光盘读取设备及其方法

专利名称：光盘读取设备及其方法
技术领域：
本发明涉及一种光盘读取设备及其操作方法，尤其但不排他地涉及 一种近场光盘读取设备。
背景技术：
如诸如紧致盘(CD)和数字通用盘(DVD)之类的存储盘格式的 流行所表明的那样，光盘存储已经被证明是一种有效的、实用的并且可 靠的数据存储和分布方法。
正在进行继续的研究来找到提高光盘容量的方式，特别是研发不断 地争取提供更高的数据密度，从而可以使给定尺寸的盘获得更高的容
提高容量过程中的一个问题在于，光学记录系统中能够记录在光盘 上的最大数据密度随着聚焦到光盘上的激光光点的尺寸相反地增减。光 点尺寸是由两个光学参数激光的波长X和物镜的数值孔径(NA)的比 确定的。在常规的光学器件中，该NA限于小于1.0的值。在所谓的近 场系统中，通过应用固体浸没透镜(SIL),能够使NA大于l.O,从而 允许进一步扩展到更大的存储密度。重要的是要注意，仅仅在与SIL出 射表面的极短距离(所谓的近场)内存在NAM,该距离通常小于光波 长的1/10。这意味着在光盘的写入和读出过程中，无论何时SIL与盘之 间的距离必须小于几十纳米。该距离称作空气间隙。
为了使机械致动器能够在这样小的距离上精确控制空气间隙，需要 适当的误差信号。如在F.Zijp, Y.V.Martynov, "Optical Storage and Optical information processing", Han-Ping D. Shieh, Tom D. Milster, 编辑， Proceedings of Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers,第4081 巻(2000),第21-27页；(2000年华盛顿贝灵汉(Bellingham )国际 光学工程学会)，ISSN 0277-786X/00; ISBN 0-8194-3720-4中提到的， 以及例如在F.Zijp, M.B. van der Mark, J丄Lee, C.A. Verschuren, B.H.W. Hendriks, M.L.M. Balistreri, H.P. Urbach, M.A.H. van der Aa， A.V. Padiy, "Optical Data Storage 2004，，， B.V.K Vijaya Kumar, Hiromichi Kobori编辑,Proceedings of Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers第 5380巻(2004)，第209-223页；(2004年华盛顿贝灵汉国际光学工程 学会)；ISSN 0277-786X/04中证明的，通过具有与聚焦在盘上的主光 束的偏振态垂直的偏振态的反射光获得良好的间隙误差信号(GES)。 绝大部分光在SIL-空气-盘界面处反射之后成为椭圆偏振光这样， 当通过偏振片观察该反射光时，产生了公知的马尔他十字效应(Maltese cross effect)。通过利用偏振光学器件和单一的光电探测器将所有的这 种马尔他十字光综合，生成该GES。
图1表示了根据现有技术的近场光盘读取器的实例(PBS-偏振分 束器；NBS-非偏振分束器)。图2表示了针对NA: 1.9的透镜和具有 相变记录叠层的光盘算得的作为空气间隙的函数的GES曲线。
即使是空气间隙较小的变化(比如l-5nm),也会对光点强度和 质量产生直接和严重的影响，并因此显著降低位探测性能。这与主要像 差是离焦的常规远场光学器件有很大区别。由于NA相对较小，因此在 这种情况下透镜与盘的距离发生较小变化(即聚焦误差)的影响不重要。 在近场光学器件中，通过渐逝波耦合的效能以及显著的偏振引起的影响 来确定光点形状。这些现象是显著非线性的，但是能够针对给定系统配 置进行计算。
因此，在这样的系统中，例如在盘高速旋转时(为了获得高数据速 率)出现的残留空气间隙误差对于光点属性具有强烈影响。在大多数情 况下(但不总是)，该影响对于空气间隙的增大是负面的(更宽的光点、 更大的像差)，而对空气间隙的减小是正面的(更窄的光点、更小的像 差)。 一般，变化的影响在于，由光盘读取器的位探测器生成的误差数 量增大。通常，包含误差校正电路(ECC)和方法，其可以使用盘上的 某些附加数据大大减少误差的数量。
然而，可能会导致误差率的增大。尤其是，如果空气间隙变化大于 某个量，则位探测电路会产生很多ECC可能无法校正的错误数据，从 而导致部分数据损失。当空气间隙变化快并且突然，使得探测电路中的 适应性手段不能及时补偿时，情况尤其如此。
因此，光学读取器的性能很大程度上依赖于误差校正编码之前的位 探测的误差率。 一种特别有效的探测位误差存在时的校正位值的技术称 作最大似然序列估计(MLSE)以及特别是部分响应最大似然(PRML)位探测。尤其是，通常将威特比算法(Viterbi algorithm )用于在存在介 质和电子噪声时从存储介质提取数据，该介质例如光盘。
PRML探测器依赖于针对不同可能的数据组合的度量值的确定。每 个度量值是对应于计算该度量所针对的数据组合的无噪声信号值的指 示。通过将从光盘接收的信号与该数据组合的期望信号值进行比较确定 这些度量值。然而，光点的尺寸以及因而码间干扰和对于给定数据组合 的期望响应强烈取决于该系统的空气间隙。图3表示了作为空气间隙函 数的数据光点的形状的实例。特别是，该图表示了针对SIL与硅盘之间 的几个空气间隙宽度以及仅针对玻璃而无硅盘，沿着(a) x轴和(b) y 轴的光点的归一化横截面。然而，光点尺寸和码间干扰的这样的变化可 能导致PRML探测器中探测误差率的增大。
因此，在常规的光盘读取器中，性能倾向于是次优的，并且改善的 光盘读取将是有利的，以及特别是可以减小误差率、改善适应性、易于 实现和/或改善性能的方法将是有利的。

发明内容
缺点中的一个或多个。
根据本发明的第一个方面，提供了一种光盘读取设备，其包括通 过读取光盘生成第一信号的盘读取器；响应于第一信号和数据基准信号 探测数据值的位探测器，所述数据基准信号表示不同数据序列的期望信 号；用于盘读取器的读取通道的脉沖响应特性；用于生成读取头位置误 差信号的误差信号装置；以及响应于读取头位置误差信号修改数据基准 信号的修改装置。
本发明可以允许获得一种改善的光盘读取设备。可以实现对从光盘 读取的数据的改善误差探测，这可以进一步允许大大减小所生成的输出 数据的误差率。本发明可以允许获得性能改善的低复杂度实现方式。本 发明特别可以使数据探测操作快速适应于动态物理条件。
本发明人已经认识到，如果例如空气间隙偏离标称值，则位探测性 能会降低，并且通过响应于读取器读取元件的位置指示修改所述基准信 号，能够改善该性能。
读取头位置误差信号可以表示光盘读取器读取元件的位置，该元件例如用于从光盘接收光束的透镜。特别是，读取头位置误差信号可以表 示读取透镜的位置，该读取透镜例如固体浸没透镜(SIL)。读取头位 置误差信号可以是表示绝对头位置或者相对于例如标称位置的头位置 的绝对值。读取头位置误差信号可以表示读取元件在一个或多个维度上
的位置。
该位探测器可以设置为响应于数据基准信号与(至少部分)第一信
号之间的比较而生成惩罚度量(penalty metric )。数据基准信号可以反 映出针对不同数据序列的第 一信号的期望值。所述数据基准信号可以对 应于不同数据序列的基准水平，并且可以响应于光盘和/或光学读取器的 读取通道的脉冲响应特性来确定。
位探测可以直接确定二进制值，或者可以通过确定非二进制数据码 元来间接确定位值。
根据本发明的可选特征，数据基准信号包括不同数据序列的基准水 平，并且所述修改装置配置为响应于读取头位置误差信号而修改至少一 个基准水平。
这可以允许获得改善的数据探测校正和/或易于实现。例如，可以由 基准水平单元(RLU)自动生成这些基准水平。
根据本发明的可选特征，所述修改装置配置为修改数据基准信号以 对应于对于增大的读取头位置误差信号的更宽脉沖响应。
这可以允许获得改善的数据探测。
根据本发明的可选特征，读取头位置误差信号是透镜间隙误差信
本发明可以通过允许位探测操作将读取元件与光盘之间的间隙变 化考虑在内而获得改善的性能。本发明尤其可以允许位探测将间隙的快 速变化考虑在内。该透镜间隙误差信号可以表示光盘表面与读取元件之 间的距离，并且特别可以表示基本上垂直于光盘平面的空气间隙。
根据本发明的可选特征，该误差信号装置设置为响应于来自光盘的 具有与主光束不同偏振方向的反射光的测量而确定头间隙误差信号。
这可以允许获得改善的位探测和/或易于实现。
根据本发明的可选特征，该头位置误差信号是表示相对于标称值的 偏差的相对信号。
这可以允许获得改善的位探测和/或易于实现。
7根据本发明的可选特征，所述修改装置设置为通过添加响应于读取 头位置误差信号确定的补偿数据基准信号值来补偿标称数据基准信号。 这可以允许获得改善的位探测和/或易于实现。
根据本发明的可选特征，所述修改装置设置为响应于读取头位置误 差信号与补偿数据基准信号值之间的预定唯一关系确定补偿数据基准
信号值。
这可以允许获得改善的位探测和/或易于实现。该唯一 关系可以对应 于读取头位置误差信号与补偿数据基准信号值之间的一对一关系。该唯 一关系可以例如通过测量、计算和/或模拟确定，并且可以允许获得高精 度的高效、低复杂度的位探测。
根据本发明的可选特征，所述修改装置设置为响应于读取头位置误 差信号与数据基准信号之间的预定唯一关系确定数据基准信号。
这可以允许获得改善的位探测和/或易于实现。该唯一关系可以对应 于读取头位置误差信号与数据基准信号之间的一对一关系。该唯一关系 可以例如通过测量、计算和/或才莫拟确定，并且可以获得高精度的高效和 /或低复杂度的位探测。
根据本发明的可选特征，该位探测器设置为执行部分响应最大似然
PRML位探测。
本发明可以允许诸如威特比探测器的PRML位探测器获得改善的
位探测。
根据本发明的可选特征，该光盘读取设备是近场光盘读取设备。 本发明可以允许获得近场光盘读取设备的改善性能。 根据本发明的另 一 个方面，提供了 一种光盘读取设备的操作方法， 该方法包括通过读取光盘生成第一信号；响应于第一信号和数据基准 信号探测数据值，所述数据基准信号表示不同数据序列的期望信号；生 成读取头位置误差信号；以及响应于该读取头位置误差信号而修改数据
基准信号。
冲艮据下文中描述的实施例，本发明的这些及其他方面、特征和优点 将是清楚明白的，并且将参照这些实施例来进行阐述。


参照附图，仅通过举例的方式描述本发明的实施例，在附图中
8图1表示了根据现有技术的近场光盘读取器的实例；
图2表示了算得的近场光盘读取器空气间隙的空气间隙误差信号函
数；
图3表示了作为空气间隙函数的数据光点形状的实例；
图4表示了根据本发明 一些实施例的光盘读取设备的实例；
图5表示了光盘读取器的基准水平单元的实例。
具体实施例方式
以下的描述着重在可用于近场光盘读取设备的本发明实施例上。然 而，可以理解，本发明不限于这个应用，而是可以用于许多其它光盘读
取器和系统。
图4表示了根据本发明 一些实施例的光盘读取设备的实例。 在本实例中，光盘数据读取器401从光盘403读取数据。存储在光 盘403上的数据是经过RLL (游程长度受限)编码的。此外，该光盘数 据读取器是从高密度光盘403读取数据的近场光盘读取器。该光盘数据 读取器401特别包括固体浸没透镜(SIL)，其受到控制以非常接近盘 表面放置。由此控制包括SIL的读取头，使得盘表面位于与SIL的出射 表面的极短距离(所谓的近场)处，该距离通常小于光波长的1/10。因 此，以NA〉1读取数据，从而在盘上获得高数据密度。数据读取器401 生成输出信号，该信号是从盘读取的模拟信号的取样表示。由于光学系 统引起的码间干扰，给定的数据样本包括来自该数据样本周围的多个数 据码元的贡献。
将从光盘读取的数据样本从光盘数据读取器401馈给位探测器 405,该位探测器405设置为生成对应于存储在光盘403上的数据值的 探测位值。该位探测器405特别包括部分响应最大似然(PRML)(或 者最大似然序列估计器(MLSE))探测器407,其响应于与不同的可能 数据序列的期望信号值相对应的基准信号而确定探测值。因此，该位探 测器405不仅包括PRML探测器407,其在本特定实例中为威特比探测 器，而且还包括与该威特比探测器407耦合并且生成基准信号的基准处 理器409。
将该位探测器405与误差校正处理器411耦合，并且将探测数据馈 给该处理器。误差校正处理器411使用光盘的冗余数据对原始解码数据
9进行附加的误差校正。例如，可能已经使用Reed-Solomon误差校正方 案编码了该存储的数据，并且可以通过应用相应的解码算法校正该解码 数据。通常，在光盘系统中，首先编码用户数据以用于误差校正，然后 根据所使用的RLL码对用户数据进行调制编码。当读出时，实施相反的 过程首先RLL解码，然后误差校正解码以重放用户数据。
将误差校正处理器411与数据接口 413耦合，所述数据接口 413与 外部设备相接。例如，该数据接口 413可以提供与个人计算机的接口 。
因此，在图4的光盘读取器中，威特比探测器407实施本领域技术 人员公知的MLSE或者PRML位探测操作。
为了确定MLSE探测的适当的度量，该威特比探测器407必须具有 有关针对不同可能的数据组合的期望信号值的信息。利用基准处理器 409生成这些基准信号值。在本实例中，使用包含在基准处理器409中 的基准水平单元(RLU)生成作为基准水平的这个信息。
RLU通过为给定长度的所有可能的数据组合确定平均值提供通道 模型对测量的系统的自动和隐含的适应。基准水平可以视为给定调制位
序列的信号平均值。
图5表示了 5抽头(考虑5个码值组合)RLU的可能实现方式的实 例。(初步)探测的调制位ak与同步的接收信号4一起输入。对于每 个时钟周期而言，5个调制位变换为4位的地址，指向16个基准水平之 一。然后，利用接收到的4值根据以下等式更新该基准值
RL产(1 -a) x RL,(k-1 )+ax d(k) 其中a是通常非常小(如大约0.01)的适当的滤波系数。
可以理解，在本实例中，对于5个数据位的组合仅考虑16个基准 水平。然而，由于通常用于光学读取系统的游程长度限制，有效数据组 合的数量将低于可能的数据组合的数量。
因此，RLU生成针对不同数据位组合的低通滤波或平均信号值。例 如，对于11111的输入序列而言，RLU维持对应于先前已经针对该位组 合测得的平均信号值的基准值。因此，RLU本身实现了表示从所述通道 输出的、针对给定位组合的期望信号值的通道模型。自动生成该值并且 将其保持为先前获得的低通滤波值。因此该威特比探测器407能够使用 该基准水平来确定路径度量。
本领域技术人员可以理解，RLU的工作基于有关正确数据值的显性了解或假设，因此，RLU可以包括基于接收到的信号生成初步数据位的 简单位探测器。通常将简单阈值探测用于这个目的。
为了确保可靠的用于威特比探测的基准值，通常将相对较长的平均
间隔用于RLU。然而，尤其是在近场系统中，光盘表面与SIL之间的距 离可以相当快地变化，这是因为难以在这样小的距离控制该读取头造成 的。此外，该系统的脉沖响应以及因而码间干护G显著取决于空气间隙， 如图3所示。因此，正确基准值能够潜在地相对于RLU生成的基准值 发生显著偏离，从而导致PRML位探测性能的显著下降，并且总体上导 致所述读取设备性能的显著下降。
特别地，尽管误差校正可能能够以较低位探测误差率校正所有误 差，但是SIL与盘表面之间的空气间隙的突然变化会临时导致应用不精 确的基准值，以及因此导致位探测率不能被误差校正处理器411校正。 因此，空气间隙变化会导致数据读取器输出端处的数据损失。
特别地，本发明人已经认识到，对于诸如威特比探测的PRML方法 而言，不仅在光点质量下降的情况下性能下降，而且在光点质量提高的 情况下性能也下降(因为这也是相对于期望值的偏离并且因此会被 PRML位探测器错误地考虑)。已知的PRML探测方法包括使用自适应 均#f滤波器或者基准水平响应于由例如反径向(combat radml)和切向 倾斜以及如非对称那样的通道缺陷造成的变化，动态地修改期望值。然 而，这些方法是非常慢的，并且对于相对较快的变化导致了性能的下降。
在图4的数据读取器中，该光盘读取设备还包括空气间隙处理器 415,其设置为生成表示用于从光盘读取数据的读取透镜(SIL)位置的 读取头位置误差信号。特别地，该读取头位置误差信号能够表示光盘的 记录层或表面与该SIL之间的距离。
在本实例中，空气间隙处理器415包括设置为探测从光盘表面反射 的并且具有与主光束不同的偏振的光的传感器。特别地，探测具有垂直 于聚焦到盘上的主光束偏振态的偏振态的反射光，并且将其馈给空气间 隙处理器415的处理元件。通过综合所有马尔他十字图案的光生成误差 信号，该马尔他十字图案是在利用偏振光学器件和光电探测器探测时由 于盘的反射产生的。特别地，该空气间隙处理器415能够生成相对的或 者绝对的读取头位置误差信号。
例如，该误差信号能够直接表示探测光的量，其可以视为对于光盘表面与SIL之间的距离的直接表示。作为另一个实例，该误差信号能够
表示相对于光盘表面与SIL之间的标称距离的偏离。例如，光盘表面与 SIL之间的优选空气间隙可以是10nm。可以将针对该距离探测到的光量 存储在空气间隙处理器415中作为基准。然后，能够确定当前探测的光 与基准值之间的差，并且将其用作相对于标称距离的偏差的表示。可以 理解，在一些实施例中，可以直接使用这种差信号，而在其它实施例中， 可以对其进一步处理以提供优选的特性(例如可以应用非线性函数，例 如对数函数)。
将该空气间隙处理器415与位探测器405耦合，并且特别是与基准 处理器409耦合。在工作中，该基准处理器409设置为根据从空气间隙 处理器415接收的读取头位置误差信号的值修改所生成的基准信号。
因此，该基准处理器409能够修改所生成的基准信号，使得它们更 精确地反映从光盘读取器401接收的实际信号。例如，当空气间隙增大 时，来自光盘403上给定数据码元的码间干扰将增大，并且可以将这种 效果用于相应地修改基准信号。类似的是，当空气间隙减小时，码间干 扰将减小，并且可以修改基准信号以反映这种情况。
因此，在图4的光盘读取器中，能够将采样的间隙误差信号用于将 更新后的基准水平值前馈到PRML探测器407。这样，PRML探测器407 的工作能够快速校正空气间隙变化影响。这可以为非自适应探测器提供 显著的改善，但是还可以改善自适应探测器配置的性能，这是因为该自 适应比对于其它影响的自适应快得多，并且特别是可以足够快以补偿空 气间隙变化。因此，能够获得对于空气间隙变化更快、更稳定的自适应。
作为特定实例，该空气间隙处理器415能够设置为通过添加响应于 读取头位置误差信号确定的补偿数据基准信号值而修改由RLU生成的 基准水平。该补偿数据值可以特别地由表示相对于标称值的偏离的读取 头位置误差信号来产生。
特別地，该RLU可以设置为以高平均时间工作，这将产生对应于 平均空气间隙的精确长期基准值。例如，可以控制读取头，使得SIL相 对于盘表面的距离平均为30nm。因此，该RLU生成的基准水平对应于 空气间隙距离为30nm时的平均响应。然而，盘表面与SIL之间的精确 距离可能显著波动(如士5nm),并且这种波动会比平均间隔快得多。在 本实例中，空气间隙处理器415生成表示空气间隙相对于30nm标称值的偏离的相对信号。例如，当空气间隙减小时，可能生成负的误差信号， 并且当空气间隙增大时，可能生成正的误差信号。
基准处理器409处理接收到的误差信号以生成补偿值，将该补偿值
添加到所确定的基准水平。计算补偿数据值，使得它们对应于由读取头
位置误差信号表示的空气间隙偏离。例如，如果空气间隙增大到31nm, 则每个单独码元之间的码间干扰将增大。给定的码间干扰增大的影响对
于不同数据序列是不同的，并且因此对于不同基准水平是不同的。然而， 对于给定基准水平而言，能够相对精确地确定该影响，并且因此基准处 理器409能够为每个基准水平确定对应于该空气间隙的补偿值。然后， 将所确定的补偿值添加到每个基准值，由此修改该值，以更加精确地反 映针对不同数据序列的期望信号水平。
因此，在这种实施例中，将相对空气间隙误差信号，例如空气间隙 相对于标称空气间隙的偏离，直接转变为将要应用于所确定的平均基准 水平的特定校正值。这种方法具有以下优点，即来源于针对不同于空气 间隙变化的其它影响(例如通道不对称性、倾斜等)的其它自适应电路 的基准水平值校正未受到影响。此外，该方法允许以低复杂度、精确而 快速地确定反映空气间隙变化影响的基准值。因此，能够获得误差率显 著降低的明显改善的位探测。
响应于读取头位置误差信号与补偿数据基准信号值之间的预定唯 一关系，能够确定补偿值。例如，能够将预定补偿值以参数形式作为误 差信号(对应于相对于标称空气间隙的实际空气间隙)的函数存储，或 者能够通过查找表以及例如表列值的内插获得这些预定补偿值。根据模 拟或者专门试验，通过计算(离线的，将光学几何结构和盘叠层考虑在 内)能够获得这些预定补偿值。
上述实例着重在光学数据读取器，其中将自适应RLU用于确定响 应于表示空气间隙与标称值的偏差的误差信号从而补偿的基准值。然 而，可以理解，可以4吏用其它方法。 '
例如，可以生成绝对读取头位置误差信号，其具有直接表示空气间 隙尺寸的值。例如，可以直接使用由空气间隙处理器415探测的光量， >而不必参照标称或者期望值。因此，该误差信号可以简单地针对增大的 空气间隙具有增大的值。
在一些实施例中，可以响应于读取头位置误差信号直接确定数据基准信号。例如，可以将误差信号表示的空气间隙值设定为直接对应于脉 沖响应或者基准水平值的集合。因此，基准处理器409能够简单地响应 于读取头位置误差信号与数据基准信号之间的预定唯一关系确定数据
基准信号。作为一个简单的实例，该基准处理器409能够包括查找表，
其针对适当量化的读取头位置误差信号的每个可能值包含基准水平值 集合。这种系统可以提供有效的位探测，同时确保复杂度低。
可以理解，为了清楚起见，以上的说明已经针对不同功能单元和处 理器描述了本发明的实施例。然而，可以理解，可以使用不同功能单元 或者处理器之间的功能的任何适当的分布，而不会减损本发明。例如， 由独立的处理器或者控制器实施的所述功能可以由相同处理器或控制 器实施。因此，对特定功能单元的引用应当仅仅视为对提供所述功能的 适当装置的引用，而不表示严格的逻辑或物理结构或组织。
能够以任意适当的形式实现本发明，所述形式包括硬件、软件、固 件或者其任意组合。可选的是，可以至少部分地作为一个或多个数据处 理器和/或数字信号处理器上运行的计算机软件来实现本发明。可以按照 任意适当的方式，物理地、功能地和逻辑地实现本发明的实施例的元件 和部件。实际上，可以以单一单元、多个单元或者作为其它功能单元的 一部分来实现所述功能。同样，可以以单一单元实现本发明，或者可以 在不同单元和处理器之间物理地和功能地分布本发明。
尽管已经结合一些实施例描述了本发明，但是无意将本发明限制为 文中提到的特定形式。相反，本发明的范围仅由所附权利要求书进行限 定。此外，尽管特征可能看起来是结合特定实施例来描述的，但是本领 域技术人员应当认识到，可以根据本发明结合所述实施例的各种特征。 在权利要求书中，术语"包括"不排除其它元件或步骤的存在。
此外，尽管单独列出，但是利用例如单一的单元或处理器可以实现 多个装置、元件或者方法步骤。此外，尽管不同权利要求中可以包含单 独的特征，但是有利的是可以将这些特征组合，并且包含在不同权利要 求中不表示这些特征的组合不可行和/或不是有利的。而且，在一类权利 要求中包含的特征不表示限制在此类中，而是表示该特征同样可以适当 用于其它权利要求类中。此外，权利要求中的特征的顺序不表示这些特 征起作用的任何特定顺序，尤其是方法权利要求中的单独步骤的顺序不 表示必须按照这个顺序实施这些步骤。相反，可以按照任何适当的顺序实施这些步骤。此外，单数标记不排除多个。因此，对"一"、"一个"、"第 一"、"第二，，等的引用不排除多个。权利要求中的附图标记仅仅是作为清 楚的实例提供的，无论如何不应视为对权利要求范围的限制。
权利要求
1. 一种光盘读取设备，包括盘读取器(401)，其通过读取光盘(403)生成第一信号；位探测器(407)，其响应于第一信号和数据基准信号探测数据值，所述数据基准信号表示不同数据序列的期望信号；误差信号装置(415)，其用于生成读取头位置误差信号；以及修改装置(409)，其响应于读取头位置误差信号修改数据基准信号。
2. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中所述数据基准信号 包括针对不同数据序列的基准水平，并且该修改装置(409)设置为响 应于读取头位置误差信号修改至少一个基准水平。
3. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中该修改装置(409) 设置为修改数据基准信号以对应于对于增大的读取头位置误差信号的 更宽脉冲响应。
4. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中读取头位置误差信 号是透镜间隙误差信号。
5. 根据权利要求4所述的光盘读取设备，其中该误差信号装置(415 ) 设置为响应于从光盘反射的具有与主光束不同的偏振方向的光的测量 确定该透镜间隙误差信号。
6. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中该头位置误差信号 是表示相对于标称值的偏差的相对信号。
7. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中该修改装置(409) 设置为通过添加响应于读取头位置误差信号而确定的补偿数据基准信 号值来补偿标称数据基准信号。
8. 根据权利要求7所述的光盘读取设备，其中该修改装置(409) 设置为响应于读取头位置误差信号与补偿数据基准信号值之间的预定 唯 一 关系而确定该补偿数据基准信号值。
9. 根据权利要求7所述的光盘读取设备，其中该修改装置(409) 设置为响应于读取头位置误差信号与数据基准信号之间的预定唯一关 系确定所述数据基准信号。
10. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中该位探测器(407) 设置为执行部分响应最大似然PRML位〗采测。
11. 根据权利要求1所述的光盘读取设备，其中该光盘读取设备是 近场光盘读取设备。
12. —种光盘读取设备的操作方法，该方法包括 通过读取光盘(403 )生成第一信号；响应于第一信号和数据基准信号探测数据值，所述数据基准信号表 示不同数据序列的期望信号；生成读取头位置误差信号；以及 响应于该读取头位置误差信号修改数据基准信号。
全文摘要
一种光盘读取设备，例如近场光盘读取设备，包括盘读取器(401)，该盘读取器(401)通过读取光盘(403)生成第一信号。位探测器(407)响应于该第一信号和数据基准信号探测数据值，所述数据基准信号表示不同数据序列的期望信号。空气间隙处理器(415)生成表示光盘表面与读取透镜之间距离的读取头位置误差信号。基准处理器(409)响应于读取头位置误差信号修改数据基准信号。本发明可以改善位探测，尤其可以允许诸如部分响应最大似然(PRML)位探测器对于读取透镜空气间隙变化的快速适应。
文档编号G11B7/135GK101449329SQ200780017974
公开日2009年6月3日 申请日期2007年5月7日 优先权日2006年5月15日
发明者C·A·弗舒伦 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司