一种三星2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种三星2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法，采用平推式进入的硬盘安装支架实现了三星硬盘的COM端口自动连接，只需将三星硬盘从硬盘进入口放进平推式导槽中，并推至硬盘安装支架的底部，即可自动实现三星硬盘COM端口与接线面板上COM连接口的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片通过COM连接口与三星硬盘的COM端口连接，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，更方便了用户，大大提高了接线效率，基于上述故障检测设备而采用的检测方法，能快速有效地获取硬盘的信息，进而检测出三星硬盘的故障问题，便于下一步进行深度的维修，检测准确率高，提高检测维修的效率。
【专利说明】一种三星2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及硬盘检测设备及检测方法，尤其是一种三星2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法。
【背景技术】
[0002]每年产生的巨量的电子垃圾中，有近七成的三星硬盘是可以进行回收并循环再生利用的，可是由于很多三星硬盘不通电、电机不转动、磁头撞击、无法就绪、大量坏道、无法读写等故障，特别是新款的三星硬盘有一种常见的故障，通电后无法就绪，一直停留在刚启动电脑的CMOS硬件检测状态或者是有轻微的磁头异响，一般情况下，用户根本无法通过正常的ATA信道口进行操作，都会做废品处理了，然而这是可以进行维修的，只是目前还没有一种很好的工具能对废弃的三星硬盘进行可靠性检测、再生修复，现有的修复过程复杂，再生成本高，进而限制了三星硬盘的回收利用率。由于无法通过ATA信道口读取三星硬盘的数据，因此没有维修基础，但是如果能从硬盘的COM端口中实现三星硬盘的底层通信，获取硬盘的信息进而检测出故障所在，则有可能进行维修。
【发明内容】
[0003]为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种三星2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法，能十分方便地实现硬盘COM的连接，快速准确地检测出硬盘的故障问题，提高维修效率。
[0004]本发明解决其问题所采用的技术方案是:
一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，包括硬盘安装支架和TTL主芯片电路板，所述硬盘安装支架包括硬盘进入口和设置于其两侧用于供三星2.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽，所述硬盘安装支架包括设置于后侧的接线面板，所述接线面板上设置有与三星硬盘COM 口位置相对应的COM连接口，所述COM连接口上设置有分别与三星硬盘COM 口内4根插针对应连接的4个插口，所述TTL主芯片电路板包括TTL主芯片和用于连接PC控制器的USB端口，所述COM连接口内4根插口的输出端与TTL主芯片连接；
所述TTL主芯片包括RXD端口、TXD端口和GND端口，COM连接口左边开始第一、第三、和第四根插口分别为与三星硬盘GND端、RXD端、TXD连接的GND插口、RXD插口和TXD插口，所述TTL主芯片的RXD端口、TXD端口和GND端口分别通过RXD插口、TXD插口和GND插口连接三星硬盘的RXD端、TXD端和GND端，所述PC控制器通过COM连接口与三星2.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器设置COM端口和串口通讯波特率。
[0005]进一步，所述TTL主芯片通过USB端口连接至PC控制器或直接焊接在PC控制器的通信端口上。
[0006]进一步，所述接线面板上还设有与三星硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口和电源插口，所述COM连接口、ATA插口和电源插口位于同一水平线上，接线面板上从左到右依次的排布为COM连接口、ATA插口、电源插口。
[0007]进一步，所述硬盘进入口上设置有朝外侧方向打开的活动门，所述硬盘安装支架的后侧底部上还设置有推杆，所述推杆通过连杆与活动门连接，当活动门打开时，推动连杆向硬盘安装支架后侧方向运动，同时联动使推杆向硬盘进入口方向推动，将硬盘推出硬盘进入口。
[0008]进一步，所述硬盘安装支架的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹。
[0009]进一步,所述硬盘进入口的长为70mm,宽为12mm。
[0010]一种基于上述三星2.5寸硬盘故障检测设备的故障检测方法，包括以下步骤: 步骤A，接收三星硬盘，将三星2.5寸硬盘正面朝上推入平推式导槽中；
步骤B，连接三星硬盘后方的COM端口与接线面板上的COM连接口 ；
步骤C，设置选择COM端口和串口通讯波特率，波特率设置为38400Bps ；
步骤D，PC控制器通过TTL主芯片的RXD端口和TXD端口与三星硬盘进行串口通讯测试；
步骤E，若通过串口通讯测试，则进入步骤F，若串口通讯测试失败，则更换硬盘电路板，重新进行串口通讯测试；
步骤F，串口通讯正常，检查硬盘的各项运行参数是否正常；
步骤G，若硬盘的各项运行参数检查全部通过，则进入步骤H，若其中某一项参数运行不通过，则判断电路固件或磁头存在故障，需要更换；
步骤H，进入盘片检测，全部磁道读取延时都小于50ms，则硬盘检测通过；若存在磁道读取延时大于50ms，则判断存在损坏磁道或危险磁道故障，硬盘测试不通过。
[0011]具体的，步骤C中COM端口的选择范围为COM3至C0M15。
[0012]优选的，所述COM端口设置为COM3。
[0013]上述步骤F和步骤G中，检查硬盘的各项运行参数的过程包括查看硬盘信息检测、查看A表、查看G表、查看P表、查看SMART、磁头检测。
[0014]本发明的有益效果是:本发明采用平推式进入的硬盘安装支架实现了三星2.5寸硬盘的COM端口自动连接，只需将三星2.5寸硬盘从硬盘进入口放进平推式导槽中，并推至硬盘安装支架的底部，即可自动实现三星硬盘COM端口与接线面板上COM连接口的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片通过COM连接口与三星硬盘的COM端口连接，对比现有设备，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，大大提高了接线效率；基于上述故障检测设备而采用的检测方法，能快速有效地获取硬盘的信息，进而检测出三星硬盘的故障问题，便于下一步进行深度的维修，检测准确率高，提高检测维修的效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]下面结合附图和实例对本发明作进一步说明。
[0016]图1是本发明硬盘安装支架的结构示意图；
图2是本发明硬盘安装支架推开三星硬盘时的使用状态示意图；
图3是图1A-A的剖视图；
图4是本发明硬盘安装支架硬盘进入口的结构示意图；
图5是本发明三星硬盘故障检测设备的原理图； 图6是本发明TTL主芯片的接口示意图；
图7是本发明三星2.5寸硬盘的故障检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0017]参照图1-图6，本发明的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，包括硬盘安装支架I和TTL主芯片电路板5，所述硬盘安装支架I包括硬盘进入口 11和设置于其两侧用于供三星硬盘推至后侧底部的平推式导槽12，所述硬盘安装支架I包括设置于后侧的接线面板17，所述接线面板17上设置有与三星硬盘COM端口位置相对应的COM连接口 2，所述COM连接口 2上设置有分别与三星硬盘COM 口内4根插针对应连接的4个插口 21，所述TTL主芯片电路板5包括TTL主芯片51和用于连接PC控制器6的USB端口 52，所述COM连接口 2内4根插口 21的输出端与TTL主芯片51连接，所述PC控制器6通过COM连接口 2与三星2.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器6设置选择COM端口和串口通讯波特率。
[0018]本发明采用平推式进入的硬盘安装支架I实现了三星硬盘的COM端口自动连接，只需将三星硬盘从硬盘进入口 11放进平推式导槽12中，并推至硬盘安装支架I的底部，即可自动实现三星硬盘COM端口与接线面板17上COM连接口 2的连接，无需采用人工进行接线，TTL主芯片51通过COM连接口 2与三星硬盘的COM端口连接，并将串行信号转为USB信号传输至PC控制器6中，通过该连接关系，实现了与三星硬盘的底层通信，以确保三星硬盘能够快速进行故障检测。由于无需人工进行接线，只需将硬盘推入支架即可自动完成接线，对比现有设备，降低了接错线和接触不良的情况出现的几率，更方便了用户，大大提高了接线效率。
[0019]具体地，所述TTL主芯片51包括RXD端口、TXD端口和GND端口，COM连接口 2左边开始第一、第三和第四根插口 21分别为与三星硬盘GND端、RXD端、TXD连接的GND插口24、RXD插口 22和TXD插口 23，所述TTL主芯片51的RXD端口、TXD端口和GND端口分别通过RXD插口 22、TXD插口 23和GND插口 24连接三星硬盘的RXD端、TXD端和GND端，通过RXD、TXD和GND端实现三星硬盘的底层通信。而所述TTL主芯片51通过USB端口 52连接至PC控制器6或直接焊接在PC控制器6的通信端口上，本发明既可以通过普通插接的方式与PC控制器6连接，也可以直接焊接在PC控制器6的通信端口上，前者适用于装配式的设备，后者适用于一体式设备，焊接的连接方式能保证其连接的稳定性。
[0020]另外，所述接线面板17上还设有与三星硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口 3和电源插口 4，所述COM连接口 2、ATA插口 3和电源插口 4位于同一水平线上，接线面板17上从左到右依次的排布为COM连接口 2、ATA插口 3、电源插口 4。接线面板17上设置ATA插口 3和电源插口 4，使用时，将硬盘插入硬盘安装支架I后，即可同时实现硬盘COM端口、ATA接口、电源接口的连接，不需额外进行接线，使用十分方便。
[0021]进一步，所述硬盘进入口 11上设置有朝外侧方向打开的活动门13，所述硬盘安装支架I的后侧底部上还设置有推杆14，所述推杆14通过连杆15与活动门13连接，当活动门13打开时，推动连杆15向硬盘安装支架I后侧方向运动，同时联动使推杆14向硬盘进入口 11方向推动，将硬盘推出硬盘进入口 11。由于设置有活动门13，因此能将硬盘封闭在硬盘安装支架I中，在维修或检测的过程中都不能将硬盘拔出，防止在工作过程出现接触不良或断开连接的意外，极大提高了设备的稳定性。位于硬盘安装支架I的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹16，这样能对进入后硬盘的位置进行固定。
[0022]上述硬盘进入口 11的长为70mm，宽为12mm，使用时，打开硬盘安装支架I的活动门13，将硬盘推入平推式导槽12中，再关上活动门13，将硬盘压向接线面板17，使硬盘上的COM端口与COM连接口 2自动连接，由于通过硬盘安装支架I即可确保三星硬盘的接口接触连接稳固，因此无需再开机箱检查接口是否接触良好。
[0023]应用上述三星硬盘的故障检测设备而采用的一种故障检测方法，包括三星硬盘底层接口设备配套的故障测试软件，通过故障测试软件可以对三星硬盘进行快速检测，参见图7，其具体包括以下步骤，
步骤A，接收三星硬盘，将三星硬盘正面朝上推入平推式导槽12中；
步骤B，连接三星硬盘后方的COM端口与接线面板17上的COM连接口 2 ；
步骤C，设置选择COM端口和串口通讯波特率，波特率设置为38400Bps ；
步骤D，PC控制器6通过TTL主芯片51的RXD端口和TXD端口与三星硬盘进行串口通讯测试；
步骤E，若通过串口通讯测试，则进入步骤F，若串口通讯测试失败，则更换硬盘电路板，重新进行串口通讯测试；
步骤F，串口通讯正常，检查硬盘的各项运行参数是否正常；
步骤G，若硬盘的各项运行参数检查全部通过，则进入步骤H，若其中某一项参数运行不通过，则判断电路固件或磁头存在故障；
步骤H，进入盘片检测，全部磁道读取延时都小于50ms，则硬盘检测通过；若存在磁道读取延时大于50ms，则判断存在损坏磁道或危险磁道故障，硬盘测试不通过。
[0024]具体的，步骤C中COM端口的选择范围为COM3至COMl 5，本实施例中，所述COM端口设置为COM3。
[0025]上述步骤F和步骤G中，检查硬盘的各项运行参数的过程包括查看硬盘信息检测、查看A表、查看G表、查看P表、查看SMART、磁头检测。三星硬盘的特点是有A表，用于临时寄存用户增长坏道表，这个表经常会因为太满溢出而导致不认盘。特别是新款的三星硬盘有一种常见的故障，通电后无法就绪，一直停留在刚启动电脑的CMOS硬件检测状态或者是有轻微的磁头异响，一般情况下，用户根本无法通过正常的ATA信道口进行操作。
[0026]具体检测操作如下:例一，将硬盘插入故障检测设备，在PC控制器6上设置串行通讯端口为COM3，设置串口通讯波特率38400Bps，通电后，打开串口通讯开关，进行通讯，硬盘有反馈信号，确定可以进行通讯，然后查看硬盘信息检测、查看A表、查看G表、查看P表、查看SMART、磁头检测，各项检测全部通过，则进行盘片检测，全部磁道读取速度都小于50ms,硬盘检测通过。
[0027]例二，将硬盘插入故障检测设备，在PC控制器6上设置串行通讯端口为COM3，设置串口通讯波特率38400Bps，通电后，打开串口通讯开关，进行通讯，硬盘有反馈信号，确定可以正常通讯，然后查看硬盘信息检测、查看A表、查看G表、查看P表、查看SMART都正常，磁头检测时发现硬盘有部分磁头不稳定，存在故障，需要更换磁头。
[0028]以上所述，只是本发明的较佳实施例而已，本发明并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本发明的技术效果，都应属于本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:包括硬盘安装支架(I)和TTL主芯片电路板(5 )，所述硬盘安装支架(I)包括硬盘进入口( 11)和设置于其两侧用于供三星2.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽(12)，所述硬盘安装支架(I)包括设置于后侧的接线面板(17)，所述接线面板(17)上设置有与三星硬盘COM 口位置相对应的COM连接口(2)，所述COM连接口(2)上设置有分别与三星硬盘COM 口内4根插针对应连接的4个插口(21)，所述TTL主芯片电路板(5)包括TTL主芯片(51)和用于连接PC控制器(6)的USB端口( 52)，所述COM连接口(2)内4根插口(21)的输出端与TTL主芯片(51)连接，所述TTL主芯片(51)包括RXD端口、TXD端口和GND端口，所述COM连接口(2)左边开始第一、第三和第四根插口(21)分别为与三星硬盘GND端、RXD端、TXD连接的GND插口(24)、RXD插口(22)和TXD插口(23)，所述TTL主芯片(51)的RXD端口、TXD端口和GND端口分别通过RXD插口(22)、TXD插口(23)和GND插口(24)连接三星硬盘的RXD端、TXD端和GND端，所述PC控制器(6)通过COM连接口(2)与三星2.5寸硬盘连接进行串口通讯，并通过PC控制器(6)设置COM端口和串口通讯波特率。
2.根据权利要求1所述的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:所述TTL主芯片(51)通过USB端口( 52)连接至PC控制器(6)或直接焊接在PC控制器(6)的通信端口上。
3.根据权利要求1所述的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:所述接线面板(17)上还设有与三星硬盘ATA端口、电源端口位置相对应ATA插口(3)和电源插口(4)，所述COM连接口(2)、ATA插口(3)和电源插口(4)位于同一水平线上，接线面板(17)上从左到右依次的排布为COM连接口(2)、ATA插口(3)、电源插口(4)。
4.根据权利要求1所述的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:所述硬盘进入口( 11)上设置有朝外侧方向打开的活动门(13 )，所述硬盘安装支架(I)的后侧底部上还设置有推杆(14)，所述推杆(14)通过连杆(15)与活动门(13)连接，当活动门(13)打开时，推动连杆(15)向硬盘安装支架(I)后侧方向运动，同时联动使推杆(14)向硬盘进入口(11)方向推动，将硬盘推出硬盘进入口(11)。
5.根据权利要求1所述的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:所述硬盘安装支架(I)的上侧还设有在放入硬盘时能对硬盘产生向下夹持作用的弹性夹(16)。
6.根据权利要求1所述的一种三星2.5寸硬盘故障检测设备，其特征在于:所述硬盘进入口(11)的长为70mm，宽为12_。
7.一种基于权利要求1至6任一所述的三星2.5寸硬盘故障检测设备的故障检测方法，包括以下步骤: 步骤A，接收三星硬盘，将三星2.5寸硬盘正面朝上推入平推式导槽(12)中； 步骤B，连接三星硬盘后方的COM端口与接线面板(17)上的COM连接口(2); 步骤C，设置选择COM端口和串口通讯波特率，波特率设置为38400Bps ； 步骤D，PC控制器(6)通过TTL主芯片(51)的RXD端口和TXD端口与三星硬盘进行串口通讯测试； 步骤E，若通过串口通讯测试，则进入步骤F，若串口通讯测试失败，则更换硬盘电路板，重新进行串口通讯测试； 步骤F，串口通讯正常，检查硬盘的各项运行参数是否正常； 步骤G，若硬盘的各项运行参数检查全部通过，则进入步骤H，若其中某一项参数运行不通过，则判断电路固件或磁头存在故障； 步骤H，进入盘片检测，全部磁道读取延时都小于50ms，则硬盘检测通过；若存在磁道读取延时大于50ms，则判断存在损坏磁道或危险磁道故障，硬盘测试不通过。
8.根据权利要求7所述的一种三星2.5寸硬盘的故障检测方法，其特征在于:步骤C中COM端口的选择范围为COM3至C0M15。
9.根据权利要求8所述的一种三星2.5寸硬盘的故障检测方法，其特征在于:所述COM端口设置为COM3。
10.根据权利要求7所述的一种三星2.5寸硬盘的故障检测方法，其特征在于:步骤F和步骤G中，检查硬盘的各项运行参数的过程包括查看硬盘信息检测、查看A表、查看G表、查看P表、查看SMART、磁头检测。
【文档编号】G11C29/56GK104464826SQ201410649433
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年11月14日 优先权日:2014年11月14日
【发明者】蔡杨毅, 蔡杰, 莫小丽, 莫奕远, 蔡敏灵 申请人:江门市未来之星网络科技有限公司