专利名称：光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明有关于一种光盘装置，且特别是有关于一种进行光盘记录或是记录再生的光盘装置。
其中为一次写入式光盘的可记录式光盘，设置有导引用的凹槽(groove)。凹槽以中心频率22.05kHz以放射方向波动(wobble)设置，称作绝对信息时间(Absolute Time In Pregroove，ATIP)时所记录的地址信息，在最大偏移±1kHz以频率变换调制(Frequency Shift Keying，FSK)变频多重记录。
可记录式光盘的记录编排形式，由光盘的中心部依顺序，为用以记录、测定最适合的记录功率的功率分类区(Power Calibration Area，PCA)，暂时记录在写入途中的信号记录信息或跳越(skip)信息的程序存储区(Program Memory Area，PMA)、引进区(Lead In Area)、程序区(Program Area)、引出区(Lead Out Area)。
在为一次写入式光盘的可记录式光盘中，为了设定雷射光的最合适记录功率，在记录之前进行功率控制最佳化(Optimum PowerControl，OPC)的动作。为此，在功率分类区设置100区的测试区(分割区)，各分割区由15帧(Frame)所构成。
此最合适记录功率的设定，为了因应依制造来源的不同，使得光盘具有不同的记录特性而有其必要性。尚且，在不能得到光盘的最合适记录功率的场合中，也有再生信号的跳动(Jitter)或错误率(ErrorRate)大幅恶化的场合。
公知在1帧中分配1个的记录功率，由最小功率至最大功率以15阶段的功率，在测试区进行记录之后，由此测试区，检测出再生的射频(RF)信号包络(Envelope)的峰值(P)与谷值(B)。其次，如果由β＝(P+B)/(P-B)所得的β值超过一预定值(例如是0.04)，则此判断阶段的记录功率，与最合适记录功率并不符合，而进行其后的信号记录。此外，功率分类区的1组测试区(15帧)，相当于光盘的约1.7圆周。
更进一步说，在光盘的规格书，在情报记录之中记载着进行运转(Running)OPC。此运转OPC为前述OPC时的最合适记录功率来自坑洞的反射光强度，与信息记录时来自坑洞的反射光强度两者相比较，基于此比较结果，对于OPC时求得的最合适记录功率或是β值，进行随时补正的同时而进行信息的记录。
此处，求取反射光强度的坑洞部，用具有时间幅为11T(基准时间幅T为标准速度，也即是在1倍速，频率数4.32MHz的1周期约230nsec)的坑洞部，而使用由此坑洞处的后端部的反射光强度。
因此，由光盘的数据书写区的内周向外周进行信息记录时，即使由于光盘的内面的感度不均、弯曲等，使得OPC所求得的最合适记录功率随之相对应变化，也能够凭借此运转OPC的运行，追随此些变化要因，对雷射光进行补正。
但是，光盘的弯曲相当大的场合，由于光盘10的内周侧的PCA与数据写入区(Dara Area)的外周侧，两者的记录雷射光的入射角会产生变化，于实际记录上有效的雷射光与对物透镜所射出的雷射光并不相同，显著的与最合适记录功率相异。而且，公知的运转OPC，经常的以OPC时的最合适记录功率来自坑洞部的反射光强度为基准，以进行最合适功率的补正。当光盘的色料涂布不均或弯曲相当大的场合，在光盘的内周侧以运转OPC的追随进行补正时，记录功率不会产生补正的问题的进行记录，然而，由于在光盘片的外周侧的实际最合适记录功率(有效记录功率)与OPC时的最合适记录功率具有相当大的差异，即使在由外周侧进行写入时以OPC时的最合适记录功率起始，此时的反射光强度与作为基准的OPC时的最合适记录功率来自坑洞部的反射光强度，两者具有相当大的差异，而与最合适的记录状态有相当大的差距，且经过控制运转OPC追随并进行最合适记录功率的补正乃至实际的最合适记录功率为止，需要耗费相当的时间，其间会产生错误率或跳动急速劣化的情形。
而且，依照光盘的面模糊等的机械特性，在与光盘的回转周期相同或是2被的周期β值会变动。因此，在OPC动作时所测定的反射光强度、β值会产生变动，即使以OPC时的最合适记录功率的来自坑洞部的反射光强度为基准以进行运转OPC，由于反射光强度包含测定误差，因而不能进行精度良好的记录功率补正。因此，如上所述无法以运转OPC得到最合适记录功率的场合，也不能对β值进行良好的补正，使得错误率或跳动产生劣化。
本发明中，记录功率为可变动的于光盘的预定测试区进行记录，基于由前述预定测试区的再生信号所得的特性值，进行设定最合适记录功率与来自坑洞部的最合适反射光强度的OPC动作，而且，为使记录时来自坑洞部的反射光强度成为目标反射光强度，进行运转OPC动作以调整记录功率的光盘装置中，具有于前述OPC动作时，与记录功率同样为可变动的在前述预定测试区的复数帧进行复数回记录，求取前述记录功率的相同的反射光强度的平均值，将前述最合适记录功率所对应的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度的OPC控制手段；前述运转OPC动作时，在前述记录时来自坑洞部的反射光强度成为前述最合适反射光强度的方向，记录功率以预定量可变动的记录功率可变手段；由于经过复数回的记录的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度，能够降低光盘的面模糊等的影响，设定正确的最合适反射光强度，而能够防止错误率以及跳动的劣化。
另外，本发明记录功率为可变动的于光盘的预定测试区进行记录，基于由前述预定测试区的再生信号所得的特性值，进行设定最合适记录功率与来自坑洞部的最合适反射光强度的OPC动作，而且，为使记录时来自坑洞部的反射光强度成为目标反射光强度，进行运转OPC动作以调整记录功率的光盘装置中具有于前述OPC动作时，保持前述反射光强度与前述记录功率关系的关系保持手段；以前述运转OPC动作时，于记录时来自坑洞部的反射光强度与最合适反射光强度的差值、以及前述关系保持手段的反射光强度与前述记录功率的关系所得的于前述记录时来自坑洞处的反射光强度，求取前述最合适反射光强度成为的记录功率，且此记录功率为可变动的记录功率可变手段；而能够略实时的以运转OPC动作设定前述最合适反射光强度成为的记录功率。
还有，本发明记录功率为可变动的于光盘的预定测试区进行记录，基于由前述预定测试区的再生信号所得的特性值，进行设定最合适记录功率与来自坑洞部的最合适反射光强度的OPC动作，而且，为使记录时来自坑洞部的反射光强度成为目标反射光强度，进行运转OPC动作以调整记录功率的光盘装置中，具有以雷射二极管的熄灯时的再生信号电平，测定反射光强度偏移的偏移测定手段；
使用前述偏移补正前述OPC动作时以及/或是运转OPC动作时所测定的反射光强度的偏移补正手段；而能够在进行前述OPC动作时以及/或是运转OPC动作时，提升反射光强度的测定精度。
伺服电路26进行上述主轴马达的CLV(线速度固定)伺服的同时，进行光拾取器28的线程马达(Thread Motor)的回转控制，以将光盘20移至所希望的区块，并且，进行光拾取器28的聚焦伺服(Focus Servo)、寻轨伺服(Tracking Servo)。
由光拾取器28照射的雷射光，在光盘20的记录面上反射，反射的光束由光拾取器28检测。光拾取器28所得的再生射频(RF)信号供给至再生电路30此处经放大的再生RF信号于供给伺服电路26的同时，在再生电路30内接受高频调制(High Frequency Modulation，EFM)解调后，将ATIP信号分离并供给ATIP译码器32。而且，同时所撷取的解调信号，供给未图标的译码器进行CIRC译码、修正错误后，输出再生信号。ATIP译码器32将ID号码或各种参数的ATIP信息译码并供给微电脑24以及伺服电路26。
而且，再生电路30所输出的再生信号，供给至峰值检测电路38与谷值检测电路40，峰值检测电路38检测出再生信号包络的峰值(P)并供给至微电脑24，谷值检测电路40检测出再生信号包络的谷值(B)并供给至微电脑24。
微电脑24由上述的峰值(P)以及谷值(B)，基于β＝(P+B)/(P-B)所得的β值形成记录功率控制信号，此记录功率控制信号藉由数字/模拟(D/A)转换器42，将模拟化的记录功率控制电压供给记录电路44。编码器46基于微电脑24的控制，将所输入的记录信号进行CIRC编码并供给记录电路44，于记录时由编码器46所供给的信号以EFM调制，此调制信号以记录功率控制电压所对应的记录功率控制，供给至光拾取器28内的雷射二极管(Laser Diode)以驱动。依此雷射光照射至光盘20表面以进行信号记录。
此外，在实行OPC动作时或是运转OPC动作时，以编码器46将记录信号供给至取样脉冲发生电路48，而且，以微电脑供给时钟脉冲信号至取样脉冲发生电路48，取样脉冲发生电路48以11T时间幅的坑洞记录时，如图2A所示，在记录中的坑洞部的反射光强度中，以对应坑洞部的后端部为取样的时序，图2B所示为发生取样脉冲并供给至取样保持电路50。取样保持电路50将由再生电路30所供给的信号电平，以取样脉冲取样并保持。此保持电平(也即是来自坑洞部的后端部的反射光强度)以模拟/数字(A/D)转换器51数字化并供给微电脑24，再以随机存取内存(Random Access Memory，RAM)25存储。由于此保持电平HB对应记录坑洞的形成方法而变化，预先将OPC时的最合适记录功率的保持电平HBs存储于只读存储器(ReadOnly Memory，ROM)25b中，并与信息记录时的保持电平HB做比较，并基于比较的结果进行记录功率的控制。
而且，在微电脑所接续的随机存取内存25a或是包含电气抹除式可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable ROM，EEPROM)的只读存储器25b中存储过去的OPC的历程，更加的，存储前回记录时的最终记录功率P以及/或是保持电平HB。此些存储值保持一定的时间。
更加的，微电脑24所接续的包含EEPROM的ROM 25b，登录有光盘的种类(光盘号码)、记录速度所对应OPC的起始速度以及阶段功率的表以及目标值βo的表。
图3为微电脑24实行OPC动作时以及运转OPC动作的第一实施例的流程图。同图中，在步骤S10光拾取器28内的雷射二极管熄灯，在步骤S12测定取样保持电路50的保持电平HB，并将测定的保持电平HB偏移存储于RAM 25a。
其次，在步骤S14将雷射二极管点灯，在步骤S16进行OPC记录的同时，以OPC记录的各帧测定保持电平HB。上述保持电平HB的测定时，以步骤S12所测定的偏移减算以进行偏移的补正。OPC记录对应光盘内所记录的ID号码与记录速度，由ROM 25b的表读出目标值βo，读出记录速度所对应的OPC的起始功率与阶段功率，以自起始功率(第1阶段)至第5阶段依序增大的功率，对光盘20的功率分类区的1区域的测试区(15帧)的第1至5帧进行测试记录，续之以自起始功率(第1阶段)至第5阶段依序增大的功率，对测试区的第5至10帧进行测试记录。
其次，在步骤S18求取每帧的保持电平HB的平均值，求取同一记录功率的帧的保持电平HB的平均值。在步骤S20再生上述进行OPC的测试记录的第1～10帧，并以再生信号包络的峰值(P)与再生信号包络的谷值(B)，使用β＝(P+B)/(P-B)以求取β值，平均同一记录功率的帧的β值，算出为了得到目标值β0的最合适记录功率Ps，并收容于RAM25a或是ROM25b中。然后，在步骤S22，由最合适记录功率Ps与各记录功率的保持电平HB的平均值，算出最合适记录功率Ps的最合适保持电平(反射光强度)HBs，现在记录的光盘种类(ID号码)、记录速度、记录开始位置所对应的前回记录时的记录功率以及/或是保持电平HB(仅于前回有存储时)，一同收容于RAM 25a或是ROM25b中。
其次，在步骤S24判别开始记录与进入步骤S26，如果在RAM 25a或是ROM 25b中，具有前回记录时的记录功率以及/或是保持电平HB时，历程的记录功率以及/或是保持电平设定为目标记录功率Po以及/或是目标保持电平HBo，不具有前回记录时的记录功率以及/或是保持电平HB时，将OPC所得的最合适记录功率Ps以及/或是最合适保持电平HBs设定为目标记录功率Po以及/或是目标保持电平HBo。然后，以设定的记录功率进行记录。
其次，在步骤S28测定记录时的保持电平HB，以步骤S12所测定的偏移减算而进行偏移的补正。次之，在步骤S30比较上述补正后的保持电平HB与目标保持电平HBo，如果HB＜HBo的话，则现今的记录功率过大，则将记录功率以预定量减少而进行调整，如果HB＞HBo的话，则现今的记录功率过小，则将记录功率以预定量增加而进行调整。
在步骤S32判别记录是否结束，记录尚未结束的话，则进入步骤S28以续行记录，记录结束的话进入步骤S34，以将现今的存储功率P以及/或是保持电平HB保存于RAM 25a或是ROM 25b中，而结束此次的处理。
依此在OPC时，对测试区的复数帧进行复数回的记录，并以记录复数帧的合计长度超过光盘的略1回转分进行记录，由于记录功率为求取同一的反射光强度的平均值，以将最合适记录功率所对应的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度，且由光盘的不同回转角度的反射光强度的平均值，以设定最合适反射光强度之故，光盘的面模糊等的影响得以降低，而能够设定正确的最合适反射光强度，进而能够防止错误率或跳动的劣化。
而且，在记录开始时在RAM 25a或是ROM 25b中具有记录功率以及/或是反射光强度的话，则设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度，不具有的话，将OPC的最合适记录功率以及/或是最合适反射光强度设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度，即使光盘外周侧的反射光强度与OPC时的反射光强度相异，由于以RAM25a或是ROM 25b中所保持的前回记录时的最终记录功率以及/或是保持电平HB为基准进行运转OPC动作之故，能够于光盘片的全面以适当的记录功率进行记录，进而能够防止错误率或跳动的劣化。
图4为微电脑24实行OPC动作时以及运转OPC动作的第二实施例的流程图。同图中，在步骤S110光拾取器28内的雷射二极管熄灯，在步骤S112测定取样保持电路50的保持电平HB，并将测定的保持电平HB偏移存储于RAM 25a。
其次，在步骤S114将雷射二极管点灯，在步骤S116进行OPC记录的同时，以OPC记录的各帧测定保持电平HB。上述保持电平HB的测定时，以步骤S112所测定的偏移减算以进行偏移的补正。OPC记录对应光盘内所记录的ID号码与记录速度，由ROM 25b的表读出目标值βo，读出记录速度所对应的OPC的起始功率与阶段功率，以自起始功率(第一阶段)至第五阶段依序增大的功率，对光盘20的功率分类区的一回分的测试区(15帧)的第1至5帧进行测试记录，续之以自起始功率(第一阶段)至第五阶段依序增大的功率，对测试区的第6至10帧进行测试记录。
其次，在步骤S118求取每帧的保持电平HB的平均值，求取同一记录功率的帧的保持电平HB的平均值。在步骤S120再生上述进行OPC的测试记录的第1～10帧，并以再生信号包络的峰值(P)与再生信号包络的谷值(B)，使用β＝(P+B)/(P-B)以求取β值，平均同一记录功率的帧的β值，算出为了得到目标值βo的最合适记录功率Ps、并收容于RAM 25a或是ROM 25b5中。然后，在步骤S22，由最合适记录功率Ps与各记录功率的保持电平HB的平均值，算出最合适记录功率Ps的最合适保持电平HBs，现在记录的光盘种类(ID号码)、记录速度、记录开始位置所对应的前回记录时的存储功率以及/或是保持电平HB(仅于前回有存储时)，一同收容于RAM 25a或是ROM25b中。更加的，也将各记录功率的保持电平HB的平均值收容于RAM25a或是ROM 25b中。
其次，在步骤S124判别开始记录与进入步骤S126，如果在RAM25a或是ROM 25b中，具有前回记录时的记录功率以及/或是保持电平HB时，将历程的记录功率以及/或是保持电平设定为目标记录功率Po以及/或是目标保持电平HBo，不具有前回记录时的记录功率以及/或是保持电平HB时，将OPC所得的最合适记录功率Ps以及/或是最合适保持电平HBs设定为目标记录功率Po以及/或是目标保持电平HBo。然后，以设定的记录功率进行记录。
其次，在步骤S128测定记录时的保持电平HB，以步骤S112所测定的偏移减算而进行偏移的补正。次之，在步骤S130将上述补正后的保持电平HB(于图5以HBi表示)与目标保持电平HBo减算以求取差分dHBo由于在RAM25a或是ROM25b中，收容有如图5实线所示的各记录功率的保持电平(的平均值)的关系，以差分dHB参照图5可算出记录功率的调整量，记录功率P以调整量dP而可变动的调整。在图5中，由于以目标记录功率Po记录中变为实际的反射光强度HBi，由为了使反射强度为HBo的目标记录功率Po进行dP(-dHB)的补正而成为记录功率Pj。
在步骤S132判别记录是否结束，记录尚未结束的话，则进入步骤S128以续行记录，记录结束的话进入步骤S134，以将现今的存储功率P以及/或是保持电平HB保存于RAM 25a或是ROM 25b中，而结束此次的处理。
依此，凭借运转OPC动作的记录时的反射光强度与最合适反射光强度的差、以及由ROM 25b所保持的反射光强度的平均值与记录功率的关系所得的记录时的反射光强度，求取最合适反射光强度成为的记录功率，依此记录功率为可变动的，运转OPC动作能够略实时的设定最合适反射光强度成为的记录功率。
而且，上述的各实施例以一次写入型的光盘的CD-R作为范例说明，然而如为进行记录功率分类的光盘片的话，也能够适用于可抹写式光盘，并不限定于上述实施例。
而且，步骤S16、S116对应请求项所记载的OPC控制手段，步骤S30、S130对应记录功率可变手段，步骤S34、S134对应前回值保持手段，步骤S26、S126对应目标设定手段，RAM 25a或是RAM25b对应关系保持手段，步骤S12、S112对应偏移测定手段、步骤S16、S28、S116、S128对应偏移补正手段。
如上所述，本发明，具有OPC动作时，与记录功率同样为可变动的在预定测试区的复数帧进行复数回记录，求取记录功率的相同的反射光强度的平均值，将最合适记录功率所对应的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度的OPC控制手段；与运转OPC动作时，在记录时来自坑洞部的反射光强度成为最合适反射光强度的方向，记录功率以预定量可变的记录功率可变手段，由于经过复数回的记录的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度，能够降低光盘的面模糊等的影响，设定正确的最合适反射光强度，而能够防止错误率以及跳动的劣化。
本发明具有保持前回记录的最终记录功率以及/或是反射光强度的前回值保持手段；与记录开始时，在前回值保持手段中保存有记录功率以及/或是反射光强度时，将所保持的记录功率以及/或是反射光强度设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度，在前回值保持手段中没有保存记录功率以及/或是反射光强度时，将OPC动作所得的最合适记录功率以及/或是反射光强度设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度的目标设定手段，即使光盘外周的反射光强度与OPC时的反射光强度相异，由于以所保持的前回记录时的最终记录功率以及/或是反射光强度做基准，以进行运转OPC动作，能够在光盘的全面以适当的记录功率进行记录，能够防止错误率以及跳动的劣化。
本发明具有在OPC动作时，保持反射光强度与记录功率关系的关系保持手段；运转OPC动作的记录时来自坑洞部的反射光强度与最合适反射光强度的差值、以及通过关系保持手段的反射光强度与记录功率的关系，在记录时来自坑洞处的反射光强度，求取最合适反射光强度成为的记录功率，此记录功率为可变动的记录功率可变手段，而能够略实时的以运转OPC动作设定最合适反射光强度成为的记录功率。
本发明具有以雷射二极管的熄灯时的再生信号电平，测定反射光强度偏移的偏移测定手段；使用偏移补正OPC动作时以及/或是运转OPC动作时所测定的反射光强度的偏移补正手段，能够在进行OPC动作时以及/或是运转OPC动作时，提升反射光强度的测定精度。
权利要求
1.一种光盘装置，该光盘装置以一记录功率为可变动的于一光盘的一预定测试区进行记录，基于由该预定测试区的一再生信号所得的特性值，进行设定一最合适记录功率与来自坑洞部的一最合适反射光强度的一功率控制最佳化(Optimum Power Control，OPC)动作，而且，使一记录时来自坑洞部的反射光强度成为一目标反射光强度，以进行一运转OPC动作调整该记录功率，其中该光盘装置的特征在于具有一OPC控制手段，于该OPC动作时，与该记录功率同样为可变动的于该预定测试区的复数帧进行复数回记录，求取该记录功率的相同的反射光强度的平均值，将该最合适记录功率所对应的反射光强度的平均值设定为该最合适反射光强度；一记录功率可变手段，于该运转OPC动作时，于该记录时来自坑洞部的反射光强度成为该最合适反射光强度的方向，该记录功率以预定量可变动。
2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于其中具有一前回值保持手段，保持前回记录的最终记录功率以及/或是反射光强度；一目标设定手段，于记录开始时，于该前回值保持手段中保持有记录功率以及/或是反射光强度时，将所保持的记录功率以及/或是反射光强度设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度，于该前回值保持手段中没有保存记录功率以及/或是反射光强度时，将该OPC动作所得的该最合适记录功率以及/或是最合适反射光强度设定为目标记录功率以及/或是目标反射光强度。
3.一种光盘装置，该光盘装置以一记录功率为可变动的于一光盘的一预定测试区进行记录，基于由该预定测试区的一再生信号所得的特性值，进行设定一最合适记录功率与来自坑洞部的一最合适反射光强度的一OPC动作，而且，使一记录时来自坑洞部的反射光强度成为一目标反射光强度，以进行一运转OPC动作调整该记录功率，其中该光盘装置的特征在于具有一关系保持手段，于该OPC动作时，保持该反射光强度与该记录功率的关系；一记录功率可变手段，以该运转OPC动作时的记录时来自坑洞部的反射光强度与该最合适反射光强度的差值、以及该关系保持手段的反射光强度与该记录功率的关系所得的该记录时来自坑洞处的反射光强度，求取该最合适反射光强度成为的记录功率，且于此记录功率为可变动。
4.一种光盘装置，该光盘装置以一记录功率为可变动的在一光盘的一预定测试区进行记录，基于由该预定测试区的一再生信号所得的特性值，进行设定一最合适记录功率与来自坑洞部的一最合适反射光强度的一OPC动作，而且，使一记录时来自坑洞部的反射光强度成为一目标反射光强度，以进行一运转OPC动作调整该记录功率，其中该光盘装置的特征为具有一偏移测定手段，以一雷射二极管的熄灯时的一再生信号电平测定反射光强度的一偏移。一偏移补正手段，使用该偏移补正该OPC动作时以及/或是运转OPC动作时所测定的反射光强度。
全文摘要
发明提供一种光盘装置,能够在光盘的全面上,以适当的记录功率进行记录,并能够防止错误率或跳动的劣化。于OPC动作时,与记录功率同样为可变动的在预定测试区的复数帧进行复数回记录,求取记录功率的相同的反射光强度的平均值,将最合适记录功率所对应的反射光强度的平均值设定为最合适反射光强度的OPC控制手段,反射光强度成为最合适反射光强度的方向,记录功率以预定量可变的记录功率可变手段,能够降低光盘的面模糊等的影响,设定正确的最合适反射光强度,而能够防止错误率以及跳动的劣化。
文档编号G11B7/0045GK1377030SQ0210186
公开日2002年10月30日 申请日期2002年1月16日 优先权日2001年3月23日
发明者小川敏弘 申请人:提阿克株式会社