激光刻录策略的最佳功率控制校正方法及光储存装置的制作方法

专利名称：激光刻录策略的最佳功率控制校正方法及光储存装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光盘记录技术，尤指一种用于光储存装置的激光刻录策略的 最佳功率控制的校正方法。
背景技术：
自从光学储存盘片幵始出现在市面上以来，便提供经济便利的方式来储 存及传递大量的数字信息。为了达到市场的平衡，受到从原先的高价格变成 目前人人负担得起的价格的影响，这些光盘的普及性大幅度地的提升。光学 储存盘片最为显著的优点之一在于能够可靠地记录(以及重新记录)信息的 能力，使得光学储存盘片在保有高信息完整性的情况下仍可以重复读取很多 次，有一部分是归因于信息是以数字的方式来储存。在目前随手可得的几种
光学储存媒体当中，有许多相当受欢迎的选择，如CD、 CD-R、 DVD、 DVD-R 以及蓝光光盘等。
一般而言，光盘是由光学堆栈制作而成，包含碳酸盐聚合物基底、感光 染色层、掺杂反射层以及表面保护涂层。取决于制作过程的不同，某些光盘 中可能另包含附加保护层，尽管如此，内含物的不同并不会影响到光盘的运 作。
为了将信息储存到光盘中，需利用光学储存装置将高功率激光光束聚焦 在感光染色层上，以产生信息标记的螺旋轨道来刻录信息。这些标记包含凹 槽(低反射区域)以及平坦区(位于标记之间的高反射区域)。这些凹槽以 及平坦区最后的图样即代表记录在光盘上的数字信息。这些信息之后可通过 光学读取机重新被撷取，目前的做法是将低功率激光光束聚焦在这些轨道标
记上并利用感光传感器上所收集到的反射光束来辨认。
因为这些记录标记的长度跟深度的精确与否关系到信息表示的正确性，
最佳功率控制(Optimum Power Control, OPC)的步骤通常是用来校正光盘 上用来记录信息的激光记录功率。然而，取决于制作材料或者为了配合不同 的刻录速度，制造业者可能采用不同厚度与不同光电特性的染色层。因此， 需要被记录在光盘上的激光记录功率的正确大小随着光盘不同而有所不同， 也许会取决于想要的记录速度。假使激光记录功率过高，则会造成凹槽以及 平坦区过大，在读取时会干扰到邻近的标记。假使激光记录功率过低，会造 成凹槽以及平坦区过小，以至于可能会造成读取错误或者失败。
因此，最佳功率控制(OPC)的步骤是依据所建议的最佳记录估算值(例 如，用来表示目标对称测量的目标对称性值)来校正光学储存装置的激光记 录功率。预定的记录功率设定(例如功率位准或者刻录策略)是用来作为在 光盘中的功率矫正区(称为功率校正区域一Power Calibration Area, PCA) 中进行刻录测试信息的起始点，可经由应用该预定设定周围的一连串各式各 样的记录功率设定而后读取到。通常将光盘上凹槽与平坦区的读取功率值之 间的差异转换成对称性值，以用来判断记录功率是否过低或者过高。 一个负 的对称性值代表记录记号过低(短少)，而一个正的对称性值代表记录记号 过高(长)。了解上述结果后，则光学储存装置可通过增加该记录功率来补 偿一个负的对称性值，并通过减少记录功率来补偿一个正的对称性值。通过 这种方法，可以找到一个符合特定记录速度、特定光盘或特定记录组合的最 理想的记录功率。
虽然最佳功率控制(OPC)程序是依据制造建议值来调整特定光盘的记录 功率位准，并不表示光盘上可能在制作过程所产生的不平整。举例来说，某 些光盘的反射率可能因为不同的区域而有所不同。图1与图2表示具有多变 的反射率的光盘的实施例。其中图1是显示具有对称且不一致的反射率的光 盘的示意图。光盘的左边拥有较右边高的反射率。这种现象称为不稳定 (Wobble)，可能会导致在制作的过程中在碳酸盐聚合物基底、感光染色层、
或者惨杂反射层发生不一致的现象。此外，假如光盘的表面变形、弯曲或者
蒙上灰尘，也会造成表面的反射率不同。图2是显示具有不对称且不一致的 反射率的光盘的示意图。其不一致处是不对称的，且反射率是依据光盘上局 部的区域而发生改变。
因此，假设在高反射率区域执行最佳功率控制(OPC)程序，倘若用同一 个高反射率来当作整个光盘的反射率，则用来记录整个光盘的记录功率可能 会太低。相反地，假设在低反射率区域执行最佳功率控制(OPC)程序，则用 来记录整个光盘的记录功率可能会太高。不论在哪一种情况，如果最后的记 录功率没有将整个光盘的平均反射率列入考虑，会造成不理想的光盘记录功 率位准。

发明内容
因此，本发明的主要目的在于提供一种激光刻录策略的最佳功率控制校 准方法以及用于校准最佳功率控制的光储存装置，以解决因光盘的反射率变 化而引发的光盘记录功率位准不理想的技术问题。
依据本发明提供的实施例，揭露一种激光刻录策略的最佳功率控制校正 方法。该校准方法包含在光盘上选取多个第一区段；将第一激光刻录策略 应用在每一个第一区段中。从每一个第一区段中读取第一特征值以得到多个
第一特征值。依据多个第一特征值来计算替代值。以及依据该替代值来校正 该第一激光刻录策略。其中，第一激光刻录策略包含激光功率或者刻录脉冲 波形设定。
依据本发明的实施例，本发明还揭露一种激光刻录策略的最佳功率控制 校正方法。该校准方法包含在光盘片上选取多个区段；选取多个激光刻录 策略，每一个激光刻录策略均不相同。将每一个激光刻录策略应用在至少两 个不同的区段中。从每一该多个区段中读取出特征值以得到多个特征值。依 据该多个特征值来计算一替代值；以及依据该替代值来校准该激光刻录策 略。
依据本发明实施例，揭露一种光储存装置，用于执行最佳功率控制校正， 该光储存装置包含控制器，用来在光盘上选取多个第一区段。光头，耦接 于控制器，用来将第一激光刻录策略应用在每一个第一区段中。以及特征值 检测器，耦接于该光头与该控制器，用来检测从每一个第一区段中所读取的
第一特征值以得到多个第一特征值。其中，控制器还用来依据多个第一特征 值来计算替代值以及依据该替代值来校正该第一激光刻录策略。
本发明所揭示的校正方法与对应的光储存装置综合考虑整个光盘的平 均反射率以推论出最适合整个光盘且更正确的记录功率位准，从而更有针对 性地执行最佳功率控制(OPC)操作。


图1是显示具有对称且不一致的反射率的光盘的示意图。 图2是显示具有不对称且不一致的反射率的光盘的示意图。
图3是依据本发明实施例说明如何在光盘上选取第一区段与第二区段的
示意图。
图4是依据本发明另一实施例说明如何在光盘上选取第一区段与第二区
段的示意图。
图5是依据本发明一实施例说明如何在光盘上选取多个区段的示意图。
图6a是显示具有对称且不平坦的反射率的光盘的示意图。
图6b对应图6a显示每一个象限的对称性值与激光记录功率的关系示意图。
图7a是显示在斜对角在线具有对称且不平坦的反射率的两平面的光盘 的示意图。
图7b对应图7a显示每一个象限的对称性值与激光记录功率的关系示意图。
图8是显示本发明一实施例用来处理最佳功率控制校正的光储存装置的 示意图。
图9是显示在光学储存装置中激光功率的最佳功率控制校正方法的流程图。
图10是显示在光学储存装置中另一激光功率的最佳功率控制校正方法 的流程图。
具体实施方式
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在说明书及权利有要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属 领域中具有通常知识者应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同 样的元件。本说明书及权利有要求书并不以名称的差异来作为区分元件的方 式，而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及后续的 请求项当中所提及的"包含"是为一开放式的用语，故应解释成"包含但不 限定于"。另外，"耦接" 一词在此包含任何直接及间接的电气连接方式。 因此，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则代表第一装置可直接电气连 接于该第二装置，或通过其它装置或连接方式间接地电气连接至第二装置。
如上所述，光盘容易遭受到设计及制造的不平整，假如只简单的将最佳 功率控制(Optimum Power Control, OPC)程序执行在局部区域上，则功率矫 正区(Power Calibration Area, PCA)无法提供最理想的记录功率位准给整 个光盘。这是因为此功率矫正区(PCA)可能只限制于一个局部区域，其所 包含的反射率可能跟其它区域的反射率不同。因此，本发明在执行最佳功率 控制校正程序时，考虑到光盘上每一个区段以解决上述的问题。通过这个方 法，必须考虑整个光盘的平均反射率以推论出整个光盘的较为正确的记录功 率位准或者刻录脉冲波形。
如现有技术所述， 一般最佳功率控制校正流程通常包含将一系列的测试 记录功率位准应用在此功率矫正区上，其中每一个特定的功率位准一次只能应用在一个单独的区段上。然而，在本发明中，将每一个特定的激光刻录策 略应用在多个区段上。这些激光刻录策略对应于激光记录功率或者激光记录 脉冲波形。如此一来，应用每一个特定的激光刻录策略可以得到很多的读取 值，允许利用整个光盘的平均读取值来补偿光盘的反射率的不平整与不一 致。
请参考图3，图3是依据本发明实施例说明如何在光盘上选取第一区段
与第二区段的示意图。提供光盘300，在其中选取出多个第一区段(如310、 320)。请注意，在本实施例中虽然只标示出两个第一区段，但在其它的实 施例可包含其它的第一区段。将第一激光刻录策略应用在第一区段310与 320中，接着，从每一个第一区段中读取第一特征值以得到多个第一特征值。 可依据这些第一特征值来计算出替代值(sub value),接着利用此替代值来决 定光学记录装置的第一激光刻录策略的最佳校正。
在本发明中，该第一特征值可以代表任何在应用第一激光刻录策略后从 该第一区段所取得的量化特征。在实施例中，第一特征值可以是一个对称性 值，而在其它的实施例中，它可以是RF峰对峰值、长度偏差值、边缘偏差 值或者比特错误率。举例来说，在美国专利申请号第10/906,397号中提到长 度偏差值，而在美国专利申请号第10/908,580号中提到边缘偏差值。这些特 征为本领域内技术人员所熟知，在此不再赘述。另一方面，第一激光刻录策 略可包含激光记录功率或者激光记录脉冲波形。
第一特征值的类型可以任意选择，且可依据使用者指定的特征来选择。 此时，替代值可以是这些第一特征值的统计平均(平均值、标准差等)，或 者用来计算或测量这些第一特征值的预定公式。替代值的结果可与预期的结 果做比较，以决定光学记录装置是否需要校正第一激光刻录策略。
为了确保这些第一区段在应用该第一激光刻录策略前的位置，该方法可 以使用相关信号来验证相关于光盘正确位置的光头发射第一激光刻录策略 的位置。在一实施例中，采用由霍尔信号传感器所得到的霍尔信号(FG
signal)。霍尔信号是由用来转动光盘的主轴马达所造成的霍尔效应而产生。 霍尔信号用来提供光盘的移动量的指针，可解释成在准确度范围内用来提供 该实体的相对位置。又或者，在读取光盘时由光头所提供的位址信号可在应 用第一激光刻录策略之前用来验证这些第一区段的位置。
在本发明另一实施例中，可在上述的实施例中另使用第二激光记录功 率。请继续参考图3，在光盘300中再选取出多个第二区段(例如330、 340)。 如同这些第一区段，此实施例中只标示出两个第二区段。然而，在其它的实 施例里可包含其它的第二区段。将第二激光刻录策略应用在每一个第二区段 中(330、 340)，其中第二激光刻录策略不同于第一激光刻录策略。接着， 从每一个第二区段中读取第二特征值以得到多个第二特征值。可依据先前所 得到的这些第一特征值以及这些第二特征值来计算出替代值，接着，可用新 的替代值来校正光学记录装置的激光刻录策略，其中更新后的替代值考虑了 由这些第一区段与这些第二区段所取得的这些第一特征值与这些第二特征 值。
在控制光学储存装置的激光功率时，第二激光刻录策略可考虑到较佳的 调整准确度。在大部分的实际应用中，在最佳功率控制时激光记录功率不断 在变动，就其本身而言，从所供应的不同功率而得到的信息对于检测记录时 的最佳功率很有帮助。
第二激光刻录策略的应用，可以设计成只有在上述的第一激光刻录策略 进行第一阶段调整之后，被认为是必须的才被采用。假如使用这些第一区段 与第一激光刻录策略来执行上述的方法后，替代值并没有落在一个正确的预 定范围内，此时第二激光刻录策略可用来收集更多关于微调此激光刻录策略 的信息。可在光盘300上选取多个第二区段。将第二激光刻录策略应用在所 选取的每一个第二区段中，其中，第二激光刻录策略不同于该第一激光刻录 策略。然后，从每一个第二区段中读取第二特征值以得到多个第二特征值。 此时，替代值可依据先前所得到的多个第一特征值与这些第二特征值而计算
出。接着，依据更新后的替代值来执行光学记录装置的激光刻录策略校正， 其中更新后的替代值考虑了第一区段与第二区段的第一、第二特征值。
在应用此第二激光刻录策略时，每一个第二区段可相邻于一个不同的第 一区段，因此可依序来执行(例如先执行第一区段，然后执行第二区段)。 其中，在将第一激光刻录策略应用于相邻于特定第二区段的第一区段之后， 将第二激光刻录策略应用在特定第二区段中。此第二激光刻录策略可按照不 同于上面的顺序来执行。将此第二激光刻录策略应用在第二区段上的顺序可 以不需要按照执行第一激光刻录策略的顺序，而且在不同的实施例中可以有 不同的顺序。
与第一特征值相似，第二特征值可以是对称性值、RF峰对峰值、长度 偏差值、边缘偏差值或者比特错误率。因此，替代值可以由各种不同类型的 特征值来决定，尤其是依据所选择的第一特征值与第二特征值的类型来决 定。
第一激光刻录策略与第二激光刻录策略可分别对应于不同的激光记录 功率。而且，第--激光刻录策略与第二激光刻录策略可分别对应于不同的激 光记录脉冲波形。再者，第一激光刻录策略可由使用者指定的形式来选择。
图3中说明光盘300是以任意的方式来选择第一区段(310和320)以 及第二区段(330和340),当这些区段的分布较均匀时，可使用较有条理 的方式。图4是依据本发明另一实施例说明如何在光盘上选取第一区段与第 二区段的示意图。其中，这些第一区段(例如410、 430)由光盘400上的螺 旋轨迹的其中一环来选择。请注意，为了方便说明起见，图4与接下来的附 图中，以同心环测试记录区段来代替螺旋轨迹。另外，这些第二区段(例如 420、 440)可由同一个螺旋环来选择。假如替代值可由分布较均匀的第一区 段与第二区段来决定，如此一来，这种配置可以提供较佳的校正结果。如前 面所描述的，分别由第一区段与第二区段所取得的第一特征值与第二特征值 可分别为对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、边缘偏差值或者比特错误
率。第一特征值与第二特征值可以为不同类型，正如同在本发明中它们不一 定要完全相同。在某些实施例中，不同的特征值可以由该光盘中不同的区段 取得，用以校正激光刻录策略。
在前面的实施例中，只提到使用一种或者两种激光刻录策略，但最佳功 率控制校正在更多实际的应用上可以采用多个激光刻录策略来判断其特性。
本发明另一最佳功率控制校正的方法是使用较大范围的记录功率，将在图5
中详细说明。虽然在这个范例中只标示出由螺旋环所选择的区段，请注意，
这只是用来说明而已，而在其它的实施例中，可包含其它由光盘500任意选 取出的区段。这些所选取出来的区段分布于居中的位置，但其也可适用于各 式各样的组合或者排列，只要这些组合或者排列符合本发明的精神。
图5是依据本发明一实施例说明如何在光盘上选取多个区段的示意图。 光盘500包含从当中所选取出的多个区段(例如510—545)。为了使此实施 例更加清楚，再进一步将这几个区段划分成四个象限第一象限(510—515)、 第二象限(520 — 525)、第三象限(530—535)以及第四象限(540—545)。 将这些区段划分成象限并非是操作本发明的方法的必要条件，而是用来说明 本发明的方法。
接着，选择多个激光刻录策略，其中每一个激光刻录策略各不相同。将 每一个不同的激光刻录策略应用在这些区段中至少两个相异的区段上。举例 来说，可将一个激光刻录策略应用在每一象限的其中一个区段上(如区段 510、 520、 530、 540)，而将另一个激光刻录策略应用在每一象限的另一个 区段上(如区段511、 521、 531、 541)，以此类推，将所有的激光刻录策略 应用在不同的区段上。之后，从每一个区段中得到一个特征值。如同前面的 例子，该特征值可以是对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、边缘偏差值 或者比特错误率。接着，可由上面所得到的特征值来计算替代值，并用来进 行光学储存装置的激光刻录策略的最佳校正。
因此，替代值须将每一个区段在应用不同的激光刻录策略后所产生的每
一个特征值都列入考虑。因为某些区段应用相同的激光刻录策略，为了考虑 到整片光盘的激光功率有较佳的校正，替代值可以从这些区段的平均或者计 算结果来得到。替代值可以是这些特征值的统计平均，或者由使用者依据特 定校正策略所包含的预定公式来计算。
另外，当光盘上的功率位准呈现有条不紊的变化及分布时.，每一个不同 的激光刻录策略可以应用在不相邻的区段上(如上述的范例)。然而，应用 不同的激光记录功率的顺序可以任意变化或者依照一定的顺序，都是符合本 发明的精神。
与一开始所描述的方法一致，这些区段可由光盘的螺旋环来选择或者任 意选择。而且，这些激光刻录策略可分别对应到不同的激光记录脉冲波形或 者不同的激光记录功率。
通过本发明提供的范例来进一步说明以上方法，请参考图6a、图6b与 图7a、图7b。图6a是显示具有对称且不平坦的反射率的光盘600的示意图。 尤其从垂直线上来看，反射率是对称但不连续的，右边的反射率小于左边的 反射率。且在此实施例中，为了清楚说明，同样将光盘600分成四个象限 均具有较低的反射率的第一象限601与第二象限602，以及均具有较高的反 射率的第三象限603与第四象限604。
从光盘中选取多个区段，以第一象限601的区段Pll、 P12…Pln、第二 象限602的区段P21、 P22…P2n、第三象限603的区段P31、 P32…P3n及第 四象限604的区段P41、 P42…P4n来说明。将第一激光刻录策略应用在每一 个象限的一个区段，如区段Pll、 P21、 P31、 P41;然后将第二激光刻录策 略应用在每一个象限的另一个区段，如区段P12、 P22、 P32、 P42;重复上 述的步骤，直到将最后一个激光刻录策略应用在最后一个区段。通过从每一 个区段所取得的特征值，可以得到如图6b所示的关系图，图6b对应图6a 显示每一个象限的对称性值与激光记录功率的关系示意图。
依据每一个象限对照特定的激光刻录策略可以推论出所撷取到的特征
值的图形。在图6b中，为方便说明，将激光刻录策略视为激光记录功率(横 轴)，而特征值被选为对称性值(纵轴)。每一个象限所表示的每一个对称 性值的曲线分别以(31、 P2、 P3及(34来表示。在图中显示出当所应用的激光 记录功率愈高，则对应的对称性值愈高。再者，那些拥有较低反射率的象限
(如601、 602)，其对称性值低于那些拥有较高反射率的象限(如603、 604) 的对称性值。依据这些不同的对称性值的曲线所提供的信息可以产生平均值
(3average，有助于激光功率的校正。利用平均值^verage所得到的校正可以提供 更正确的设定使得整个光盘的激光功率更有效。
其中，图7a是显示在斜对角线具有对称且不平坦的反射率的两平面的
光盘的示意图。其中，沿着光盘700的斜对角线的两平面具有对称但不连续
的反射率。这个情况相当于先前的实施例，只不过在坐标系统上稍微旋转， 可以预料到会得到类似的结果。但为了更清楚说明，有必要继续叙述此实施 例。在这个实施例中，右下方的反射率小于左上边的反射率。同样地，将光
盘700分成与上述类似的四个象限，可以看到第一象限701与第三象限703 具有不连续的反射率，而第二象限702仅具有纯粹的低反射率、第四象限704 仅具有纯粹的高反射率。
将图6a同样的步骤应用在图7a中所示的光盘中，可以得到如图7b所 示的每一个象限的对称性值与激光记录功率的关系图。每一个象限所表示的 每一个对称性值的曲线分别以pi、 P2、 p3及(34来表示。可以看到pi及p3的 曲线在每一象限的反射率不连续处形成交叉。此外，第四象限704仅具有较 高的反射率(对应于较高的(34)，而第二象限702仅具有最低的反射率(对 应于最低的P2)。虽然这个例子中每一个单独的对称性值曲线变化较复杂，
这是由于坐标转了一个角度，我们注意到平均值pa，ge与图6b所得到的平 均值(3average类似。两者为类似的例子，不同之处只不过在于一个旋转角度的 不同。本例子显示出局部的对称性值(例如局限于某一单独的相限)可依所 选的区域不同而有所改变。然而，假设将更多的区域都考虑进去，不论过程
中所使用的坐标系统为何者，对于整个光盘而言可以推论出更正确的平均对 称性值。
图8是显示本发明一实施例用来处理最佳功率控制校正的光储存装置
800的示意图。如图8所示，光储存装置800包含控制器810，用来选择 光盘801上的多个第一区段；光头820耦接于控制器810,用来将第一激光 刻录策略应用在每一个第一区段；以及特征值检测器830，耦接于光头820 与控制器810，用来检测从光头820在每一个第一区段所读取到的第一特征 值以得到多个第一特征值。控制器810另用来依据这些第一特征值计算替代 值，以及依据此替代值校正光头820的激光功率。该替代值可以经由控制器 810所得到的统计平均来计算。
特征值检测器830可另包含用来检测对称性值的对称性值检测器831 ， 用来检测RF峰对峰值的RF峰对峰值检测器832，用来检测长度偏差值的长 度偏差检测器833，用来检测边缘偏差值的边缘偏差检测器834，以及用来 检测比特错误率的比特错误检测器835。请注意，特征值检测器830可由上 述任一个检测器来实现，或者由上述检测器的任一组合来实现。特征值检测 器830所检测到的第一特征值可以是对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、 边缘偏差值或者比特错误率值。
另外，主轴马达850用来转动光盘801;霍尔信号传感器860耦接于主 轴马达850与控制器810之间，用来产生霍尔信号以指示光头820与光盘801 的相对位置，使得控制器810可依据霍尔信号来验证这些第一区段的位置。 位址信号传感器840耦接于光头820与控制器810之间，用来提供位址信号 以指示光头820与光盘801的相对位置。这两个装置(860、 840)均提供信 号给控制器810以验证这些第一区段的位置。这两个信号可单独使用或者联 合使用，可视使用者所需的准确性范围而定。
在图8所示的光学储存装置800中，控制器810进一步用来从光盘801 中选择多个第二区段。光头820进一步用来将第二激光刻录策略应用在每一
个第二区段；特征值检测器830进一步用来检测从光头820在每一个第二区 段所读取到的第二特征值以得到多个第二特征值。然后，控制器810再依据 这些第一特征值以及这些第二特征值来计算替代值。
假设此替代值并非落在明确的预定范围内，且只有考虑到这些第一特征 值时，光学储存装置800可搭配这些第二特征值来做判断。在本实施例中， 控制器810进一步在光盘801中选择多个第二区段。如同先前的描述，光头 820将第二激光刻录策略应用在每一个第二区段，特征值检测器830进一步 用来检测光头820在每一个第二区段所读取到的第二特征值以得到多个第二 特征值。最后，控制器810依据这些第一特征值与这些第二特征值来计算出 替代值。
控制器810所选择出的每一个第二区段可相邻于不同的第一区段，其中， 光头820可在将第一激光刻录策略应用于相邻于特定第二区段的第一区段 后，将第二激光刻录策略应用在此特定第二区段中。
此外，由控制器810所选择的这些第一区段以及这些第二区段可由位于 光盘801中央的同一中心环来选择。由特征值检测器830所检测到的这些第 一特征值与这些第二特征值可为同一类型的数值，例如对称性值、RF峰对 峰值、长度偏差值、边缘偏差值或者比特错误率值。这些第一特征值与这些 第二特征值也可为不同类型的数值，取决于特定的实施例。
被光头所应用的第一激光刻录策略可以对应于激光记录脉冲波形或者 激光记录功率。在实施例中，应用于光头820的第一激光刻录策略与第二激 光刻录策略可分别对应至不同的激光记录功率。在其它的实施例中，应用于 光头820的第一激光刻录策略与第二激光刻录策略可分别对应至不同的激光 记录脉冲波形。
图9是显示在光学储存装置中激光功率的最佳功率控制校正方法的流程 图。在光学储存装置中，激光功率的最佳功率控制校正方法的流程900包含 有以下的步骤
步骤910:在光盘中选择多个第一区段。
步骤920:将第一激光刻录策略应用在每一个第一区段上。
步骤930:从每一个第一区段中读取出第一特征值，以得到多个第一特征值。
步骤940:依据这些第一特征值计算出替代值。 步骤950:依据此替代值校正激光刻录策略。
图10是显示在光学储存装置中另一激光功率的最佳功率控制校正方法 的流程图1000。流程1000包含步骤
步骤1010:在光盘中选择多个区段。
步骤1020:选择多个激光刻录策略，其中每一个激光刻录策略均不相同。 步骤1030:将每一个第一激光刻录策略应用在至少两个不同的区段上。 步骤1040:从每一个区段中读取出特征值，以得到多个特征值。 步骤1050:依据这些特征值计算出替代值。 步骤1060:依据此替代值校正激光刻录策略。
流程900与流程1000中的各步骤无须按照图中所标示的顺序且不一定
要连续，也能达到大致上相同的结果，也就是说，可以在其中插入其它的步 骤。
当考虑到光盘包含许多的区段且欲执行最佳功率控制的步骤时，通过本 发明提供的方法可以解决光盘上的反射率不一致的问题。将每一个独特的激 光刻录策略应用在多个区段上，其中，激光刻录策略可对应于激光记录功率 或者激光记录脉冲波形。因此，从每一个独特的激光刻录策略可以得到很多 个读取值，允许整个光盘取得一个平均的读取值以对不平整的光盘和不一致 的反射率进行补偿。通过这个方法，综合考虑整个光盘的平均反射率以推论 出 一个最适合整个光盘且更正确的记录功率位准。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡根据本发明所做的均等变化与修 饰，都属于本发明的保护范围。
权利要求
1.一种激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，该校正方法是用于光储存装置中，所述校正方法包含在光盘上选取多个第一区段；将第一激光刻录策略应用在每一所述多个第一区段中；从每一所述多个第一区段中读取第一特征值以得到多个第一特征值；依据所述多个第一特征值来计算替代值；以及依据所述替代值来校正所述第一激光刻录策略。
2. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述方法还包含在所述光盘上选取多个第二区段；将第二激光刻录策略应用在每一所述多个第二区段中； 从每一所述多个第二区段中读取第二特征值以得到多个第二特征值；以及依据所述多个第一特征值以及所述多个第二特征值来计算所述替代值。
3. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，当所述替代值并未落在特定范围内时，所述校正方法还包含在所述光盘上选取多个第二区段； 将第二激光刻录策略应用在每一所述多个第二区段中； 从每一所述多个第二区段中读取第二特征值以得到多个第二特征值；以及依据所述多个第一特征值以及所述多个第二特征值来计算所述替代值。
4. 如权利有要求3所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，每一所述多个第二区段分别相邻于所述多个第一区段的其中一者， 且在将所述第一激光刻录策略应用于相邻于特定第二区段的第一区段后，将 所述第二激光刻录策略应用在所述特定第二区段中。
5. 如权利有要求3所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述多个第一区段与所述多个第二区段选自位于所述光盘中心位置 的螺旋环。
6. 如权利有要求3所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述第一特征值与所述第二特征值为对称性值、RF峰对峰值、长 度偏差值、边缘偏差值或者比特错误率。
7. 如权利有要求6所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述第一特征值与所述第二特征值为不同类型。
8. 如权利有要求3所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述第一激光刻录策略与所述第二激光刻录策略分别对应于不同的 激光记录功率或者不同的激光记录脉冲波形。
9. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述多个第一区段选自位于所述光盘中心位置的螺旋环。
10. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述第一特征值为对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、边缘偏 差值或者比特错误率。
11. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述替代值为统计平均值。
12. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述第一激光刻录策略对应于激光记录功率或者激光记录脉冲波 形。
13. 如权利有要求1所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述方法还包含依据霍尔信号或者位址信号来验证所述多个第一区 段的位置。
14. 一种激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，所述校准方法包含在光盘片上选取多个区段；选取多个激光刻录策略，每一激光刻录策略均不相同； 将每一激光刻录策略应用在至少两个不同的区段中； 从每一所述多个区段中读取出特征值以得到多个特征值； 依据所述多个特征值来计算替代值；以及 依据所述替代值来校正所述激光刻录策略。
15. 如权利要求14所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述方法还包含将每一所述多个激光刻录策略应用在不相邻的区段 中。
16. 如权利要求14所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述特征值可包含对称性值、峰对峰值、长度偏差值或者比特错误 率。
17. 如权利要求14所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述多个区段选自位于所述光盘片中心位置的螺旋环。
18. 如权利要求14所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述替代值为统计平均值。
19. 如权利要求14所述的激光刻录策略的最佳功率控制校正方法，其特 征在于，所述多个激光刻录策略分别对应于不同的激光记录功率或者不同的 激光记录脉冲波形。
20. —种光储存装置，用于执行最佳功率控制校正，其特征在于，所述光 储存装置包含控制器，用来在光盘上选取多个第一区段；光头，其耦接于所述控制器，用来将第一激光刻录策略应用在每一所述 多个第一区段中；以及特征值检测器，其耦接于所述光头与所述控制器，用来检测从每一所述 多个第一区段中所读取的第一特征值以得到多个第一特征值； 其中，所述控制器还用来依据所述多个第一特征值来计算替代值以及依 据所述替代值来校正所述第一激光刻录策略。
21. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于 所述控制器还用来在所述光盘上选取多个第二区段； 所述光头还用来将第二激光刻录策略应用在每一所述多个第二区段中； 所述特征值检测器还用来检测从每一所述多个第二区段中所读取的第二特征值以得到多个第二特征值；以及所述控制器还用来依据所述多个第一特征值与所述多个第二特征值来 计算所述替代值。
22. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，若所述替代值并未 落在特定范围内-所述控制器还用来在所述光盘上选取多个第二区段； 所述光头还用来将第二激光刻录策略应用在每一所述多个第二区段中； 所述特征值检测器还用来检测从每一所述多个第二区段中读取的第二特征值以得到多个第二特征值；以及所述控制器还用来依据所述多个第一特征值与所述多个第二特征值来计算所述替代值。
23. 如权利要求22所述的光储存装置，其特征在于，由所述控制器所选 取的每一所述多个第二区段分别相邻于不同的第一区段；且所述光头还用来 在将所述第一激光刻录策略应用于相邻于特定第二区段的第一区段后，将所 述第二激光刻录策略应用在所述特定第二区段中。
24. 如权利要求22所述的光储存装置，其特征在于，由所述控制器所选取的所述多个第一区段与所述多个第二区段选自位于所述光盘中心位置的 螺旋环。
25. 如权利要求22所述的光储存装置，其特征在于，由所述特征值检测 器所检测到的所述第一特征值与所述第二特征值分别为对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、边缘偏差值或者比特错误率。
26. 如权利要求25所述的光储存装置，其特征在于，所述特征值检测器 还包含对称性值检测器，用来检测所述对称性值； RF峰对峰值检测器，用来检测所述RF峰对峰值； 长度偏差检测器，用来检测所述长度偏差值； 边缘偏差检测器，用来检测所述边缘偏差值；以及 比特错误检测器，用来检测所述比特错误率。
27. 如权利要求25所述的光储存装置，其特征在于，所述第一特征值与所述第二特征值为不同类型。
28. 如权利要求22所述的光储存装置，其特征在于，所述光头所采用的所述第一激光刻录策略与所述第二激光刻录策略分别对应于不同的激光记 录功率或者不同的激光记录脉冲波形。
29. 如权利要求22所述的光储存装置，其特征在于，由所述控制器所选取的所述多个第一区段选自位于所述光盘中心位置的螺旋环。
30. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，由所述特征值检测器所检测到的所述第一特征值为对称性值、RF峰对峰值、长度偏差值、边 缘偏差值或者比特错误率。
31. 如权利要求30所述的光储存装置，其特征在于，所述特征值检测器 还包含对称性值检测器，用来检测所述对称性值； RF峰对峰值检测器，用来检测所述RF峰对峰值； 长度偏差检测器，用来检测所述长度偏差值； 边缘偏差检测器，用来检测所述边缘偏差值；以及 比特错误检测器，用来检测所述比特错误率。
32. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，所述控制器还依据统计平均来计算所述替代值。
33. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，由所述光头所采用 的所述第一激光刻录策略对应于激光记录功率或者激光记录脉冲波形。
34. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，所述光储存装置还包含主轴马达，用来转动所述光盘；以及霍尔信号传感器，其耦接于所述主轴马达与所述控制器之间，所述霍尔 信号传感器用来产生霍尔信号以指示所述光头相对于所述光盘的位置；其中，所述控制器还依据所述霍尔信号来验证所述多个第一区段的位置。
35. 如权利要求20所述的光储存装置，其特征在于，所述光储存装置还 包含位址信号传感器，其耦接于所述光头与所述控制器之间，用来产生位址 信号以指示所述光头相对于所述光盘的位置；其中，所述控制器还用来依据所述位址信号来验证所述多个第一区段的 位置。
全文摘要
本发明提供一种激光刻录策略的最佳功率控制校正方法及光储存装置。该校正方法包含在光盘上选取多个第一区段，将第一激光刻录策略应用在每一个第一区段中，从每一个第一区段中读取第一特征值以得到多个第一特征值，依据这些第一特征值来计算替代值，以及依据替代值来校正激光刻录策略。本发明所揭示的校正方法与对应的光储存装置综合考虑整个光盘的平均反射率以推导出最适合整个光盘且更正确的记录功率位准，从而更有针对性地执行最佳功率控制操作。
文档编号G11B7/125GK101188115SQ20071018698
公开日2008年5月28日 申请日期2007年11月16日 优先权日2006年11月20日
发明者游志青 申请人:联发科技股份有限公司