专利名称：确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法
技术领域：
本发明的方面涉及一种光盘装置中的功率控制方法，更具体来说，涉及一种确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法，其能够当将光盘插入光盘装置中时，通过在光盘装置执行用于检测最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前、使记录在光盘的一定部分(certain part)的数据被擦除，来确定最佳擦除功率。
背景技术：
通常，光盘设备用来使用激光将各种信息记录在光盘中/从光盘播放(playback)各种信息。光盘设备广泛用于在诸如压缩盘(CD)、多功能数码光盘(DVD)、蓝光盘(blu-ray disc)、HD-DVD等光盘上记录/读取各种大量的信息。
这样的光盘分为不可记录(non-recordable)光盘，例如CD-ROM、DVD-ROM等；一次性记录(once-recordable)光盘，其只能够让数据在其中记录一次，例如CD-R、DVD-R等；以及可重复记录(re-recordable)光盘，其能够使数据在其中记录多次，例如CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM等。
可记录光盘分为一次性记录光盘，其记录层涂有(coated with)有机染料，例如CD-R、DVD-R等；以及可重复记录光盘，其记录层涂有相变材料(phasechange material)，例如CD-RW、DVD-RW、DVD-RAM等。诸如CD-R之类的一次性记录光盘通过使其记录层中的有机染料被激光束化学地改变而在预定区域上形成标记(mark)来在其中记录数据。因此，由于数据被记录为标记，标记过的区域(marked area)不能再记录数据。诸如CD-RW的可重复记录光盘通过使激光束入射在记录层中的相变材料的一定部分上来在其中记录数据。这种激光束使所述部分的温度增加到该相变材料的熔点(一般约为500～700℃)，从而将所述部分的状态改变为不稳定的液态。之后，所述部分的温度降低，从而将所述部分的不稳定的液态改变为非晶固态(amorphoussolid state)。通常，非晶固态的折射率小于晶态(crystal state)的折射率，这导致光盘的折射率上的差别。因此，利用该差别，可以将数据记录在光盘中。而且，当相变材料的温度升到接近大约200℃并且在相对长的时间内保持在该温度时，相变材料变回晶态。因此，作为一般规则，施加到激光二极管用以执行数据擦除的功率小于施加到该激光二极管用以执行数据记录的功率。
尽管许多人可能认为诸如蓝光盘、HD-DVD等之类的各种类型的可记录光盘在相同类型的情况下是等同的，但是各种类型的可记录光盘的记录层中的相变材料根据它们的制造商而不同。而且，可施加到可记录光盘的各种因素，例如记录速度、记录设备等，影响记录功率和擦除功率。因此，当将可记录光盘插入光盘设备中时，在用户的记录命令使数据记录在可记录光盘之前，执行用于检测对于所插入的可记录光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)。在功率校准区域(PCA)执行OPC，该功率校准区域是分配在光盘上用以检测最佳记录功率的测试区域。
为了执行OPC，首先，将光拾取器移动到用作光盘测试区域的PCA。然后，以其量值(magnitude)按照根据适合于该光盘的一定功率的一定量而改变的记录功率将测试数据记录在PCA中。对于每单个OPC操作15帧来说，一般通过15阶(steps)的记录功率将测试数据记录在PCA中。在完成测试数据的记录之后，播放所记录的测试数据并且从该测试数据的播放特征中检测最佳记录功率。
在韩国专利公布第2005-22830号中已经公开了用于光盘的传统的最佳功率检测方法。根据该公布，通过以下方式来检测最佳记录功率使用根据每个光盘制造商定义的信息，利用该信息来将测试数据记录在相应的光盘中，相对于所获得的最佳记录功率信息按照一定量值改变该记录功率，然后重新检测最佳记录功率。
如此，当已经多次执行记录时，没有记录数据的部分以及记录了任意数据的部分等在PCA中共存。在这样的PCA中执行的OPC导致相对较大的偏差。因此，传统的最佳功率检测方法存在问题并且在执行OPC之后检测的记录功率不可能是最佳的。
而且，即使在执行OPC之前擦除了执行OPC的区域，但是由于该区域必须由通过将每个制造商提供的最大功率乘以一定比率而确定的擦除功率来擦除，所以对于特定的光盘设备和光盘组合来说，传统的方法不是最佳的。因此，OPC的结果不可能是最佳的。
发明内容
因此，本发明的一个方面在于提供一种在光盘装置中确定最佳擦除功率的方法，其能够在对应的光盘中确定最佳擦除功率，使得在执行OPC之前能够最佳地擦除执行最佳功率校准(OPC)的区域，以便增强OPC性能结果的可靠性。
根据本发明的一个方面，可以通过提供一种在执行用于检测光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前在处于擦除操作中的光盘装置中确定最佳擦除功率的方法来实现以上和/或其它方面，该方法包括获取功率对调制度曲线，其中改变施加的功率以便调整入射到光盘上的光量；根据功率对调制度曲线中功率的变化计算调制度的变化量；以及使用所计算的调制度的变化量来设置最佳擦除功率。
优选地，该获取操作还包括在光盘的一定部分中记录测试数据。这里，当播放所记录的测试数据时获取功率对调制度曲线。
优选地，在施加的功率按照一定量顺序地改变时，将测试数据记录在所述光盘的一定部分中。
优选地，所述光盘的一定部分是形成在光盘上的功率校准区域(PCA)。
优选地，设置操作将最佳擦除功率设置为在功率对调制度曲线中紧接在调制度变化量最大的部分之前的部分的功率。
优选地，其中调制度的变化量最大的部分是在功率对调制度曲线中调制度的变化量具有最大增加量(largest increase)的部分。这里，最佳擦除功率被设置在紧接在调制度的变化量最大的部分之前的功率与通过将该部分之前的功率乘以预定系数而获得的功率之间的功率范围内。
根据本发明的另一个方面，提供一种在执行用于检测光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前在处于擦除操作中的光盘装置中确定最佳擦除功率的方法，该方法包括将测试数据记录在光盘的一定部分上；在测试数据开始被记录在所述光盘的一定部分上时检测施加到激光二极管的功率；将包括所检测到的功率的一定范围设置为最佳擦除功率。
优选地，当改变激光二极管的施加功率时，记录测试数据。
优选地，使用功率对调制度曲线来检测在测试数据开始被记录在所述光盘的一定部分时的功率。
优选地，所述光盘的一定部分是形成在光盘上的功率校准区域(PCA)。
优选地，在测试数据开始被记录在所述光盘的一定部分时的功率是在紧接在功率对调制度曲线中斜率急剧变化的部分之前的部分的功率。
优选地，包括所检测到的功率的一定范围在所检测到的功率与通过将所检测到的功率乘以预定系数而获得的功率之间。
根据本发明另一个方面，提供一种在光盘装置中确定最佳擦除功率的方法，该方法包括通过改变所施加的功率并检测结果的调制度来获得功率对调制度的关系；以及基于所获得的功率对调制度的关系设置最佳擦除功率。
根据本发明的另一个方面，提供一种使用光盘装置确定光盘的最佳擦除功率的方法，该方法包括基于所获得的功率对调制度的关系来设置最佳擦除功率；以及在执行最佳功率校准(OPC)之前，使用所设置的最佳擦除功率来擦除光盘中要执行最佳功率校准(OPC)的部分，以便增加OPC结果的可靠性。
本发明的附加方面和/或优点将在后面的描述中部分地说明，并且，部分地，根据该描述将很明显，或者可以通过本发明的实践而习得。
从下面结合附图的实施例的描述中，本发明的这些和/或其它方面和优点将变得清楚并且更加易于理解，其中图1是图示一般的光盘装置的框图；图2是描述根据本发明的一个方面的当在光盘装置中设置最佳擦除功率时用于执行OPC的方法的流程图；图3A是根据本发明的一个方面的用于设置光盘装置的最佳擦除功率的第一调制度曲线的图形；图3B是根据图3A的擦除功率的第一OPC偏差曲线的图形；图4A是根据本发明的一个方面的用于设置光盘装置的最佳擦除功率的第二调制度曲线的图形；图4B是根据图4A的擦除功率的第二OPC偏差曲线的图形；图5A是根据本发明的一个方面的用于设置光盘装置的最佳擦除功率的第三调制度曲线的图形；图5B是根据图5A的擦除功率的第三OPC偏差曲线的图形。
具体实施例方式
现在将详细介绍本发明的方面，其示例在附图中图示，其中相同的附图标记始终表示相同的元素。以下描述所述方面以便通过参照附图描述本发明的方面。
图1是图示一般的光盘装置1的框图。光盘装置1包括数字信号处理器(DSP)22、信道比特编码器18、光驱动单元16、光拾取器12和RF信号处理器20。而且，光盘装置1还包括驱动器26，其用于驱动光拾取器12和主轴马达14；伺服机构24，其用于控制驱动器26的操作；存储单元32，其用于存储各种数据；和控制器30，其用于控制光盘装置1的全部操作以及包括OPC操作的记录操作。
数字信号处理器(DSP)22包括数字记录信号处理器(DSP记录)，其将纠错码(ECC)等添加到输入数字数据，以便将输入数字数据转换成记录格式的数据；和数字播放信号处理器(DSP播放)，其基于相位与RF信号处理器20的二进制信号同步的时钟信号，从所接收的二进制信号中恢复原始数据。
信道比特编码器18将从数字信号处理器22输出的记录格式的数据再转换(reconvert)成比特流，以便将该数据输出到光驱动单元16。
光驱动单元16将基于输入信号的光量信号输出到光拾取器12的激光二极管。
光拾取器12根据输入光量信号将数据记录到光盘10，并且检测从光盘10的记录表面反射的激光，以便将相应的数据信号输出至RF信号处理器20。
RF信号处理器20对在光拾取器12中检测到的信号进行整流以便输出二进制信号。伺服机构24基于光拾取器12的跟踪错误信号(tracking error signal，TE)、聚焦错误信号(focusing error signal，FE)以及光盘10的转动速度来控制驱动器26的操作。
控制器30控制包括光驱动单元16和伺服机构24的光盘装置1的全部操作。更具体来说，例如，当将新光盘10插入光盘装置时，控制器30将与所插入的光盘10相关的信息存储在存储单元32中。在被存储之前，在控制器30读取光盘10的导入区(lead-in area)中的数据时获取该信息。而且，当输入将数据记录到所插入的光盘10的命令时，控制器30控制OPC操作以便获得诸如10的相应光盘的最佳记录功率。如上所述，控制器30控制光盘装置1以便进行如下操作将光拾取器12移动至对应于PCA的位置以便执行OPC；当记录测试数据时按照一定量顺序地增加记录功率；当完成测试数据的记录时播放所记录的数据；基于播放特征设置最佳记录功率；以及然后将数据记录在光盘10中。
当所插入的光盘10是在其上已经执行了许多记录的诸如蓝光盘等的可重复记录光盘时，PCA可能没有未被记录的部分或PCA可能具有部分地记录任意数据等的混合部分。当在这样的光盘中的PCA上执行OPC时，所检测到的记录功率的可靠性被降低。因此，最好在执行OPC之前擦除光盘中要执行OPC的区域以便增加OPC结果的可靠性。而且，虽然可能存在没有记录数据的PCA，但是最好执行PCA的擦除，因为这样将使在其上执行OPC的记录层的部分协调一致(harmonize)。换句话说，使记录层的所述部分统一(uniform)。因此，可以检测光盘的最佳记录功率。
此外，可能存在这样的情况，其中，虽然光盘的光盘信息(disc information)包括由光盘制造商提供的关于擦除功率等的信息，但是该信息是一般性的，而没有考虑各种不同光盘装置和光盘的组合。因此，可能不可以用该光盘的最佳擦除功率来操作每个光盘装置。
因此，以下是根据本发明的一个方面确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法的描述。在该方面中，可以通过使用功率对调制度曲线(power tomodulation curve)确定最佳擦除功率来获取最佳OPC性能结果。
图2是描述根据本发明的一个方面的用于执行由光盘装置的最佳擦除功率的设置产生(resulting from)的OPC操作的方法的流程图。将详细参照图3A和3B、图4A和4B以及图5A和5B来描述根据本发明的一个方面的确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法。在图3A、4A和5A的每个中，x轴表示施加到光拾取器12的激光二极管(LD)用来调整入射到光盘上的光量的功率，而y轴表示相对于施加到LD的功率而获得的调制度。此外，在图3B、4B和5B的每个中，x轴表示用作擦除功率的功率，而y轴表示当在使用该擦除功率擦除执行OPC的区域之后执行OPC时产生的OPC性能的偏差。图3A、4A和5A一般分别对应于图3B、4B和5B。
当插入诸如10的光盘并且然后在操作S210中将指示要将数据记录在所插入的光盘上的命令输入到控制器30中时，在操作S220中，控制器30控制光拾取器12等以搜索或定位功率校准区域(PCA)。如上所述，当所有PCA充满测试数据以至没有可记录的区域时，或者即使PCA部分地充满测试数据，都最好要擦除PCA，以便产生高度可靠的OPC结果。因此，执行用于计算最佳擦除功率的处理。
首先，在操作S230中，在一定记录功率被改变或变化时，将测试数据记录在光盘的一定部分中，其被称为PCA。当记录功率被改变或变化时，记录在光盘中的测试数据的调制度(modulation)m被改变或变化。该调制度m由下面等式表示。
m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax表示光信号中岛(land)部分的RF信号的幅度(amplitude)，而(Imax-Imin)表示播放RF信号的幅度。
更具体来说，当记录功率降低时，播放RF信号的幅度也减小，从而减小调制度m。另一方面，当记录功率增加时，调制度m也增加。
将在记录功率被改变或变化时获得的调制度m存储在存储单元32中。在操作S240中，所获得的调制度m被用来计算对于变化的功率的功率对调制度曲线。然后，在操作S250中，当控制器30搜索调制度m发生急剧变化(steeply changed)(例如功率对调制度曲线的斜率开始变陡)的调制度曲线(也被称为功率对调制度曲线)部分时，控制器30参照所存储的调制度m。可以通过将调制度m与一个或多个参考值进行比较来确定调制度m发生急剧变化的部分。例如，可以作为当记录功率增加特定量时产生的对应于每个记录功率的调制度差并且将该调制度差与参考值进行比较，来搜索或检测调制度m发生急剧变化的调制度曲线部分。可以基于实验来设置适当的参考值。在另一示例中，由于当记录功率相对较小时调制度几乎为0，所以可以将适当的参考值设置在刚刚高过调制度的低值(low value ofmodulation)的值。之后，当对应于记录功率的调制度超过该参考值时，可以将这样的调制点确定为调制度急剧变化的部分。
存在许多找出上述调制度的方法。
如在图3A、4A和5A中所示，调制度曲线保持在几乎为0，直到在功率对调制度曲线在一定功率处开始急剧增加。调制度的突然增加可以被解释为坑(pit)开始形成在光盘中。即，这样的状态可以被确定为数据开始被记录在该光盘上的时刻(point)。功率对调制度曲线在较高记录功率处开始变平(leveloff)。在本发明的各个方面中，所施加的用来开始获得功率对调制度曲线的初始记录功率可以是任何功率值，或由光盘或光盘装置制造商提供的功率值。而且，初始记录功率可以是低于或高于所提供的功率值的任何数值。换句话说，初始记录功率的应用不需要在0处开始。
图3B、4B和5B示出相对于分别在图3A、4A和5A中使用的功率的各个OPC偏差。图3B、4B和5B能够让人大概地(generally)确认最佳擦除功率应当被设置在对应于在功率对调制度曲线中调制度m发生急剧变化的位置的功率处。在图3B、4B和5B中，可以理解在功率(被指定为擦除功率)相对较小(例如，在图3B中低于约1.5mW的功率)的部分中OPC偏差相对较小，其中对应于OPC偏差的调制度急剧增加(例如，在图3B中在约3和3.75mW之间的功率)，并且其中擦除功率相对很大(例如，在图3B中约4mW的功率)。然而，在三种可能的选择中，对应于其中擦除功率相对很小的部分的功率不能被用作最佳擦除功率，原因在于擦除功率相对很小的部分中的PCA的数据没有被擦除。而且，对应于OPC偏差的调制度很大的部分的功率的部分不能被用作最佳擦除功率，这是因为较大的施加的电压使包括诸如LD等的光拾取器12的光盘装置不稳定。
因此，如图3A至5B所示，用来确定最佳擦除功率的功率对调制度曲线的适当部分是对应于得到(found)急剧的调制度增加的部分的功率。这样的部分表示光盘的记录层对于施加到该部分的功率敏感处。因此，使用该部分的功率作为光盘的擦除功率可以有效地使光盘的记录层协调一致，并避免所获得的擦除功率太弱或太强。
而且，在功率对调制度曲线中调制度开始急剧变化的部分之外(beyond)的部分展示出相对于光盘较小的功率变化的较大的调制度变化。因此，当对应于这样的部分的功率被用作擦除功率时，OPC偏差很大并且很成问题。因此，最好使用在功率对调制度曲线中调制度急剧或突然变化的部分与当将所述突然变化点乘以小于1的一定系数时获得的该曲线的部分之间得到的擦除功率。这使得在操作S260中获得最佳擦除功率，从而获得优选的OPC结果。
之后，在使用通过上述处理获得的擦除功率擦除PCA之后，在操作270中执行OPC。例如，OPC操作记录测试数据，然后再现所记录的数据以便通过重复执行OPC来检测最佳记录功率。一旦检测到最佳记录功率，那么在操作S280中将所检测到最佳记录功率用来基于所检测到的最佳记录功率设置各种参数。当检测到最佳记录功率时，在操作S290中使用所检测到的功率开始数据记录。
尽管不是在所有方面都有必要，但是本发明的要素可以被实现为软件和/或固件，以用于一个或多个处理器和/或计算机。而且，处理器和/或计算机可读介质可以编码有(encoded with)用于执行该方法的计算机和/或处理器可执行指令。
如上所述，根据本发明的方面的确定最佳擦除功率的方法可以有效地确定最佳擦除功率，以便在最佳状态下执行最佳功率校准(OPC)。
而且，由于有效地擦除功率校准区域(PCA)，所以可以减小OPC性能结果之间的偏差，使得能够增强光盘的记录质量。
此外，由于用适合的擦除功率执行擦除擦作，所以能够最小化对光盘的损伤。
尽管已经示出和描述了本发明的几个实施例，但是本领域的技术人员将理解，在不背离发明的原理和精神的情况下，可以对这些实施例做出改变，而本发明的范围定义在权利要求书及其等同物中。
权利要求
1.一种在执行用于检测光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前的擦除操作中确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法，该方法包括获取功率对调制度曲线，其中改变施加的功率以便调整入射到光盘上的光量；根据功率对调制度曲线中的功率的变化计算调制度的变化量；以及使用所计算的调制度的变化量设置最佳擦除功率。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述获取操作还包括在光盘的一定部分中记录测试数据，其中，当播放所记录的测试数据时获取所述功率对调制度曲线。
3.如权利要求2所述的方法，其中在施加的功率按照一定量顺序地改变时，将所述测试数据记录在光盘的一定部分。
4.如权利要求2所述的方法，其中所述光盘的一定部分是形成在光盘上的功率校准区域(PCA)。
5.如权利要求1所述的方法，其中所述设置操作包括将最佳擦除功率设置为在功率对调制度曲线中紧接在调制度变化量最大的部分之前的部分的功率。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述调制度的变化量最大的部分是在功率对调制度曲线中调制度的变化量具有最大增加量的部分，其中最佳擦除功率被设置在紧接在调制度变化量最大的部分之前的功率与通过将该部分之前的功率乘以预定系数而获得的功率之间的功率范围内。
7.一种在执行用于检测光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前的擦除操作中确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法，该方法包括将测试数据记录在所述光盘的一定部分；在所述测试数据开始被记录在所述光盘的一定部分上时检测施加到激光二极管的功率；以及将包括所检测的功率的一定范围设置为所述最佳擦除功率。
8.如权利要求7所述的方法，其中当激光二极管的施加功率改变时，记录所述测试数据。
9.如权利要求7所述的方法，其中使用功率对调制度曲线来检测在测试数不清据开始被记录在所述光盘的一定部分时的功率。
10.如权利要求7所述的方法，其中所述光盘的一定部分是形成在所述光盘上的功率校准区域(PCA)。
11.如权利要求9所述的方法，其中在所述测试数据开始被记录在所述光盘的一定部分时的功率是在紧接在功率对调制度曲线的斜率急剧变化的部分之前的部分的功率。
12.如权利要求7所述的方法，其中包括所检测的功率的所述一定范围在所检测的功率与通过将所检测到的功率乘以预定系数而获得的功率之间。
13.如权利要求1所述的方法，其中所述调制度m表示为m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信号中岛部分的RF信号的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信号的幅度。
14.如权利要求9所述的方法，其中所述调制度m表示为m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信号中岛部分的RF信号的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信号的幅度。
15.一种执行如权利要求1所述的方法的光盘装置。
16.一种执行如权利要求7所述的方法的光盘装置。
17.一种确定光盘装置中的最佳擦除功率的方法，包括通过改变所施加的功率并检测结果的调制度来获得功率对调制度的关系；以及基于所获得的功率对调制度的关系设置最佳擦除功率。
18.如权利要求17所述的方法，其中所述结果的调制度表示为m＝(Imax-Imin)/Imax，其中Imax是光信号中岛部分的RF信号的幅度，而(Imax-Imin)是播放RF信号的幅度。
19.如权利要求17所述的方法，还包括使用所述最佳擦除功率来擦除光盘表面上的数据。
20.如权利要求17所述的方法，还包括在设置所述最佳擦除功率之后执行最佳功率校准(OPC)以便确定最佳记录功率。
21.一种使用光盘装置确定光盘的最佳擦除功率的方法，该方法包括基于所获得的功率对调制度的关系来设置最佳擦除功率；以及在执行最佳功率校准(OPC)之前，使用所设置的最佳擦除功率来擦除光盘中要执行最佳功率校准(OPC)的部分，以便增加OPC结果的可靠性。
22.如权利要求21所述的方法，其中执行擦除所述光盘的所述部分以便使所述光盘的所述部分协调一致。
23.如权利要求21所述的方法，其中将所述最佳擦除功率设置在所获得的功率对调制度的关系的斜率大于预定值的功率处。
24.如权利要求21所述的方法，其中将所述最佳擦除功率设置在对应于功率的调制度超过预定值的功率处。
全文摘要
一种在光盘装置中确定最佳擦除功率的方法，在执行用于检测光盘的最佳记录功率的最佳功率校准(OPC)之前检测擦除操作中的最佳擦除功率，该方法包括获取功率对调制度曲线，其中改变施加的功率以便调整入射到光盘上的光量；根据在功率对调制度曲线中的功率的变化计算调制度的变化量；以及使用所计算的调制度的变化量设置最佳擦除功率。因此，用最佳擦除功率擦除执行了OPC的部分，然后执行OPC，使得可以获得具有相对较高的可靠性的OPC性能结果。
文档编号G11B7/125GK101025954SQ200710002560
公开日2007年8月29日 申请日期2007年1月26日 优先权日2006年2月21日
发明者高钟珍, 白智善, 刘真雨 申请人:三星电子株式会社