专利名称：光盘装置,光记录方法,光记录程序及存储介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及诸如CD-R，DVD-R和DVD+R等使用有机染料(dye)作为记录层，使信息可被写在其上的光盘。在这种光盘中，基于用作记录层的有机染料的特性，记录的次数是一次(写一次)。
背景技术：
通过使用具有发射激光束的光发射元件和能够适当改变从光发射元件发射的激光束的输出功率的光盘装置，能够将信息记录到这种光盘上和从这种光盘重现信息。例如，一些传统的光盘装置通过在开始在光盘上作实际记录之前测试光盘的记录信息，且依据通过重现测试记录区域而获取的重现信号的特性获取最佳记录功率，从而以最佳记录功率执行实际记录。这样能够获取好的记录质量。在下文中，依据测试记录区域的重现信号获取最佳记录功率被称为OPC(最佳功率控制)。此外，光盘上使得能在OPC条件下测试记录的区域被称为PCA(功率标定区域)。
光盘的记录灵敏度随记录中光发射元件发出的激光束波长的变化而急剧变化。这样，最佳记录功率根据光发射元件发出的激光束波长的变化而变化。由于这个原因，光盘的记录质量也根据激光束波长的变化而变化。
另外，记录中光发射元件发出的激光束波长的变化随环境温度的变化而急剧变化。因此，当使用某一温度最佳的记录功率在不同环境温度下执行记录时，可以设想即使当光发射元件执行发射的记录功率相同，也不能获取最佳记录功率。这关系到光盘的记录质量下降。
作为应对措施，通常，有通过再次设置记录功率、脉冲形状等(记录策略)来保持记录质量的技术，或当测量具有光发射元件的光盘装置附近的温度，且光盘装置附近的温度变得等于或高于预定温度时再次执行测试记录的技术(例如，参见日本公开专利申请No.2001-297437和No.2001-176141)。
另外，传统技术通过测试光发射元件发出的激光束的波长，并依据检测的激光束的波长驱动光发射元件，从而与环境温度变化相适应(例如，参见日本公开专利申请No.2001-297465)。
但是，通常认为最佳记录功率和环境温度之间的关系依光盘装置(特别是激光器)、光盘的种类、生产批量等的变化而不同。因此，恐怕通过一个温度获取一个单一的记录功率不能总获取最佳记录功率。作为应对措施，最好在每次执行OPC来执行实际记录时获取最佳记录功率。
另一方面，由于在包括使用有机染料的记录层并且只能被写一次的光盘(写一次介质)中PCA受到限制，很可能当每次环境温度变化执行OPC时使PCA很快变满。当PCA很快变满时，不能再执行测试记录。因此，虽然正常实际记录区域还保持着，但其后的记录只能在不执行OPC的情况下进行。
发明内容
因此，本发明的总的目的是提供一种消除了前述问题的、改进的、有用的光盘装置、光记录方法、光记录程序和存储介质。
本发明的另一个且更具体的目的是根据温度变化导致的激光束波长的变化获取最佳的功率，而不过分增加测试记录的次数。
本发明再一个目的是，在对(例如)仅可能记录信息到相同位置一次的光盘进行记录时，不管单个光盘的记录次数和环境温度的变化，都获取好的记录质量。
为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提出了一种光盘装置，包括一光发射元件，将激光束照射到可记录光盘上；一驱动器，旋转光盘；一第一最佳记录功率获取部分，在光盘被驱动器旋转和光发射元件的输出功率改变时在光盘上执行测试记录，从而基于执行测试记录的光盘一个区域的重现信号获取最佳记录功率；一温度测量部分，测量光发射元件附近的温度；一存储器，存储由第一最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和当获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，使最佳记录功率与温度相关联；一与温度相关的记录功率获取部分，参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，以便依据温度测量部分在实际记录中所测量的温度获取最佳记录功率；和一目标记录功率设置部分，把与温度相关的记录功率获取部分所获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
根据前述本发明的技术方案，在实际记录中，通过参照存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，把与温度测量部分测量的温度相对应的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。这样，能够依据环境温度设置目标记录功率，与每次进行实际记录都要执行测试记录的情况相比，减少执行测试记录的次数。因此，当例如，在只能一次记录信息的光盘(写一次介质)上记录时，可以不受在同一光盘上的记录次数和环境温度变化的影响而获取好的记录质量。
此外，本发明的光盘装置还包括一近似表达式获取部分，基于存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，根据温度测量部分所测量的温度变化来获取近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中与温度相关的记录功率获取部分基于近似表达式获取部分获取的近似表达式，获取与温度测量部分在实际记录中所测量的温度相对应的最佳记录功率。
因此，在光盘装置中，当执行实际记录时，除了前述的效果外，还能够通过根据基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度所获取的近似表达式以及温度测量部分测量的温度，设置目标记录功率，通过计算来获取更精确的最佳记录功率。
此外，光盘装置还包括一第二最佳记录功率获取部分，在实际记录中使第一最佳记录功率获取部分获取最佳记录功率；和一记录功率选择部分，把第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和与温度相关的记录功率获取部分获取的最佳记录功率中之一选作为实际记录中的目标记录功率，其中目标记录功率设置部分把记录功率选择部分选择的最佳记录功率设置为目标记录功率。
因此，在光盘装置中，例如依据在实际记录中测量的温度或光盘的测试记录区域的大小，把第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和与温度相关的记录功率获取部分获取的最佳记录功率中之一适当地设置为实际记录中的目标记录功率。因此，能够减少执行测试记录的次数，从而控制测试记录区域的耗费，或能够根据需要，基于通过计算获取的最佳记录功率适当设置目标记录功率，适当地把精确度列入优先地位。
此外，光盘装置还包括一范围确定部分，确定在实际记录中由温度测量部分测量的温度是否落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内，其中当范围确定部分确定温度测量部分测量的温度未落入存储器中存储的指定温度范围内时，记录功率选择部分把第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率选作目标记录功率。
因此，在实际记录中，当温度测量部分测量的温度未落入存储器中存储的指定温度范围内时，第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率被设置为目标记录功率。这样，只有当测量的温度与存储在存储器中的温度相差较大时才执行测试记录，比如当存储器中存储的信息量小时。因此，即使当目标记录功率是通过从存储器中选择最佳记录功率而设置时，也能够控制设置目标记录功率中的误差。因此，能够更好的维持记录质量。此外，由于第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和测量的温度随后被存在存储器中，可以增强(enhance)用于作出决定的参考值，这样增加了存储器中的数据量。因此，能够减少通过从存储器中的最佳记录功率选择而设置的目标记录功率与基于由第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率而设置的目标记录功率中之间的误差。
另外，在光盘装置中，当范围确定部分确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，存储器还存储由第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率以及在获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，这样将最佳记录功率与温度相关联。
因此，在实际记录中，当范围确定部分确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，还在存储器中存储由第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和在获取最佳记录功率时由温度测量部分所测量的温度，使最佳记录功率与测量的温度相关联。这样，存储器存储的数据量随着执行实际记录的次数的增加而增加。因此，可以提高与温度相关的记录功率获取部分所获取的最佳记录功率的精确度，且与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，能够有效地减少执行测试记录的次数。
另外，根据本发明的另一个方面，提出了一种用于光盘装置的光记录方法，该光盘装置具有一个将激光束照射到可记录光盘上的光发射元件，一个旋转光盘的驱动器和一个测量光发射元件附近的温度的温度测量部分，该光记录方法包括如下步骤第一最佳记录功率获取步骤，基于执行测试记录的光盘一个区域中的重现信号获取一最佳记录功率，执行该测试记录，以由驱动器旋转光盘及使光发射元件的输出功率变化；在存储器中存储获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，使获取的最佳记录功率与测量的温度相关联；依据在实际记录中由温度测量部分测量的温度，通过参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度获取最佳记录功率；把依据测量温度获取最佳记录功率的步骤中得到的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
依据本发明的上述方面，在实际记录中，通过参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，把依据温度测量部分测量的温度得到的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。这样，能够根据环境温度设置目标记录功率，并且，与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，减少了执行测试记录的次数。因此，即使(例如)在对只能记录信息到同一位置一次的光盘(写一次介质)进行记录时，也可获取良好的记录质量，而不受对同一光盘记录的次数和环境温度变化的影响。
此外，本发明的光记录方法还包括如下步骤基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，依据温度测量部分测量的温度的变化获取近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中，在依据测量的温度获取最佳记录功率的步骤中，基于获取的近似表达式得到与实际记录中由温度测量部分测量的温度相对应的最佳记录功率。
因此，在实际记录中，目标记录功率是根据近似表达式和温度测量部分在实际记录中测量的温度设置的，其中所述近似表达式是基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度获取的。因此，除了上述的效果外，还能够通过计算更精确地获取最佳记录功率。
另外，光记录方法还包括如下步骤第二最佳记录功率获取步骤，以类似于第一最佳记录功率获取步骤的方式获取实际记录中的最佳记录功率；和把第二最佳记录功率获取步骤中获取的最佳记录功率和依据测量的温度获取最佳记录功率的步骤中获取的最佳记录功率中之一选择为实际记录中的目标记录功率，其中，在设置目标记录功率的步骤中，把目标记录功率步骤中选择的目标记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
因此，在光记录方法中，例如，依据实际记录中测量的温度或光盘测试记录区域的大小，把第二最佳记录功率获取步骤中获取的最佳记录功率和依据测量的温度获取最佳记录功率的步骤中获取的最佳记录功率中之一适当地设置为实际记录中的目标记录功率。因此，可以减少执行测试记录的次数，从而控制测试记录区域的耗费，或者按照需要，基于通过计算获取的最佳记录功率适当设置目标记录功率，适当地把精确度列入优先地位。
另外，在选择目标记录功率的步骤中，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，将选择第二最佳记录功率获取步骤获取的最佳记录功率作为目标记录功率。
因此，在实际记录中，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，第二最佳记录功率获取步骤获取的最佳记录功率被设置为目标记录功率。这样，只有当测量的温度与存储器中存储的温度有很大差别时，比如当存储器中存储的信息量很小时，才执行测试记录。因此，即使通过从存储器中选择最佳记录功率来设置目标记录功率时，也能够控制设置目标记录功率的误差。因此，能够更好的保持记录质量。另外，由于第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和测量的温度随后被存在存储器中，因此可以增强用于作出决定的参考值，这样增加了存储器中的数据量。因此，能够减少在通过从存储器中选择最佳记录功率而设置的目标记录功率与基于第二最佳记录功率获取步骤中获取的最佳记录功率而设置的目标记录功率中之间的误差。
此外，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，第二最佳记录功率获取步骤获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度将被进一步存储在存储器中，使最佳记录功率与温度相关联。
因此，在实际记录中，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，第二最佳记录功率获取步骤中获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度将被进一步存储在存储器中，使最佳记录功率与温度相关联。因此，通过增加执行实际记录的次数来增加存储器中存储的数据量，能够提高在根据测量温度获取最佳记录功率的步骤中得到的最佳记录功率的精确度，与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，能够有效减少执行测试记录的次数。
另外，依据本发明的另一个方面，提出了一种由光盘装置的计算机解释的光记录程序，该光盘装置具有一个将激光束照射到可记录光盘上的光发射元件，一个旋转光盘的驱动器，和一个测量光发射元件附近温度的温度测量部分，所述的光记录程序包括如下指令使计算机基于在执行测试记录的光盘区域中的重现信号获取最佳记录功率，该测试记录这样执行由驱动器旋转光盘以及使光发射元件的输出功率变化；使计算机在存储器中存储获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，从而使获取的最佳记录功率与测量的温度相关联；使计算机依据在实际记录中由温度测量部分测量的温度，并参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度获取最佳记录功率；和使计算机把从存储器中存储的最佳记录功率中获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
依据本发明的上述方面，在实际记录中，参照在存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，把依据温度测量部分测量的温度得到的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。这样，能够根据环境温度设置目标记录功率，并且与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，有效地减少了执行测试记录的次数。因此，例如当对只能记录信息到相同位置一次的光盘(写一次介质)进行记录时，能够获取良好的记录质量而不受在同一光盘上记录的次数和环境温度变化的影响。
另外，依据本发明上述方面的的光记录程序还包括如下指令使计算机基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，获取一根据温度测量部分测量的温度变化近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中，作为使计算机依据测量的温度获取最佳记录功率的指令，基于获取的近似表达式得到与实际记录中由温度测量部分测量的温度相对应的最佳记录功率。
因此，在实际记录中，除了上述效果外，还可以通过根据基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度获取的近似表达式和温度测量部分测量的温度设置目标记录功率，通过计算得到更精确的最佳记录功率。
另外，光记录程序还包括如下指令使计算机在实际记录中依据执行测试记录的光盘区域中的重现信号获取最佳记录功率；和使计算机把依据执行测试记录的区域中的重现信号获取的最佳记录功率和从存储在存储器中的最佳记录功率中获取的最佳记录功率中之一选作为实际记录中的目标记录功率，其中，作为使计算机设置目标记录功率的指令，把所选择的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
因此，依据实际记录中测量的温度或光盘测试记录区域的大小，例如，把依据执行测试记录的区域中重现信号获取最佳记录功率和从存储在存储器中的最佳记录功率中获取的最佳记录功率中之一适当地设置为实际记录中的目标记录功率。因此，能够减少执行测试记录的次数，从而控制测试记录区域的耗费，或者按照需要，基于通过计算获取的最佳记录功率适当设置目标记录功率，适当地把精确度列入优先地位。
另外，光记录程序还包括如下指令使计算机在实际记录中，确定温度测量部分测量的温度是否落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内，其中，作为使计算机选择目标记录功率的指令，当确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内，使计算机把依据实际记录中执行测试记录的区域的重现信号获取的最佳记录功率选作目标记录功率。
因此，在实际记录中，当确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内时，把依据执行测试记录的区域的重现信号获取的最佳记录功率设置为目标记录功率。这样，只有当测量的温度与存储器中存储的温度有很大差别时，比如当存储器中存储的信息量很小时才执行测试记录。因此，即使通过从存储器选择最佳记录功率以设置目标记录功率时，也能够控制设置目标记录功率的误差。因此，可以更好的保持记录质量。另外，由于依据执行测试记录的区域的重现信号而获取的最佳记录功率和测量的温度随后被存在存储器中，因此可以增强用于作出决定的参考值，从而增加了存储器中的数据量。因此，可以减少通过从存储器中选择最佳记录功率所设置的目标记录功率与基于实际记录时从执行测试记录的区域的重现信号中获取的最佳记录功率而设置的目标记录功率中之间的误差。
此外，在光记录程序中，作为使计算机将最佳记录功率和温度存储在存储器中的指令，当确定由温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内时，可以使计算机进一步存储依据实际记录时执行测试记录的区域的重现信号所获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，这样使最佳记录功率与测量的温度相关联。
因此，在实际记录中，当确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，在存储器中进一步存储依据实际记录时执行测试记录的区域的重现信号而获取的最佳记录功率，和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，这样使最佳记录功率与测量的温度相关联。因此，通过增加执行实际记录的次数来增加存储在存储器中的数据量，可以改善在使计算机根据测量温度得到最佳记录功率时获取的最佳记录功率的精确度。此外，与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，能够有效地减少执行测试记录的次数。
另外，根据本发明的另一方面，提出了一种存储前述光记录程序的处理器可读存储介质。
根据本发明的上述方面，在实际记录中，通过参照存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，把依据由温度测量部分测量的温度的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。这样，可以根据环境温度设置目标记录功率，并且与每次执行实际记录都要执行测试记录的情况相比，减少执行测试记录的次数。因此，当对只能记录信息到同一位置一次的光盘(写一次介质)进行记录时，例如，能够获取好的记录质量而不受对同一光盘的记录次数和环境温度变化的影响。
本发明的其它目的，特征和优点将通过结合下面的附图进行的详细描述变得更明显。
图1是依据用于总体表示本发明第一实施例的光盘装置的方块图；图2是显示温度和功率数据结构的对照表；图3是显示基于测量温度和最佳记录功率得到的近似表达式的曲线图；图4是目标记录功率设置程序的总体流程图；和图5是表示依据本发明第二实施例温度和功率数据结构的对照表。
具体实施例方式
下面结合图1-4对本发明的第一实施例进行说明。在这个实施例中，给出了本发明适用于光盘装置的例子。
图1所示为依据这个实施例的光盘装置的示意方块图。这个实施例的光盘装置1把信息记录到诸如CD-R，DVD-R，DVD+R等的可写光盘2和从该光盘中重现信息。
光盘装置1包括一旋转电机3作为旋转光盘2的驱动装置和一激光束源4作为光发射元件发射激光束。从激光束源4发射的激光束通过光学系统5聚焦在光盘2上。
光学系统5是例如包括一准直镜，准直从激光束源4发射的激光束；一分束器，偏转和分开由准直镜准直的激光束；一物镜，将穿过分束器的激光束聚焦在光盘2上，由于这种结构是已知技术对它的阐述将被省略。这个实施例的激光束源4和光学系统5配置在一个被称为拾取器的光头(未示)上，且可被移到与光盘2相对的任意位置。
应当强调在本实施例中使用激光束源4发射激光束，但不局限于此。
激光束源4发射的激光束的输出功率由作为功率控制装置的功率控制部分6控制。虽然未示出，功率控制部分6包括一监测器，监测从激光束源4发射的光量，和一比较部分，比较监测器监测的光量和按预定的记录功率发射的光量。功率控制部分6控制对于激光束源4的驱动电流，这样当执行目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)和实际记录时，监测器监测的光量与基于设置的输出功率电平的光量匹配。例如，在实际记录中，功率控制部分6执行控制，这样激光束被以目标记录功率Pw的输出功率发射，由作为记录功率设置装置的记录功率设置部分7设置目标记录功率Pw，并通过执行目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)设置。当进行目标记录功率设置程序时，控制器6执行控制，这样按由作为测试记录装置的测试记录部分8设置的预定的输出功率发射激光束。
关于对光量的监测和功率控制部分6的比较控制，由于是已知技术对其的描述将被省略。
测试记录部分8通过由功率控制部分6驱动激光束源4执行测试数据的测试记录，并对光盘2上的预定区域发出输出功率连续变化的激光束。然后，测试记录部分8重现执行测试记录所写的测试数据，并获取最佳重现状态得到的记录功率作为最佳记录功率Pw__opt(下面，这个过程被称作OPC(最佳功率控制))。这里，实现了第一最佳记录功率获取装置和第一最佳记录功率获取功能。此外，实现了第一最佳记录功率获取步骤。通常，在执行数据的实际记录到光盘2之前执行OPC。另外，对只能写一次光盘的OPC是这样执行的，在事先固定(保留)在光盘2上的PCA(功率标定区域)上执行测试记录。通过执行OPC用测试记录部分8获取的最佳记录功率Pw__opt被存储在存储在存储器10中的温度-功率对照表12(参见图2)中。此外，将这样获取的最佳记录功率Pw__opt用于作为记录功率选择装置的选择部分13进行选择。
作为目标记录功率设置装置的记录功率设置部分7对功率控制部分6设置由选择部分13选择的实际记录中的目标记录功率Pw。记录功率设置部分7设置由选择部分13选择的最佳记录功率作为目标记录功率Pw。
选择部分13选择是否将作为由测试记录部分8执行OPC的结果获取的最佳记录功率Pw__opt设置为目标记录功率Pw，或将使用控制器11基于存储在存储器10中的温度-功率对照表12存储的数据通过近似获取的最佳记录功率Pw__calc设置为目标记录功率Pw。这里，实现记录功率选择功能和选择目标记录功率的步骤。
这个实施例的选择部分13被设置进行选择，使得当测试的温度在预定的范围外时执行OPC，当不执行OPC时，当测试的温度在预定的范围内，代替通过近似获取的最佳记录功率Pw__calc。
例如，对后面将要进行描述的目标记录功率设置过程，选择部分13可被设置进行选择，使得对于在“预定的温度范围”(将在后面进行描述)外即根据测量的温度而适当改变的测量温度，通过执行OPC获取最佳记录功率Pw__opt，而当测试的温度在预定温度范围内不执行OPC，通过近似获取的最佳记录功率Pw__calc。此外，选择部分13被设置进行选择，使得对于在预定温度范围内的测量温度，近似通过获取最佳记录功率Pw__calc。
温度传感器9作为温度测量装置安装在激光束源4附近。最好温度传感器9被安装在能够测量激光束源4的温度的位置，这样可以反映激光束波长的变化。温度传感器9测量的温度测量结果被存储在存储器10中，用于后面将要描述的在目标记录功率设置过程中由控制器11评估。
存储器10存储温度-功率对照表12(参见图2)，该表存储了OPC中获取的最佳记录功率Pw__opt和测量的温度，这样最佳记录功率Pw__opt和测量的温度随后相关联。如图2所示，在温度-功率对照表12中，区域12a存储通过OPC获取的最佳记录功率Pw__opt且区域12b存储与获取每个最佳记录功率Pw__opt相应的温度。应当强调，在这个实施例中，数据对的数量、最佳记录功率Pw__opt和与最佳记录功率Pw__opt相关联的温度，在温度-功率对照表12中仅限4个。
控制器11决定是否将数据存储在存储器10中，评估数据值，执行近似计算或OPC等，并执行其程序。控制器11包括一由CPU(中央处理器)，ROM(只读存储器)，RAM(随机存取存储器)等组成的微机。控制器11实行不同的程序，诸如基于存储在ROM和RAM中的控制程序的目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)。依据本实施例的ROM存储进行目标记录功率设置程序的光记录程序，将在后面进行描述。随后，在这个实施例中，通过ROM实现存储介质。
应当强调，在本实施例中通过ROM实现的存储介质存储光记录程序，但不限于此。光记录程序可存储于RAM。此外，光记录程序可存储于便携存储介质如CD-ROM(只读光盘存储器)或CD-R/RW(可录/可写)。当光记录程序被存储在便携存储介质中，可以通过读取(包括安装)光记录程序来执行目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)。
下面，参照图4，将对光盘装置1执行的目标记录功率设置程序进行描述。图4是总体说明由控制器11执行目标记录功率设置程序的流程图。当光盘装置1包括的记录执行发布装置(未示)发布执行实际记录时执行目标记录功率设置程序。
在目标记录功率设置程序中，首先，在步骤S1通过温度传感器9测量环境温度。
在步骤S2搜索温度-功率对照表12，并在步骤S3判断测量的环境温度是否在基于温度-功率对照表12的环境温度指定的环境温度的范围内。在步骤S3中，执行范围判断装置的功能。
在这个实施例中，“指定温度范围”是指从比获取的温度低5℃的温度到比获取的温度高5℃的温度间的范围。例如，在大多数存储在温度-功率对照表12中的环境温度是多次获取的温度的情况下，“指定温度范围”是指从比温度-功率对照表12中最低温度低5℃的温度到比温度-功率对照表12中最高温度高5℃的温度间的范围。
例如，在如图2所示的温度-功率对照表12中，温度范围为18℃-40℃。这样，在这个实施例中“指定温度范围”是从13℃-45℃。然后，在步骤S2中，确定获取的环境温度是否在13℃-45℃的范围内。例如，当当前获取的温度为12℃，这个温度不在“指定温度范围”内。当前获取的温度为13℃，这个温度在“指定温度范围”内。
当确定获取的环境温度在指定温度范围内(步骤S3中YES)，在步骤S4中，基于从温度-功率对照表12获取的近似表达式和温度传感器9测量的当前的温度通过计算得到最佳记录功率Pw__opt。然后，在步骤S5中，记录功率设置部分7将获取的最佳记录功率Pw__opt设置为目标记录功率Pw。在步骤S4中，实现与温度相关的记录功率获取装置和与温度相关的记录功率获取功能。同样，在步骤S5中，实现目标记录功率设置装置和目标记录功率获取功能。此外，步骤S4实现依据测量温度获取目标记录功率的步骤，且步骤S5实现目标记录功率设置的步骤。
在温度-功率对照表12中的最佳记录功率Pw__opt取自垂直轴，温度取自水平轴的情况下，当有两个或更多坐标，每个坐标点由最佳记录功率Pw__opt和温度限定时，根据每个坐标，可以对于环境温度的变化用数学公式通过近似表示目标记录功率Pw的变化。这里，实现了近似表达式获取装置和近似表达式获取功能。另外，这里，实现了获取近似表达式的步骤。理论上，当有两个或更多通过计算获取的最佳记录功率Pw__opt和在温度-功率对照表12中的温度表示的坐标时可以获取近似表达式。当然，关于基于两个或更多坐标的近似表达式，由温度和通过OPC获取的最佳记录功率Pw__opt确定的坐标的数量越大，当用目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)的结果通过计算获取的最佳记录功率Pw__opt和其后测量的温度制成的曲线图时，在近似时误差减少的越多。因此，可提供高的可靠性。
另一方面，在坐标的数量过大的情况下，在目标记录功率设置程序(将在后面进行描述)中执行OPC的次数将增加。这样，需要执行时间。但是，在这个实施例中，由于存储在存储器10中的温度-功率对照表12中的坐标的数量只限4对，可以控制执行OPC的次数。因此，可以不过分执行OPC来设置目标记录功率Pw，同时可实现存储器容量和PCA容量间的折衷。
在这个实施例中，通过根据图2所示的温度-功率对照表12获取的4对数据执行线性近似，获取如下所示的等式(1)，且通过执行等式(1)的计算获取最佳记录功率Pw__opt。图3所示为根据图2所示的温度-功率对照表12的坐标通过近似获取的近似表达式曲线的相关曲线图。在这个实施例中，线性曲线是通过近似获取的。但是，根据温度-功率对照表12获取的近似表达式形成的曲线有可能是弯曲形状的。
Pw__opt＝0.3702×temp+8.168 [mW]…(1)基于通过获取的温度执行等式(1)的计算，可以在任意温度(范围内)通过计算来获取最佳记录功率Pw__opt。
例如，当获取的当前温度是13℃，用图2中所示的温度-功率对照表12执行前述等式(1)的线性近似，可以如下述等式(1)′所示获取最佳记录功率Pw__opt。
Pw__opt＝0.3702×13+8.168＝12.98 [mW] …(1)′以这种方式，通过在由记录执行发布部分发布执行实际记录的情况下开始执行目标记录功率设置程序，当在实际记录中测量的环境温度在基于温度-功率对照表12的指定温度范围内，可以不执行OPC依据近似表达式通过计算获取最佳记录功率Pw__calc，并将获取的最佳记录功率Pw__opt设置为目标记录功率Pw。因此，不需要对于已经获取的最佳记录功率Pw__calc的温度而执行OPC。
因此，可以依据环境温度获取目标记录功率Pw，同时通过减少执行OPC的次数控制使用PCA。
另外，在这个实施例中，在实际记录中测量的环境温度在“指定温度范围”内的情况下，即使当测量的环境温度在实际测量的温度范围外，也可根据近似表达式获取最佳记录功率Pw__calc，即目标记录功率Pw。因此，在预定的范围内，利用计算获取的近似表达式通过外插获取目标记录功率Pw，即使当测量的当前环境温度在已经存储在存储器10内的温度-功率对照表12的温度范围外，也可以控制PCA的耗费同时控制执行OPC的次数而不过分执行OPC。
在这个时候，通过设置适当的“指定温度范围”，可以防止目标记录功率Pw大大的偏离通过OPC获取的实际的最佳记录功率Pw__opt。
另外，当测量的温度与“指定温度范围”过分不同时，可以通过将的测量温度和通过执行OPC获取的最佳记录功率添加和存储到温度-功率对照表12来增加温度范围。
另一方面，当判定获取的环境温度不在基于已经存储的环境温度的“指定温度范围”内时(步骤S3中NO)，以预定的测试记录功率通过测试记录部分8在光盘2的PCA执行测试记录。然后，根据执行测试记录的PCA的重现信号，在步骤S6执行用于获取最佳记录功率Pw__opt的OPC。因此，实现了第二最佳记录功率获取装置和第二最佳记录功率获取功能。此外，实现了第二最佳记录功率获取步骤。
在步骤S7中，获取的最佳记录功率Pw__opt和获取最佳记录功率时温度传感器9测量的环境温度被进一步存储在温度-功率对照表12中，这样将最佳记录功率Pw__opt与测量的环境温度相关联。因此，程序进行到步骤S5。
本实施例的温度-功率对照表12被控制最多可存4对数据。这样，根据这个表，可以以很小的误差执行适当的线性或曲线近似，并限制执行OPC的次数。存储器容量和PCA容量间具有折衷平衡。
另外，当第一次在光盘2上执行记录时，存储器10中的温度-功率对照表12没存任何内容。在这种情况下，在步骤S3中，判定获取的环境温度不在“指定温度范围”内时(步骤S3中NO)，执行OPC，然后将获取的最佳记录功率Pw__opt设置在记录功率设置部分7作为目标记录功率Pw。另外，随后同时测量环境温度并存储在存储器10的温度-功率对照表12中，将这样环境温度与获取的最佳记录功率Pw__opt相关联。
此外，每次执行图4说明的目标记录功率设置程序，在存储器10中的温度-功率对照表12中的坐标的数量增加。通过根据大量坐标获取目标记录功率Pw，即使当目标记录功率Pw是基于测量的当前温度和近似表达式获取的，也能减小获取的目标记录功率Pw的误差。可以通过根据计算获取的最佳记录功率Pw__opt的精确度适当设置温度-功率对照表12中坐标数量的最上限，执行OPC的次数等，而提出一种更易使用的光盘装置。
应当强调，在这个实施例中，温度-功率对照表12中最佳记录功率Pw__opt和环境温度的对数被设置为最高4对，但是，不限于此。
下面，将参照图5对本发明的第二实施例进行描述。在这个实施例中，本发明将用于光盘装置。应当强调在第二实施例中，各个与第一实施例中相应部分相同的部分被标为相同的标号，且对其的描述也将被省略。
图5是依据这个实施例的温度-功率对照表的数据结构。从图5可见，在这个实施例的温度-功率对照表14中，有区域14a存储通过OPC获取的最佳记录功率Pw__opt，区域14b存储与每个最佳记录功率Pw__opt相关联的温度。
在这个实施例中，在目标记录功率设置程序中，当获取的环境温度不在已经存储的基于环境温度的“指定温度范围”内的情况下，当目标记录功率是从通过执行OPC获取的最佳记录功率Pw__opt获取时，随后的最佳记录功率Pw__opt和相应温度数据对被进一步存储在温度-功率对照表14中。
因此，在每次利用OPC获取最佳记录功率Pw__opt时以累积的方式将数据对存储在温度-功率对照表14中。
因此，随着实际记录次数的增加，温度-功率对照表14中的数据量增加。因此，在目标记录功率设置程序中，可以提高根据存储在温度-功率对照表14中的最佳记录功率Pw__opt设置和获取的目标记录功率Pw的精确度。
此外，随着实际记录次数的增加，温度-功率对照表14中的数据量增加。因此，与每次执行实际记录都要执行OPC的情况相比减少可以执行OPC的次数。
本发明不只局限于公开的实施例，可以不脱离本发明的范围进行变化和修改。
本申请是基于日本优先申请No.2002-044286，申请日2002，2，21，和No.2002-285312，申请日2002，9，30，引用全部内容作为参考。
权利要求
1.一种光盘装置，包括一光发射元件，将激光束照射到可记录光盘上；一旋转光盘的驱动器；一第一最佳记录功率获取部分，在光盘被驱动器旋转和光发射元件的输出功率改变时对光盘执行测试记录，从而基于执行测试记录的光盘一个区域的重现信号获取最佳记录功率；一温度测量部分，测量光发射元件附近的温度；一存储器，存储由第一最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和当获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，使最佳记录功率与温度相关联；一与温度相关的记录功率获取部分，参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，以便依据温度测量部分在实际记录中测量的温度获取最佳记录功率；和一目标记录功率设置部分，把与温度相关的记录功率获取部分所获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，还包括一近似表达式获取部分，基于存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，获取一根据温度测量部分所测量的温度变化近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中，与温度相关的记录功率获取部分基于近似表达式获取部分获取的近似表达式，获取与温度测量部分在实际记录中所测量的温度相对应的最佳记录功率。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，还包括一第二最佳记录功率获取部分，使第一最佳记录功率获取部分获取实际记录中的最佳记录功率；和一记录功率选择部分，把第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和与温度相关的记录功率获取部分获取的最佳记录功率中之一选作为实际记录中的目标记录功率，其中，目标记录功率设置部分把记录功率选择部分选择的最佳记录功率设置为实际记录的目标记录功率。
4.根据权利要求3所述的光盘装置，还包括一范围确定部分，确定温度测量部分在实际记录中所测量的温度是否落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围，其中当范围确定部分确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储温度的指定温度范围内时，记录功率选择部分把第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率选作目标记录功率。
5.根据权利要求4所述的光盘装置，其中，当范围确定部分确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，存储器还存储由第二最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率以及在获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，使最佳记录功率与该温度相关联。
6.一种用于光盘装置的光记录方法，该光盘装置具有一个将激光束照射到可记录光盘上的光发射元件，一个旋转光盘的驱动器和一个测量光发射元件附近的温度的温度测量部分，该光记录方法包括如下步骤第一最佳记录功率获取步骤，基于执行测试记录的光盘一个区域中的重现信号获取一最佳记录功率，执行该测试记录，以由驱动器旋转光盘以及使光发射元件的输出功率变化；在存储器中存储获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，使获取的最佳记录功率与测量的温度相关联；通过参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，依据在实际记录中由温度测量部分测量的温度获取最佳记录功率；把依据测量温度获取最佳记录功率的步骤中得到的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
7.根据权利要求6所述的光记录方法，还包括如下步骤基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，依据温度测量部分测量的温度的变化获取近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中，在依据测量的温度获取最佳记录功率的步骤中，基于获取的近似表达式得到与实际记录中由温度测量部分测量的温度相对应的最佳记录功率。
8.根据权利要求6所述的光记录方法，还包括如下步骤第二最佳记录功率获取步骤，以类似于第一最佳记录功率获取步骤的方式获取实际记录中的最佳记录功率；和把第二最佳记录功率获取步骤中获取的最佳记录功率和依据测量的温度获取最佳记录功率的步骤中获取的最佳记录功率中之一选作为实际记录中的目标记录功率，其中，在设置目标记录功率的步骤中，把目标记录功率步骤中选择的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
9.根据权利要求8所述的光记录方法，其中在选择目标记录功率的步骤中，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，将第二最佳记录功率获取步骤获取的最佳记录功率选作目标记录功率。
10.根据权利要求9所述光记录方法，其中，当温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内时，进一步将第二最佳记录功率获取步骤获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度存储在存储器中，使最佳记录功率与该温度相关联。
11.一种由光盘装置的计算机解释的光记录程序，该光盘装置具有一个将激光束照射到可记录光盘上的光发射元件，一个旋转光盘的驱动器，和一个测量光发射元件附近温度的温度测量部分的光盘装置，所述的光记录程序包括如下指令使计算机基于执行测试记录的光盘区域中的重现信号获取最佳记录功率，执行该测试记录由驱动器旋转光盘以及使光发射元件的输出功率变化；使计算机在存储器中存储已获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，从而使获取的最佳记录功率与测量的温度相关联；使计算机通过参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，依据在实际记录中由温度测量部分测量的温度，获取最佳记录功率；和使计算机把从存储器中存储的最佳记录功率中所获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
12.根据权利要求11所述的光记录程序，还包括如下指令使计算机基于存储在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，获取一根据温度测量部分测量的温度变化近似于最佳记录功率变化的近似表达式，其中，作为使计算机依据测量的温度获取最佳记录功率的指令，基于获取的近似表达式得到与实际记录中由温度测量部分测量的温度相对应的最佳记录功率。
13.根据权利要求11所述的光记录程序，还包括如下指令使计算机在实际记录中依据执行测试记录的光盘区域中的重现信号获取最佳记录功率；和使计算机把依据执行测试记录的区域中的重现信号所获取的最佳记录功率和从存储在存储器中的最佳记录功率中所获取的最佳记录功率中之一选作为实际记录中的目标记录功率，其中，作为使计算机设置目标记录功率的指令，把所选择的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
14.根据权利要求13所述的光记录程序，还包括如下指令使计算机确定在实际记录中，温度测量部分测量的温度是否落入基于存储器中存储的温度指定的温度范围内，其中，作为使计算机选择目标记录功率的指令，当确定温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内时，使计算机把依据实际记录中执行测试记录的区域的重现信号所获取的最佳记录功率选作目标记录功率。
15.根据权利要求14所述的光记录程序，其中，作为使计算机将最佳记录功率和温度存储在存储器中的指令，当确定由温度测量部分测量的温度未落入基于存储器中存储的温度的指定温度范围内时，使计算机进一步存储依据实际记录时执行测试记录的区域的重现信号所获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分所测量的温度，使最佳记录功率与测量的温度相关联。
16.一种存储由光盘装置的计算机解释的光记录程序的处理器可读存储介质，该光盘装置具有一个将激光束照射到可记录光盘上的光发射元件，一个旋转光盘的驱动器，和一个测量光发射元件附近温度的温度测量部分的光盘装置，所述的光记录程序包括如下指令使计算机基于执行测试记录的光盘区域中的重现信号获取最佳记录功率，执行该测试记录由驱动器旋转光盘以及使光发射元件的输出功率变化；使计算机在存储器中存储已获取的最佳记录功率和获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度，从而使获取的最佳记录功率与测量的温度相关联；使计算机通过参照存储器中存储的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，依据在实际记录中由温度测量部分测量的温度，获取最佳记录功率；和使计算机把依据存储器中存储的最佳记录功率所获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
全文摘要
一种光盘装置。光发射元件将激光束照射到可记录光盘上。驱动器旋转光盘。第一最佳记录功率获取部分，在光盘被驱动器旋转和光发射元件的输出功率改变时，对光盘上执行测试记录，以基于测试记录区域中的重现信号获取最佳记录功率。温度测量部分测量光发射元件附近的温度。存储器存储由第一最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和在获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度。与温度相关的记录功率获取部分参照记录在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，以根据温度测量部分在实际记录中测量的温度获取最佳记录功率。目标记录功率设置部分把与温度相关的记录功率获取部分获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
文档编号G11B7/125GK1450535SQ0312436
公开日2003年10月22日 申请日期2003年2月21日 优先权日2002年2月21日
发明者铃木晴之 申请人:株式会社理光