专利名称：激光功率控制装置和方法、光盘装置和记录方法
技术领域：
本发明涉及一种用在光盘装置中的激光功率控制装置和方法，所述光盘装置用于在具有多个层的光盘上记录信息，本发明还涉及一种用于在光盘上记录信息的光盘装置和一种用于将信息记录在光盘上的记录方法。
背景技术：
作为一种传统的用于调节光盘装置的激光束的功率的方法，已知的方法包括根据温度和光盘的径向位置调节激光束功率以及产生激光束功率的数据表的步骤。
例如，日本公开文本NO.1-112551公开了一种使用数据表确定激光束的功率的方法。该传统技术将在下文中参考图12进行描述。
图12是传统的用于将信息记录在光盘1上的光盘装置的结构的方框图。
光盘1包括一个单层1a。层1a中提供有记录薄膜。
光拾取器10将激光束会聚在层1a的记录薄膜上。
从激光元件12中发射出来的激光束的一部分穿过反射板15，并被发射光检测器13检测。
此外，由激光元件12发出的激光束被反射板15反射，穿过偏转全息元件16，被会聚透镜11会聚在光盘1的记录薄膜上。
由光盘1的记录薄膜反射的激光束(反射光)穿过会聚透镜11，被偏转全息元件16偏转，穿过反射板15，并被反射光检测器14检测。
AD转换器31对由发射光检测器13检测的激光束进行模数转换，所述AD转换器包括在DSP(数字信号处理器)30中。AD转换器31的输出输入到包含在DSP30内的功率控制部分32。
功率控制部分32产生激光驱动值，以使被发射光检测器13检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件12。
例如，包含在DSP30之内的DA转换器33可以实现这种控制，所述DA转换器对功率控制部分32产生的激光驱动值进行数模转换，并将DA转换器33的输出传送到驱动电路2。控制目标电平由功率调节部分43确定，并设定于功率控制部分32中。
驱动电路2根据DA转换器33的输出驱动激光元件12。
包括在DSP30之内的AD转换器41对由反射光检测器14检测的激光束(即反射光)进行模数转换。AD转换器41的输出被传送到包括在DSP30内的不对称检测部分42。
不对称检测部分42通过峰值电平Ipk、谷值电平Ibm和平均电平Iavg检测反射光的不对称度(Ipk+Ibm-2Iavg)/(Ipk-Ibm)，并将指示反射光的不对称度的信号输出到功率调节部分43。
功率调节部分43查找激光束的功率的最佳值，以使反射光的不对称度变为希望的数值(例如“0”)。
下文将参考图13来详细描述用于调节激光束功率的方法的步骤。
对光盘1的记录薄膜进行功率调节(S1)。
例如，可以通过功率控制部分32控制激光元件12，使得具有根据预定控制目标电平而确定的功率的激光束照向光盘1，并通过功率调节部分43将控制目标电平调节为使来自光盘1的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)，从而实现这种功率调节。已经由功率调节部分43调节过的控制目标电平设定于功率控制部分32内。
功率调节部分43用控制目标电平更新当前温度下的表值，所述控制目标电平已经被功率调节部分43调节过(S2)。
确定温度是否已经改变(S3)。包含在DSP30内的AD转换器45对温度检测器17的输出进行模数转换。AD转换器45的输出被传送到功率调节部分43。功率调节部分43通过例如监测AD转换器45的输出确定温度是否已经改变。
如果确定温度已经改变，则确定控制目标电平是否已经针对当前温度进行了调节(S4)。功率调节部分43通过例如检索RAM44的内容确定控制目标电平是否已被调节。
如果确定控制目标电平已经经过调节，则功率调节部分43从存储在RAM44中的列表中读取与当前温度相应的控制目标电平(S5)，并在功率控制部分32中设定控制目标电平(S6)。
如果确定控制目标电平还没有经过调节，则将要处理的步骤返回到步骤S1。
根据上述的用于调节激光束的功率的方法，有可能在由激光元件发射的激光束的功率由于温度的变化而发生改变时，针对记录过程调节激光束的功率，从而可以获得这样的再生信号所述信号使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)，所述温度的改变是由所使用的光盘装置所处的环境温度或光盘装置的操作过程中产生的热引起的。
然而，在光盘具有多个含有信息记录薄膜的层(例如两个层)的情况下，根据传统记录方法，不能在所使用的光盘装置所处的环境温度已经发生改变的情况下，以最佳功率在除光盘的参考层之外的任何其它层的记录薄膜上记录信息。
具体地说，即使响应于温度的改变产生并存储了针对一个层(即参考层)的数据表，也不可能产生针对参考层之外的任何其它层的数据表。
为了产生针对参考层之外的其它层的数据表，需要在对参考层进行功率调节之后对参考层之外的其它层进行功率调节。在两个层之间进行移动以及通过记录/再生数据而对除参考层之外的其它层进行功率调节都需要花费时间，从而导致在进行功率调节方面需要花费两倍以上的时间。
为了将运动画面连续记录在光盘上，需要以预定传输速率记录所述运动画面。因此，在进行功率调节同时暂时停止记录操作的时间周期内，运动画面的数据必须要存储在DRAM中。在功率调节上花费两倍以上的时间导致占用两倍以上的DRAM的容量，这使光盘装置的成本增加。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种用在光盘装置中的激光功率控制装置，所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上。所述激光功率控制装置包括功率控制部分，用于控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；变化检测部分，用于检测光盘的记录条件已经改变；和功率调节部分，用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，其中，功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
在本发明的一个实施例中，光盘装置包括用于以激光束照射光盘的光拾取器和用于驱动光拾取器的驱动电路，所述光拾取器包括激光元件和用于检测激光元件发出的激光的发射光检测器，功率控制部分产生激光驱动值，以使发射光检测器检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件，功率调节部分通过调节被发射光检测器检测到的激光束的电平、控制目标电平以及激光驱动值的电平中的至少一个电平来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。
在本发明的一个实施例中，功率调节部分确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平，所述用于第二层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数。
在本发明的一个实施例中，所述函数是用于第二层的记录薄膜的控制目标电平与用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的比值。
在本发明的一个实施例中，所述函数是线性函数或二次函数。
在本发明的一个实施例中，所述函数记录在光盘的预定区域内。
在本发明的一个实施例中，所述光盘还包括第三层，功率调节部分还确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平，所述用于第三层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数，在确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数不同于在确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数。
在本发明的一个实施例中，变化检测部分至少包括用于检测温度的温度检测部分、用于检测光盘的信息表面的正常方向与照向光盘的激光束的光轴方向之间的倾斜度的倾斜检测部分以及用于检测由光盘的保护层的厚度不同引起的激光束的球差的球差部分中的一个，功率调节部分根据温度检测部分的输出、倾斜度检测部分的输出和球差部分的输出中的至少一个来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。
在本发明的一个实施例中，激光功率控制装置还包括不对称检测部分，用于检测被光盘反射的激光束的不对称度，其中，功率调节部分调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，以使不对称检测部分的输出变为希望的值。
在本发明的一个实施例中，激光功率控制装置还包括调制度检测部分，用于检测由光盘反射的激光束的调制度，其中，功率调节部分调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，以使调制度检测部分的输出变为希望的值。
在本发明的一个实施例中，功率控制部分在激光束功率的初始调节过程中控制激光元件，以使激光束的功率接近针对第二层的记录薄膜预先设定的控制目标电平Pw2’，控制目标电平Pw2’是基于已经针对第一层的记录薄膜调节过的控制目标电平Pw1、用于第一层的记录薄膜的参考功率的电平Pw1”以及用于第二层的记录薄膜的参考功率的电平Pw21”定义的，参考功率Pw1”记录在光盘的预定区域内，参考功率Pw2”记录在光盘的预定区域内。
在本发明的一个实施例中，控制目标电平Pw2’由等式Pw2’＝Pw1×Pw2”/Pw1”定义。
根据本发明的一个方面，提供了一种用在光盘装置中的激光功率控制方法，所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上。所述激光功率控制方法包括控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；检测光盘的记录条件已经改变；根据记录条件的改变调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率；和根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
根据本发明的一个方面，提供了一种用于将信息记录到光盘上的光盘装置，所述光盘至少具有第一层和第二层。所述光盘装置包括光拾取器，用于以激光束照射光盘；驱动电路，用于驱动光拾取器；和激光功率控制装置，用于控制激光束的功率，其中，所述激光功率控制装置包括功率控制部分，用于控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；变化检测部分，用于检测光盘的记录条件已经改变；和功率调节部分，用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，并且其中，功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
根据本发明的一个方面，提供了一种用于将信息记录到光盘上的记录方法，所述光盘至少具有第一层和第二层。所述记录方法包括以激光束照射光盘；和控制激光束的功率，其中，所述控制激光束的功率的步骤包括控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；检测光盘的记录条件已经改变；根据记录条件的改变调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率；和根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
由此，在这里描述的本发明可以通过提供上述激光控制装置和方法实现上述优点，所述激光控制装置和方法能够根据已经经过调节了的用于光盘的第一层的记录薄膜的激光束的功率确定用于光盘的第二层的记录薄膜的激光束的功率。
在读取并理解了参考附图的下文的详细说明之后，本领域技术人员可以明显得知本发明的这些和其它优点。
图1是根据本发明的实施例1的光盘装置的结构的方框图。
图2是表示激光束功率与反射光的不对称度之间的关系的特性曲线图。
图3A是示出根据本发明的实施例1的用于在初始调节的情况下调节激光束的功率的方法的步骤的流程图。
图3B是层间校正表的实施例的图表。
图4A是示出根据本发明的实施例1的用于在再次调节的情况下调节激光束的功率的方法的步骤的流程图。
图4B是温度校正表的实施例的图表。
图5是根据本发明的实施例2的光盘装置的结构的方框图。
图6是表示倾斜度与激光束功率之间的关系的特性曲线图。
图7A是示出根据本发明的实施例2的用于在再次调节的情况下调节激光束的功率的方法的步骤的流程图。
图7B是倾斜校正表的实施例的图表。
图8是根据本发明的实施例3的光盘装置的结构的方框图。
图9是表示球差与激光束功率之间的关系的特性曲线图。
图10A是根据本发明的实施例3的用于在再次调节的情况下调节激光束的功率的方法的步骤的流程图。
图10B是球差校正表的实施例的图表。
图11是表示光盘径向位置与激光束功率之间的关系的特性曲线图。
图12是传统光盘装置的结构的方框图。
图13是示出传统的用于调节激光束的功率的方法的步骤的流程图。
具体实施例方式
下文将参考附图来对本发明的具体实施方式
进行详细的描述。
(实施例1)图1是用于将信息记录到光盘101上的光盘装置100的结构的方框图。
光盘装置100包括用于以激光束照射光盘的光拾取器10和DSP(数字信号处理器)130。DSP130用作控制激光束功率的激光功率控制装置。
光盘101包括第一层101a和第二层101b。第一层101a和第二层101b中都设有记录薄膜。光盘101可以包括N层，其中N是大于等于三的整数。N层中的一层用作参考层。
下面将详细描述光盘装置100的操作过程。
光拾取器10将激光束会聚在第一层101a的记录薄膜上，或将激光束会聚到第二层101b的记录薄膜上。
由激光元件12发出的激光束的一部分穿过反射板15，并被发射光检测器13检测出来。
此外，由激光元件12发射的激光束被反射板15反射，穿过偏转全息元件16，并通过会聚透镜11会聚到光盘101的记录薄膜(第一层101a的记录薄膜或第二层101b的记录薄膜)上。
被光盘101的记录薄膜反射的激光束(反射光)穿过会聚透镜11，被偏转全息元件16偏转，穿过反射板15，并被反射光检测器14检测出来。
包括在DSP130之内的AD转换器31对发射光检测器13检测到的激光束进行模数转换。AD转换器31的输出被提供给DSP130之内的功率控制部分32。
功率控制部分32产生激光驱动值，使得发射光检测器13检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件12。
例如，包含在DSP130之内的DA转换器33可以实现这种控制，所述DA转换器对功率控制部分32产生的激光驱动值进行数模转换，并将DA转换器33的输出传送到驱动电路2。控制目标电平由功率调节部分143确定，并设定于功率控制部分32中。
驱动电路2根据DA转换器33的输出驱动激光元件12。
包括在DSP130之内的AD转换器41对由反射光检测器14检测的激光束(即反射光)进行模数转换。AD转换器41的输出被传送到DSP130内的不对称检测部分42。
不对称检测部分42通过峰值电平Ipk、谷值电平Ibm和平均电平Iavg检测反射光的不对称度(Ipk+Ibm-2Iavg)/(Ipk-Ibm)，并将指示反射光的不对称度的信号输出到功率调节部分143。
图2是表示激光束功率与反射光不对称度之间的关系的特性曲线图。在图2中，横轴表示激光束的功率，纵轴表示反射光的不对称度。
功率调节部分143查找激光束功率的最佳值，以使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)，如图2中所示的“A”点。
例如，可以通过用两个分别具有某个功率的激光束照射光盘101，检测从光盘101返回的反射光的不对称度，形成反射光的不对称度的线性逼近曲线，获取激光束的功率，来实现所述查找过程，从而使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。功率调节部分143将激光束功率的最佳值作为控制目标电平输出到功率控制部分32。
此外，功率调节部分143根据温度检测器17的输出调节用于第一层101a(即参考层)的记录层的激光束功率。
下面将详细描述用于调节激光束的功率的方法。所述方法可以通过例如操作光盘装置100执行。
首先，参考图3A，下文中将详细描述在开始将数据记录到光盘101之前调节激光束的功率的情况(即“初始调节”情况)下用于调节激光束功率的方法的各个步骤。
对光盘101的第一层101a执行功率调节(S101)。
例如，可以通过下述方式完成所述功率调节功率控制部分32控制激光元件12，以使具有根据控制目标电平Pw1’而为第一层101a的记录薄膜预先设定的功率的激光束照向光盘101，功率调节部分143调节用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平，以使被光盘101反射的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。已经被功率调节部分143调节过的控制目标电平作为用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1设定于功率控制部分32中。
为第一层101a的记录薄膜预先设定的控制目标电平Pw1’可以是设定在由DSP130所执行的固件中的用于第一层101a的记录薄膜的参考功率电平Pw1”，也可以是记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的用于第一层101a的记录薄膜的参考功率电平Pw1”。
要被记录的记录薄膜从第一层101a的记录薄膜切换到第二层101b的记录薄膜(S102)。
对光盘101的第二层101b执行功率调节(S103)。
例如，可以通过下述方式完成所述功率调节功率控制部分32控制激光元件12，以使具有根据控制目标电平Pw2’而为第二层101b的记录薄膜预先设定的功率的激光束照向光盘101，功率调节部分143调节用于第二层101b的记录薄膜的控制目标电平，以使被光盘101反射的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。已经被功率调节部分143调节过的控制目标电平作为用于第二层101b的记录薄膜的控制目标电平Pw2设定于功率控制部分32中。
为第二层101b的记录薄膜预先设定的控制目标电平Pw2’可以是已在步骤S101中经过调节的控制目标电平Pw1，也可以是记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的用于第二层101b的记录薄膜的参考功率电平Pw2”。
或者，可以根据等式Pw2’＝Pw1×Pw2”/Pw1”计算控制目标电平Pw2’。比值Pw2”/Pw1”是记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)上的比值。
或者，功率调节部分143可以将控制目标电平Pw2’(＝Pw1×Pw2”/Pw1”)作为控制目标电平Pw2设定于功率控制部分32中，而不对用于第二层101b的记录薄膜的控制目标电平作出任何调节。
更新存储在RAM44中的信息(例如，以列表形式存在的信息)(S104)。
例如，可以通过将用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1、以及用于第二层101b的记录薄膜的控制目标电平Pw2与用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1的比值(即比值Pw2/Pw1)写入到RAM44来实现所述更新。可以使用任意的可重写存储器来替代RAM44。
也可以将Pw1的函数写入到RAM44中，来代替将比值Pw2/Pw1写入到RAM44中。所述函数可以是例如线性函数或二次函数。
功率调节部分143将用于第二层101b的记录薄膜的控制目标电平Pw2确定为用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1的函数。所述Pw1的函数存储在例如RAM44的层间校正表内。
图3B示出了层间校正表的实施例。在该实施例中，所述列表示出函数F2(Pw1)用于确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平Pw2，函数F3(Pw1)用于确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平Pw3。函数F2(Pw1)和函数F3(Pw1)可以相同也可以彼此互不相同。
接下来将参考附图4A来详细描述在初始调节之后由于温度等因素发生了改变而需要在将数据记录到光盘101的过程中调节激光束功率的情况(即“再次调节”情况)下用于调节激光束功率的方法的各个步骤。
确定要被记录的记录薄膜是否已经从第一层101a(参考层)的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜(S111)。
如果确定要被记录的记录薄膜已经从第一层101a的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜，则功率调节部分143从存储在RAM44内的列表中读取比值Pw2/Pw1和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S121)，根据等式Pw2t＝Pw1t×Pw2/Pw1计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw/2t(S122)，并将已在步骤S122中计算出来的用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t设定在功率控制部分32中(S123)。
当Pw1的函数(例如F2(Pw1))取代比值Pw2/Pw1存储在RAM44中时，功率调节部分143从存储在RAM44中的列表中读取函数F2(Pw1)和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S121)，并根据等式Pw2t＝F2(Pw1t)计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t(S122)。
为了补偿由于温度改变而使控制目标电平Pw1发生的变化，计算用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t。
例如，假设控制目标电平Pw1是参考温度X0℃下的控制目标电平，温度从X0℃变为X1℃，且将当前温度X1℃的温度校正系数KT(X1℃)设定为1.01(101％)。在这种情况下，根据等式Pw1t＝Pw1×KT(X1℃)＝1.01Pw1计算出当前控制目标电平Pw1t。
例如，温度校正系数KT可以作为与参考层的参考温度相关的功率比存储在RAM44的温度校正表内。
图4B示出了温度校正表的实施例。在该实施例中，所述列表示出了对于参考温度为X0℃的情况KT(X1℃)＝1.01(101％)，KT(X2℃)＝0.97(97％)。
功率调节部分143可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的比值Pw2/Pw1，而不从存储在RAM44中的列表中读取比值Pw2/Pw1。
或者，功率调节部分143可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的Pw1的函数(例如F2(Pw1))，而不从存储在RAM44的列表中读取Pw1的函数。
由此，功率调节部分143基于已经针对第一层101a的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层101b的记录薄膜的激光束的功率。
确定温度是否已经改变(S112)。包含在DSP130之内的AD转换器45对温度检测器17的输出进行模数转换。AD转换器45的输出被提供给功率调节部分143。功率调节部分143通过例如监测AD转换器45的输出确定温度是否已经改变。
如果确定温度已经改变，则确定是否已经针对当前温度调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率(S114)。
例如，可以通过确定是否已经针对当前温度调节了用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1(即确定当前温度下的当前控制目标电平Pw1t(或当前温度下的温度校正系数KT)是否存储在RAM44内)来进行所述确定。功率调节部分143通过例如检索RAM44的内容确定是否已经调节了控制目标电平Pw1。
如果确定已经调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则执行上述步骤S121、S122和S123。
如果确定还没有调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则对第一层101a执行与图3A中所示的步骤S101相同的功率调节处理(S131)。
例如，可以通过下述方式进行所述功率调节功率控制部分32控制激光元件12，以使具有与控制目标电平Pw1’相应的、为第一层101a的记录薄膜预先设定的功率的激光束照向光盘101，功率调节部分143调节用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平，以使被光盘101反射的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。
功率调节部分143计算要被存储到RAM44的列表中的数值(S132)，并使用计算出的数值更新RAM44的列表(S133)。
例如，功率调节部分143可以在RAM44中存储一组当前温度和已经经过功率调节部分143调节的控制目标电平(即当前温度下的控制目标电平)。
或者，功率调节部分143可以通过参考温度下的控制目标电平以及已经经过功率调节部分143调节的控制目标电平计算出当前温度下的温度校正系数KT(即当前温度下的控制目标电平)，并将一组当前温度和温度校正系数KT存储到RAM44中。
根据上述用于调节激光束的功率的方法，通过将表示已经针对每个温度进行调节过的激光束的功率的列表数据存储到DSP130内的RAM44中，可以在与当前温度相应的列表数据存在于RAM44之内的情况下，根据存储在RAM44中的列表数据设定功率控制部分32的控制目标电平，而不用记录/再生数据。
此外，对于具有多个层的光盘来说，可以根据用于除参考层之外的相应层的记录层的控制目标电平与用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的比值设定用于除参考层之外的每个层的记录薄膜的控制目标电平。
或者，可以使用用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的函数来替代所述比值。所述函数是例如线性函数或二次函数。
上述方式使得可以针对具有多层的光盘来调节用于记录的激光束的功率，以获得再生信号，从而在因温度变化而改变从激光元件发射出来的激光束的功率时，反射光的不对称度在基本上与具有单层的光盘所需的相同的时间内变为希望的数值(例如“0”)，所述温度的改变是由使用光盘转置的环境温度或光盘装置在操作过程中产生的热量引起的。
(实施例2)图5是用于将信息记录到光盘101上的光盘装置200的结构的方框图。
光盘装置200包括用于以激光束照射光盘的光拾取器210和DSP(数字信号处理器)230。DSP230用作控制激光束功率的激光功率控制装置。
由于光盘101可能因受到温度变化的影响发生变形而弯曲，因此，光盘101的信息表面的正常方向与激光束照向光盘101的光轴方向之间的倾斜度随光盘101的径向上的位置的变化而发生变化。倾斜度的改变引起激光束的有效功率发生变化。本发明的实施例2的目的在于根据倾斜度的变化调节激光束的有效功率。
下面将详细描述光盘装置200的操作过程。
光拾取器210将激光束会聚在第一层101a的记录薄膜上，或将激光束会聚到第二层101b的记录薄膜上。
由激光元件12发出的激光束的一部分穿过反射板15，并被发射光检测器13检测出来。
此外，由激光元件12发射的激光束的被反射板15反射，穿过偏转全息元件16，通过会聚透镜11会聚到光盘101的记录薄膜(第一层101a的记录薄膜或第二层101b的记录薄膜)上。
被光盘101的记录薄膜反射的激光束(反射光)穿过会聚透镜11，被偏转全息元件16偏转，穿过反射板15，并被反射光检测器14检测出来。
光拾取器210包括倾斜检测器217，用于根据反射光检测器14检测到的反射光的分布检测倾斜情况。
包括在DSP230之内的AD转换器31对发射光检测器13检测到的激光束进行模数转换。AD转换器31的输出被提供给DSP230之内的功率控制部分32。
功率控制部分32产生激光驱动值，以使发射光检测器13检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件12。
例如，通过包含在DSP230之内的DA转换器33可以实现这种控制，所述DA转换器对功率控制部分32产生的激光驱动值进行数模转换，并将DA转换器33的输出传送到驱动电路2。控制目标电平由功率调节部分243确定，并设定于功率控制部分32中。
驱动电路2根据DA转换器33的输出驱动激光元件12。
包括在DSP230之内的AD转换器41对由反射光检测器14检测的激光束(即反射光)进行模数转换。AD转换器41的输出被传送到DSP230内的不对称检测部分42。
不对称检测部分42通过峰值电平Ipk、谷值电平Ibm和平均电平Iavg检测反射光的不对称度(Ipk+Ibm-2Iavg)/(Ipk-Ibm)，并将指示反射光的不对称度的信号输出到功率调节部分243。
功率调节部分243查找激光束功率的最佳值，以使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。所述查找方法的步骤与参照图2在实施例1中所描述的步骤相同，因此，这里省略了对此的详细描述。
功率调节部分243将激光束的功率的最佳值作为控制目标电平输出到功率控制部分32。
此外，功率调节部分243根据倾斜检测器217的输出调节用于第一层101a(即参考层)的记录层的激光束的功率。
图6是表示倾斜度与激光束的功率之间的关系的特性曲线图。在图6中，横轴表示倾斜度，纵轴表示激光束的功率。如图6所示，激光束的最佳功率随倾斜度的改变而改变。
功率调节部分243根据倾斜度调节激光束的功率。例如，检测到倾斜度按照图6中所示的点“A”、点“B”、点“C”、点“D”以及点“E”的顺序改变，功率调节部分243针对图6中所示的每个点调节激光束的功率。结果，已经经过功率调节部分243调节的控制目标电平被存储在RAM44的列表中。
下面将详细描述用于调节激光束的功率的方法。所述方法通过例如操作光盘装置200执行。
用于在开始将数据记录到光盘101之前调节激光束的功率的情况(即“初始调节”情况)下调节激光束功率的方法的各个步骤与参考图3A在实施例1中所描述的步骤相同。因此，这里省略了对其的详细描述。
参考图7A，下文将详细描述在初始调节之后由于温度等因素发生了改变而需要在将数据记录到光盘101的过程中调节激光束功率的情况(即“再次调节”情况)下用于调节激光束功率的方法的各个步骤。
确定要被记录的记录薄膜是否已经从第一层101a(参考层)的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜(S211)。
如果确定要被记录的记录薄膜已经从第一层101a的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜，则功率调节部分243从存储在RAM44内的列表中读取比值Pw2/Pw1和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S221)，根据等式Pw2t＝Pw1t×Pw2/Pw1计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t(S222)，并将已在步骤S222中计算出来的用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t设定在功率控制部分32中(S223)。
当Pw1的函数(例如F2(Pw1))取代比值Pw2/Pw1存储在RAM44中时，功率调节部分243从存储在RAM44中的列表中读取函数F2(Pw1)和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S221)，并根据等式Pw2t＝F2(Pw1t)计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t(S222)。
为了补偿由于倾斜度改变而使控制目标电平Pw1发生的变化，计算用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平。
例如，假设控制目标电平Pw1是参考倾斜度Y0°下的控制目标电平，倾斜度从Y0°变为Y1°，且将当前倾斜度Y1°的倾斜校正系数KC(Y1°)设定为1.03(103％)。在这种情况下，根据等式Pw1t＝Pw1×KC(Y1°)＝1.03Pw1计算出当前控制目标电平Pw1t。
例如，倾斜校正系数KC可以作为与参考层的参考倾斜度相关的功率比存储在RAM44的倾斜校正表内。
图7B示出了倾斜校正表的实施例。在该实施例中，所述列表示出了对于参考倾斜度为Y0°的情况KC(Y1°)＝1.03(103％)，KC(Y2°)＝0.99(99％)。
功率调节部分243可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的比值Pw2/Pw1，而不从存储在RAM44中的列表中读取比值Pw2/Pw1。
或者，功率调节部分243可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的Pw1的函数(例如F2(Pw1))，而不从存储在RAM44的列表中读取Pw1的函数。
由此，功率调节部分243基于已经针对第一层101a的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层101b的记录薄膜的激光束的功率。
确定倾斜度是否已经改变(S212)。包含在DSP230之内的AD转换器45对倾斜检测器217的输出进行模数转换。AD转换器45的输出传送到功率调节部分243。功率调节部分243通过例如监测AD转换器45的输出确定倾斜度是否已经改变。
如果确定倾斜度已经改变，则确定是否已经针对当前倾斜度调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率(S214)。
例如，可以通过确定是否已经针对当前倾斜度调节了用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1(即确定当前倾斜度下的当前控制目标电平Pw1t(或当前倾斜度下的倾斜校正系数KC)是否存储在RAM44内)来进行所述确定。功率调节部分243通过例如检索RAM44的内容确定是否已经调节了控制目标电平Pw1。
如果确定已经调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则执行上述步骤S221、S222和S223。
如果确定还没有调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则对第一层101a执行与图3A中所示的步骤S101相同的功率调节处理(S231)。
例如，可以通过下述方式进行所述功率调节功率控制部分32控制激光元件12，以使具有与控制目标电平Pw1’相应而为第一层101a的记录薄膜预先设定的功率的激光束照向光盘101，功率调节部分243调节用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平，以使被光盘101反射的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。
功率调节部分243计算要被存储到RAM44的列表中的数值(S232)，并使用计算出的数值更新RAM44的列表(S233)。
例如，功率调节部分243可以在RAM44中存储一组当前倾斜度和已经经过功率调节部分143调节的控制目标电平(即当前倾斜度下的控制目标电平)。
或者，功率调节部分243可以通过参考倾斜度下的控制目标电平以及已经经过功率调节部分243调节的控制目标电平(即当前倾斜度下的控制目标电平)计算出当前倾斜度下的倾斜校正系数KC，并将一组当前倾斜度和倾斜校正系数KC存储到RAM44中。
根据上述用于调节激光束的功率的方法，通过将指示已经针对每个温度进行调节过的激光束的功率的列表数据存储到DSP230内的RAM44中，可以在与当前倾斜度相应的列表数据存在于RAM44之内的情况下，根据存储在RAM44中的列表数据设定功率控制部分32的控制目标电平，而不用记录/再生数据。
此外，对于具有多个层的光盘来说，可以根据用于除参考层之外的相应层的记录层的控制目标电平与用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的比值设定用于除参考层之外的每个层的记录薄膜的控制目标电平。
或者，可以使用用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的函数来替代所述比值。所述函数是例如线性函数或二次函数。
上述方式使得可以针对具有多层的光盘来调节用于记录的激光束的功率，以获得再生信号，从而在因光盘101的变形引起的倾斜度变化而改变从激光元件发射出来的激光束的功率时，反射光的不对称度在基本上与具有单层的光盘所需的相同的时间内变为希望的数值(例如“0”)。光盘101的变形是由使用光盘装置的环境温度或光盘装置在操作过程中产生的热量引起的。
(实施例3)图8是用于将信息记录到光盘101上的光盘装置300的结构的方框图。
光盘装置300包括用于以激光束照射光盘的光拾取器310和DSP(数字信号处理器)330。DSP330用作控制激光束功率的激光功率控制装置。
由于光盘101等的记录薄膜与盘表面之间的保护层(或覆盖层)的厚度不均匀，因此在光盘101上产生了球差。球差引起激光束的有效功率发生变化。本发明的实施例3的目的在于根据由光盘101等的记录薄膜与盘表面之间的保护层(或覆盖层)的厚度不均匀引起的球差的变化调节激光束的有效功率。
下面将详细描述光盘装置300的操作过程。
光拾取器3 10将激光束会聚在第一层101a的记录薄膜上，或将激光束会聚到第二层101b的记录薄膜上。
由激光元件12发出的激光束的一部分穿过反射板15，并被发射光检测器13检测出来。
此外，由激光元件12发射的激光束的被反射板15反射，穿过偏转全息元件16，通过会聚透镜11会聚到光盘101的记录薄膜(第一层101a的记录薄膜或第二层101b的记录薄膜)上。
被光盘101的记录薄膜反射的激光束(反射光)穿过会聚透镜11，被偏转全息元件16偏转，穿过反射板15，并被反射光检测器14检测出来。
光拾取器310包括球差检测器317，用于根据反射光检测器14检测到的反射光的分布检测球差。
包括在DSP330之内的AD转换器31对发射光检测器13检测到的激光束进行模数转换。AD转换器31的输出被提供给DSP330之内的功率控制部分32。
功率控制部分32产生激光驱动值，以使发射光检测器13检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件12。
例如，包含在DSP330之内的DA转换器33可以实现这种控制，所述DA转换器对功率控制部分32产生的激光驱动值进行数模转换，并将DA转换器33的输出传送到驱动电路2。控制目标电平由功率调节部分343确定，并设定于功率控制部分32中。
驱动电路2根据DA转换器33的输出驱动激光元件12。
包括在DSP330之内的AD转换器41对由反射光检测器14检测的激光束(即反射光)进行模数转换。AD转换器41的输出被传送到DSP330内的不对称检测部分42。
不对称检测部分42通过峰值电平Ipk、谷值电平Ibm和平均电平Iavg检测反射光的不对称度(Ipk+Ibm-2Iavg)/(Ipk-Ibm)，并将指示反射光的不对称度的信号输出到功率调节部分343。
功率调节部分343查找激光束功率的最佳值，以使反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。所述查找方法的步骤与参照图2在实施例1中所描述的步骤相同，因此，这里省略了对此的详细描述。
功率调节部分343将激光束的功率的最佳值作为控制目标电平输出到控制部分32。
此外，功率调节部分343根据球差检测器317的输出调节用于第一层101a(即参考层)的记录层的激光束的功率。
图9是表示球差与激光束的功率之间的关系的特性曲线图。在图9中，横轴表示球差，纵轴表示激光束的功率。如图9所示，激光束的最佳功率根据球差发生改变。
功率调节部分343根据球差调节激光束的功率。例如，检测到球差按照图9中所示的点“A”、点“B”、点“C”、点“D”以及点“E”的顺序改变，并且功率调节部分343针对图9中所示的每个点调节激光束的功率。结果，已经经过功率调节部分343调节的控制目标电平被存储在RAM44的列表中。
下面将详细描述用于调节激光束的功率的方法。所述方法通过例如操作光盘装置300执行。
在开始将数据记录到光盘101之前调节激光束的功率的情况(即“初始调节”情况)下用于调节激光束功率的方法的各个步骤与参考图3A在实施例1中所描述的步骤相同。因此，这里省略了对其的详细描述。
参考图10A，下文将详细描述在初始调节之后由于球差等因素发生了改变而需要在将数据记录到光盘101的过程中调节激光束功率的情况(即“再次调节”情况)下用于调节激光束功率的方法的各个步骤。
确定要被记录的记录薄膜是否已经从第一层101a(参考层)的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜(S311)。
如果确定要被记录的记录薄膜已经从第一层101a的记录薄膜转换为第二层101b的记录薄膜，则功率调节部分343从存储在RAM44内的列表中读取比值Pw2/Pw1和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S321)，根据等式Pw2t＝Pw1t×Pw2/Pw1计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t(S322)，并将已在步骤S322中计算出来的用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t设定在功率控制部分32中(S323)。
当Pw1的函数(例如F2(Pw1))取代比值Pw2/Pw1存储在RAM44中时，功率调节部分343从存储在RAM44中的列表中读取函数F2(Pw1)和用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1t(S321)，并根据等式Pw2t＝F2(Pw1t)计算用于第二层101b的记录薄膜的当前控制目标电平Pw2t(S322)。
为了补偿由于球差改变而使控制目标电平Pw1发生的变化，计算用于第一层101a的记录薄膜的当前控制目标电平Pw1。
例如，假设控制目标电平Pw1是参考球差Z0μm(相应于光盘101的记录薄膜与光盘表面之间的保护层(或覆盖层)的厚度)下的控制目标电平，球差从Z0μm变为Z1μm，并将当前球差Z1μm下的球差校正系数KS(Z1μm)设定为1.02(102％)。在这种情况下，根据等式Pw1t＝Pw1×KS(Z0μm)＝1.02Pw1计算出当前控制目标电平Pw1t。
例如，球差校正系数KS可以作为与参考层的参考球差相关的功率比存储在RAM44的球差校正表内。
图10B示出了球差校正表的实施例。在该实施例中，所述列表示出了对于参考球差为Z0μm的情况KS(Z1μm)＝1.02(102％)，KS(Z2μm)＝0.98(98％)。
功率调节部分343可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的比值Pw2/Pw1，而不从存储在RAM44中的列表中读取比值Pw2/Pw1。
或者，功率调节部分343可以读取记录在光盘101的预定区域(例如导入区内的预定区域)中的Pw1的函数(例如F2(Pw1))，而不从存储在RAM44的列表中读取Pw1的函数。
由此，功率调节部分343基于已经针对第一层101a的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层101b的记录薄膜的激光束的功率。
确定球差是否已经改变(S312)。包含在DSP330之内的AD转换器45对球差检测器317的输出进行模数转换。AD转换器45的输出传送到功率调节部分343。功率调节部分343通过例如监测AD转换器45的输出确定球差是否已经改变。
如果确定球差已经改变，则确定是否已经针对当前球差调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率(S314)。
例如，可以通过确定是否已经针对当前球差调节了用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平Pw1(即确定当前球差下的当前控制目标电平Pw1t(或当前球差下的球差校正系数KS)是否存储在RAM44内)来进行所述确定。功率调节部分343通过例如检索RAM44的内容确定是否已经调节了控制目标电平Pw1。
如果确定已经调节了用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则执行上述步骤S321、S322和S323。
如果确定还没有调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率，则对第一层101a执行与图3A中所示的步骤S101相同的功率调节处理(S331)。
例如，可以通过下述方式进行所述功率调节功率控制部分32控制激光元件12，以使具有与控制目标电平Pw1’相应的、为第一层101a的记录薄膜预先设定的功率的激光束照向光盘101，功率调节部分343调节用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平，以使被光盘101反射的反射光的不对称度变为希望的值(例如“0”)。
功率调节部分343计算要被存储到RAM44的列表中的数值(S332)，并使用计算出的数值更新RAM44的列表(S333)。
例如，功率调节部分343可以在RAM44中存储一组当前球差和已经经过功率调节部分243调节的控制目标电平(即当前球差下的控制目标电平)。
或者，功率调节部分343可以通过参考球差下的控制目标电平以及已经经过功率调节部分343调节的控制目标电平计算出当前球差下的球差校正系数KS(即当前球差下的控制目标电平)，并将一组当前球差和球差校正系数KS存储到RAM44中。
根据上述用于调节激光束的功率的方法，通过将示出已经针对每个温度进行调节过的激光束的功率的列表数据存储到DSP330内的RAM44中，可以在与当前球差相应的列表数据存在于RAM44之内的情况下，根据存储在RAM44中的列表数据设定功率控制部分32的控制目标电平，而不用记录/再生数据。
此外，对于具有多个层的光盘来说，可以根据用于除参考层.之外的相应层的记录层的控制目标电平与用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的比值设定用于除参考层之外的每个层的记录薄膜的控制目标电平。
或者，可以使用用于参考层的记录薄膜的控制目标电平的函数来替代所述比值。所述函数是例如线性函数或二次函数。
上述方式使得可以针对具有多层的光盘来调节用于记录的激光束的功率，以获得再生信号，从而在因光盘101的记录薄膜与盘表面之间的保护层(或覆盖层)厚度不均匀引起的球差变化而改变从激光元件发射出来的激光束的功率时，反射光的不对称度在基本上与具有单层的光盘所需的相同的时间内变为希望的数值(例如“0”)。
不对称检测部分42用于检测激光束的最佳功率。可以用任何用于检测激光束的最佳功率的检测部分替代不对称检测部分42。例如，可以用检测从光盘101反射回的反射光的调制度的调制度检测部分替代不对称检测部分42。调制度检测部分通过峰值电平Ipk和谷值电平Ibm检测反射光的调制度(Ipk-Ibm)/Ipk，并将表示反射光的调制度的信号输出到功率调节部分43。功率调节部分调节用于激光束的功率的控制目标电平，以使反射光的调制度变为希望的值。
当根据CAV方法将信息记录到光盘上时，光盘的线速度与光盘的径向位置成比例，所述CAV方法保持光盘的角速度恒定。
图11是表示光盘的径向位置与激光束功率之间关系的特性曲线图。在图11中，横轴表示光盘的径向位置，纵轴表示激光束的功率。
由于激光束的最佳功率随图11中所示的光盘径向位置的变化而改变，因此，需要在两个或两个以上的光盘径向位置上调节激光束的功率，并将调节后的结果以及光盘的径向位置存储到RAM中。
例如，可以调节在光盘径向上两个点(即图11中所示的点“A”和点“B”)处的激光束的功率，并将通过对两个点产生线性逼近获得的特性数据存储到RAM中。
对于具有双层的光盘来说，可以仅对一个参考层计算由光盘径向位置决定的激光束的最佳功率，并将计算出来的最佳功率仅存储到一个参考层中。此外，可以使用用于除参考层之外的每层的激光束的功率比计算激光束的最佳功率。通过仅针对一个参考层根据光盘径向位置调节激光束的功率，可以减少用于调节激光束的功率所需的时间。在这种情况下，可以使用针对线速度的激光束的功率特征数据来替代针对光盘的径向位置的激光束的功率特征数据。
在实施例1到3中，描述了根据温度的变化、倾斜度的变化以及球差的变化中的每一个来调节激光束的功率的控制目标电平的典型方法。然而，根据温度变化、倾斜度变化以及球差变化中的至少两种变化的组合来调节激光束的功率的控制目标电平也应落在本发明的范围之内。
例如，DSP130(或230或330)可以配置为包括至少含有温度检测器17(图1)、倾斜度检测器217(图5)以及球差检测器317(图8)其中之一的变化检测部分。在这种情况下，功率调节部分143(或243或343)根据温度检测器17的输出、倾斜度检测器217的输出以及球差检测器317的输出中的至少一个调节用于参考层的记录薄膜的控制目标电平。
例如，假设控制目标电平Pw1是在参考温度X0℃、参考倾斜度Y0°、参考球差Z0μm下用于参考层(例如第一层101a)的记录薄膜的控制目标电平Pw1。还假设对于当前温度X1℃的温度校正系数KT(X1℃)设定为1.01(101％)，对于当前倾斜度Y1°的倾斜校正系数KC(Y1°)设定为1.03(103％)，对于当前球差Z1μm的球差校正系数KS(Z1μm)设定为1.02(102％)。在这种情况下，根据等式Pw1t＝Pw1×KT(X1℃)×KC(Y1°)×KS(Z1μm)＝Pw1×1.01×1.03×1.02计算出在当前温度X1℃、当前倾斜度Y1°、当前球差Z1μm下的用于参考层的记录薄膜的控制目标电平Pw1t。
另外，在当前温度X1℃、当前倾斜度Y1°、当前球差Z1μm下的用于除参考层之外的其它层(例如第二层101b)的记录薄膜的控制目标电平Pw2t也可以根据等式Pw2t＝F2(Pw1)×KT(X1℃)×KC(Y1°)×KS(Z1μm)＝F2(Pw1)×1.01×1.03×1.02计算出来。这里，F2(Pw1)表示用于确定用于除参考层之外的某特定层(例如第二层101b)的记录薄膜的控制目标电平的Pw1的函数。
由此，使用针对参考层的校正系数(例如KT、KC和KS)中的至少一个与参考层和除参考层之外的某特定层之间的层间校正系数(例如F2(Pw1))的组合，可以计算出用于除参考层之外的某特定层的记录薄膜的控制目标电平。这些系数可以以列表的形式存储在例如RAM之类的存储器内。
在实施例1到3中，描述了通过调节用于第一层101a的记录薄膜的控制目标电平来调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率的典型方法。然而，本发明并不仅限于此。例如，可以通过调节发射光检测器13检测到的激光束的功率的电平来调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率。或者，可以通过调节激光驱动值的电平来调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率。或者，可以通过调节发射光检测器13检测到的激光束的功率的电平、控制目标电平以及激光驱动值的电平中的至少一个电平来调节用于第一层101a的记录薄膜的激光束的功率。所述调节过程由功率调节部分完成，调节的结果设定于功率控制部分中。
在实施例1到3中，描述了从光盘的一侧将激光束照射在光盘上的典型光盘装置。然而，本发明并不局限于此。例如，本发明可适用于从光盘的两侧将激光束照射到光盘上的光盘装置。
在实施例1到3中，描述了具有多个层的典型光盘。然而，本发明并不局限于此。例如，本发明还适用于盘交换机，所述盘交换机用于记录/再生从多个具有单层的光盘中选择出来的一张盘。
由此，作为一种在用于将信息记录在多层光盘上的光盘装置中使用的激光功率控制装置和方法、一种用于将信息记录在光盘上的光盘装置以及一种将信息记录在光盘上的方法等的本发明是有用的。
在不背离本发明的范围和精神的条件下，本领域技术人员可以容易的作出各种其它的改正，这是显而易见的。因此，并不意味着附加的权利要求的范围限定于在此所做的说明，而是应对权利要求进行宽泛的解释。
权利要求
1.一种用在光盘装置中的激光功率控制装置，所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上，所述激光功率控制装置包括功率控制部分，用于控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；变化检测部分，用于检测光盘的记录条件已经改变；和功率调节部分，用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，其中，功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
2.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，其中，所述光盘装置包括用于以激光束照射光盘的光拾取器和用于驱动光拾取器的驱动电路，光拾取器包括激光元件和用于检测激光元件发出的激光的发射光检测器，功率控制部分产生激光驱动值，以使发射光检测器检测到的激光束的功率接近控制目标电平，所述功率控制部分还根据激光驱动值控制激光元件，和功率调节部分通过调节被发射光检测器检测到的激光束的电平、控制目标电平以及激光驱动值的电平中的至少一个电平来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。
3.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，其中，功率调节部分确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平，所述用于第二层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数。
4.根据权利要求3所述的激光功率控制装置，其中，所述函数是用于第二层的记录薄膜的控制目标电平与用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的比值。
5.根据权利要求3所述的激光功率控制装置，其中，所述函数是线性函数或二次函数。
6.根据权利要求3所述的激光功率控制装置，其中，所述函数记录在光盘的预定区域内。
7.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，其中，所述光盘还包括第三层，功率调节部分还确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平，所述用于第三层的记录薄膜的控制目标电平是用于第一层的记录薄膜的控制目标电平的函数，在确定用于第二层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数不同于在确定用于第三层的记录薄膜的控制目标电平的过程中使用的函数。
8.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，其中，变化检测部分至少包括用于检测温度的温度检测部分、用于检测光盘的信息表面的正常方向与照向光盘的激光束的光轴方向之间的倾斜度的倾斜检测部分以及用于检测由光盘的保护层的厚度不同引起的激光束的球差的球差部分中的一个，功率调节部分根据温度检测部分的输出、倾斜度检测部分的输出和球差部分的输出中的至少一个来调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。
9.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，还包括不对称检测部分，用于检测被光盘反射的激光束的不对称度，其中，功率调节部分调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，以使不对称检测部分的输出变为希望的值。
10.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，还包括调制度检测部分，用于检测由光盘反射的激光束的调制度，其中，功率调节部分调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，以使调制度检测部分的输出变为希望的值。
11.根据权利要求1所述的激光功率控制装置，其中，功率控制部分在激光束功率的初始调节过程中控制激光元件，以使激光束的功率接近针对第二层的记录薄膜预先设定的控制目标电平Pw2’，控制目标电平Pw2’是基于已经针对第一层的记录薄膜调节过的控制目标电平Pw1、用于第一层的记录薄膜的参考功率的电平Pw1”以及用于第二层的记录薄膜的参考功率的电平Pw21”定义的，参考功率Pw1”记录在光盘的预定区域内，参考功率Pw2”记录在光盘的预定区域内。
12.根据权利要求11所述的激光功率控制装置，其中，控制目标电平Pw2’由等式Pw2’＝Pw1×Pw2”/Pw1”定义。
13.一种用在光盘装置中的激光功率控制方法，所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上，所述激光功率控制方法包括控制激光元件，使激光束的功率接近控制目标电平；检测光盘的记录条件已经改变；根据记录条件的改变调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，和根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
14.一种用于将信息记录到光盘上的光盘装置，所述光盘至少具有第一层和第二层，所述光盘装置包括光拾取器，用于以激光束照射光盘；驱动电路，用于驱动光拾取器；和激光功率控制装置，用于控制激光束的功率，其中，所述激光功率控制装置包括功率控制部分，用于控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；变化检测部分，用于检测光盘的记录条件已经改变；和功率调节部分，用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，和其中，功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
15.一种用于将信息记录到光盘上的记录方法，所述光盘至少具有第一层和第二层，所述记录方法包括以激光束照射光盘；和控制激光束的功率，其中，对激光束的功率的控制包括控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；检测光盘的记录条件已经改变；根据记录条件的改变调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率，和根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
全文摘要
本发明披露了一种用在光盘装置中的激光功率控制装置，所述光盘装置用于将信息记录到至少具有第一层和第二层的光盘上。所述激光功率控制装置包括功率控制部分，用于控制激光元件，以使激光束的功率接近控制目标电平；变化检测部分，用于检测光盘的记录条件已经改变；和功率调节部分，用于根据变化检测部分的输出调节用于第一层的记录薄膜的激光束的功率。功率调节部分根据已经针对第一层的记录薄膜调节过的激光束的功率确定用于第二层的记录薄膜的激光束的功率。
文档编号G11B7/125GK1606076SQ20041008994
公开日2005年4月13日 申请日期2004年9月2日 优先权日2003年9月2日
发明者渡边克也, 冈田雄, 东海林卫 申请人:松下电器产业株式会社