形的边沿位置是可能的。
此外，比较记录条件501和502，在记录条件501中，功率122小并且记录脉冲101的前沿的位置115位于其正确位置之前。相对地，在记录条件502中，功率122大并且记录脉冲101的前沿的位置115位于其正确位置之后。尽管记录条件501和502中的标志108的外形在宽和长上彼此不同，但在两种情况中，如上所述，都获得均衡再现信号109，使得最短标志108的再现波形的边沿被正确定位。但是，在记录条件502中，对于一个区域，最短标志108与轨道150的比率比记录条件501的大，因此，均衡再现信号109的再现振幅509更大。即使可以实现再现波形的边沿的相同位置，当均衡再现信号109的再现振幅509较大时，上升沿变得陡峭，使得时间轴波动(抖动)小了。最短标志108与其它更长标志(例如，长标志125)相比具有小的再现振幅109的趋势，因此难以获得满意的质量。
因此，对于用于记录最短标志108的记录脉冲101的功率122和前沿位置115，尽管有实现最短标志108的再现波形的边沿的正确位置(即，交点111和112的位置)的多种组合(如在记录条件501和502的情况下)，最好选择再现振幅509为最大的条件。如上所述，在图1(b)的3Tm的情况下，在记录功率122和前沿的位置113、114和115的组合中，再现波形的边沿的位置(即，交点111和112的位置)是正确的并且再现振幅509是最大的。
<第六要求>
为了正确地定位长标志的再现波形的后沿，根据长标志的长度改变记录脉冲的第二部分脉冲的功率。利用图6描述用于实现这一点的方法。图6显示了在每个记录条件650、651、652和653下，对应于11Tm的高电平信号630、记录脉冲605、长标志608的外形和包括在记录数据中的用于记录11Tm的长标志608的均衡再现信号625之间的关系。在图6中所示的记录条件650、651、652和653中，上部、中部和下部分别地显示了记录脉冲605的波形、记录轨道150和长标志608各自的外形以及均衡再现信号625的波形。记录脉冲605包括第一部分脉冲615和第二部分脉冲600。
在记录条件650中，因为第二部分脉冲600的功率601小，要形成的长标志608的后沿602窄而短，因此长标志608的再现波形的后沿的位置603被置于其正确位置之前。
在记录条件651中，因为第二部分脉冲600的功率601大，由于热存储效应使要形成的长标志608的后沿606宽而长，因此长标志608的均衡再现信号625的再现波形的后沿的位置被置于其正确位置之后。
相反，在记录条件652中，因为第二部分脉冲600的功率601有一个正确的值，要形成的长标志608的后沿610具有与长标志608的前沿611的宽度相同的宽度和正确的长度，因此，长标志608的均衡再现信号625的再现波形的后沿的位置612对应于其正确的位置。也就是，在记录脉冲605由第一部分脉冲615和第二部分脉冲600形成的记录方法中，通过改变第二部分脉冲600的功率601，可以控制长标志608的均衡再现信号625的再现波形的后沿位置。
进一步，在记录条件653中，尽管第二部分脉冲600的功率601有正确的值，但第一部分脉冲615的功率617的值比对于记录条件652显示的功率617的正确值低，因此通过调整前沿的位置620使其在时间上位于对于记录条件652显示的正确边沿位置619之前，均衡再现信号625的再现波形的前沿的位置623和后沿的位置612都可以正确地得到。
但是，在长标志608的前沿621和后沿622之间产生了热不平衡，使得前沿和后沿621和622的宽度不同。结果，长标志608的均衡再现信号625的再现波形没有变平却变得倾斜。在均衡再现信号625的原来平坦的位置被倾斜(变形)的情况下，在将均衡再现信号625二进制化时，即使使用一个多值检测方法、例如部分响应方法以提高性能，也不能达到期望的性能，因此产生可能产生错误的误操作。
因此，对于第一部分脉冲的功率和前沿位置以及第二部分脉冲的功率和后沿位置，在记录长标志的情况下，尽管有实现长标志的再现波形的边沿的正确位置的多种组合(如图6的记录条件652和653所示的记录条件的情况)，最好选择长标志的前沿和后沿的再现振幅彼此相等(即，再现波形被拉平)的条件。
再参照图1，类似地，在记录4Tm的长标志125的情况中，确定图1(f)的第二部分脉冲104的功率124，以便正确地获得图1(h)的均衡再现信号180的波形的后沿的位置123。类似地，在记录5Tm或更长的长标志129的情况中，确定图1(j)的第二部分脉冲107的功率128，以便正确地获得图1(1)的均衡再现信号181的波形的后沿的位置130。在这些情况中，记录脉冲171的第一部分脉冲103、103’和103”的功率126的值可以与记录脉冲172的第一部分脉冲106、106’和106”的功率127的值不同。进一步，记录脉冲172的第二部分脉冲107的功率128的值可以与记录脉冲171的第二部分脉冲104的功率124的值不同。
用于正确定位长标志的再现波形的后沿的记录脉冲的第二部分脉冲的功率被用作随长标志的长度变化的参数。图4B显示了当长标志的第一部分脉冲的功率等于最短标志的单脉冲的功率时每一个标志的自身长度的功率的条件。在图4B的表中所示的数字对应于图1中所示的脉冲的各个功率。应该注意，用于每个标志长度的第一部分脉冲的功率的光学值不必等于用于其它标志的长度的第一部分脉冲的功率的光学值，并且有一些对于每个标志长度这些值根据光盘的记录薄膜特性和均衡特性变化的情况。
如上所述，采用满足从第一到第六要求的记录/再现方法，从最短标志108到最长标志608的所有标志都被记录在光盘上，从而正确地定位标志的再现波形的边沿。应该注意，第一到第六要求仅仅以这个顺序进行描述，可以被重新排序来用于实施。
依据本实施例的用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法不能使用比一个记录时钟周期短的脉冲，例如在常规方法中使用的多脉冲，以便记录一个长标志。进一步，长标志的再现波形的再现振幅可以被拉平并且一个最短标志的振幅可以被最大化。
更进一步，本实施例使用一个通过调整记录脉冲的第二部分脉冲的功率来调整长标志的再现波形的后沿的位置的方法。因此，仅仅存在一个用于记录最短标志的记录脉冲的后沿的位置条件(即，位置条件是固定的)。进一步，仅仅存在一个提供给用于记录长标志的记录脉冲的第一部分脉冲和第二部分脉冲的每一个后沿的位置条件(即，每一个位置条件都是固定的)。因此，与常规的记录方法相比，记录的波形(写策略)被简化，并且，除此之外，可以显著减少记录补偿参数的数目。
用于在标志和空间的测试记录中通过一个最短过程获得记录补偿条件的方法和用于记录/再现数据的方法将参照图1、5、6、9、10、11和12描述。图9、10、11和12是流程图，分别显示了通过一个最短过程获得记录补偿条件的方法和用于记录/再现数据的方法。
参照图1和9，描述了用于记录最短标志108的记录脉冲101。记录脉冲101的后沿的位置190是固定的，以便满足与一个记录时钟的规定相对关系(S1001)。接着，确定记录脉冲101的功率122，以便正确地定位最短标志108的再现波形的后沿(即，在交点112上)(S1002)。然后，根据位于紧挨着最短标志108之前的空间的长度(例如，5T)确定记录脉冲101的前沿的位置115，以便正确地定位最短标志108的再现波形的前沿(即，在交点111上)(S1003)。在每次位于紧挨着标志之前的空间的长度变化时，记录脉冲101的前沿的位置115可以调整为具有不同的值。
应该注意，如参照图5所描述的，最好确定记录脉冲101的功率122的值，使得再现振幅509最大化。
参照图1和10，描述了用于记录长标志129的记录脉冲172。是两级脉冲的记录脉冲172的第一部分脉冲106的后沿的位置191被固定，使其满足与一个记录时钟的边沿的规定相对关系(S1101)。接着，记录脉冲172的第二部分脉冲107的后沿的位置192被固定，使其满足与一个记录时钟的边沿的规定相对关系(S1102)。例如，用于记录一个nTm(n指大于等于4的整数)的长标志的记录脉冲的第二部分脉冲的后沿的位置被固定在位于从第一部分脉冲的后沿的位置向后(n-3)T长度的位置。
然后，确定第一部分脉冲106的功率127(S1103)。功率127可以被确定为使其具有一个等于记录脉冲101的功率122的值。然后，确定第二部分脉冲107的功率128，以便正确地定位长标志129的再现波形的后沿(即，在交点130上)(S1104)。应该注意，如参考图6所描述的，为了达到长标志的再现振幅的平坦，每一个功率122、126和127的值可以彼此不同，或每一个功率124和128的值可以彼此不同。
然后，根据紧挨着长标志129之前的空间的长度(例如，5T)和长标志129的长度(例如，5T)确定第一部分脉冲106的前沿的位置121，以便正确地定位长标志129的再现波形的前沿(即，在交点131)(S1105)。由于对于要记录的标志的长度如图1中所示的记录脉冲101、171和172彼此不同，因此即使紧挨着所述标志之前的空间的长度彼此相等，设置前沿的位置115、118和121和它们各自的后沿之间的长度，使得它们各自后沿的位置彼此不同。
通过重复地执行图9和10所示的对于标志和空间的长度的各种组合的过程，在一个最短过程中确定对于最短标志和长标志的全部记录补偿条件。在图9和10中显示的步骤的顺序是一个例子，所述过程并不限于这个顺序。上面是在测试记录中获得一个最短过程中的记录补偿条件的方法。
参照图1、11和12，描述了使用所确定的记录补偿条件记录用户数据的方法。在确定记录补偿条件后，作为用于记录图1所示的标志的记录脉冲的记录脉冲101的后沿位置190和功率122具有固定的值。在记录用户数据的操作中，通过从图4A中所示的记录补偿条件选择一个正确位置的值来执行记录脉冲101前沿的位置115的调整(S1201)。最短标志108可以使用以这种方式调整的记录脉冲101记录在光盘上(S1202)。
在记录脉冲中，例如，在确定记录补偿条件之后用于记录图1中所示的标志的记录脉冲172、第一部分脉冲106的后沿的位置191和功率127以及第二部分脉冲107的后沿的位置192和功率128具有固定的值。通过从图4A中所示的记录补偿条件选择一个正确位置的值来执行在记录用户数据的操作中记录脉冲172的前沿的位置121的调整(S1301)。长标志129可以使用以这种方式调整的记录脉冲172记录在光盘上。
如上所述，在本实施例中，由于在记录补偿条件的确定之后被选择的以便在用户数据记录操作中被改变的规定记录脉冲的仅仅一个要素是前沿的位置，因此数据处理被容易地执行，从而提高数据记录操作的速度。
(实施例2)图2是显示作为本发明的实施例2描述的用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法和用于调整用在数据记录/再现方法中的记录脉冲的写策略和记录补偿参数的方法。在图2显示的方法中，与图1中显示的实施例1的单元相同的单元由相同的标号表示，因此省略了其详细的描述。
图2(a)-2(d)分别地显示了在3Tm的最短标志被记录/再现的情况下的记录的数据、记录脉冲、记录的标志和均衡再现信号。图2(e)-2(h)分别地显示了在4Tm的长标志125被记录/再现的情况下的记录的数据、记录脉冲、记录的标志和均衡再现信号。图2(i)-2(1)分别地显示了在5Tm或更长的长标志129被记录/再现的情况下的记录的数据、记录脉冲、记录的标志和均衡再现信号。
下面将描述依据实施例2的记录/再现方法和用于调整写策略和记录补偿参数的方法。
<第一要求>
为了记录对应于图2(a)中所示的每一个都具有3T长度的高电平信号200的最短标志108，执行图2(b)中所示的是单脉冲的记录脉冲201的照射，使得其中之一对应于最短标志108中的一个。
<第二要求>
为了记录比最短标志108长的标志，例如，对应于图2(e)中显示的每一个都具有4T长度的高电平信号202的长标志125，执行图2(f)中显示的是两级脉冲的记录脉冲241的照射，使得其中之一对应于长标志125中的一个。每一个记录脉冲241包括一个第一部分脉冲203和一个第二部分脉冲204。
为了记录5Tm或更长的长标志，例如，对应于图2(i)中显示的每一个都具有5T长度的高电平信号205的长标志129，执行图2(j)中显示的是两级脉冲的记录脉冲242的照射，使得其中之一对应于长标志129中的一个。每一个记录脉冲242包括一个第一部分脉冲206和一个第二部分脉冲207。
<第三要求>
每次空间的长度变化时，改变用于在标志之间执行记录操作(即，记录一个空间)的记录脉冲的功率，以便消除由于标志之间的热干扰产生的标志的再现波形的边沿波动。使用图7描述通过减小空间部分的记录功率以便防止标志之间的热干扰来正确定位标志的边沿的方法。图7显示了对应于8Tm的记录脉冲的波形的功率和要形成的标志之间的三种类型的关系。
图7(a)显示了在记录8Tm的长标志708和5Ts的空间的情况下的记录脉冲711和145。图7(b)显示了记录在光盘上的长标志708和空间755。在这些情况中，由于标志之间的空间与5Ts一样大，热干扰不会出现，由此形成长标志708的后沿701，使其被正确地定位。
图7(c)显示了在记录8Tm的长标志709和711以及3Ts的空间的情况下的记录脉冲。在这种情况下，由于标志之间的空间与3Ts一样小，出现了热干扰。如图7(d)中所示，由于接着记录的长标志710的前沿703的热干扰，长标志709的后沿702缓慢地冷却，使得很难形成非晶体的标志。因此，移动后沿702的位置，使其在时间上位于其正确位置之前。进一步，长标志710的前沿703的温度由于来自先前记录的长标志709的后沿的热干扰的余热的影响变得更高，从而促进非晶体形成。这样，移动前沿703的位置，使其在时间上位于其正确位置之前。
图7(e)显示了在当标志之间的空间小时减小用于记录一个空间的功率260以便防止热干扰的情况下的记录脉冲711和213。为了形成一个3Ts的空间，在减小功率260使其低于记录脉冲165和163的功率的同时执行记录脉冲213的照射，因此尽管空间较短，标志之间的热干扰被消除，从而如图7(f)显示，长标志708的后沿705和前沿706被正确定位。
参照图2(a)和2(b)，设置用于记录具有4T长度的对应于低电平信号210的空间154的记录脉冲211的功率261，使其小于用于记录具有5T或更长的不产生热干扰并且对应于低电平信号208的空间155的记录脉冲209的功率262。这消除了在功率261和262彼此相等的情况中产生的标志之间的热干扰的影响。
设置用于记录具有3T长度的对应于低电平信号212的空间153的记录脉冲213的功率260，使其低于功率261。这消除了在功率260和262彼此相等的情况中产生的标志之间的热干扰的影响。
也就是，通过根据每一个空间的长度确定用于记录一个空间的记录脉冲的功率来消除标志之间的热干扰的影响。应该注意，用于空间的每一个长度的记录脉冲的记录功率不依赖于在空间前和后提供的标志的长度并且固定为一个常数值。
<第四要求>
在确定用于每一个空间的长度的记录脉冲的功率后，为每一个标志的长度确定用于记录标志的记录脉冲的前沿的位置，以便正确地定位标志的再现波形的前沿的位置。
在图2中，确定记录脉冲201的前沿的位置215，以便正确地定位3Tm的最短标志108的再现波形的前沿(即，在均衡再现信号250和限制电平110之间的交点214上)。确定记录脉冲241的第一部分脉冲203的前沿的位置217，以便正确地定位4Tm的长标志125的再现波形的前沿(即，在均衡再现信号251和限制电平110之间的交点216上)。确定记录脉冲242的第一部分脉冲206的前沿的位置219，以便正确地定位5Tm或更长的长标志的再现波形的前沿(即，在均衡再现信号252和限制电平110之间的交点218上)。
<第五要求>
类似于上述情况，在为每一个空间的长度确定记录脉冲的功率后，为每一个标志的长度确定用于记录标志的记录脉冲的后沿的位置，以便正确地定位标志的再现波形的后沿的位置。
在图2中，确定记录脉冲201的后沿的位置221，以便正确地定位3Tm的最短标志108的再现波形的前沿(即，在均衡再现信号250和限制电平110之间的交点220上)。确定记录脉冲241的第二部分脉冲204的后沿的位置223，以便正确地定位4Tm的长标志125的再现波形的后沿(即，在均衡再现信号251和限制电平110之间的交点222上)。确定记录脉冲242的第二部分脉冲207的后沿的位置225，以便正确地定位5Tm或更长的长标志129的再现波形的后沿(即，在均衡再现信号252和限制电平110之间的交点224上)。
图4C显示了记录脉冲的边沿的位置条件。在图4C中的表中显示的数字对应于图2中所示单元的各个位置。应该注意，对应于在表中显示的它们各自的标号的单元的位置不总是具有不同的值，根据光盘的记录薄膜特性和均衡器特性给一些位置提供了相同的值。
如在实施例1中的情况中，在本实施例中，对于用于记录一个最短标志的作为单脉冲的功率的前沿和后沿的位置，尽管有实现最短标志的再现波形的边沿的正确位置的多种组合，最好是选择再现振幅是最大的条件。
进一步，对于第一部分脉冲的前沿的功率和位置以及第二部分脉冲的后沿的功率和位置，在记录一个长标志的情况中，尽管有实现长标志的再现波形的边沿的正确位置的多种组合，最好选择长标志的前沿和后沿的再现振幅相等的条件(即，再现波形被拉平)。
图4D显示了在设置记录脉冲241的第一部分脉冲203的功率227和记录脉冲242的第一部分脉冲206的功率228以使其等于记录脉冲201的功率226以及设置记录脉冲241的第二部分脉冲204的功率229和记录脉冲242的第二部分脉冲207的功率230以使其不管标志的长度而保持不变的情况下，记录脉冲的功率的条件。进一步，显示了用于每一个空间长度的记录脉冲的功率的条件。在图4D的表中显示的数字对应于表示图2中显示的单元的功率的标号。
如上所述，利用满足第一到第五要求的记录/再现方法，从最短标志到最长标志的所有标志被记录在光盘上，从而正确地定位标志的再现波形的边沿。应该注意，第一到第五要求仅仅以这个顺序进行描述，可以重新排序来进行实施。
依据本实施例的用于在光盘上记录数据/从光盘再现数据的方法不象在传统方法中一样使用比一个记录时钟周期短的脉冲以记录一个长标志。进一步，控制用于记录一个空间的记录脉冲的功率，以便消除标志之间的热干扰的影响，因此对标志本身的每一个长度确定记录脉冲的前沿和后沿的位置条件，作为一维参数。进一步，长标志的再现波形的的前沿和后沿的振幅可以相同并且一个最短标志的波形的振幅可以最大化。因此，与传统的记录方法相比，记录脉冲的波形(写策略)被简化，并且除此之外，可以显著减少记录补偿参数的数目。
用于在标志和空间的测试记录中通过最短过程获得记录补偿条件的方法以及数据记录/再现方法将参考图2、7、13、14和15来描述。图13、14和15每一个都是显示用于通过最短过程获得记录补偿条件的方法和数据记录/再现方法的流程图。
参照图2和13，描述用于记录最短标志108的记录脉冲201。记录脉冲201的后沿的位置221被固定，以便满足与一个记录时钟的边沿的规定相对关系(S1401)。接着，确定记录脉冲201的功率226，以便正确地定位最短标志108的再现波形的后沿(即，在交点220上)(S1402)。然后，确定记录脉冲201的前沿的位置215，以便正确地定位最短标志108的再现波形的前沿(即，在交点214上)(S1403)。然后，基于各个空间153、154和155的长度分别地确定用于记录空间153、154和155的记录脉冲213、211和209的功率，以便消除由于标志之间的热干扰造成的标志的再现波形的边沿位置波动(S1404)。这允许在不改变记录脉冲201的前沿的位置215的值的情况下，甚至当紧挨着最短标志108之前的各个空间的长度不同时，正确地定位最短标志108的再现波形的前沿和后沿(即，在交点214和220上)。
参照图2和14，描述用于记录长标志129的记录脉冲242。第一部分脉冲206的后沿的位置291被固定，以便满足与一个记录时钟的边沿的规定相对关系(S1501)。接着，确定第一部分脉冲206的功率228(S1502)。可以确定功率228使其具有与记录脉冲201的功率226相等的值。
接着，基于长标志129的长度确定第二部分脉冲207的后沿的位置225和功率230，以便正确地定位长标志129的再现波形的后沿(即，在交点224上)(例如，满足长标志129的再现振幅的平坦性要求)(S1503)。例如，用于记录nTm(n代表大于等于4的整数)的长标志的记录脉冲的第二部分脉冲的后沿位置固定在位于从第一部分脉冲的后沿位置向后长度为(n-3)T的位置上。固定的位置可以微小地调整。
然后，基于长标志129的长度确定第一部分脉冲206的前沿的位置219，以便正确地定位长标志129的再现波形的前沿(S1504)。然后，基于空间的长度确定用于记录空间的记录脉冲的功率，以便消除由于标志之间的热干扰造成的标志的再现波形的边沿位置波动。基于各个空间153、154和155的长度分别地确定用于记录空间153、154和155的记录脉冲213、211和209的功率(S1505)。步骤S1505与步骤S1404相同。
通过对于标志和空间的长度的各种组合重复地执行图13和14中显示的过程，在最短过程中确定用于最短标志和长标志的所有记录补偿条件。在图13和14中显示的步骤的顺序是一个例子，该过程不限于这个顺序。上面是用于在测试记录中以最短过程获得记录补偿条件的方法。
参照图2和15，描述用于使用确定的记录补偿条件记录用户数据的方法。在确定记录补偿条件后，如图2所示的作为用于记录标志的记录脉冲的记录脉冲201的前沿位置215、后沿位置221和功率226具有固定的值。通过从图4D中显示的记录补偿条件选择一个正确功率的值来执行在记录用户数据的操作中的用于记录空间的记录脉冲的功率的调整(S1601)。空间155、154和153可以分别地使用以上述方式调整的记录脉冲209、211和213记录在光盘上(S1602)。
如上所述，本实施例中，因为在记录补偿条件的确定之后没有依据在用户数据记录操作中的记录脉冲的照射之前和之后的条件来选择或改变的记录脉冲的单元，所以数据处理容易执行，从而加快了数据记录操作的速度。
(实施例3)图8是显示用于在光盘上记录数据/从光盘上再现数据的方法和用于调整在数据记录/再现方法中使用的记录脉冲的写策略和记录补偿参数的方法的示意图，上述方法作为本发明的实施例3进行描述。图8(a)显示了分别用于使用类似于实施例1和2的记录方法来记录长标志和最短标志的记录脉冲810和811。图8(b)显示了分别由记录脉冲810和811记录的一个长标志820和一个最短标志821。在其上添加了下面所述的预热和冷却脉冲时，在本发明的记录/再现方法中使用的记录脉冲也可以被执行，并且是有效的。
图8(c)显示了一个实施例，其中预热脉冲802被加在用于形成空间812的记录脉冲801的末端位置。因为预热脉冲802促进了最短标志821的前沿部分的温度的增加，因此前沿部分800容易做成非晶体。
图8(d)显示了一个实施例，其中冷却脉冲805被加在用于形成空间812的记录脉冲804的起始位置。因为冷却脉冲提高了长标志820的后沿部分803的冷却速度，因此后沿部分803容易做成非晶体。
图8(e)显示了一个实施例，其中预热脉冲802和冷却脉冲805都被加在用于形成空间812的记录脉冲806的任意一个末端位置。两个脉冲都使得前沿和后沿部分800和803更容易地进入非晶体状态。
用在本发明的记录/再现方法中的写策略和记录补偿参数可以在记录/再现设备出货之前被实施，或者可以在每次用户使用记录/再现设备时被实施。
工业实用性依据本发明的用于在光盘上记录数据/从光盘上再现数据的方法不使用具有窄的宽度的多脉冲，因此在记录操作期间提高记录操作的速率和控制功率是容易的。进一步，在高密度的记录操作中可以最大化最短标志的振幅并减小长标志的失真。另外，可以实现写策略和记录补偿，其中，参数的数目小于常规使用的参数的数目。这样，本发明最适合其中需要高速和高密度记录的光盘系统，例如数字录象机。
权利要求
1.一种用于调整用于在一个光盘上记录一个标志的记录脉冲的方法，包括如下步骤(a)调整用于记录一个最短标志的第一记录脉冲；以及(b)调整用于记录一个长标志的第二记录脉冲，其中，第一记录脉冲是一个具有第一功率的单脉冲，第二记录脉冲是一个包括具有第二功率的第一部分脉冲和具有第三功率的第二部分脉冲的两级脉冲，步骤(a)包括如下步骤(a1)固定第一记录脉冲的后沿的位置，以便满足与一个记录时钟的第一边沿的规定相对关系；(a2)确定第一功率，以便正确地定位最短标志的再现波形的后沿；以及(a3)根据紧挨在最短标志之前的一个空间的长度来确定第一记录脉冲的前沿的位置，以便正确地定位最短标志的再现波形的前沿，以及步骤(b)包括如下步骤(b1)固定第一部分脉冲的后沿的位置，以便满足与记录时钟的第二边沿的规定相对关系；(b2)固定第二部分脉冲的后沿的位置，以便满足与记录时钟的第三边沿的规定相对关系；(b3)确定第二功率；(b4)确定第三功率，以便正确地定位长标志的再现波形的后沿；以及(b5)根据紧挨在长标志之前的一个空间的长度和长标志的长度来确定第一部分脉冲的前沿的位置，以便正确地定位长标志的再现波形的前沿。
2.如权利要求1所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，设置第一功率与第一记录脉冲的前沿位置的组合，使其是实现最短标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使最短标志的再现振幅最大的组合。
3.如权利要求1所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，设置第二和第三功率与第一部分脉冲的前沿位置的组合，使其是实现长标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使长标志的再现振幅变平的组合。
4.如权利要求1所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，第一和第二功率彼此相等。
5.如权利要求1所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，固定第二部分脉冲的后沿的位置，使其位于第一部分脉冲的后沿之后一个规定时钟周期。
6.一种用于采用权利要求1的用于调整记录脉冲的方法在光盘上记录一个标志的方法，包括如下步骤根据至少依据步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；以及根据至少依据步骤(b)调整的第二记录脉冲记录长标志。
7.一种用于在光盘上记录一个标志的方法，包括如下步骤(a)根据紧挨在一个最短标志之前的一个空间的长度调整用于记录最短标志的第一记录脉冲的前沿，其中第一记录脉冲是一单脉冲，其后沿位置和功率被固定；(b)采用在步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；(c)根据紧挨在一个长标志之前的一个空间的长度调整用于记录具有规定长度的长标志的第二记录脉冲的前沿，其中第二记录脉冲是一个两级脉冲，包括彼此具有不同功率的第一部分和第二部分脉冲，第一部分和第二部分脉冲的各自的后沿位置和各自的功率被固定；以及(d)采用在步骤(c)调整的第二记录脉冲记录长标志。
8.一种用于调整用于在光盘上记录标志和空间的记录脉冲的方法，包括如下步骤(a)调整用于记录一个最短标志的第一记录脉冲；(b)调整用于记录一个长标志的第二记录脉冲；以及(c)调整用于记录标志之间的一个空间的第三记录脉冲，其中，第一记录脉冲是具有第一功率的单脉冲，第二记录脉冲是一个两级脉冲，包括具有第二功率的第一部分脉冲和具有第三功率的第二部分脉冲，第三记录脉冲是具有第四功率的单脉冲，步骤(a)包括如下步骤(a1)固定第一记录脉冲的后沿的位置，以便满足与一个记录时钟的第一边沿的规定相对关系；(a2)确定第一功率，以便正确地定位最短标志的再现波形的后沿；以及(a3)确定第一记录脉冲的前沿的位置，以便正确地定位最短标志的再现波形的前沿，步骤(b)包括如下步骤(b1)固定第一部分脉冲的后沿的位置，以便满足与记录时钟的第二边沿的规定相对关系；(b2)确定第二功率；(b3)根据长标志的长度确定第二部分脉冲的后沿位置和第三功率，以便正确地定位长标志的再现波形的后沿；以及(b4)根据长标志的长度确定第一部分脉冲的前沿位置，以便正确地定位长标志的再现波形的前沿，以及步骤(c)包括如下步骤(c1)根据空间的长度确定第四功率，以便消除由于标志之间的热干扰而产生的标志的再现波形的边沿的位置波动。
9.如权利要求8所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，设置第一功率与第一记录脉冲的前沿位置的组合，使其是实现最短标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使最短标志的再现振幅最大的组合。
10.如权利要求8所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，设置第二和第三功率与第一部分脉冲的前沿位置的组合，使其是实现长标志的再现波形的前沿和后沿的正确位置的多个组合中的实质上使长标志的再现振幅变平的组合。
11.如权利要求8所述的用于调整记录脉冲的方法，其中，第一和第二功率彼此相等。
12.一种用于采用权利要求8的用于调整记录脉冲的方法在光盘上记录一个标志的方法，包括如下步骤根据至少依据步骤(a)调整的第一记录脉冲记录最短标志；根据至少依据步骤(b)调整的第二记录脉冲记录长标志；以及根据至少依据步骤(c)调整的第三记录脉冲记录空间。
13.一种用于在光盘上在标志之间记录一个空间的方法，包括如下步骤(a)根据空间的长度调整用于记录空间的为单脉冲的记录脉冲的功率，以便消除由于标志之间的热干扰而产生的标志的再现波形的边沿的位置波动；以及(b)采用在步骤(a)调整的记录脉冲来记录空间。
全文摘要
用一单个记录脉冲记录一个最短标志108。用一个包括第一部分脉冲和第二部分脉冲的两级脉冲记录一个长标志125。在记录脉冲的每个前沿位置115和118是根据在紧挨在标志之前的空间的长度与标志本身的长度之间的关系来确定以便正确地定位所有标志长度的再现波形的前沿以及所有标志长度的记录脉冲的每个后沿位置被固定以便满足与一个记录时钟的边沿的规定相对关系的情况下，确定最短标志的记录脉冲101的功率122，以便实现最短标志的再现波形的正确后沿位置112，并为每个标志长度确定第二部分脉冲104的功率124，以便实现长标志的再现波形的正确后沿位置123。
文档编号G11B7/00GK1422425SQ01807603
公开日2003年6月4日 申请日期2001年4月6日 优先权日2000年4月7日
发明者古宫成, 东海林卫 申请人:松下电器产业株式会社