专利名称：闪存检测分类方法
技术领域：
本发明涉及闪存存储领域，尤指一种闪存检测分类方法，其可将闪存 精确分类，充分利用闪存容量。
背景技术：
闪存闪存是Flash Ram的音译。闪存作为一种非挥发性(简单说就 是在不加电的情况下数据也不会丟失，区别于目前常用的计算机内存)的 半导体存储芯片，具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，是移动 数码产品的理想存储介质，目前，其普遍应用在数码电视、数码便携式摄 像机、移动电话、数码相机、掌上电脑(PDA)、游戏机、MP3播放器等设 备中，闪存的种类大致分为储存容量大的数据存储型(NAND)和处理 速度快的代码存储型(NOR)两种。
闪存的结构特点，其是由很多个块(block)组成，每个块(block)包 括64页(page),每一个页(page)包括4个扇区(sector)。
闪存的特定不是很稳定，其一般来说，都会有坏块，所以，要在使用 前，将坏块数找出来，屏蔽坏块数，防止写文件时写到坏块区，造成文件 丢失。
另外，为了充分利用不同容量的闪存，现有的办法是4艮据闪存的坏块 数来为闪存分类，将闪存分为不同的级别，以将不同级别的闪存作不同的 用处。
如图l所示，现有的检测分类方法，主要包括以下步骤
步骤101:将闪存设于控制芯片厂家生产的测试架上； 步骤102:将测试架连接到测试单元上， 一个测试单元可连接多个测 试架；
步骤103:通过安装在测试单元中的量产模块，可以扫描出闪存的好 坏块；
步骤104:根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。
其中，安装在测试单元中的量产模块，是用来提供给卡生产厂商批量 生产存储卡的，功能包括卡扫描、格式化和生产选项配置。在进行每种 卡产品前，首先要配置好参数，然后量产模块根据参数扫描、格式化卡， 并将需要的文件写入到卡，完成生产。
利用上述的分类方法，是可以4艮据扫描结果，将闪存分为不同的级别， 但是，由于闪存本身的特性所限，其本质是不稳定的，即本次扫描的坏块， 下次再扫描不一定是坏块，而本次扫描的好块，下次再扫描不一定还是好 块，因此，这种静态分类方法较为粗略，不精确。
另外，根据扫描结果，将闪存分为不同的等级，不同等级的闪存用于 不同i也方。
即使这样，由于闪存的不稳定性，扫描时的好块，如果在使用过程中 发现是坏块的话，将会影响闪存的使用。
发明内容
本发明的主要目的是提供了一种闪存检测分类方法，其可克服现有检 测方法的缺陷，对闪存进行精确分类。
本发明的次要目的在于提供一种闪存的动态补偿方法，其可对存在坏 块的闪存进行动态补偿，确保数据安全。
为了实现上述发明的目的，本发明所采用的技术方案为
一种闪存检测分类方法，其包括
按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作才莫式扫描闪存样品； 根据扫描结果，找出闪存特性；
将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上； 通过量产工具，才艮据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况； 根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。
所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，奇 数块的坏块比例较偶数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时， 其对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。
所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，其找出的闪存特性为， 偶数块的坏块比例4支奇数块高；则在通过量产工具对闪存进行再次扫描时， 对奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。
所述的闪存检测分类方法，其在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其 闪存按顺序写入是正确的，但随机写入会出错。
所述的闪存检测分类方法，其还包括以下步骤
将闪存中预留 一组好块作为替换块；
通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换。 所述的闪存检测分类方法，其还包括以下步骤将坏块放在该组好块 后面。
采用上述方法后，由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫 描方法，即读写操作模式扫描闪存样品，这种先利用前期的扫描总结出闪 存特性，再利用静态的分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类， 更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态 补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。
图1为现有技术中闪存的分类方法流程图； 图2为本发明方法的流程图。
具体实施例方式
本发明提供一种闪存检测分类方法，包括步骤按照闪存类别抽出部 分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存 特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；将测试 架连接到电脑主机上；通过安装在电脑中的量产工具，才艮据闪存特性来扫 描闪存的好坏块情况；才艮据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。
在该检测分类方法中，其主要是在静态分类前，先采用特殊的扫描方 法，即读写操作模式扫描闪存样品，每种闪存都有它的特性，本领域的技 术人员都知道，如果能先利用前期的扫描总结出闪存特性，再利用静态的 分类方法针对特性来分，比只利用静态方法分类，更为准确。
另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿， 可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和实 施方式对本发明作进一步的详细说明。
图2出示了本发明的流程图，如图所示，包括
步骤201:按照闪存类别抽出部分闪存样品；
闪存的类型主要有Norflash、 AG-AND flash、 Nand flash。每种闪存 都具有不同的特性。
NOR的特点是芯片内执行(XIP， eXecute In Place),这样应用程序可以 直接在flash闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中。NOR的传输效 率很高，在1~4MB的小容量时具有很高的成本效益，但是很低的写入和 擦除速度大大影响了它的性能。
NAND结构能提供极高的单元密度，可以达到高存储密度，并且写入 和擦除的速度也很快。应用NAND的困难在于flash的管理和需要特殊的 系统j妻口。
AG-AND Flash,拥有高速写入的特性，不但组件大小和NAND型接 近，而且拥有高速写入的速度10MB/s，比起一般NAND型4MB/s快上2.5
倍。
即使为同一种类型的闪存，其不同的批次，可能特性都不相同，所以， 首先要一个批次中抽出闪存样品。
步骤202:用读、写操作模式扫描闪存样品；
在闪存未初始化之前，只能通过读或写的操作模式扫描闪存，了解其 内部的特性。
步骤203: 4艮据扫描结果，找出闪存特性；
比如扫描闪存的结果发现奇数块的坏块比例较偶数块高；或者是发 现偶数块的坏块比例较奇数块高；
步骤204:将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；
一个测试架可以i殳一个闪存，在测试时，可以同时4吏用一组测试架， 一般是16个，但为了节约成本和时间，最好是将特性相同的闪存一起设在 测试架上，如一组全是奇数块的坏块比例较偶数块高的闪存，或全是偶数 块的坏块比例较奇数块高的闪存，这样，测试时，可采用相同的测试方法。
步骤205:通过量产工具，才艮据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；
比如，若扫描的闪存特性是奇数块的坏块比例较偶数块高；则在扫描 时，对偶数块扫描一次，对奇数块进行多次扫描。
若扫描的闪存特性是偶数块的坏块比例较奇数块高，则在扫描时，对 奇数块扫描一次，对偶数块进行多次扫描。
在扫描闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但 随机写入会出错，对于这种类型的闪存，就要重点多次扫描。
步骤206:根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。
一般来说，会将几乎没有坏块的闪存定义为I级；将只有少数的坏块 的闪存定义为II级；依次累推。
虽然按照扫描结果将闪存分为了不同的等级，但是，由于闪存的不稳 定性，扫描时的好块，如果在使用过程中发现是坏块的话，将会影响闪存 的使用。
因此，为了更好地使用闪存芯片，将在分类的基础上，再对其进行动 态补偿，以确保数据安全。步骤207:首先在闪存中预留一组好块，将其定义为替换块。
步骤208:通过EDC(误码检测单元)及ECC (纠错单元)对闪存进行
扫描，然后将信息反馈回来，将两种信息进行对比，即可发现其中是否有
坏块，如果有，则用该组好块中的一个替换该坏块。
步骤209:被替换后的坏块，其可放置在该组好块后面。 若不断发现有坏块，当所有的好块替换完后，再将第一次被替换的坏
块当作好块去替换。
采用这种方法，因为该闪存芯片已被精确分过类，因此其坏块数并不
会很多，只是为了应付突然发现在的坏块数，并且，因为闪存本来的性能
不稳定，有时其发现的坏块并不是真正的坏块，只是在扫描时认为的坏块，
所以将坏块放在替换块后面，当下次有坏块时，就可以当作好块使用。
虽然通过实施例描绘了本发明，本领域普通技术人员知道，本发明有
许多变形和变化而不脱离本发明的精神，希望所附的权利要求包括这些变
形和变化而不脱离本发明的精神。
权利要求
1.一种闪存检测分类方法，其特征在于包括按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级。
2、 如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于在扫描 闪存中，找出的闪存特性为，奇数块的坏块比例4交偶数块高；则在通过 量产工具对闪存进行再次扫描时，其对偶数块扫描一次，对奇数块进行 多次扫描。
3、 如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于在扫描 闪存中，其找出的闪存特性为，偶数块的坏块比例较奇数块高；则在通 过量产工具对闪存进行再次扫描时，对奇数块扫描一次，对偶数块进行 多次扫描。
4、 如权利要求1所述的闪存检测分类方法，其特征在于在扫描 闪存中，找出的闪存特性为，其闪存按顺序写入是正确的，但随机写入 会出错。
5、 如权利要求1~4所述的闪存检测分类方法，其特征在于其还 包括以下步骤将闪存中预留 一组好块作为替换块；通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换。
6、 如权利要求5所述的闪存检测分类方法，其特征在于其还包 括以下步骤将坏块》文在该组好块后面。
全文摘要
本发明公开了一种闪存检测分类方法，其包括按照闪存类别抽出部分闪存样品；用读、写操作模式扫描闪存样品；根据扫描结果，找出闪存特性；将特性相同的闪存分别设于控制芯片厂家生产的测试架上；通过量产工具，根据闪存特性来扫描闪存的好坏块情况；根据扫描的结果，将闪存分为不同的等级；将闪存中预留一组好块作为替换块；通过检测，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换；由于该方法在现有的静态分类法前采用了特殊的扫描方法，比只利用静态方法分类，更为准确；另外，对于已经分类好的闪存，再利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的几率，更好的使用闪存。
文档编号G11C29/00GK101369463SQ20071007578
公开日2009年2月18日 申请日期2007年8月17日 优先权日2007年8月17日
发明者勤 范 申请人:芯邦科技(深圳)有限公司