光盘设备与光盘的控制方法

专利名称：光盘设备与光盘的控制方法
光盘设备与光盘的控制方法
技术领域：
本发明是以下发明专利申请的分案申请申请号200510067786.x，申请日2005年2月M日，发明名称光盘设备与光盘的控制方法。技术领域
本发明通常涉及一种光盘设备和控制光盘设备旋转光盘的方法。
技术背景
在过去，对于大容量数据记录应用，主要使用磁带、光磁带、和其它带类记录媒体， 但是，近年来，使用数字通用盘(DVD)和其它类似的光盘，其可以处理大量数据。因此，诸如 DVD的光盘被越来越多地用于记录应用。
在光盘中，没有诸如带类记录媒体的倒带或进带操作，并且，目标地址可以被高速 访问。因此，在随机访问时，光盘可以以比带类记录媒体更高的速度访问数据。
然而，在图像拾取设备和其它图像数据处理设备中，处理的数据数量已经增加，所 以，要求光盘设备高速记录和重现大量数据。发明内容
本发明有关一种光盘设备和控制允许更高访问速度的光盘的方法。
根据本发明的一个方面，提供一种用于访问光盘上的指定地址的光盘设备，所述 光盘设备包括控制器，在访问光盘上一指定地址时、当所述控制器判断是所述光盘的缺陷 引起访问失败时，如果从所述光盘上读取出有关地址的信息，则所述控制器将访问目的地 改变至距离引起失败访问尝试的地址恰好第一地址宽度的地址，否则，如果未读取出有关 地址的信息，则控制器决定在所述光盘的预定参考位置访问是否可能，并且，如果在所述参 考位置访问可能，那么控制器将访问目的地改变至距离引起失败访问尝试的地址恰好第二 地址宽度的地址，所述第二地址宽度大于所述第一地址宽度。
本发明的一个实施例着重于一种光盘装置，包括旋转驱动部分，用于驱动光盘的 旋转；和控制器，用来控制旋转驱动部分，以便当访问从所述光盘的中心到光盘中心和外围 之间的第一轨道的区域时，驱动光盘以恒定的角速度旋转；而当访问从所述第一轨道到光 盘的外围轨道的区域时，驱动光盘以恒定的线速度旋转。
最好，第一轨道是由光盘的旋转特性、旋转驱动部分和数据读取速度所确定的。
当确定访问失败时，所述控制器对所述光盘重试失败的访问尝试，并且所述控制 器判断是否是所述光盘的缺陷引起访问失败，并且，所述控制器进一步判断在所述光盘的 预定的邻近范围内，所述访问失败的预定原因是否重复出现。
根据本发明的第一方面的设备可以进一步包括振荡(vibration)检测器，用来检 测出现在光盘中的振荡，并且当在重试访问尝试中访问失败的原因没有在所述预定的邻近 范围内重复出现且在访问失败时由所述振荡检测器检测的振荡超过预定阈值时，所述控制 器判断是否是振荡引起访问失败；而当所述振荡没有超过预定阈值时，控制器判断是否是所述光盘的缺陷引起访问失败。
进而，当访问光盘上的指定地址时，所述控制器可能判断所述光盘的缺陷引起访 问失败，如果从所述光盘上读取有关地址的信息，则所述控制器将访问目的地改变为离引 起失败的访问尝试的地址恰好第一地址的宽度的地址；同时，控制器确定在所述光盘的预 定参考位置访问是否可能和有关地址的信息是否被读取，并且，如果在所述参考位置访问 是可能的，那么控制器将访问目的地改变为离引起失败的访问尝试的地址恰好第二地址宽 度的地址，所述第二地址宽度大于所述第一地址宽度。
本发明的另一个实施例着重于光盘设备，其中，(i)当发射光束的位置是在从所述 光盘中心至第一轨道的区域中时，光盘的旋转速度变为恒定；和(ii)当发射光束的位置在 第一轨道至所述光盘的外围边缘的区域中时，发射光束的位置以恒定的速度在信息轨道上 移动。
该设备可进一步包含光拾取器，用来输出从所述光盘反射的并被转换成电信号的 发射光束；和信号处理器，用于处理光拾取器的输出信号，其中，(i)当所述光盘的旋转速 度恒定时，旋转速度变成能够被旋转驱动驱动的旋转速度的预定上限，和(ii)发射光束在 所述信息轨道上的位置的运动速度控制所述旋转驱动部分，以便所述光拾取器的输出信号 频率变为能够在信号处理器处理的频率的预定上限。
本发明的再一实施例着重于一种方法，其通过在访问从所述光盘的中心到光盘中 心和光盘外围之间的第一轨道的区域时，以恒定的角速度来驱动光盘的旋转，而当访问从 所述第一轨道到光盘的外围边缘的区域时，以恒定的线速度来驱动光盘的旋转，来控制光ο
本发明的再一实施例着重于一种光盘设备，包括控制器，用于当访问失败的预定 原因在所述光盘上的预定邻近范围内重复发生时，判断所述光盘的缺陷引起访问失败。
本发明的再一实施例着重于一种光盘设备，用于当访问光盘上的指定地址时，判 断光盘的缺陷引起访问失败，如果从所述光盘读取了有关地址的信息，则控制器将访问目 的地改变为离引起失败的访问尝试的地址恰好第一地址的宽度的地址；同时，控制器确定 在光盘的预定参考位置访问是否可能和有关地址的信息是否被读取，并且，如果在所述参 考位置访问是可能的，那么控制器将访问目的地改变为离引起失败的访问尝试的地址恰好 第二地址宽度的地址，所述第二地址宽度大于第一地址宽度。
如果有关地址的信息未被读取，则在确定所述预定参考位置之前，所述控制器从 未访问的所述地址开始的预定地址范围内搜索可读的地址，并且如果所述范围有可读的地 址，则该控制器将访问目的地改变为所述地址；而如果所述范围没有可读的地址，那么控制 器确定所述参考位置。
如果预定的访问失败原因在所述光盘上的预定邻近范围内重复出现，则在所述访 问尝试的重试中判断所述光盘的缺陷引起访问失败时，控制器可以执行重试失败的访问尝 试的处理；而当经预定时间或预定次重复该判断时，所述控制器执行访问目的地改变处理。
本发明的再一实施例着重于振荡检测器，用来检测在光盘中出现的振荡，其中，当 在访问尝试的重试中访问失败的原因没有在预定的邻近范围内重复出现，并且在访问失败 时由振荡检测器检测的振荡超过预定阈值时，控制器判断是否是振荡引起访问失败；而当 振荡没有超过预定阈值时，控制器判断是否是光盘的缺陷引起访问失败。4
于是，根据本发明，第一，通过在恒定旋转速度模式和恒定线速度模式之间恰当地 转换光盘的旋转控制模式，由于旋转驱动的性能限制而造成的对线速度的约束消失了，且 能够提高访问速度。
第二，能够区分由于光盘缺陷而产生的访问失败和由于来自外部源的振荡而产生 的访问失败。
第三，当由于光盘缺陷而造成访问失败时，通过根据缺陷的状态将访问目的地改 变为距离合适地址宽度的地址，能够抑制由于访问失败而导致的处理延迟。


从以下参照附图给出的优选实施例的描述中，本发明的这些或其它目的和特征将 变得更加清晰，其中
图1是根据本发明的一个实施例的光盘设备的结构示例；
图2是表示在写访问或读访问处理中的处理的第一流程图3是表示在写访问或读访问处理中的处理的第二流程图4是表示在写访问或读访问处理中的处理的第三流程图5是说明当执行参考位置终止操作时的处理的第一流程图6是说明当执行参考位置终止操作时的处理的第二流程图7是错误原因判断处理的流程图8是缺陷错误处理的流程图9是在根据本发明的光盘设备中跟踪错误判断的结构的示例；
图10A、10B、10C是当施加强振荡时或在光盘遇到缺陷的情况下，跟踪错误的检测 信号的波形示例；
图11是距离光盘中心的激光光束的发射位置与光盘设备中光盘的旋转速度之间 的关系的示例；
图12A、12B是普通光盘设备中的查找操作示例；
图13是光盘设备中的查找操作示例；
图14是光盘设备中的查找操作示例；和
图15是图像拾取设备的结构示例。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的六个典型实施例作说明。
第一实施例
包括使用光盘的视频播放机或摄像机的视频设备正变得越来越普及。近年来，光 盘已被制得更小而存储容量更大。因此，已极大地改进了光盘的性能。
光盘驱动系统用于驱动光盘，且包括以恒定线速度驱动光盘的CLV(恒定线速度) 系统和以恒定角速度驱动光盘的CAV(恒定角速度)系统。
当光盘用于诸如摄像机的小型视频设备时，驱动光盘的主轴马达的旋转性能有限 制。由于这个限制，例如，即使将光盘格式化成以摄像机的记录媒体上的恒定线速度来驱 动，但是由于小型主轴马达的性能限制，也许不能以预想的线速度使用光盘的很多区域。
因此，如图11所示，例如，本发明的部分是由CAV系统驱动从光盘的中心至某个轨 道的CLV格式化的光盘，而由CLV系统驱动从某个轨道开始的区域至光盘的周围边缘的光 盘，从而根据激光光束在轨道上的位置来改变主轴马达的旋转速度。
该驱动系统被称为受限的CLVdimited CLV，LCLV)系统。
注意，摄像机和其它视频设备可以带有各种类型的可换光盘。在根据本发明的一 个实施例的光盘设备中，不仅能够由LCLV系统驱动光盘，而且能够由CLV系统或CAV系统 驱动光盘。
第二实施例
图1是根据本发明的第一实施例的光盘设备的结构示例。
图1所示的光盘设备具有接口 1、FIFO单元2、数据处理器3、写处理器4、光拾取 器5、RF信号处理器10、读处理器11、偏斜检测器12、振荡检测器13、光拾取器驱动器14、 马达控制器15、主轴马达16、伺服控制器17，和系统控制器18。
进一步，光拾取器5有功率控制器6、激光二极管7、光学系统8和光敏元件9。
在上述结构中，马达16是本发明的旋转驱动的例证。
系统控制器18是本发明的控制器的例证。
振荡检测器13是本发明的振荡检测器的例证。
光拾取器5是本发明的光拾取器的例证。
光拾取器驱动器14是本发明的光拾取器驱动的例证。
包括RF信号处理器10和读处理器11的单元是本发明的信号处理器的例证。
马达控制器15是本发明的旋转控制器的例证。
偏斜检测器12是本发明的偏斜检测器的例证。
对图1所示的上述光盘设备的元件作出说明。
接口 1从外部设备(未示出)向光盘20输入写数据。进而，接口 1从光盘20向 外部设备(未示出)输出读数据。进而，光盘设备执行将从外部设备输入的各种指令传递 到系统控制器18的处理，或将从系统控制器18发出的响应消息传递给外部设备的处理。
接口 1根据例如ATA(AT附件)或其它常用接口标准，与这种外部设备连接。
FIFO单元2临时存储从接口 1向数据处理器3输入的写数据和从数据处理器3向 接口 1读取的读数据。
数据处理器3对光盘20的写数据和读数据执行各种数据处理。
根据光盘20的预定记录格式，由接口 1输入的写数据受到预定的码处理(例如， 纠错码处理)。由此，该写数据被替换为具有写入光盘20的格式的数据。进而，从读处理器 11输入的读数据受到解码处理。结果，写前数据被重现。
基于数据处理器3处理的写数据，写处理器4产生用来驱动激光二极管7的写脉 冲信号。写处理器4根据被写的光盘20的类型，适当地设置写脉冲信号的振幅或脉冲宽度。
功率控制器6检测从光学系统8反馈的激光二极管7的输出功率，并控制激光二 极管7的发射数量，以便在写脉冲信号中检测的功率和检测的输出功率变为相等。
激光二极管7根据功率控制器6的控制，产生具有功率的激光光束。
光学系统8引导激光二极管7产生的激光光束，并将其聚焦在光盘20的光接收表 面上。进而，在激光二极管7产生的部分激光光束返回至功率控制器6。从光盘20反射的光被引导至光敏元件9。
光学系统8相对于光盘20的焦点位置随如何驱动光拾取器驱动器14而改变。
光敏元件9将从光盘20反射的光转换成电信号。
设计光敏元件9，以便除了获得记录在光盘20上的信息以外，还获得表示光盘20 的信息轨道和发射的激光光束的位置之间的偏移(跟踪错误，tracking error)的信息，和 表示光学系统8的焦点至光盘20的偏移(聚焦错误，focus error)的信息。
例如，光敏元件9具有多个光学检测器，其被排列成能够在从光盘20反射的光束 照射到的平面上的多个对称位置上检测反射光的强度。
根据光盘20的记录数据，RF信号处理器10放大、二进制化、或按照RF机制以其 它方式处理由光敏元件9转换的电信号，以产生读数据。
进而，根据光敏元件9的输出信号，RF信号处理器10产生与上述跟踪错误或聚焦 错误相关的信号，并且将这样的信号输出至伺服控制器17。例如，RF信号处理器10运行处 理，例如，加或减。上述多个光学检测器的检测结果包含在光敏元件9内，以产生与跟踪错 误或聚焦错误有关的信号。这些信号被用在伺服控制器17中以进行伺服控制。
进而，在本实施例中，作为一个示例，假定在光盘20的信息轨道上形成摆动。术语 “摆动”是指位于信息轨道侧面的周期性弯曲形状。例如，用作写操作访问时的基准的时钟 信号的信息或有关信息轨道上的地址的信息，作为摆动被隐藏在光盘20中。
RF信号处理器10基于该摆动(摆动信号)从光敏元件9的输出信号中提取周期 性的信号分量，并将这样的信号输出至读处理器11。
读处理器11对从光盘20读取的信号执行各种处理。例如，读处理器11基于从RF 信号处理器10输出的摆动信号执行重现基准时钟信号的处理，和执行解调摆动信号并重 现在信息轨道上的地址信息的处理。
偏斜检测器12检测光盘20的光接收表面相对于从光拾取器5发出的光束的偏 斜。光盘20发生偏斜是，例如，由于光盘20外部的震动，也就是由于在与光盘20的旋转轴 平行的方向上施加的震动。
振荡检测器13检测施加在光盘设备上的振荡。为了检测振荡，可以使用加速度传 感器。
光拾取器驱动器14在伺服控制器17的控制下，使光拾取器的发射激光光束的位 置相对于信息轨道或光学系统8的聚焦位置移动。例如，光拾取器驱动器14有致动装置， 其使得光拾取器5沿着光盘20平面的方向或与平面垂直的方向滑动。
马达控制器15控制主轴马达16，以使光盘20的旋转速度保持在由系统控制器18 指定的旋转速度上。
主轴马达16在马达控制器15的控制下，驱动光盘20的旋转。
伺服控制器17根据RF信号处理器10产生的跟踪错误或聚焦错误的信号，通过伺 服控制来控制光拾取器驱动器14，以便在光学系统8的聚焦状态下，在光盘20的信息轨道 上的指定位置发射光拾取器5的激光光束。
进而，根据偏斜检测器12或振荡检测器13的检测结果，伺服控制器17控制光拾 取器驱动器14，以便即使当外部震动引起振荡时，上述伺服控制依然运行。当光拾取器5和 光盘20之间的碰撞即将发生时，伺服控制器17控制光拾取器驱动器14以避免碰撞。
进而，当对用于在信息轨道上的指定位置发射激光光束的伺服控制(跟踪控制) 或者用于将光学系统8聚焦在信息轨道上的伺服控制(聚焦控制)的锁定丢失时，伺服控 制器17通知系统控制器18。
系统控制器18执行与光盘设备的整体操作有关的各种处理。
例如，系统控制器18获得从外部设备经接口 1输入的指令，发送消息至外部设备， 监控存储在FIFO单元2中的写数据或读数据的数量，获得在读处理器11重现的光盘20的 地址信息，指令在数据处理器3或伺服控制器17进行的处理。
进而，系统控制器18在尝试访问光盘20时，执行重试失败的访问尝试的处理。进 一步，当重新尝试访问时，如果不良的伺服控制、地址信息的不良读取、或任何访问失败的 其它原因在光盘20的预定邻近范围内重复发生，则系统控制器18执行处理，以判断是否是 由于光盘20的缺陷而引起访问失败。
进而，当作出由于光盘20的缺陷而使得对光盘20上的指定地址的访问失败的判 断时，那么如果读处理器11能够读地址信息，则系统控制器18执行处理，以将访问目的地 更新为距离要访问的失败地址预定地址宽度(第一地址宽度)的地址。另一方面，如果读 处理器11不读地址信息(例如，当伺服控制器18对跟踪控制或聚焦控制的锁定丢失时)， 系统控制器18确定在光盘20的预定参考位置(例如，光盘20的最内部的圆周)上访问是 否可能，并且如果在该参考位置访问是可能的，则将访问目的地更新为距离要访问的失败 地址预定地址宽度(比第一地址宽度更长的第二地址宽度)的地址。
将描述在图1所示的光盘设备具有上述结构并执行读访问或写访问处理(以下被 称为“R/W访问”)的情况下的操作。
图2至图4是表示R/W访问处理的示例的流程图。
在执行R/W访问中，系统控制器设置以下常量。
常量#1 (外部因素超时时间Ts)
外部因素超时时间Ts表示在振荡或其它外部因素引起访问失败时重复访问重试 的时间的上限。然而，该上限时间的起点是外部设备向系统控制器18发出指令执行写或读 访问的指令的时间。
常量#2 (缺陷时重试次数Nd的上限值)
缺陷时重试次数Nd的上限值表明当由于光盘20的缺陷而重试访问时的重试次数 的上限值。
常量#3 (内部错误时重试次数Ni的上限值)
内部错误时重试次数Ni的上限值表示当由于光盘设备的内部错误而重试访问时 的重试次数的上限值。
常量#4 (查找开始前的超时时间Tt)
这表示在开始查找处理前重复访问重试的时间的上限。上限时间的起点与外部因 素超时时间iTs相同。
常量#5 :(内部因素超时时间Ti)
这个常量表示当光盘的内部原因引起访问失败时可以进行重试的时间的上限。上 限时间的起点与外部因素超时时间Ts相同。
将上述的五个常量，例如，通过接口 1从外部设备给系统控制器18。
当外部设备发出R/W访问指令时，系统控制器18从指令发出时间起在内部计时器 开始计数。
首先，系统控制器18比较该计时器数值和外部因素超时时间Ts (步骤ST100)，和 当该计时器数值超过此上限时，系统控制器18结束访问重试并执行预定的错误处理(步骤 ST102)。例如，系统控制器18执行处理，以通知外部设备由于震动或其它外部因素而产生 了错误。
当计时器数值不超过外部因素超时时间Ts时，系统控制器18确定查找操作是否 可能(步骤ST104)。
当查找操作不可能时，系统控制器18确定原因是否是地址的不良读取(步骤 ST106)。例如，系统控制器18确定是否由于在伺服控制器17内跟踪控制或聚焦控制的锁 定的完全丢失而不再读取地址信息。如果没有此类错误发生且能从光盘20读取地址，那么 程序回到步骤ST100且R/W访问处理被再次执行。
另一方面，当地址信息未被读取时，系统控制器18比较上述计时器数值和查找开 始前的超时时间Tt (步骤ST108)。当计时器数值超过该上限时，程序回到步骤ST100，在这 里R/W访问处理被再次执行。当计时器数值超过该上限值时，控制器在参考位置停止操作 STllO步骤中确定在光盘20的参考位置的访问是否可能。将参照图5和图6详细说明参考 位置停止操作ST110。
当在步骤ST104判断查找操作是可能的时，系统控制器18开始查找操作(步骤 ST112)。在查找操作中，系统控制器18沿光盘20的径向移动发射激光光束的位置，同时， 跳过信息轨道，以便使访问地址跳至在包含R/W处理开始的目标地址的轨道之前的一个轨 道(信息轨道的一周)。
直到查找操作结束，系统控制器18监控上述计时器数值是否超过外部因素超时 时间Ts (步骤ST114、ST118)。如果，例如，震动使得查找操作没有结束，且计时器数值超过 外部因素超时时间Ts，则系统控制器18结束访问重试，并执行与步骤ST102(步骤ST116) 中的相同的错误处理。
当查找操作结束时，系统控制器18判断其在查找操作中是否失败(步骤ST120)。
当查找操作失败时，系统控制器18判断该失败是否是因为小缺陷错误(步骤 ST122)。这里，“小缺陷错误”是指由于光盘20的相对小范围的缺陷而引起的访问错误。当 伺服控制器17内的聚焦控制或跟踪控制的锁定的丢失导致不再能够读取地址信息的严重 情况时的情况也包含在该小缺陷错误中。
当访问失败的预定原因在光盘20上的预定邻近范围内重复出现时，系统控制器 18判断在邻近范围内出现光盘20的缺陷。进而，当该访问失败原因不是达到地址信息不再 能够被读取的程度的严重失败原因时，系统控制器18判断小缺陷在光盘20上出现。当导 致伺服控制器17内聚焦控制或跟踪控制的锁定的暂时丢失的错误、或在读处理器11中导 致时钟信号重现处理的错误发生在光盘20的邻近预定范围内时，系统控制器18判断光盘 20上的小缺陷已经引起访问失败(在这个步骤，查找操作)。
当在查找操作中判断光盘20上的小缺陷已经引起失败时，系统控制器18执行预 定错误处理(步骤ST124)。例如，系统控制器18将R/W访问起始的目标地址改变至距失败 的初始访问地址恰好预定地址宽度(第一地址宽度)的位置，并且再次执行R/W访问。
当在查找操作中判断小缺陷已经引起失败时，系统控制器18判断是否能够从光 盘20读取地址信息(步骤ST126)。例如，伺服控制器17判断引起伺服控制的锁定完全丢 失的错误是否产生。当这样一个错误阻止了地址信息被读出时，系统控制器18执行下面将 要进行说明的参考位置停止操作(步骤ST128)。
另一方面，当地址信息可以被读取时，假设错误是由振荡引起，所以，系统控制器 18返回步骤ST100并再次执行R/W访问处理。
当在步骤ST120判断查找操作以正常方式结束时，系统控制器18执行控制以将发 射激光光束的位置从查找操作之后的位置提前至R/W访问起始的目标地址。进而，系统控 制器18监控预定错误的发生，直至到达R/W访问起始的目标地址。例如，系统控制器18监 控导致在伺服控制器17丢失对聚焦控制或跟踪控制的锁定的错误或导致发射激光光束的 位置从目标地址的起始之前的一个轨道偏离的错误(步骤ST130、ST132、ST134)。
当这样的错误产生时，系统控制器18判断错误是否由震动或其它外部因素引起 (步骤ST136)。该判断的详细情况参照图7作解释。当判断错误由震动或其它外部因素引 起时，系统控制器18返回步骤ST100，在这里再次执行R/W访问处理。
另一方面，当判断由光盘20的缺陷引起错误产生时，系统控制器18判断在作出光 盘20的缺陷已经引起访问失败的判断时累积的次数(D-Retry)是否超过上述重试次数Nd 的上限值(步骤ST138)。当该上限值没有被超过时，系统控制器18在累积次数D-Retry上 加1，然后返回至步骤ST100，并再次执行R/W访问处理。当累积次数D-Retry超过上限值 时，系统控制器18结束访问的重试操作，并执行缺陷错误处理(见图3)(步骤ST140)。
当在步骤ST134判断发射激光光束的位置已经到达R/W访问起始的目标地址时， 系统控制器18判断R/W访问能否被启动(步骤ST142)。例如，系统控制器18确定在FIFO 单元2中是否有足够的空区域。
当判断R/W访问不能被启动时，系统控制器18比较上述计时器数值和内部因素超 时时间Ti (步骤ST144)。当计时器数值没有超过内部因素超时时间Ti时，系统控制器18 返回至步骤ST100，在这里再次执行R/W访问处理，而当计时器数值超过Ti时，系统控制器 18执行预定错误处理(步骤ST146)。例如，系统控制器18执行处理以便通知外部设备 FIFO单元2的内部因素已经在R/W访问的开始中引起了失败。
当在步骤ST142判断R/W访问能够被启动时，系统控制器18启动R/W访问(步骤 ST148)。进而，如果访问期间产生错误，系统控制器18结束R/W访问处理。
另一方面，如果访问期间产生错误，系统控制器18判断错误是否由激光二极管7 的不良发射或由功率控制器6的不良控制引起(步骤ST152)。
当判断由于内部因素而产生错误时，系统控制器18判断在作出由于内部因素而 产生的错误已经引起访问失败的判断时累积的次数(I-Retry)是否超过上述重试次数Ni 的上限值。当该上限值没有被超过时，系统控制器18在累积次数I-Retry上加1，然后返回 至步骤ST100，在这里再次执行R/W访问处理。当累积次数I-Retry超过上限值时，系统控 制器18执行预定内部错误处理(步骤ST156)。例如，系统控制器18执行处理以通知外部 设备，激光二极管7的内部因素已经引起R/W访问失败。
当在步骤ST152判断没有由于激光二极管7的内部因素而产生的错误时，系统控 制器18判断错误是否由光盘20的缺陷引起(步骤ST158)。
当在步骤ST158判断没有由光盘20的缺陷引起的错误时，系统控制器18返回至 步骤ST100，并再次执行R/W访问处理。
另一方面，当判断光盘20的缺陷已经引起错误时，系统控制器18判断缺陷判断的 累积次数D-Retry是否已经超过上述重试次数Nd的上限值(步骤ST160)。当没有超过该 上限值时，系统控制器18在累积次数D-Retry上加1，然后返回至步骤ST100，并再次执行 R/W访问处理。当累积次数D-Retry超过该上限值时，系统控制器18结束访问的重试操作， 并执行缺陷错误处理(见图4)(步骤ST162)。
上文中，解释了如图2至图4所示的R/W访问处理。
图2的步骤ST100、ST128的参考位置停止操作的详细情况解释如下。
图5和图6是在执行参考位置停止操作时的处理的流程图。
首先，系统控制器18执行停止与R/W访问相关的操作的处理(步骤ST200)，并确 认来自激光二极管7的光发射已停止(步骤ST202)。
在确认与R/W访问相关的操作已经停止后，系统控制器18执行处理以移动发射激 光光束的位置并将其停止在光盘20的预定参考位置上(例如，在光盘20的最内部的圆周 的区域)(步骤ST204)。
图6是步骤ST204的处理的流程图。
系统控制器18执行移动发射激光光束的位置至光盘20的预定参考位置的指令 (步骤ST300)，然后，确认来自光拾取器的、通知系统控制器18移动已经结束的响应(步骤 ST302)。
在确认发射激光光束的位置移动中，系统控制器18确定在该参考位置能否访问 光盘20(步骤ST206)。例如，系统控制器18确定地址信息在该参考位置能否被读出。当在 参考位置不能访问光盘20时或当指示发射激光光束的位置移动失败的信号从光拾取器5 输出时，系统控制器18执行预定内部错误处理(例如，通知外部设备内部因素已经引起参 考位置停止操作失败的处理)，并且，结束参考位置停止操作(步骤ST208)。
当地址信息在参考位置能被读出时，在调用(call up)参考位置停止操作之前， 系统控制器18在错误产生的位置执行查找操作(步骤ST210)。进而，系统控制器18执行 处理以例如在查找位置读取地址信息并判断查找操作是否以正常方式结束(步骤ST212)。 当确认结果是查找操作能够以正常方式执行时，系统控制器18执行返回R/W访问操作的处 理，并结束参考位置停止操作(步骤ST214)。
当在步骤ST212判断查找操作已经再次失败时，系统控制器18将激光光束位置 移动至图6所示的参考位置(步骤ST216)，并确定光盘20在参考位置能否被访问(步骤 ST218)。当光盘20在参考位置不能被访问时，系统控制器18执行预定内部错误处理并结 束参考位置停止操作(步骤ST222)。
另一方面，当地址信息在参考位置能被读出时，系统控制器18判断在步骤ST212 判断查找操作失败的位置上发生了大缺陷错误，并执行预定错误处理(步骤ST220)。
大缺陷错误是指由于光盘20的相对宽范围内的缺陷而引起的访问错误。例如，如 果有大缺陷在圆周方向扩展，则出现在伺服控制器17中伺服控制的锁定完全丢失的情况， 或者时钟信号不再能从读处理器11中的摆动信号中重现的情况，并且地址信息不再能被 读取。这种情况被包含在大缺陷错误检测中。
当判断大缺陷已经在光盘20上产生时，系统控制器18，例如，将R/W访问起始的目 标地址改变至距要访问的初始失败地址预定地址宽度(第二地址宽度)的位置，并且再次 执行R/W访问。在这种情况下的第二地址宽度被设置成大于在小缺陷产生的情况下的第一 地址宽度。即，根据预测缺陷的大小适当地设置改变后的地址宽度。
对图3的步骤ST136或图4的步骤ST158中的错误原因的判断处理作了解释。
图7是说明用于判断访问错误是否由光盘20的缺陷或由振荡引起的错误判断处 理的流程图。
首先，系统控制器18判断，在访问重试中，伺服控制器17的不良伺服控制(伺服 控制的锁定的暂时丢失)是否在光盘20的预定邻近范围内重复发生(步骤ST400)。
例如，系统控制器18判断在先前的访问错误中发生不良伺服控制的光盘20上的 位置和在当前的访问错误中发生不良伺服控制的光盘20上的位置之间的距离是否比预定距离更短。
当判断邻近范围内不良伺服控制重复发生时，系统控制器18作出光盘20的缺陷 引起访问错误的判断，并且结束错误判断处理(步骤ST412)。
当在步骤ST400判断在附近范围内不良伺服控制没有重复发生时，系统控制器18 在访问失败时判断马达控制器15对旋转速度的不良控制是否发生(步骤ST402)。
旋转速度的不良控制可能不是由于光盘20的缺陷而产生的，那么在访问失败时， 如果马达控制器15受到旋转速度的不良控制，则系统控制器18判断是振荡引起访问错误 产生，并结束错误判断处理(步骤ST414)。
当在步骤ST402判断在访问失败时，旋转速度的不良控制没有发生，系统控制器 18判断，在访问重试中，读处理器11的不良时钟信号重现处理(用于重现时钟信号的PLL 电路的锁定丢失)在光盘20的预定邻近范围内是否重复发生(步骤ST404)。
当判断不良时钟信号重现处理在预定邻近范围内重复发生时，系统控制器18作 出光盘20的缺陷引起访问错误的判断，并结束错误判断处理(步骤ST412)。
当在步骤ST404判断不良时钟信号重现处理没有在预定邻近范围内重复发生时， 系统控制器18判断在访问失败时，由偏斜检测器12检测的光盘20的偏斜是否超过预定阈 值(步骤ST406)。
光盘20的倾斜可能不是由光盘20的缺陷引起的，所以在访问失败时，如果超过了 阈值的偏斜被检测到，那么系统控制器18作出振荡引起访问错误的判断，并结束错误判断 处理(步骤ST414)。
当在步骤ST406判断在访问失败时，超过阈值的偏斜没有被检测到，那么系统控 制器18判断在访问重试期间，读处理器11的不良地址信息重现处理在光盘20的预定邻近 范围内是否重复发生(步骤ST408)。
当判断不良地址信息重现处理在预定邻近范围内重复发生时，系统控制器18作 出光盘20的缺陷引起访问错误的判断，并结束错误判断处理(步骤ST412)。
当在步骤ST408判断不良地址信息重现处理没有在预定邻近范围内重复发生时， 系统控制器18判断在访问失败时，由振荡检测器13所检测的振荡是否超过了预定阈值 (步骤 ST410)。
振荡也许不是因光盘20的缺陷而产生的，所以，在访问失败时，如果超过阈值的振荡被检测到，系统控制器18判断振荡引起访问错误，并结束错误判断处理(步骤ST414)。
另一方面，当在步骤ST410中判断访问失败时超过阈值的振荡没有被检测到时， 系统控制器18作出光盘20的缺陷引起访问错误的判断，并结束错误判断处理(步骤 ST412)。
已对在图3的步骤ST140和图4的步骤ST162中的缺陷错误处理作了解释。
图8是当判断在访问中光盘20的缺陷引起失败超过上限数目时执行的缺陷错误 处理的流程图。
首先，系统控制器18判断地址信息能否从光盘20读取(步骤ST500)。例如，系 统控制器18判断错误是否已经发生，例如伺服控制器17随着伺服控制的锁定的完全丢失 而结束。当这种错误没有发生而且地址信息能被读出时，系统控制器18将访问目的地改变 至恰好相距第一地址宽度的地址，并决定再次执行R/W访问，并结束缺陷错误处理(步骤 ST502)。这种情况下，系统控制器18将光盘20的缺陷看作是小缺陷，并设置地址改变的范 围。
当在步骤ST500判断地址信息不能被读出时，系统控制器18在从访问失败的地址 开始的预定地址范围内搜索可读地址(步骤ST504)。进而，如果在这个地址范围内有可读 地址，系统控制器18将访问目的地改变至该地址，同时决定再次执行R/W访问，并结束缺陷 错误处理(步骤ST506)。
当在步骤ST504判断在预定地址范围内没有可读地址时，系统控制器18执行移动 发射激光光束的位置至参考位置的处理，以确定在光盘20的参考位置访问是否可能(步骤 ST508、ST510、ST512、和ST514)。该处理与已作解释的处理步骤ST200、ST202、ST300、和 ST302相同。
在确认发射激光光束位置的移动中，系统控制器18确定在该参考位置，访问光盘 20是否可能(步骤ST516)。例如，系统控制器18确定在该参考位置，地址信息能否被读取。 当光盘20在参考位置不能被访问，或指示发射激光光束的位置移动失败的信号由光拾取 器5输出时，系统控制器18执行预定的内部错误处理，并结束缺陷错误处理(步骤ST518)。
当在参考位置地址信息能被读取时，系统控制器18决定改变访问目的地至恰好 相距第二地址宽度的地址，并再次执行R/W访问，并结束缺陷错误处理(步骤ST520)。这种 情况下，系统控制器18估计光盘20的缺陷是上述的大缺陷，并设置地址改变的数量。
如上面所作的说明，根据按照本实施例的光盘设备，如果不良的伺服控制、不良的 时钟信号重现处理、或访问失败的其他预定原因在光盘20上的预定邻近范围内重复出现， 则系统控制器判断是光盘20的缺陷引起访问失败。
所以，由光盘20的缺陷引起的访问失败能够明显地与由其它因素引起的访问失 败辨别开来。由此，对于由光盘20的缺陷引起的访问失败，适当处理是可能的。
进而，在光盘设备中，访问重试时，如果不良的伺服控制、不良的时钟信号重现处 理、或访问失败的另外原因在光盘20上的预定邻近范围内重复出现，访问失败时，如果由 振荡检测器13所检测的振荡超过预定阈值，可以判断是振荡引起访问失败，而如果检测的 振荡没有超过预定阈值，可以判断是光盘20的缺陷引起访问失败。
因此，如果由光盘20的缺陷引起访问失败和如果由从外部源施加的振荡引起访 问失败，这些失败能够被清楚地区分。由此，对由于光盘20的缺陷引起的访问失败和由振荡引起的访问失败的错误判断较少出现，并且能够分别针对失败原因进行适当的错误处理。
进而，在光盘设备中，当光盘20的缺陷已引起访问失败的判断被重复超过重试次 数Nd的上限值时，访问重试被终止，且缺陷错误处理被执行。当振荡引起访问失败的判断 被重复超过外部因素超时时间Ts时，访问重试被终止，且对于外部因素的预定错误处理被 执行。
由此，对于光盘20的缺陷引起访问失败的情况和振荡引起访问失败的情况，转换 错误处理的条件能够被分别设定。
通常，当由于光盘20内的缺陷引起访问失败产生时，即使重复重试访问尝试，被 浪费的处理时间结束变长。与此相反，当由于振荡引起访问失败产生时，有一个很好的机 会，即在预定时间之后，访问将变得可能，所以，设定大数目的重试次数是必要的。因此，有 可能清楚地分辨由光盘20的缺陷引起的访问失败和由振荡引起的访问失败，并且按照确 定的失败原因，适当地设置访问重试时间或重试次数。因此，按照失败原因适当地执行错误 处理，同时抑制由于多次重试或尝试而被浪费的处理时间是可能的。
进而，当由于光盘20上的指定地址而使光盘20的缺陷引起访问失败时，如果地址 信息能从光盘20被读取，则访问目的地被改变至与访问失败的地址恰好距离第一地址宽 度的地址。另一方面，如果地址信息不被读取，则调查在光盘20的预定参考位置上访问是 否可能。进而，如果该确定显示在参考位置的访问是可能的，那么访问目的地被改变至恰好 距离访问失败的地址第二地址宽度的地址，该第二地址宽度大于第一地址宽度。
因此，当估计的缺陷等级相对大时，访问目的地被改变至与当估计缺陷等级小时 相比更远的位置，以使访问可以被完成，同时在跳过访问时抑制被浪费的存储区域的增加。
特别的，当写数据被实时传送至光盘20时，如果由于访问失败而使写处理中的延 迟被延长，则FIFO单元2可能溢出，所以，最好尽快重新启动写操作。在这一方面，按照跳至 恰好距离预设的地址宽度的位置的上述方法，与无休止地寻找可访问的地址的方法相比， 能够以更高的速度重新启动写操作，所以，能够有效地避免FIFO单元2的溢出。
第三实施例
对本发明的第三实施例作解释。
第三实施例是有关跟踪错误是否已经变得比预定极限更大的判断的实施例。
图9是有关光盘20中的跟踪错误的判断部分的结构示例。图9和图1中相同的 参考数字表示同一元件。注意，光盘设备的结构除了图9中所示的有关跟踪错误判断的部 分之外的其余部分与图1所示的光盘设备相同。
在图9的示例中，光敏元件9有光学检测器91和92。RF信号处理器10有微分放 大器101。伺服控制器16有判断单元161、162和163。
包含判断单元161、162和163的单元是跟踪错误判断单元的实施例。
光学检测器91和92将从光盘20反射的光束转换成电信号。光学检测器91和 92，例如，如图9所示，被对称地设置在一个平面上。当用激光光束在中心部分撞击信息轨 道时，光学检测器91和92的输出信号的电平变得基本上相等。
微分放大器101放大并输出光学检测器91和92的输出信号电平的差值。微分放 大器101的输出信号TE对应于发射激光光束的位置相对于信息轨道的偏差(跟踪错误)14的检测数值。
当微分放大器101的输出信号TE的等级(即，由微分放大器101检测的跟踪错误 的等级)在时间TA内超过阈值THA时，判断单元161判断跟踪错误的等级已经达到第一错 误判断基准。
当由振荡检测器13所检测的振荡已经变得比预定阈值更大，并且信号TE的等级 在时间TB内超过阈值THB时，判断单元162判断跟踪错误的等级已经达到第二错误判断基 准。然而，阈值THB大于阈值THA，并且时间TB比时间TA更短。
当在判断单元161或162中，跟踪错误的等级达到第一错误判断基准或第二错误 判断基准时，判断单元163输出表示跟踪错误已经变得比某一极限更大(S卩，不良的跟踪控 制已经产生)的信号ERR_T。
根据上述结构，当由振荡检测器13所检测的振荡小于预定的阈值时，判断是否已 经达到第一错误判断基准，当由振荡检测器13所检测的振荡大于预定的阈值时，除该第一 错误判断基准之外，还判断是否已经达到第二错误判断基准。
图10是微分放大器101的输出信号TE在各种情况下的波形示例。
图10(A)示出了信号TE在光盘设备受到强烈震动的情况下的波形。在这种情况 下，信号TE在相当短的时间内产生了大的峰值。
图10⑶示出了信号TE在光盘20有缺陷的情况下的波形。在这种情况下，信号 TE有持续比受到震动的情况更长时间的较低的峰值。
图10(C)示出了信号TE在光盘20有较小缺陷的情况下的波形。在这种情况下， 信号TE有持续比受到震动的情况更短时间的较低的峰值。
在图10㈧和图10⑶中的波形示例所示的情况下，判断跟踪错误是否已超过某 一极限很有必要。在图10(c)的情况下，就是说，光盘20发生较小缺陷的情况下，即使进行 连续访问，也通常没有问题发生，所以最好不去判断跟踪错误是否已经超过预定极限。
然而，在传统的光盘设备中，通常单个判断标准被用于判断跟踪错误是否已经发 生，所以就出现一个问题，即不易于分辨施加强烈震动的情况和小缺陷发生的情况。例如， 在图10的波形示例中，如果仅仅依靠第一判断标准(阈值THA，时间TA)来判断，由于脉冲 宽度t2和t4在图10(A)和图10(C)的情况下很接近，所以分辨两者是很困难的。最近几 年中，随着光盘20的速度更高，小缺陷的脉冲宽度变得更小并且已经接近于强烈震动的脉 冲宽度，所以分辨两者已变得困难。
如果为了使小缺陷的产生不被判断为错误而放宽错误判断基准，当由于强烈震动 而检测到如图10(A)所示的高速信号TE时，错误判断中产生延迟，同时存储内容的重写或 其它问题可能发生。相反，如果错误判断基准过于严格，即便在记录和重现能够被继续的小 缺陷情况下，操作可能被错误判断所中断。
与此相反，根据按照上述本实施例的光盘设备的判断方法，当由振荡检测器13检 测的振荡超过预定阈值或没有超过预定阈值时，使用不同的判断标准。
就是说，当振荡检测器13检测到多于预定数量的振荡时，第一判断标准(阈值 THA，时间TA)和第二判断标准(阈值THB，时间TB)都变得有效，所以除了由光盘20的缺陷 引起的错误(图10(B))之外，可靠地判断由于强烈震动引起的错误(图10(A))变得可能。
另一方面，当振荡检测器13没有检测到多于预定数量的振荡时，只有第一判断标15准(阈值THA，时间TA)变得有效，所以，当微小缺陷发生(图10(C))时，避免错误判断是可 能的。
因此，根据按照上述实施例的光盘设备，通过合理地设定判断标准，如果由于从外 部源给出的振荡而导致的光盘20信息轨道上光束的发射位置的偏移超过预定极限，则提 高判断的精度是可能的。由此，可靠地确定由强烈震动引起的错误是可能的。进而，光盘20 上小缺陷的发生被错误判断为错误的情况被减少，由于错误的判断而导致的记录和重现的 无效中断和不用的存储区域较少。因此，减少存储区域内浪费的信息是可能的。
第四实施例
对本发明的第四实施例作解释。
第四实施例是关于光盘20的旋转速度的控制的实施例。
按照第四实施例的光盘设备，例如，有与图1所示的光盘设备类似的结构。然而， 对于光盘20的旋转速度的控制，系统控制器18执行如下面所说明的控制。
当光拾取器5的发射激光光束的位置是在从光盘20的中心到预定轨道之间的区 域时，系统控制器18指令马达控制器15的旋转速度以使光盘20的旋转速度变为恒定。另 一方面，当发射激光光束的位置是在预定轨道至光盘20的周边之间时，系统控制器18指令 马达控制器15的旋转速度以使发射激光光束的位置以恒定的速度在光盘20的信息轨道上 移动。
由此，当从光盘20的盘心至发射激光光束的位置之间的距离小于预定距离时，以 恒定的旋转速度驱动光盘20。另一方面，当距离盘心的距离大于预定距离时，驱动光盘20 旋转以使发射激光光束的位置在信息轨道上的移动速度变为恒定。
图11示出了距光盘20的中心的距离与光盘20的旋转速度之间关系。
如图11所示，当发射激光光束的位置是在与光盘20的中心相距距离R的范围内 时，通过保持旋转速度恒定，系统控制器18执行以CAV模式访问光盘20的处理。进而，通 过在发射激光光束的位置与光盘20的中心相距R的位置上保持发射激光光束的位置在信 息轨道上的移动速度(线速度)恒定，系统控制器18执行以CLV模式访问光盘20的处理。
进而，当执行上面的操作以便在CAV模式和CLV模式之间转换时，系统控制器18 以CAV模式控制旋转速度或以CLV模式控制线速度。
就是说，当在用于将光盘20的旋转速度控制为恒定的CAV模式下进行操作时，系 统控制器18指令马达控制器15的旋转速度以使主轴马达16的旋转速度变为在主轴马达 16中的旋转速度的预定上限。
当在用于将线速度控制为恒定的CLV模式下进行操作时，系统控制器18指令马达 控制器15的旋转速度以使光拾取器5的输出信号的频率变为在RF信号处理器10中处理 的频率的预定上限。
通常，与CAV模式相比，当沿着信息轨道访问连续区域时，CLV模式更快。因此，当 高速访问连续区域时，CLV模式更加有利。然而，传统的光盘设备或以CLV模式操作，或以 CAV模式操作，所以，主轴马达的旋转速度的性能极限要求牺牲访问速度。
就是说，在CLV模式下，越靠近光盘的内侧，就需要光盘的旋转速度越高，所以，主 轴马达的旋转速度的性能极限导致线速度受限。当以受限的线速度从光拾取器拾取的RF 信号的频率低于RF信号处理电路中可以处理的频率的上限时，不能充分显示原始的访问速度性能。
另一方面，根据按照本实施例的上述光盘设备，在主轴马达的旋转速度到达其极 限的光盘20的内部区域中，CAV模式用于访问，同时在RF信号处理器10的频带达到其极 限的光盘20的外部区域中，CLV模式用于访问。由此，在主轴马达16和RF信号处理器10 的性能极限的范围之内，实现尽可能高的访问速度是可能的。
进而，因为可以从主轴马达16和RF信号处理器10中抽取最高性能，所以能够大 大提高CAV模式的访问速度和CLV模式的数据传递速度。
第五实施例
对本发明的第五实施例作说明。
第五实施例是有关查找速度的提高的实施例。
按照本实施例的光盘设备有着与例如图1所示的光盘设备相似的结构，并且如下 面所说明的访问光盘。
就是说，本实施例中将要被访问的光盘有以螺旋形结构形成的信息轨道。该信息 轨道被分割成多个扇区且为其每一个都分配了地址。在每个扇区中，沿着信息轨道连续记 录重现指定的地址所需的信息。
例如，光盘的这种结构对应于基于被称为“Blu-ray”的标准的光盘。
Blu-ray光盘的信息轨道被分割成被称作“RUB”的64K字节的扇区。一个RUB进 一步被分割成三个扇区。在这三个扇区中，一个地址信息被记录。
通过根据地址信息来调制摆动的周期性形状的方法，在一个扇区中的地址信息沿 着信息轨道被连续地记录。因此，跟踪1个RUB的1/3扇区对于重现一个地址信息很有必 要。
当在这样一个光盘的圆周方向上移动激光光束的发射位置时，普通的光盘设备沿 着信息轨道在一预定方向上移动发射位置。例如，在访问期间，可能使激光光束的发射位置 不在相反方向上移动。
图12是在普通光盘设备中的查找操作示例。
在图12中，符号‘T(n-l)’、‘T(n)’，...表示信息轨道，而符号‘S(i)’， ‘S(i+1)’，...表示划分信息轨道的扇区。进而，符号‘Al’至‘A3’表示信息轨道上的地址。
光盘设备按照轨道!^!!-!)、！^!!)、！^!!+!)，...的顺序，沿着一个方向移动激光光 束的发射位置，
在图12㈧的示例中，地址A2在查找操作前位于轨道T(n-l)上，要被访问的地址 Al位于轨道T(n+1)上。如果执行查找操作，激光光束的发射位置被移至轨道T(η)的地址 A3, T (η)是要被访问的地址Al所在轨道T (η+1)之前的一个轨道。
在普通的光盘设备中，使地址跳至访问地址所在的轨道之前的一个轨道，例如，如 图12(B)所示，有时跳至的地址A3被包含在包括访问地址Al的扇区S(i+1)之前的一个扇 区S(i)中。正如上面所说明的，要重现一个地址信息，跟踪一个扇区很有必要，所以在这种 情况下，当沿着从地址A3至地址Al的方向进行跟踪时，首先被重现的地址信息变为扇区 S(i+1)的地址信息。在获得扇区S(i+1)的地址信息时，光盘设备能够作出判断以确定查找 操作是否已经被正确执行，但是此时，激光光束的发射位置已经过了已访问的地址Al。因 此，从这个位置沿着相反的方向跟踪是不可能的，所以在这种情况下，光盘设备就返回至轨道T(n)，然后再次跟踪信息轨道以尝试访问地址Al。
就是说，在普通的光盘设备中，当执行跟踪操作以获得一个扇区的地址信息时，有 时查找目标地址在被通过时结束。这种情况下有一个问题，即查找操作和跟踪操作将被不 必要地重复。
相反，在本实施例的光盘设备的系统控制器18中，当沿着光盘20的径向朝着访 问地址移动激光光束的发射位置来执行查找操作时，沿径向跳的信息轨道的圈数(轨道数 目)被确定，以便当沿上面的一个方向前进时，查找操作之后激光光束的发射位置被包含 在距访问扇区至少两扇区的扇区中。
例如，如图13所示，查找后的地址A3被包含在含有访问地址Al的扇区S(i+1)之 前两扇区的扇区s(i-l)中。因此，当从查找后的位置执行跟踪操作时，第一个被重现的地 址信息变为扇区s(i)的地址信息。这个地址信息能够在激光光束的发射位置到达访问地 址Al之前被得到。因此，系统控制器18确认查找操作基于所获得的地址信息以正常的方 式被执行，并且能够在没有返回的情况下访问地址Al。
注意，系统控制器18也可以在查找操作之后，执行检测地址信息的读取错误的处 理。就是说，在查找操作结束之后，可以执行跟踪操作，以从读处理器11获得信息轨道上两 个相邻扇区的地址信息，并且根据所获得的两个地址检测地址信息的读取错误。例如，通过 确定所获得的两个地址信息显示的地址是否是连续的，来检测读取错误。
当检测该地址信息的读取错误时，有必要将查找操作之后的激光光束的发射位置 设置到一个比图13 (图14)所示的情况前方更远的扇区上。
就是说，当系统控制器18执行一个查找操作时，沿径向所跳的轨道数目被确定， 以便在查找操作之后激光光束的发射位置被包含在距访问扇区至少三个扇区的扇区中。根 据该结果，激光光束的发射位置被移动，然后系统控制器18执行检测上述地址信息的读取 错误的处理。
例如，如图14所示，查找后的地址A3被包含在含有访问地址Al的扇区S (i+Ι)之 前三扇区的扇区S(i-2)中。如果从查找后的地址A3开始执行跟踪操作，扇区S(i-l)和 S(i)的地址信息能被获得，从而达到地址Al的扇区S(i+1)。因此，系统控制器18基于所 获得的两个地址信息，确认查找操作已经以正常方式被执行，或地址信息的读取错误已经 或没有发生，从而能够在不返回的情况下访问地址Al。
这样，根据按照本实施例的光盘设备，在查找操作之后读取地址信息避免了激光 光束的发射位置在通过访问地址时结束的问题，从而，消除查找操作的无用重复和加速查 找操作是可能的。
第六实施例
对本发明的第六实施例作说明。
图15是按照本发明第六实施例的图像拾取设备的结构方框图。
图15所示的图像拾取设备有图像拾取器100、图像数据处理器200、显示器300、和 光盘设备400。
图像拾取器100拾取移动图像或静止图像并产生图像数据。
图像数据处理器200通过编码、滤波、像素数量变换、或其它预定的图像处理来处 理从图像拾取器100输出的图像数据，并在光盘设备400中记录结果。
进而，从光盘设备400读取的图像数据经过译码、滤波、像素数量变换、或其它预 定的图像处理被处理，以产生提供给显示器300的图像信号。
显示器300显示由图像数据处理器200提供的图像信号。
光盘设备400是第一至第五实施例中的任何一个的光盘设备，并依据图像数据处 理器200的命令记录或重现图像数据。
根据上述结构的图像拾取设备，在光盘设备400中，由于光盘缺陷而引起的访问 失败和由于外部源施加的振荡而引起的访问失败能够被清楚地分辨，并且能够根据失败原 因执行适当的错误处理。因此，能够提高图像数据的记录操作的可靠性。
进而，即使当振荡引起访问失败时，也可以很快地返回记录操作，所以能够有效地 防止实时产生的图像数据的丢失。
因为由强烈振荡引起的不良跟踪控制能够被可靠地检测，所以在这点上，图像数 据的丢失也同样能被阻止。
由于在光盘设备400中，光盘的旋转控制模式被适当地转换，所以图像数据的高 速记录或重现变得可能。
由于在光盘设备400中，不再有查找操作或跟踪操作的无用重复，所以图像数据 的高速记录或重现变得可能。
以上，本发明的几个实施例已作解释，但是本发明不局限于这些实施例，各种更改 皆有可能。
例如，在上述实施例中的处理至少可以通过电脑和程序部分地实现。例如，伺服控 制器或系统控制器可以通过专用电脑来实现或通过相同的电脑来实现。
权利要求
1.一种用于访问光盘上的指定地址的光盘设备，所述光盘设备包括控制器，在访问光盘上一指定地址时、当所述控制器判断是所述光盘的缺陷引起访问 失败时，如果从所述光盘上读取出有关地址的信息，则所述控制器将访问目的地改变至距 离引起失败访问尝试的地址恰好第一地址宽度的地址，否则，如果未读取出有关地址的信 息，则控制器决定在所述光盘的预定参考位置访问是否可能，并且，如果在所述参考位置访 问可能，那么控制器将访问目的地改变至距离引起失败访问尝试的地址恰好第二地址宽度 的地址，所述第二地址宽度大于所述第一地址宽度。
2.如权利要求1所述的光盘设备，其中，如果未读取出有关地址的信息，则在确定所述 预定参考位置之前，所述控制器在从所述未被访问的地址开始的预定地址范围内搜索可读 地址，并且如果所述范围有可读地址，则该控制器将访问目的地改变至所述地址，而如果所 述范围没有可读地址，则该控制器确定所述参考位置。
3.如权利要求1所述的光盘设备，其中，如果访问失败的预定原因在所述光盘的预定 邻近范围内重复出现，则所述控制器在判断在所述访问尝试的重试中所述光盘的缺陷引起 访问失败时，执行重试失败的访问尝试的处理，而当重复该判断超过预定时间或预定次数 时，所述控制器执行访问目的地改变处理。
4.如权利要求3所述的光盘设备，所述光盘设备进一步包括振荡检测器，用来检测在该光盘中出现的振荡，其中，当在所述访问尝试的重试中访问失败的原因在所述预定邻近范围内没有重复出 现且访问失败时由所述振荡检测器检测的振荡超过预定阈值时，所述控制器判断是否是振 荡引起访问失败，而当所述振荡没有超过该预定阈值时，所述控制器判断是否是所述光盘 的缺陷引起访问失败。
全文摘要
提供了一种能够提高访问速度的光盘设备和一种具有这样的光盘设备的图像拾取设备。在主轴马达的旋转速度达到其极限的光盘的内部区域中，将CAV模式用于访问，而在RF信号处理器的频带达到其极限的光盘的外部区域中，将CLV模式用于访问。实现了在主轴马达和RF信号处理器的性能极限范围内的最大程度的高速访问。
文档编号G11B19/04GK102034512SQ20101052694
公开日2011年4月27日 申请日期2005年2月24日 优先权日2004年2月24日
发明者寺田明生, 永友孝志, 田中则夫, 铃木雄一 申请人:索尼株式会社