专利名称：光信息记录媒体及其记录再现装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光盘等光信息记录媒体，更具体说就是涉及具有两层记录层的光信息记录媒体及其记录再现装置。
背景技术：
小型盘(CD)被普及，光盘作为记录媒体构筑了重要的地位。而且不仅是再现专用，作为能记录信息的追记型和改写型盘CD-R/RW、DVD±R/RW的普及也是显著的。近年来，更高密度的光盘的研究开发在热烈地进行。
这些盘在是追记型CD-R、DVD±R的情况下，是通过由色素的变形而引起反射率变化来进行记录再现的，在是改写型盘的情况下，是利用由非晶体和晶体状态的折射率差而产生的反射率差和相位差变化来进行记录信息信号检测的。
为了增加一张光盘的存储容量，而提出多个数据层系统的方案。具有大于或等于两层数据层的光盘，其通过变更透镜的焦点而能在各种层中进行存取。
例如在专利文献1中就公开了多数据层光盘驱动系统，在该系统中使用的光盘分别是包含具备由空气、间隙设置的间隔的数据层的多个基板，或是固体结构的多个数据层的任一个。
在专利文献2中采用了具备多个数据层的固体结构，但其各自的数据层是CD形式的数据层。
在专利文献3、4公开的媒体中，记录层仅由色素膜或相变化膜构成，不是考虑了反射率或与DVD等的互换性的层结构。在实施例1中虽然有“最好把信息层由至少大于或等于两层的多层构成”宗旨的记载，但实际上没考虑两层记录层的结构。
在专利文献5～6中公开了具有由无机材料构成的两层记录层的媒体，但其没达到能实用的水平。
如上所述有各种提案，但实际上都是没达到实用化的或没考虑反射率等的互换性。
在专利文献7中虽然有“所述记录薄膜层至少由两层构成，薄膜材料通过激光照射而使光学常数发生变化，能检测的变化主要是射入光的反射光或透射光的相位变化”的记载，但其没考虑到与ROM(只读存储器)的互换性，且其“是在基体材料上把与基体材料折射率不同的第一透明层、第一记录薄膜层、第二透明层、第二记录薄膜层、第三透明层、反射层分别顺次设置的光学光信息记录媒体，选择所述第一透明层、第一记录薄膜层、第二透明层、第二记录薄膜层、第三透明层和反射层的膜厚度，以在记录材料变化时使射入光的透射光或反射光的相位变化”，对于本发明在层结构上也不同。
作为再现专用的两层结构媒体，DVD-ROM被实用化了，但追记型或改写型的两层结构媒体尚未被实用化。
在专利文献8中公开了具有两层信息层的媒体，在权利要求16中也公开了把第二基板的采样坑或导向槽的轨迹坑制作得比第一基板的小，公开了其效果是对于从光学系统的焦深脱离的信息层能进行良好的信号再现。
但该媒体的情况是把偏心不同的两张基板进行贴合，所以，各自层的旋转中心由贴合而偏离，通过驱动等记录或记录再现装置的夹紧使跟前的基板在偏心状态下再现，且从光射入侧看，内侧基板的偏心是处于由贴合时旋转中心的偏离而与光射入侧基板的偏心相加的状态。其结果是从驱动等再现装置看，内侧基板的偏心在最不好的情况下是其成为从光射入侧看的跟前基板的偏心+内侧基板的偏心量，连跟踪都不能进行，不能进行再现和记录再现。
专利文献1美国专利第5202875号说明书专利文献2美国专利第4450553号说明书专利文献3国际公开00/016320号单行本专利文献4国际公开00/023990号单行本专利文献5特开2001-084643号公报专利文献6特开2001-10709号公报专利文献7特开平3-157830号公报专利文献8特表平10-505188号公报
发明内容
本发明的目的在于提供一种能实用的具有两组记录层结构体的追记型或改写型的光信息记录媒体及其记录再现装置。
上述课题通过下面的(1)～(16)的发明(以下叫作本发明1～16)来解决。
(1)、一种光信息记录媒体，其中，其是两层结构的追记型或改写型，两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合，使记录光和再现光从一侧面进行照射，该光信息记录媒体中两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例是大于或等于+0.03而小于或等于+0.15。
两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2pll-T1)/T1 式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
(2)、在上述(1)所述的光信息记录媒体中，使两组记录层结构体在记录或再现时各自的记录层反射率都与光射入侧基板表面的反射率有大于或等于2％的不同。
(3)、在上述(1)或(2)所述的光信息记录媒体中，由式2定义的两层记录层之间反射率差的比例在±0.15以内。
两层记录层之间反射率差的比例(R1-R2)/[(R1+R2)/2] 式2(式2中，R1表示光射入侧记录层的反射率，R2表示内侧记录层的反射率)。
(4)、在上述(1)～(3)任一项所述的光信息记录媒体中，对于两层记录层的任一个，由式3定义的反射率变动的比例在面内是在±0.15以内。
反射率变动的比例(记录层的反射率-两层记录层反射率的平均值)/两层记录层反射率的平均值式3(5)、在上述(1)～(4)任一项所述的光信息记录媒体中，与光射入面的相反侧的基板表面的反射率不到4％。
(6)、在上述(1)～(5)任一项所述的光信息记录媒体中，由式4定义的两组记录层结构体的记录线密度差的比例在±0.1以内。
两组记录层结构体的记录线密度差的比例(S 1-S2)/S1 式4
(式4中，S1表示的是光射入侧记录层结构体的线密度，S2表示的是内侧记录层结构体的线密度)。
(7)、在上述(1)～(6)任一项所述的光信息记录媒体中，在两组记录层结构体的至少一侧上设置不能进行追记和改写的坑区域(ROM区域)。
(8)、在上述(7)所述的光信息记录媒体中，在两组记录层结构体的两侧上设置ROM区域，且设置成两个ROM区域的端部相互不重叠。
(9)、在上述(1)～(8)任一项所述的光信息记录媒体中，由式5定义的树脂中间层膜厚度的变动比例在周内是±0.1以内。
树脂中间层膜厚度的变动比例(树脂中间层膜厚度max-树脂中间层膜厚度min)/平均树脂中间层膜厚度式5(10)、一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，记录光和再现光从一侧面进行照射，其中，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，两层记录层的反射率都在大于或等于5％而不到12％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于3倍来决定对焦的引入界限值的功能，两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2-T1)/T1 式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
(11)、一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，记录光和再现光从一侧面进行照射，其中，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，两层记录层的反射率都在大于或等于12％而不到24％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于2倍来决定对焦的引入界限值的功能。
(12)、一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，记录光和再现光从一侧面进行照射，其中，
该记录再现装置中该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例是大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，把追记型媒体、改写型媒体、再现专用媒体的任一个通过不同的两个波长进行再现时，其具有利用媒体的反射率进行识别的功能。
(13)、一种光记录媒体记录再现方法，其包括对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，使记录光从一侧面进行照射的工序，和使再现光从与所述为相同的一面进行照射的工序，其中，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2-T1)/T1式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
(14)、在上述(13)所述的光记录媒体记录再现方法，其中，在两层记录层的反射率都大于或等于5％而不到12％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于3倍来决定对焦的引入界限值的工序。
(15)、在上述(13)所述的光记录媒体记录再现方法，其中，在两层记录层的反射率都大于或等于12％而不到24％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于2倍来决定对焦的引入界限值的工序。
(16)、在上述(13)所述的光记录媒体记录再现方法，其中，具有把追记型媒体、改写型媒体、再现专用媒体的任一个通过不同的两个波长进行再现时利用媒体的反射率进行识别的工序。
图1是表示本发明光信息记录媒体的层结构例的图(使用相变化记录材料的例)；图2是表示本发明光信息记录媒体的其它层结构例的图(使用色素材料的例)。
具体实施例方式
以下详细说明上述本发明。
图1和图2表示了本发明光信息记录媒体层结构的例。图1是作为记录层材料使用了在非晶体(无定形)与晶体之间光学特性变化的材料(所谓的相变化记录材料)的例子，图2是作为记录层材料使用了色素材料的例子。向各记录层的信息记录是通过记录被叫做标记的图形来进行的。图1的情况是在具有导向槽的基板3上形成第一记录层结构体1，另外在具有导向槽的盖基板15上通过粘接层14形成第二记录层结构体2，并把两者通过树脂中间层9进行层合而制作的。第一记录层结构体1利用第一保护层6和第二保护层8夹住第一记录层7，并为了容易散热而设置了反射散热层4的结构。第二记录层结构体2是利用第四保护层11和第五保护层13夹住第二记录层12，并形成Ag或Ag合金层10的结构。在第四保护层11含有硫S的情况下，在Ag或Ag合金层10与第四保护层11之间设置防硫化层(未图示)便可。图1中，箭头16表示光的射入方向。图1表示的情况是作为第一记录层7使用的是Ag5In5Sb65Te25，作为第二记录层12使用的是Ge5Ag2Sb70Te23，作为基板3和盖基板15使用的是聚碳酸酯，作为反射散热层4和Ag或Ag合金层10使用的是Ag97Cu1Pt1Pd1，作为吸收层5使用的是SiC，作为第一保护层6、第二保护层8、第四保护层11和第五保护层13使用的是ZnSSiO2，作为树脂中间层9使用的是UV固化树脂SD318，作为粘接层14使用的是丙烯系列两面粘接剂，但并不限定于此。
如图2那样作为记录层材料是使用色素的情况下，其把形成第一记录层结构体21的基板23和形成第二记录层结构体22的盖基板32通过树脂中间层27进行层合的基本结构与制法也是相同的。图2中，箭头36表示光的射入方向。图2表示的情况是作为第一色素层24和第二色素层31使用的是蓝绿色，作为基板23和盖基板32使用的是聚碳酸酯，作为Ag或Ag合金层25和30使用的是Ag97Cu1Pt1Pd1，作为第一半透膜层26和第二半透膜层29使用的是IZO，作为树脂中间层27使用的是UV固化树脂SD318，作为保护层28使用的是ZnSSiO2，但并不限定于此。
本发明使两组记录层结构体的轨迹间距不同，且把两组记录层结构体的轨迹间距差的比例＝(T2-T1)/T1(其中，T1是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2是内侧记录层结构体的轨迹间距)设定成大于或等于+0.03而在+0.15以内。理想的是大于或等于+0.05。
TTagreplyNom88比特ScrollID回复的标签到读取器回复持续时间。
ΔTTagbitcell在ScrollID回复的最后比特处测量的标签到读取器比特信元间隔变化量。
TCoastEOF和下一命令之间的最大持续时间。
6.5.1北美参数
下表2是对图1所示层结构的光信息记录媒体调查两层各自记录层的反射率与光射入侧基板表面的反射率的差(％)给予对焦影响的结果，○表示的是无障碍引入对焦的情况，×表示的是在对焦引入中有障碍的情况。通常聚碳酸酯基板的表面反射率是4％程度。
对焦的检测是使用市场上出售的4分割PD进行的。且检测由该PD得到的对焦信号的振幅(peak-to-peak)，把绝对反射率判断的媒体，即，玻璃基板的Ge膜反射率30％作为基准来检测各媒体的反射率。
根据表2，只要反射率有大于或等于2％的不同，就能进行与基板的识别，了解到对焦作为引入层能进行分离。但由于检测装置的功能有限制，所以若考虑检测误差时，则最好不相差大于或等于20％。
该倾向对于图2所示层结构的光信息记录媒体也是同样的。
最好两层记录层之间反射率差的比例＝(R1-R2)/[(R1+R2)/2](其中，R1是光射入侧记录层的反射率，R2是内侧记录层的反射率)在±0.15以内。在该范围内时，例如把两层平均反射率设定成7％时，由于反射率低的是7％×(1-0.15)＝5.95％，所以与基板(是聚碳酸酯基板时是4％程度)的反射率差是约2％，如前所述不会给对焦以影响。且反射率高的是7％×(1+0.15)＝8.05％，与平均反射率相比是+1％程度，所以对焦随动系统的引入界限值变动少便可。
在两层记录层之间的反射率差的比例超过±0.15时，例如第一记录层的反射率是2％，第二记录层的反射率是18％的情况下，对焦进入到了第二记录层，而不能进入第一记录层。
对两组记录层结构体进行记录、再现时各自记录层的反射率与光射入侧基板表面的反射率有大于或等于2％的不同，就成为引入对焦的条件。
例如对焦的引入反射率是4.5～5.5％时，即5±0.5％时，反射率范围狭窄，难于进行正确的引入。因此，在5％程度低反射率媒体的情况下，最好把反射率放大到大于或等于3倍，把对焦的引入反射率范围设定成大于或等于5±1.5％，来进行引入对焦。且作为记录再现装置，在两层记录层的反射率是5～10％范围的两层结构媒体的情况下，最好把PD检测的和信号放大到大于或等于3倍来决定对焦引入的界限值而进行设定。
在反射率最小的5％时，基板的反射率是约4％程度(通常光盘使用的聚碳酸酯基板的反射率)，所以反射率差是约1％，会出现检测误差。于是通过把反射率，即PD检测的和信号放大到大于或等于3倍，使反射率差是大于或等于3％而容易检测。两倍也能进行检测，但设定成是3倍则更容易检测。
对于两层记录层的反射率是大于或等于12％而不到24％范围的两层结构型媒体来说，例如两层的平均反射率是18％，两层记录层反射率差的比例是±0.15时，低的一侧的反射率是18％×(1-0.15)＝15.3％，高的一侧的反射率是18％×(1+0.15)＝20.7％，与平均值相比有±3％程度的偏离，但由于与基板的反射率差大，所以对焦能具有富裕地取得进入界限值。但作为记录再现装置，为了更加有富裕，最好把检测的和信号放大到大于或等于两倍来决定对焦引入的界限值而进行设定。
为了进行稳定的记录再现，最好两层记录层都把反射率变动的比例＝(反射率-反射率的平均值)/反射率的平均值设定成在面内是±0.15以内。
最好把与光射入面相反侧的基板表面的反射率通过涂敷等使其不到4％，从相反侧的面不能读。这样，为了使记录再现装置不能进入读取操作，不进行无用的对焦动作便可。
只要两组记录层结构体的记录线密度差的比例＝(S1-S2)/S1(其中，S1是光射入侧记录层结构体的线密度，S2是内侧记录层结构体的线密度)在±0.1以内，由于从信号处理上看也可以不变更电路，所以对记录再现装置没有影响，是理想的。即线密度的偏差在上述范围内的话，其是通常的数据在时间上的偏差范围，所以能判断数据。在通常记录的情况下，最坏即使有10％程度时间上的偏差，也不会产生错误。
在两层结构的追记型和/或改写型光信息记录媒体时，也可以具有不能进行追记和改写的位区域(ROM区域)。是两层结构媒体时，由于信息量多，所以作为媒体的利用方法也是多种。于是通过设置ROM区域来记录不能变更或不使变更的信息(ROM信息)，能提高媒体的利用价值和利用效率。
但在两层结构的任一层上设置ROM区域时，由于ROM区域的光干涉大，所以没有ROM区域侧的层的位于与ROM区域对应位置的部分处也有时出现记录、再现特性恶化。例如在光射入侧有ROM区域时，由于ROM区域的坑深，所以光的散射大，向内侧层的对应位置就不能进行很好的追记或改写。光射入侧是追记型媒体而在内侧有ROM区域，且追记型媒体具有由色素构成的随着变形的记录层时，内侧层的再现特性(跳动)在追记型媒体的记录前后变坏。
ROM区域一般来说其槽的深度深，通过设置ROM区域而在ROM区域与记录区域的分界处，即在ROM区域的端部反射率急剧变化，所以进行2值化时的限幅电平就变化，容易产生错误。即，把ROM区域设置在两组记录层结构体的两侧上时，由于ROM区域与记录区域(在槽或槽间表面等上进行记录的区域)有分界处，所以由两层记录层之间的信号干涉(串音)而使错误增加。因此，最好使两层记录层的ROM区域与记录区域的分界处(ROM区域的端部)不重叠地来减少错误。
通常对DVD-ROM来说，中间层的膜厚度是55±15μm，该媒体是再现专用，即使由于反射率高而中间层的膜厚度稍微有变动，即使由基板厚度差而引起像差偏离(接近于对焦偏离)，S/N(信号与噪声的比)也高，也能进行再现。
但在追记型或改写型媒体的情况下，由于反射率低，所以S/N低，膜厚度变动成为RF变动，低频变动在信号处理中能忽视，但若频率高则跳动变坏而错误增加。特别是在高速记录的情况下表现显著，容易有错误。
因此，最好把树脂中间层的膜厚度变动比例＝(膜厚度max-膜厚度min)/平均膜厚度在周内设定成在±0.1以内(即把膜厚度的变动比例设定在平均膜厚度的10％以内)，这样像差变动少便可，记录标记能清楚地进行记录，所以从内周到外周的任一处都能使错误少。
把对于图1所示层结构的DVD+RW盘、图2所示层结构的DVD+R盘、市场上出售的两层型DVD-ROM盘的反射率，使用PD(光电探测器)以再现波长660nm和780nm进行检测的结果表示在表3。
从表3了解到，在DVD+R中随着波长的不同而反射率明显不同，在DVD+RW中反射率有一定程度的不同，在DVD-ROM中反射率完全不同。即了解到通过用两个不同的波长进行再现时的盘反射率的不同而能明确识别DVD+R、DVD+RW、DVD-ROM的任一个。因此，利用该特性可制作能识别再现对象媒体种类的信息记录再现装置。
对于如两层结构相变化型记录媒体那样大于或等于5％而不到12％程度低反射率的媒体来说，由于其与具有两层结构色素记录层的追记型记录媒体的反射率(15％程度)是同等的反射率，所以通过放大引入对焦的电平而扩大引入对焦的容易程度，最好是使用具有能使由两层之间跳跃等引起的脱离对焦消失功能的记录再现装置。
对于如具有无机记录膜(例如Si系记录层SiC等)的两层结构媒体那样反射率是大于或等于12％而不到24％程度的媒体来说，由于其与具有两层结构色素记录层的追记型记录媒体的反射率(15％程度)是同等的反射率，所以通过调整引入对焦的电平而扩大引入对焦的容易程度，能使由两层之间跳变等引起的脱离对焦消失，最好是使用具有这种功能的记录再现装置。
且只要利用两个波长，例如CD波长(780nm)和DVD波长(660nm)的反射率在追记型媒体、改写型媒体、再现专用媒体中的不同，就可提供具有能判断媒体种类功能的信息记录再现装置。
能提供具有两组记录层结构体的能实用的追记型或改写型光信息记录媒体及其记录再现装置。
实施例以下通过实施例更具体地说明本发明，但本发明并不限定于这些实施例。
实施例1<相变化型媒体的情况>
在具有轨迹间距0.80μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制基板上，作为第一记录层结构体其通过溅射顺次形成了由Ag构成的膜厚度120nm的反射散热层、由ZnSSiO2构成的膜厚度70nm的第一保护层、由Ag5In5Ge5Sb67Te18构成的膜厚度17nm的第一记录层、由ZnSSiO2构成的膜厚度17nm的第二保护层。
另一方面，在具有轨迹间距0.74μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制盖基板上，作为第二记录层结构体，通过溅射顺次形成了由ZnSSiO2构成的膜厚度70nm的第五保护层、由Ag5In5Ge5Sb67Te18构成的膜厚度7nm的第二记录层、由ZnSSiO2构成的膜厚度18nm的第四保护层、膜厚度3nm的Zr50O5C45层(防止硫化层)、膜厚度10nm的Ag层、由膜厚度100nmITO(In2O3与SnO的混合物)的构成的半透明层。
然后把形成有上述各层的基板和盖基板使记录层朝向内侧地通过由膜厚度50μm的UV固化树脂(大日本油墨化学工业社制SD318)构成的树脂中间层进行贴合，得到本发明的光信息记录媒体。
对于该媒体使用パルステツク工业社制光盘评价装置DDU-1000(LD波长660nm、NA＝0.65)从盖基板侧射入光进行评价。
记录再现条件设定成是再现光功率是0.7mW、底光功率是0.7mW、记录光功率是光射入侧的记录层(18mW)、内侧的记录层(23mW)，记录方法是起始脉冲是0.7T、多脉冲是0.4T、截止脉冲是0.1T(T15.9ns)的发光波形。线密度两层都是以0.267μm/bit进行的记录再现。
其结果是对于随动系统，两层记录层都是对焦良好地进入，跟踪和记录再现也良好。记录再现特性的跳动特性是7.5％的良好。跳动是到15％，是能订正错误的范围。
各记录层的反射率是7％和8％。
实施例2<使用色素的追记型媒体的情况>
在具有轨迹间距0.74μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制基板上，通过旋转涂层形成由膜厚度100μm的蓝绿色构成的第一色素层，在其上通过喷溅形成作为第一半透明层的膜厚度80μm的IZO(InOx、ZnOx)。
另一方面，在具有轨迹间距0.80μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制盖基板上，制作厚度150nm的Ag97In1Cu1Pd1层，在其上通过旋转涂层形成由膜厚度100μm的蓝绿色构成的第二色素层，在其上通过喷溅形成作为第二半透明层的膜厚度100μm的IZO。
然后，把形成有上述各层的基板和盖基板使记录层朝向内侧地通过由膜厚度38μm的UV固化树脂(大日本油墨化学工业社制SD318)构成的树脂中间层进行贴合，得到本发明的光信息记录媒体。
对于该媒体使用パルステツク工业社制光盘评价装置DDU-1000(LD波长660nm、NA＝0.65)从基板侧射入光并进行评价。
其结果是对于随动系统，两层记录层都是对焦良好地进入，跟踪和记录再现也良好。记录再现特性的跳动特性是7.5％的良好。
各记录层的反射率是19％和18％。
实施例3除了把在轨迹间距0.74μm的导向槽盖基板上制作的ZnSSiO2折射率设定成2.4，把膜厚度设定成60nm，把喷溅时的Ar流量从1mTorr调整到12mTorr这些点以外，与实施例1是相同的，得到光信息记录媒体。
其结果是，光射入侧轨迹间距0.74μm的盖基板侧记录层的反射率变动比例[(反射率-反射率平均值)/反射率平均值]成为0.19。该层对焦是进入了，但跟踪不稳定，记录再现特性的跳动特性是12.3％的良好。
实施例4在与实施例1媒体的光射入面相反侧的面上，把漆进行丝网印刷(紫外线固化)，使该印刷面插入而成为DVD再现装置的光射入侧的结果，是媒体反射率低，所以该再现装置不能进入再现操作，而把媒体排出。
实施例5对于在实施例1中制作的媒体，把内侧层(轨迹间距0.8μm)的记录线密度设定成0.30μm/bit进行评价。作为比较，对记录线密度0.267μm/bit的也进行了评价。光射入侧和内侧的旋转中心的偏差(偏心)是30μm。
记录再现条件设定成是再现光功率是0.7mW、底光功率是0.7mW、记录光功率是光射入侧的记录层(18mW)、内侧的记录层(23mW)，记录方法是起始脉冲是0.7T、多脉冲是0.4T、截止脉冲是0.1T(T15.9ns)的发光波形。
其结果是，把记录线密度以0.30μm/bit进行记录时，在再现时没有错误，但把记录线密度以0.267μm/bit进行记录时，记录再现特性的跳动特性是13.1％的不好。
实施例6在实施例1中制作的媒体上，从光射入侧看在内侧记录层的内周24～35mm的范围内设置坑(ROM部)。
把ROM部以再现光功率0.7mW进行再现的结果是没有错误，能再现。ROM部以外与实施例1同样地能得到良好的结果。
实施例7在实施例6中制作的媒体上，在光射入侧的记录层上半径45～58mm的范围内也形成坑(ROM部)。
把ROM部以再现光功率0.7mW进行再现的结果是没有错误，能再现。ROM部以外与实施例1同样地能得到良好的结果。
参考例1在实施例6中制作的媒体上，在光射入侧的记录层上半径35～45mm的范围内也形成坑(ROM部)。
把ROM部以再现光功率0.7mW进行再现的结果是，在两层记录层的ROM部端部重叠的半径位置35mm处产生了错误。
实施例8在制作与实施例1相同层结构的媒体时，为了把树脂中间层的膜厚度变动收敛到±0.1以内，对于贴合的两侧媒体，把作为目标的中间层膜厚度50μm的一半为目标，分别以旋转涂层制作并贴合中间层。由于薄的膜厚度容易出现均匀性，所以中间层膜厚度是48μm～52μm(膜厚度变动是±0.04)。
对于该媒体，以再现光功率是0.7mW、底光功率是0.7mW、记录光功率是光射入侧的记录层(18mW)、内侧的记录层(23mW)进行了记录再现。记录方法是起始脉冲是0.7T、多脉冲是0.4T、截止脉冲是0.1T(T15.9ns)的发光波形。线密度两层都是以0.267μm/bit进行的记录再现。
其结果是跳动是小于或等于7％，从内周到外周良好，错误少。
参考例2作为树脂中间层的膜厚度变动超过±0.1的情况，为了增大膜厚度变动，除了改变旋转涂层条件的点以外，与实施例8同样地进行了贴合。其结果是膜厚度从42μm变到了58μm(膜厚度变动±0.16)。
对于该媒体，与实施例8同样地进行了记录再现的结果是，跳动从内周到外周不好，是12～14％。
实施例9对于实施例1制作的媒体使用パルステツク工业社制光盘评价装置DDU-1000(LD波长660nm、NA＝0.65)进行了评价。
调查对焦增益的放大率与对焦错误的关系，得到了表4所示的结果。“×”表示的是产生对焦错误的情况，“△”表示的是产生对焦错误的情况和没产生对焦错误的情况，“○”表示的是没产生对焦错误的情况。
从表4了解到，只要放大率大于或等于3倍，则对焦错误消失，能进行良好的跟踪。
实施例10<使用无机材料的追记型媒体的情况>
在具有轨迹间距0.74μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制基板上，通过喷溅顺次形成由Zr50O5C45构成的膜厚度15nm的第一无机记录层、由IZO(InOx、ZnOx)构成的膜厚度80μm的第一半透明层。
另一方面，在具有轨迹间距0.80μm导向槽的厚度是0.6mm的聚碳酸酯制盖基板上，通过喷溅顺次形成由Zr50O5C45构成的膜厚度10nm的第二无机记录层、由IZO(InOx、ZnOx)构成的膜厚度40μm的第二半透明层。
然后把形成有上述各层的基板和盖基板使记录层朝向内侧地通过由膜厚度55μm的UV固化树脂(大日本油墨化学工业社制SD318)构成的树脂中间层进行贴合，得到本发明的光信息记录媒体。
对于该媒体使用パルステツク工业社制光盘评价装置DDU-1000(LD波长660nm、NA＝0.65)从基板侧射入光进行评价。
调查对焦增益的放大率与对焦错误的关系，得到了表5所示的结果。“△”表示的是产生对焦错误的情况和没产生对焦错误的情况，“○”表示的是没产生对焦错误的情况。
从表5了解到，只要放大率大于或等于2倍，则对焦错误消失，能进行稳定且良好的跟踪。
各记录层的反射率是12％和14％。
实施例11把各种一层和两层媒体反射率(％)的检测结果汇总表示在下面的表6中。
作为驱动使用能读CD(780nm)和DVD(660nm)的装置进行再现。表中DVD+R的两层媒体是实施例2的媒体，DVD+RW的两层媒体是实施例1的媒体，其它的媒体是市场上出售的媒体。
如从表了解的那样，通过利用不同的两个波长进行再现时，盘的反射率不同，而明确地识别是DVD+R、DVD+RW、DVD-ROM的哪一个。因此，利用该特性可制作能识别再现对象媒体种类的信息记录再现装置。但仅依靠CD-ROM的一层媒体和DVD-ROM的一层媒体进行对焦时的反射率还不能判断，进行跟踪并看能否进行跟踪就能判断。但实际上市场上出售的DVD-ROM几乎都是两层媒体，所以通过对焦时的反射率就能判断。
权利要求
1.一种光信息记录媒体，其是两层结构的追记型或改写型，两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合，使记录光和再现光从一侧面进行照射，其特征在于，两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2-T1)/T1 式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
2.如权利要求1所述的光信息记录媒体，其中，使两组记录层结构体在记录和再现时各自的记录层的反射率都与光射入侧基板表面的反射率有大于或等于2％的不同。
3.如权利要求1或2任-项所述的光信息记录媒体，其中，由式2定义的两层记录层之间反射率差的比例在±0.15以内，两层记录层之间反射率差的比例(R1-R2)/[(R1+R2)/2] 式2(式2中，R1表示光射入侧记录层的反射率，R2表示内侧记录层的反射率)。
4.如权利要求1到3任一项所述的光信息记录媒体，其中，对于两层记录层的任一个，由式3定义的反射率变动的比例在面内是在±0.15以内，反射率变动的比例(记录层的反射率-两层记录层反射率的平均值)/两层记录层反射率的平均值式3。
5.如权利要求1到4任一项所述的光信息记录媒体，其中，与光射入面的相反侧的基板表面的反射率不到4％。
6.如权利要求1到5任一项所述的光信息记录媒体，其中，由式4定义的两组记录层结构体的记录线密度差的比例在±0.1以内，两组记录层结构体的记录线密度差的比例(S1-S2)/S1式4(式4中，S1表示的是光射入侧记录层结构体的线密度，S2表示的是内侧记录层结构体的线密度)。
7.如权利要求1到6任一项所述的光信息记录媒体，其中，在两组记录层结构体的至少一侧上设置不能进行追记和改写的坑区域(即ROM区域)。
8.如权利要求7所述的光信息记录媒体，其中，在两组记录层结构体的两侧上设置ROM区域，且设置成两个ROM区域的端部之间不重叠。
9.如权利要求1到8任一项所述的光信息记录媒体，其中，由式5定义的树脂中间层膜厚度的变动比例在周内是±0.1以内，树脂中间层膜厚度的变动比例(树脂中间层膜厚度max-树脂中间层膜厚度min)/平均树脂中间层膜厚度 式5。
10.一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，从一侧面照射记录光和再现光，其特征在于，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，在两层记录层的反射率都大于或等于5％而不到12％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于3倍来决定对焦的引入界限值的功能，两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2-T1)/T1 式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
11.一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，从一侧面照射记录光和再现光，其特征在于，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，在两层记录层的反射率都大于或等于12％而不到24％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于2倍来决定对焦的引入界限值的功能。
12.一种记录再现装置，对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，从一侧面照射记录光和再现光，其特征在于，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，并且具有如下功能在不同的两个波长进行再现时，利用媒体的反射率识别追记型媒体、改写型媒体、再现专用媒体的任一个。
13.一种光记录媒体记录再现方法，其包括对于两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合的两层结构的追记型或改写型光信息记录媒体，从一侧面照射记录光的工序，和使再现光从与所述为相同的一面进行照射的工序，其特征在于，该记录媒体的两组记录层结构体的轨迹间距不同，且由式1定义的两组记录层结构体的轨迹间距差的比例大于或等于+0.03而小于或等于+0.15，两组记录层结构体的轨迹间距差的比例(T2-T1)/T1 式1(式1中，T1表示的是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2表示的是内侧记录层结构体的轨迹间距)。
14.如权利要求13所述的光记录媒体记录再现方法，其中，在两层记录层的反射率都大于或等于5％而不到12％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于3倍来决定对焦的引入界限值的工序。
15.如权利要求13所述的光记录媒体记录再现方法，其中，在两层记录层的反射率都大于或等于12％而不到24％范围的情况下，具有把检测的和信号放大到大于或等于2倍来决定对焦的引入界限值的工序。
16.如权利要求13所述的光记录媒体记录再现方法，其中，具有如下的工序在不同的两个波长进行再现时利用媒体的反射率识别追记型媒体、改写型媒体和再现专用媒体的任一个。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种光信息记录媒体及其记录再现装置，其具有两组记录层结构体的可实用的追记型或改写型。一种光信息记录媒体，其中，两组记录层结构体把树脂中间层夹住并在基板上进行层合，在记录光和再现光从一侧面进行照射的、两层结构的追记型或改写型的光信息记录媒体中两组记录层结构体的轨迹间距不同，且两组记录层结构体的轨迹间距差的比例＝(T2－T1)/T1(其中，Tl是光射入侧记录层结构体的轨迹间距，T2是内侧记录层结构体的轨迹间距)是大于或等于+0.03而小于或等于+0.15。
文档编号G11B7/24GK1864207SQ20048002937
公开日2006年11月15日 申请日期2004年8月4日 优先权日2003年8月7日
发明者篠塚道明, 岩佐博之, 真贝胜 申请人:株式会社理光