专利名称：一种移动硬盘控制芯片的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种移动硬盘控制芯片。
技术背景移动硬盘制造过程中，对硬盘进行使用寿命测试时，由人工操作，需要对USB接口进行上万次插拔测试，直至接口损坏计算机无法识别。但在 测试时容易出现一个问题，就是硬盘控制芯片的复位时间过短也容易导致 硬盘无法识别，从而影响测试效率和对测试结果的判断。这是由于控制芯 片的复位，是为了把芯片电路初始化到一个确定的状态， 一般来说，单片 机复位电路作用是把一个例如状态机初始化到空状态，而在单片机内部， 复位的时候单片机是把一些寄存器以及存储设备装入厂商预设的一个值。 如果复位时间过短，就会造成混乱，单片机不能被正常识别和工作。 一般 来说，正常使用中偶尔出现的移动硬盘因未复位不能被识别可以通过重新 接入来解决，并不影响使用，但在移动硬盘寿命测试时，由于插拔次数非 常多，就影响测试的效率和对测试结果的准确判断，例如将未复位而不能 识别的移动硬盘当作已损坏了的硬盘而记录处理。发明内容本实用新型的目的是解决以上技术问题，提出一种移动硬盘控制芯片， 可以延长成品移动硬盘的复位时间，从而更有效地进行硬盘寿命测试。本实用新型的目的是通过以下技术方案予以解决的。这种移动硬盘控制芯片，具有内置的上电复位电路和复位引脚，其特征在于:'还包括与复位引脚连接的外部复位电路。上述移动硬盘控制芯片中，所述外部复位电路为RC复位电路。上述移动硬盘控制芯片中，所述RC复位电路包括电阻和电容，所述 电阻的一端与电源连接，所述电阻的另一端与电容的一端和复位引脚分别连接，所述电容的另一端接地。本实用新型与现有技术对比所具有的有益效果是增加外部复位电路， 相当于提高移动硬盘外置电路上与控制芯片复位引脚相连接的电容的容 量，根据充电时间常数t-RC，可以增加控制芯片的复位时间，从而解决了 移动硬盘寿命测试时出现的硬盘不能被识别的问题。
图l是具体实施方式
的电路图。
具体实施方式
如图1所示的一种移动硬盘控制芯片，控制芯片具有内置上电复位电路和复位引脚RST，还设有外部的阻容上电复位电路，包括电阻R和电容 C。电阻的一端与电源Vcc连接，另一端与电容C的一端和复位引脚RST 分别连接，电容C的另一端接地。控制芯片上电后，电阻R给电容C充电，电容C的电压缓慢上升直到 Vcc。电容C的电压没到Vcc时控制芯片复位引脚RST近似低电平，于是 控制芯片复位，接近Vcc时芯片复位引脚RST为高电平，于是控制芯片停 止复位，复位完成。增大电容C的容值可以延长充电时间，从而也就延长 了控制芯片的复位时间。以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新 型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下， 还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种移动硬盘控制芯片，具有内置的上电复位电路和复位引脚，其特征在于还包括与复位引脚连接的外部复位电路。
2. 如权利要求1所述的移动硬盘控制芯片，其特征在于所述外部复位电路为RC复位电路。
3. 如权利要求2所述的移动硬盘控制芯片，其特征在于所述RC复位电路包括电阻和电容，所述电阻的一端与电源连接，所述电阻的另一端与电容的一端和复位引脚分别连接，所述电容的另一端接地。
专利摘要本实用新型公告了一种移动硬盘控制芯片，具有内置的上电复位电路和复位引脚，还包括与复位引脚连接的外部复位电路。所述外部复位电路为RC复位电路。本实用新型增加外部复位电路，相当于提高移动硬盘外置电路上与控制芯片复位引脚相连接的电容的容量，可以增加控制芯片的复位时间，解决移动硬盘寿命测试时出现的硬盘不能被识别的问题。
文档编号G11B5/84GK201302812SQ20082021319
公开日2009年9月2日 申请日期2008年11月7日 优先权日2008年11月7日
发明者欧阳练兵 申请人:深圳易拓科技有限公司