专利名称：硬盘测试适配器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种硬盘测试装置，具体是涉及一种硬盘生产过程中测试不良硬盘的适配装置。
背景技术：
现有的硬盘在生产过程中，可能会因为磁头组装误差使得硬盘读盘损轨率过高，导致硬盘不合格，或者因为硬盘封装条件不够，进入硬盘空间内的杂尘影响硬盘性能，或者因为寻轨、供电或者读盘、写盘或者格式化存在问题而导致硬盘不合格。传统的硬盘制造中，不合格的硬盘只有废弃。但是，每一硬盘的材料及制造成本都很高，如果将不合格的硬盘废弃，将是很大的浪费，并且也不能发现不合格硬盘产生不良的原因。如何及时发现硬盘产生不良的原因并纠正硬盘发生不良的问题，或者找出可纠正的方法，改善后续硬盘生产的工艺，成为目前硬盘生产过程中亟待解决的问题。
发明内容本实用新型的目的是提出一种能在硬盘生产过程中测试不良硬盘的适配装置。
实现上述目的的技术方案是一种硬盘测试适配器，用于主机与被测硬盘之间的通讯。所述硬盘测试适配器包括一第一信号接口、一第二信号接口及一与第一、第二信号接口相连的电平转换芯片。所述主机与所述第一信号接口相连，所述硬盘与第二信号接口相连。所述电平转换芯片将主机高电平信号转换为硬盘识别的低电平信号后由所述第二信号接口传输给硬盘，或者将硬盘传回的低电平信号转换为主机识别的高电平信号后再由第一信号接口传输给主机。
所述主机通过串口与第一信号接口相连，并由所述主机串口给所述电平转换芯片提供工作电压。所述第二信号与硬盘串口相连。
所述硬盘测试适配器还包括一第三信号接口。所述第二信号接口与第三信号接口分别接入对应的测试硬盘串口。
本实用新型采用上述技术方案，其有益的技术效果在于1)利用本实用新型硬盘测试适配器可以实现测试主机与不良硬盘之间的通讯。2)通过本实用新型硬盘测试适配器作为测试主机桥路，可很快发现硬盘产生不良的原因，从而消除不良硬盘出现的问题或者改善后续硬盘生产的工艺。
下面通过实施例并结合附图，对本实用新型作进一步的详细说明图1是本实用新型硬盘测试适配器的构成框图。
图2是本实用新型硬盘测试适配器的另一实时方式构成框图。
具体实施方式一种硬盘测试适配器10，结合图1，用于测试主机20与被测硬盘30、40之间的通讯。
所述硬盘测试适配器10包括一第一信号接口J3、一第二信号接口J1、一第三信号接口J2及一与第一信号接口J3、第二信号接口J1、第三信号接口J2相连的电平转换芯片14。所述测试主机20通过一串口22与第一信号接口J3相连，所述串口22可为主机设置的打印等标准串口，并由所述主机串口22给所述电平转换芯片14提供工作电压。所述第二信号接口J1与第三信号接口J2分别与两测试硬盘30、40的串口相连接。
本实施方式中，所述电平转换芯片14所采用的是MAX3232SO芯片。所述电平转换芯片14将测试主机20高电平信号转换为硬盘30、40识别的低电平信号后分别由所述第二信号接口J1、第三信号接口J2传输给两测试硬盘30、40，或者将两测试硬盘30、40传回的低电平信号转换为测试主机20识别的高电平信号后再由第一信号接口J3传输给测试主机20。
测试时，测试主机20通过预先设置的测试软件发出测试信号，经第一信号接口J3、电平转换芯片14、第二、第三信号接口(J1、J2)对硬盘30、40进行测试。
请参考图2，作为本实用新型的另一实施方式，所述电平转换芯片输出可仅为一路，连接一个测试硬盘50。具体为所述硬盘测试适配器10包括一第一信号接口J3、一第二信号接口J1及一与第一信号接口J3、第二信号接口J1相连的电平转换芯片14。所述测试主机20通过一串口22与第一信号接口J3相连，所述串口22可为主机设置的打印等标准串口，并由所述主机串口22给所述电平转换芯片14提供工作电压。所述第二信号接口J1与测试硬盘50的串口相连接。
所述电平转换芯片14所采用的是MAX3232SO芯片。所述电平转换芯片14将测试主机20高电平信号转换为硬盘50识别的低电平信号后由所述第二信号接口J1传输给测试硬盘50，或者将测试硬盘50传回的低电平信号转换为测试主机20识别的高电平信号后再由第一信号接口J3传输给测试主机20。
测试时，测试主机20通过预先设置的测试软件发出测试信号，经第一信号接口J3、电平转换芯片14、第二信号接口J1对硬盘50进行测试。
权利要求1.一种硬盘测试适配器，用于主机与被测硬盘之间的通讯，其特征在于所述硬盘测试适配器包括一第一信号接口、一第二信号接口及一与第一、第二信号接口相连的电平转换芯片，所述主机与所述第一信号接口相连，所述硬盘与第二信号接口相连，所述电平转换芯片将主机高电平信号转换为硬盘识别的低电平信号后由所述第二信号接口传输给硬盘，或者将硬盘传回的低电平信号转换为主机识别的高电平信号后再由第一信号接口传输给主机。
2.根据权利要求1所述的硬盘测试适配器，其特征在于所述主机通过串口与第一信号接口相连，并由所述主机串口给所述电平转换芯片提供工作电压。
3.根据权利要求1所述的硬盘测试适配器，其特征在于所述第二信号与硬盘串口相连。
4.根据权利要求1所述的硬盘测试适配器，其特征在于所述硬盘测试适配器还包括一第三信号接口。
5.根据权利要求4所述的硬盘测试适配器，其特征在于所述第二信号接口与第三信号接口分别接入对应的测试硬盘串口。
专利摘要一种硬盘测试适配器，用于主机与被测硬盘之间的通讯。所述硬盘测试适配器包括一第一信号接口、一第二信号接口及一与第一、第二信号接口相连的电平转换芯片。所述主机与所述第一信号接口相连，所述硬盘与第二信号接口相连。所述电平转换芯片将主机高电平信号转换为硬盘识别的低电平信号后由所述第二信号接口传输给硬盘，或者将硬盘传回的低电平信号转换为主机识别的高电平信号后再由第一信号接口传输给主机。
文档编号G11B20/18GK2872543SQ20052012106
公开日2007年2月21日 申请日期2005年12月29日 优先权日2005年12月29日
发明者陈文洪 申请人:深圳易拓科技有限公司