专利名称：光盘、光盘设备、和光盘处理方法
技术领域：
本发明的一个实施例涉及一种光盘，如DVD-R或DVD-RW。本发明的一个实施例还涉及一种处理这种光盘的光盘设备和光盘处理方法。
背景技术：
近年来，包括DVD-R和DVD-RW的各种光盘被广泛使用。在这些光盘的记录层中，槽岸光轨和沟槽光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成。在槽岸光轨上设置指示沟槽光轨地址的槽岸预制凹坑(LPP)。为了实现更高的容量，在研究和发展多记录层光盘上投入了极大的努力。
例如，日本专利申请公开第10-289450号公开了一种聚焦伺服控制方法，当向一个多记录层光盘记录信息和从该光盘再现信息时，该方法用一种伺服电路从光盘正面或背面上靠近记录和再现表面的表面上开始焦点搜索操作。
另外，日本专利申请公开第10-340536号公开了涉及一种预制凹坑信息探测单元的技术，即使噪声分量重叠在从光轨获得的抖动信号上时，也可根据预制凹坑信号精确地获得信息。
此外，日本专利申请公开2003-317259公开的技术中，提供了一种用来探测从信息光轨的内圆周附近的槽岸光轨获得的LPP(槽岸预制凹坑)信号的内圆周LPP探测装置，以及一种用来探测从信息光轨的外圆周附近的槽岸光轨获得的LPP信号的外圆周LPP探测装置，并且当无法探测外圆周LPP信号时可用该内圆周LPP探测装置获得大致的地址信息。
然而，在上述专利文件中，用来探测一个多记录层光盘中的LPP信号的技术没有被公开。
包括DVD-R和DVD-RW的光盘的试记录空间由刻录规格(DVD-RBOOK，DVD-RW BOOK，和DVD-RAM BOOK)确定。近年来，为了增加记录容量已经对多层光盘进行了研究和开发，而没有考虑当光盘变为多层时探测LPP的方法，这已成为了一个问题。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种光盘，其具有多个记录层并且允许进行适当的凹坑再现，所述多个记录层使得一条光轨中的一个凹坑(预制凹坑)指示另一个邻近光轨的地址。
本发明的另一个目的是提供一种光盘设备和一种光盘处理方法，所述设备和方法可从具有多个记录层的光盘中适当的再现凹坑，该多个记录层使得一条光轨中的一个凹坑(预制凹坑)指示另一个邻近光轨的地址。
根据本发明的第一个方面，提供一种光盘，包括第一和第二记录层，在每一层中第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)具有指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑，第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址的凹坑，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址，并且所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址；以及第二区域，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用于指示该层是第一层还是第二层的信息)。
根据本发明的另一个方面，提供一种光盘，包括第一和第二记录层，在每一层中第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)具有指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑，第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])具有指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨地址的凹坑，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，并且所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨地址；以及第二区域，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(或用于指示该层是第一层还是第二层的信息)。
根据本发明的又一个方面，提供一种光盘设备，其处理一种具有第一和第二记录层的光盘，在该第一和第二记录层的每一层中从内侧边缘向外侧边缘交替形成第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)，该光盘设备包括探测单元，构成为用来探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑被记录在第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)中，指示地址的凹坑被记录在第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])中，以及指示各种类型数据的标记可被记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；确定单元，其被构成为，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息(或用来指示第一和第二层是具有相同极性还是具有不同极性的信息)、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用来指示该层是第一层还是第二层的信息)，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在由探测单元探测到的反射光内反映的信息中；和再现单元，构成为通过由确定单元确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。
根据本发明的又一个方面，提供一种光盘处理方法，其处理一种具有第一和第二记录层的光盘，在该第一和第二记录层的每一层中从内侧边缘向外侧边缘交替形成第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)，该光盘处理方法包括探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑被记录在第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)中，指示地址的凹坑被记录在第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])中，以及指示各种类型数据的标记可被记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息(即用来指示第一和第二层是具有相同极性还是具有不同极性的信息)、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用来指示该层是第一层还是第二层的信息)，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法所述凹坑极性信息包含在探测到的反射光内反映的信息中；以及通过确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。
本发明另外的目的和优点将在以下的描述中阐明，并且部分将在描述中变得显而易见，或在本发明的实践中被认识。依靠以下详细指出的手段和结合可实现和获得本发明的目的和优点。
下面将参考
实现本发明各项特点的一个通用结构。附图和所附说明被提供来说明本发明的实施例，但不对本发明的范围进行限制。
图1示意性地示出了根据本发明一个实施例的多记录层光盘的结构；图2是根据本实施例的多记录层光盘的剖面示意图；图3是根据本实施例的多记录层光盘的第一记录层的俯视图；图4是根据本实施例的光盘的第二记录层的俯视图；图5示意性地示出了根据本实施例的光盘设备的结构；图6示出了根据本实施例构成图5所示光盘设备中的光探测器的4象限光电探测器；图7示出了根据本实施例图5所示光盘设备中的信号处理电路；图8示出了作为根据本实施例图5所示光盘设备的选择结果而获得的差信号(预制凹坑信号)；以及图9是一个流程图，说明了在根据本实施例图5所示光盘设备中选择差信号(在凹坑探测方法中)的处理。
具体实施例方式
下面将参考附图对根据本发明的各种实施例进行说明。通常，根据本发明的一个实施例，根据本发明的第一方面，提供一种光盘，包括第一和第二记录层，在每一层中第一和第二光轨(或槽岸光轨和沟槽光轨)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，第一记录层的第一光轨(或槽岸光轨)具有指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑，第二记录层的第二光轨(或沟槽光轨[实际上可认为是槽岸光轨，参考图2])具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址的凹坑，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型树的标记的光轨；第一区域，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址，并且所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨地址；以及第二区域，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息(即用于指示该层是第一层还是第二层的信息)。
常规的光盘，如DVD-R或DVD-RW，只具有一个将数据记录在其中或从其中再现数据的单记录层。近来，对记录层多层结构的使用进行检验以增加记录容量。
图1到图4示意性地示出了根据本发明一个实施例的多记录层光盘的结构。图1示出了记录在根据本实施例的多记录层光盘上的信息的示例。图2是根据本实施例的多记录层光盘的剖面示意图。图3是根据本实施例的多记录层光盘的第一记录层的俯视图。图4是根据本实施例的光盘的第二记录层的俯视图。
如图1所示，所述光盘具有第一记录层1和第二记录层2。该光盘还具有管理信息存储区域A。例如，该管理信息存储区域A被提供给第一记录层1和第二记录层2的每一个。该管理信息存储区域A包括其中预先记录了预制凹坑极性信息的区域A1和其中预先记录了记录层识别信息的区域A2。对该预制凹坑极性信息和记录层识别信息的使用将在随后做详细说明。
如图2所示，该光盘具有第一记录层1和第二记录层2。该第一记录层1和第二记录层2分别形成并层压在一起。因此第一记录层1的凹凸形状与第二记录层2的凹凸形状相反。第二记录层2的槽岸光轨L位于面向第一记录层1的槽岸光轨L的位置。第二记录层2的沟槽光轨G位于面向第一记录层1的沟槽光轨G的位置。例如，由于第一记录层1的凹凸形状与第二记录层2的凹凸形状相反，所以，第二记录层2的槽岸光轨可被认为是沟槽光轨，并且第二记录层2的沟槽光轨可能认为是槽岸光轨。
在第一记录层1上是从光盘的内侧边缘向外侧边缘进行循轨，而在第二记录层2上是从光盘的外侧边缘向内侧边缘进行循轨。其原因在于，该光盘是逆光轨路径(OTP)型，其中在第一记录层上的螺旋方向与第二记录层上的螺旋方向相反。例如，在第一记录层1中，从光盘的内部向外部螺旋地进行循轨，而在第二记录层2中，从光盘的外部向内部螺旋地进行循轨。
下面将参考图3和图4说明一个其预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有相同极性的光盘。
如图3所示，第一记录层1具有从光盘内侧边缘向外侧边缘交替形成的多个槽岸光轨L和多个沟槽光轨G。在第一记录层1中，为一个槽岸光轨L设置预制凹坑P。一个槽岸光轨L中的预制凹坑P指示了该槽岸光轨L附近的内边缘侧沟槽光轨G的地址。即，当从沟槽光轨G看时，沟槽光轨G附近的外边缘侧槽岸光轨L上的预制凹坑P指示沟槽光轨G的地址。该沟槽光轨G是一个可在其中记录用来示出各种数据的标记的光轨。每条光轨以特定频率进行抖动。预制凹坑与抖动同步形成。
另外，如图4所示，第二记录层2具有从光盘内侧边缘向外侧边缘交替形成的槽岸光轨L和沟槽光轨G。在第二记录层2中，为沟槽光轨G设置预制凹坑P。一个沟槽光轨G中的预制凹坑P指示了该沟槽光轨G附近的内边缘侧槽岸光轨L的地址。即，当从槽岸光轨L看时，槽岸光轨L附近的外边缘侧沟槽光轨G上的预制凹坑P指示槽岸光轨L的地址。该槽岸光轨L是可在其中记录用来示出各种数据的标记的光轨。每条光轨以特定频率进行抖动。预制凹坑与抖动同步形成。
具体地讲，在预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有相同极性的光盘中，每个记录层的预制凹坑P指示了具有预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨的地址。即，当从不含有预制凹坑P的光轨看时，在不含预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨上的预制凹坑P指示了不含预制凹坑P的光轨的地址。
所述光盘还可以是以上说明的相反情况。具体地讲，在其预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有相同极性的光盘中，每个记录层的预制凹坑P可能指示具有预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨的地址。即，当从不含由预制凹坑P的光轨看时，在不含预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨上的预制凹坑P可指示不含预制凹坑P的光轨的地址。
接下来将对一个光盘进行说明，在该光盘中的第一记录层1中的预制凹坑极性与第二记录层2中的预制凹坑极性不同(或相反)。
如图3所示，第一记录层1具有从光盘内侧边缘向外侧边缘交替形成的多个槽岸光轨L和多个沟槽光轨G。在第一记录层1中，为槽岸光轨L设置预制凹坑P。槽岸光轨L中的预制凹坑P指示了该槽岸光轨L附近的内边缘侧沟槽光轨G地址。即，当从沟槽光轨G看时，沟槽光轨G附近的外边缘侧槽岸光轨L上的预制凹坑P指示沟槽光轨G的地址。
另外，如图4所示，第二记录层2具有从光盘内侧边缘向外侧边缘交替形成的槽岸光轨L和沟槽光轨G。在第二记录层2中，为沟槽光轨G设置预制凹坑P。沟槽光轨G中的预制凹坑P指示了该沟槽光轨G附近的外边缘侧槽岸光轨L的地址。即，当从槽岸光轨L看时，槽岸光轨L附近的内边缘侧沟槽光轨G上的预制凹坑P指示槽岸光轨L的地址。
具体地讲，在一个光盘中，其第一记录层1中的预制凹坑极性与第二记录层2中的预制凹坑极性不同，在第一记录层1中的预制凹坑P指示了含有预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨的地址，而在第二记录层2中的预制凹坑P指示了含有预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨的地址。即，当从不含有预制凹坑P的光轨看时，在第一记录层1上不含预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨上的预制凹坑P指示了不含预制凹坑P的光轨的地址，并且在第二记录层2上不含预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨上的一个预制凹坑P指示了不含预制凹坑P的光轨的地址。
所述光盘还可以是以上说明的相反情况。具体地讲，在一个光盘中，其第一记录层1中的预制凹坑极性与第二记录层2中的预制凹坑极性不同，在第一记录层1中的预制凹坑P可指示含有预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨的地址，而在第二记录层2中的预制凹坑P可指示含有预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨的地址。即，当从不含有预制凹坑P的光轨看时，在第一记录层1上不含预制凹坑P的光轨附近的内边缘侧光轨上的预制凹坑P可指示不含预制凹坑P的光轨的地址，以及在第二记录层2上不含预制凹坑P的光轨附近的外边缘侧光轨上的预制凹坑P可指示不含预制凹坑P的光轨的地址。
其预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有相同极性的光盘具有预制凹坑极性信息，该信息指示预制凹坑具有相同的极性。具体地讲，在其预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有相同极性的光盘的区域A1中，记录预制凹坑极性信息来指示在第一记录层1和第二记录层2中的预制凹坑具有相同极性(预制凹坑总是指示预制凹坑所在的光轨附近的外边缘侧[或内边缘侧]的光轨地址)。
相反，其第一记录层1中的预制凹坑的极性不同于第二记录层2中的预制凹坑的极性的光盘具有预制凹坑极性信息，该信息指示在第一记录层1和第二记录层2上的预制凹坑具有不同的极性。具体地讲，在其预制凹坑在第一记录层1和第二记录层2中具有不同极性的光盘的区域A1中，记录预制凹坑极性信息来指示第一记录层1中的预制凹坑的极性不同于第二记录层2中的的预制凹坑的极性(第一记录层中的预制凹坑指示预制凹坑所在的光轨附近的外边缘侧[或内边缘侧]的光轨地址，以及第二记录层中的预制凹坑指示预制凹坑所在的光轨附近的内边缘侧[或外边缘侧]的光轨地址)。
而且，在同极性光盘和不同极性光盘的第一记录层1上的区域A2中，记录了用来指示第一记录层的记录层识别信息。类似地，在同极性光盘和不同极性光盘的第二记录层2上的区域A2中，记录了用来指示第二记录层的记录层识别信息。
通过上述结构，用来处理光盘的光盘设备可通过获取记录在区域A1中的预制凹坑极性信息来确定该待处理光盘是同极性型还是不同极性型。而且，用来处理光盘的光盘设备可通过获取记录在区域A2中的记录层识别信息来确定该待处理光盘的记录层是第一记录层还是第二记录层。
下面将参考图5到图7说明根据本实施例的光盘设备的示意性结构。图5示意性地示出了根据本实施例的光盘设备的结构。图6示出了图5的光盘设备中构成光探测器的4象限光电探测器的实例。图7示出了图5的光盘设备中的信号处理电路的实例。该光盘设备将信息记录在上述光盘上，或将记录在光盘上的信息再现。
如图5所示，光盘设备包括光学拾取器10、调制电路21、记录和再现控制部分22、激光器控制电路23、信号处理电路24、解调电路25、致动器26、聚焦控制电路32、循轨控制电路34、和控制部分35。
该光学拾取器10包括激光器11、校准透镜12、偏振光束分离器(下称PBS)13、1/4波片14、物镜15、聚光透镜16、和光探测器17。
首先说明光盘设备将信息记录到光盘的方式。调制电路21根据特定调制方法将控制部分35提供的记录信息(数据符号)调制为通道比特串。与记录信息相对应的通道比特串被输入到记录和再现控制部分22。而且，对记录和再现控制部分22的输入是从控制部分35发出的记录和再现指令(这里为记录指令)。该记录和再现控制部分22将控制信号输出到致动器26来驱动该光学拾取器使得光束可适当的在目标记录位置聚积。此外，该记录和再现控制部分22将一个通道比特串提供给激光器控制电路23。该激光器控制电路23将该通道比特串转换为一个激光器驱动波形，以此来驱动激光器11。也就是说，激光器控制电路23脉冲驱动(pulse-drive)该激光器11。结果，激光器11发射一束与期望的比特串对应的记录光束。从激光器11发出的记录光束在校准透镜12处变为平行光，并且进入并穿过PBS13。穿过PBS13的光束再穿过1/4波片14，之后被物镜15汇聚到光盘的信息记录表面(第一记录层1或第二记录层2)。汇聚的记录光束被保持在一种状态，即，通过由聚焦控制电路32和致动器26执行的聚焦控制和由循轨控制电路34和致动器26执行的循轨控制来在记录表面上获得最佳微光点(microscopic spot)的状态。
之后说明该光盘设备将信息从该光盘再现的方式。一个从控制部分35发出的记录和再现指令(这里为再现指令)被输入到记录和再现控制部分22。根据从控制部分35发出的再现指令，该记录和再现控制部分22将再现控制信号输出到激光器控制电路23。根据该再现控制信号，激光器控制电路23驱动该激光器11。结果，激光器11发射一个再现光束。从激光器11发出的再现光束在校准透镜12处变为平行光，并且进入并穿过PBS13。穿过PBS13的光束再穿过1/4波片14，之后被物镜15汇聚到光盘的信息记录表面。该汇聚的再现光束被保持在一种状态，即，通过由聚焦控制电路32和致动器26执行的聚焦控制和由循轨控制电路34和致动器26执行的循轨控制来在记录表面上获得最佳微光点的状态。这时，投射到光盘上的再现光束被信息记录表面上的反射膜或反射记录膜反射。反射光以相反方向穿过物镜15并再次变为平行光。之后该反射光穿过1/4波片，具有了与入射光垂直的偏振光，并且被PBS13反射。在PBS13上反射的光束被聚光透镜16转化为汇聚光并进入光探测器17。该光探测器17是由例如4象限光电探测器构成的。进入光探测器17的光束被光电转换为一个电信号，之后再被放大。放大的信号在信号处理电路24中被均衡并转化为二进制。所得信号被发送到解调电路25。该解调电路25根据特定解调方法将信号解调并输出再现数据。
基于光探测器17输出的部分电信号来产生聚焦误差信号。类似的，基于光探测器17输出的部分电信号产生循轨误差信号。聚焦控制电路32根据该聚焦误差信号来控制致动器26，从而控制光束点的聚焦。循轨控制电路34根据该循轨误差信号来控制致动器26，从而控制对光束点的循轨。
如图6所示，组成光探测器17的4象限光电探测器输出信号Ia、Ib、Ic和Id。与信号Ic、Id相比，信号Ia、Ib是从光轨的内边缘侧获得的。
如图7所示，信号处理电路24包括如直流耦合放大器H1、H2、H3、H4和极性倒相器IV。信号处理电路24在直流耦合放大器H1、H2、H3、H4处计算信号Ia与Ib的和信号I1(＝Ia+Ib)以及信号Ic与Id的和信号I2(＝Ic+Id)。该信号处理电路24还计算该和信号I1与和信号I2的和信号S1(＝I1+I2)。该信号处理电路24还计算该和信号I1与和信号I2之间的差信号S2(＝I1-I2)。该信号处理电路24还通过在极性倒相器IV处将该差信号S2反转计算一个差信号S3。
差信号S2是从第一记录层的沟槽光轨G的外圆周附近的第一记录层的槽岸光轨L中的预制凹坑中获得的信号。可选地，该差信号S2是从第二记录层的槽岸光轨L的外圆周附近的第二记录层的沟槽光轨G中的预制凹坑中获得的信号。
差信号S3是从第一记录层的沟槽光轨G的内圆周附近的第一记录层的槽岸光轨L中的预制凹坑中获得的信号。可选地，该差信号S3是从第二记录层的槽岸光轨L的内圆周附近的第二记录层的沟槽光轨G中的预制凹坑中获得的信号。
根据从光盘的区域A1获得的预制凹坑极性信息和从区域A2获得的记录层识别信息，该光盘设备选择差信号S2和S3中的一个并根据所选的差信号来再现预制凹坑。具体地讲，根据预制凹坑极性信息和记录层识别信息，该光盘设备确定探测第一和第二记录层中预制凹坑的方法，并且用确定的探测方法从第一和第二记录层的预制凹坑中再现地址。
图8示出了由光盘设备选择的一个差信号(或预制凹坑信号)的实例。预制凹坑信号几乎出现在光轨中所放映的抖动的底部。
图9是一个流程图，说明了在该光盘设备中选择差信号的处理。
该光盘设备用光束照射光盘并探测从光盘反射的光，从而读取各种在反射光中反映的信息。例如，该光盘设备从光盘的管理信息存储区域A读取管理信息(ST1)。光盘的控制部分35根据包含在管理信息中的介质ID来确定待处理光盘的类型等。如果该待处理光盘是DVD-R或DVD-RW并且被归为多记录层(在本实施例中为两个记录层)的OTP型(ST2中为是)，则执行差信号选择处理。
如果光盘设备的控制部分35确定了需要对该待处理光盘进行差信号选择处理(ST2中为是)，其根据包含在管理信息中的预制凹坑极性信息来确定该待处理光盘的第一和第二记录层中的预制凹坑是否为同极性(ST3)。
如果光盘设备的控制部分35确定了该待处理光盘的第一和第二记录层中的预制凹坑具有相同极性(ST3中为是)，则选择差信号S2(ST5)。根据该差信号S2，探测并再现预制凹坑(ST7)。如果光盘设备的控制部分35确定该待处理光盘的第一记录层中的预制凹坑极性与第二记录层中的预制凹坑极性不同(ST3中为否)，则根据包含在管理信息中的记录层识别信息来确定第一记录层和第二记录层中的哪一个将被进行处理(ST4)。如果光盘设备的控制部分35确定了第一记录层将被处理(ST4中为否)，则选择差信号S2(ST5)。根据该差信号S2，探测并再现预制凹坑(ST7)。如果光盘设备的控制部分35确定了第二记录层将被处理(ST4中为是)，则选择差信号S3(ST6)。根据该差信号S3，探测并再现预制凹坑(ST7)。
在本实施例将被处理的光盘中，第一记录层1的光轨呈螺旋状使得从盘的内侧向外侧进行循轨，而第二记录层2的光轨呈螺旋状使得从盘的外侧向内侧进行循轨。在同极性光盘的第一记录层1中，沟槽光轨G的地址是从该沟槽光轨G外侧的槽岸光轨L中的预制凹坑获得的。在同样的第二记录层2中，槽岸光轨L的地址是从该槽岸光轨L外侧的沟槽光轨G中的预制凹坑获得的。相反，在不同极性光盘的第一记录层1中，沟槽光轨G的地址是从该沟槽光轨G外侧的槽岸光轨L中的预制凹坑获得的。在第二记录层2中，槽岸光轨L的地址是从该槽岸光轨L内侧的沟槽光轨G中的预制凹坑获得的。
本实施例的光盘设备根据从光盘获得的凹坑极性信息和记录层识别信息来改变预制凹坑探测方法。这样可使从同极性光盘和不同极性光盘二者中都能获得正确的预制凹坑信号和正确的地址。
尽管在本实施例中，直流耦合放大器H4的输出被极性倒相器IV进行极性反转，但本发明不限于此。例如，输入到直流耦合放大器H4的信号极性可通过一个选择器开关而改变。
尽管在本实施例中，已经说明了预制凹坑探测方法，即，该方法确定是再现目标光轨内边缘侧光轨中的预制凹坑来作为地址还是再现目标光轨外边缘侧光轨中的预制凹坑来作为地址，但本发明不限于此。例如，在近来正在开发其标准格式的HD-DVD(包括HD-DVD-R和HD-DVD-RW)中，光轨抖动被用来代替预制凹坑。在光轨抖动中，使用相位调制来反映地址。即，本发明可应用于光轨抖动探测方法，该方法确定了是再现目标光轨内边缘侧的光轨抖动来作为地址还是再现目标光轨外边缘侧的光轨抖动来作为地址。
尽管已经描述了本发明的某些实施例，但是，这些实施例仅仅是作为例子存在，并不意味着限制本发明的范围。实际上，在此描述的新方法和系统可以以各种其它形式实施；而且，在不脱离本发明的精神的情况下，可对在此描述的方法和系统进行形式上的各种省略、替代和改变。所附权利要求及其等同物意图覆盖落在本发明的范围内的这些形式和变形。
权利要求
1.一种光盘，其特征在于包括第一和第二记录层(1，2)，在每一层中第一和第二光轨(L，G)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述第一记录层的第一光轨具有指示所述第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑(P)，所述第二记录层的第二光轨具有指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的所述第二记录层的第一光轨地址的凹坑(P)，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域(A1)，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨内圆周附近的第二记录层的第一光轨的地址；以及第二区域(A2)，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息。
2.根据权利要求1的光盘，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。
3.一种光盘，其特征在于包括第一和第二记录层(1，2)，在每一层中第一和第二光轨(L，G)从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述第一记录层的第一光轨具有指示所述第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨地址的凹坑(P)，所述第二记录层的第二光轨具有指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的所述第二记录层的第一光轨地址的凹坑(P)，以及第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨作为能够记录表示各种类型数据的标记的光轨；第一区域(A1)，其中记录了凹坑极性信息用来指示第一记录层的第一光轨中的凹坑和第二记录层的第二光轨中的凹坑，所述第一记录层的第一光轨中的凹坑指示第一记录层的第一光轨内圆周附近的第一记录层的第二光轨的地址，所述第二记录层的第二光轨中的凹坑指示第二记录层的第二光轨外圆周附近的第二记录层的第一光轨的地址；以及第二区域(A2)，其中记录了用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息。
4.根据权利要求3的光盘，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。
5.一种光盘设备，用来处理具有第一和第二记录层的光盘，在所述第一和第二记录层的每一层中第一和第二光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成，所述光盘设备的特征在于包括探测单元(10)，构成为用来探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑记录在第一记录层的第一光轨中，指示地址的凹坑记录在第二记录层的第二光轨中，以及指示各种类型数据的标记能够记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中；确定单元(35)，构成为，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在由探测单元探测的反射光内反映的信息中；以及再现单元(25)，构成为通过由确定单元确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址。
6.根据权利要求5的光盘设备，其特征在于所述再现单元包括第一再现单元(H1、H2、H4)，构成为用来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨外圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑，以及第二再现单元(H1、H2、H4、IV)，构成为用来再现所述第一记录层的第二光轨内圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨内圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑，并且根据指示在所述第一和第二记录层中的凹坑具有相同极性的极性信息，来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨外圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑。
7.根据权利要求5的光盘设备，其特征在于所述再现单元包括第一再现单元(H1、H2、H4)，构成为用来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨外圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑，以及第二再现单元(H1、H2、H4、IV)，构成为用来再现所述第一记录层的第二光轨内圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨内圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑，以及根据指示在所述第一记录层中凹坑的极性不同于第二记录层中凹坑的极性的极性信息，来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑，并再现所述第二记录层的第一光轨内圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑。
8.根据权利要求5的光盘设备，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。
9.一种光盘处理方法，其处理一种具有第一和第二记录层的光盘，在该第一和第二记录层的每一层中从内侧边缘向外侧边缘交替形成第一和第二光轨，该光盘处理方法的特征在于包括探测从光盘反射的光，该光盘中指示地址的凹坑记录在第一记录层的第一光轨中，指示地址的凹坑记录在第二记录层的第二光轨中，以及指示各种类型数据的标记能够记录在第一记录层的第二光轨和第二记录层的第一光轨中(ST1)；以及根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在探测到的反射光内反映的信息中，并且通过确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址(ST3到ST7)。
10.根据权利要求9的光盘处理方法，其特征在于还包括根据指示了在所述第一和第二记录层中的凹坑具有相同极性的极性信息(ST3中为是)，来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑(ST5，ST7)，并再现所述第二记录层的第一光轨外圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑(ST5，ST7)。
11.根据权利要求9的光盘处理方法，其特征在于还包括根据指示了所述第一记录层中凹坑的极性不同于第二记录层中的凹坑的极性的极性信息(ST3中为否)，来再现所述第一记录层的第二光轨外圆周附近的所述第一记录层的第一光轨中的凹坑(ST4中为否，ST5，ST7)，并再现所述第二记录层的第一光轨内圆周附近的所述第二记录层的第二光轨中的凹坑(ST4中为是，ST6，ST7)。
12.根据权利要求9的光盘处理方法，其特征在于所述第一光轨为槽岸光轨，并且所述第二光轨为沟槽光轨。
全文摘要
根据一个实施例，一种根据本发明的光盘处理方法，探测来自光盘的反射光(ST1)，所述光盘具有第一和第二记录层并且每一层中第一和第二光轨从内侧边缘向外侧边缘交替形成，根据用来指示凹坑极性的凹坑极性信息、和用来识别第一和第二记录层的记录层识别信息，来确定对第一和第二记录层中的凹坑进行探测的方法，所述凹坑极性信息包含在探测到的反射光内反映的信息中，并且通过确定的探测方法从第一和第二记录层的凹坑中再现地址(ST3到ST7)。
文档编号G11B7/005GK1828733SQ20061005826
公开日2006年9月6日 申请日期2006年2月28日 优先权日2005年2月28日
发明者小林忠 申请人:株式会社东芝