一种存储器的干扰死机的测试方法与流程

本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种存储器的干扰死机的测试方法。

背景技术：

睡着人们对智能产品功能需求的不断增强，动态随机存储器逐渐成为系统运行时的存储单元。但是当系统运行的频率越来越高，处理器(cpu)所需的动态随机存储器(ddr)的容量也越来越大，并且ddr的数量也越来越多，因此开发成本也越来越高。

在现有技术中，为了降低开发成本，一些智能设备(例如智能电视机)会采用两层板设计的印刷电路板(pcb)，然而将pcb设计为两层板结构会降低信号的完整性，从而降低ddr信号的稳定性，以及降低智能产品的稳定性，进而增大智能设备受到干扰死机的可能性。并且在研发阶段，智能产品需要经过各种稳定性测试，例如高低温老化煲机测试、电源波动测试、低温存储测试等等，然而在对智能设备进行测试时，容易使得智能设备遇到各种死机问题，因此需要一种可以准确排查死机问题的验证方法。

技术实现要素：

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种旨在准确排查存储器死机问题的存储器的干扰死机的测试方法。

具体技术方案如下：

一种存储器的干扰死机的测试方法，应用于双倍速率同步动态随机存储器，双倍速率同步动态随机存储器设置有多种信号线，其中，测试方法包括以下步骤：

步骤s1，将双倍速率同步动态随机存储器的至少一根信号线进行短路处理；

步骤s2，对双倍速率同步动态随机存储器进行读写操作；

步骤s3，记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，步骤s1具体包括：将每根信号线同时进行短路处理。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，步骤s1具体包括：将每根信号线依次进行短路处理。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，在步骤s3后包括：步骤s4，将测试结果填入一表格中。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，信号线包括地址线、数据线、电源线、时钟信号线、数据选通线、ba0线、列地址信号线、行地址信号线、时钟使能信号线、片内端接信号线片选信号线、复位线、we线和基准电压信号线。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，测试结果包括屏幕显示结果和串口打印提示。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，屏幕显示结果包括画面显示和屏幕变色。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，画面显示包括画面消失、画面静止和画面闪屏。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，屏幕变色后的颜色包括绿色、红色、蓝色、白色和灰色。

优选的，存储器的干扰死机的测试方法，其中，串口打印提示包括串口打印卡死并无报错打印，以及串口打印内核出错并拿不到数据。

上述技术方案具有如下优点或有益效果：通过对双倍速率同步动态随机存储器的信号线进行短路处理，并记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果，从而准确排查存储器死机问题，进而减少排查的成本，并加快研发成本。

附图说明

参考所附附图，以更加充分的描述本发明的实施例。然而，所附附图仅用于说明和阐述，并不构成对本发明范围的限制。

图1为本发明存储器的干扰死机的测试方法实施例的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。

本发明包括一种存储器的干扰死机的测试方法，应用于双倍速率同步动态随机存储器，双倍速率同步动态随机存储器设置有多种信号线，如图1所示，测试方法包括以下步骤：

步骤s1，将双倍速率同步动态随机存储器的至少一根信号线进行短路处理；

步骤s2，对双倍速率同步动态随机存储器进行读写操作；

步骤s3，记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果。

上述技术方案中，通过对双倍速率同步动态随机存储器的信号线进行短路处理，并记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果，从而快速模拟智能设备由于ddr的这种信号线异常或受到干扰导致的这种死机问题，进而准确排查存储器死机问题，以减少排查的成本，并加快研发成本。

进一步地，作为优选的实施方式，步骤s1具体包括：可以将每根信号线同时进行短路处理。

例如，可以在一次排查中，将至少两根信号线同时进行短路处理，并记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每根信号线的每个测试结果，从而加快排查效率。

进一步地，作为优选的实施方式，步骤s1具体包括：将每根信号线依次进行短路处理。

例如，可以在一次排查中，将每根信号线依次进行短路处理，并记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的信号线的每个测试结果，从而使得排查结果更准确。

进一步地，在上述实施例中，在步骤s3后包括：步骤s4，将测试结果填入一表格中。

进一步地，作为优选的实施方式，上述表格可以为电子表格，例如excel表格，上述表格可以以信号线名称、短路方式、屏幕显示结果和串口打印提示作为列，将对应的信息为行填入表格中，方便日后进行排查，无需再次对双倍速率同步动态随机存储器的信号线进行短路处理，只要查询表格即可了解当前智能设备导致死机的干扰结果。

进一步地，作为优选的实施方式，信号线可以包括地址线、数据线、电源线、时钟信号线(clock,clk)、数据选通线(datastrobes,dqs)、分区地址选通线(bankselect,ba)、列地址信号线(columnaddressstrobe,cas)、行地址信号线(rowaddressstrobe,ras)、时钟使能信号线(clockenable,cke)、片内端接信号线(on-dietermination,odt)、片选信号线(chipselect,cs)、复位线(reset,rst)、写使能信号线(writeenable,we)和基准电压信号线(voltagereference,vref)。

可以一次对上述信号线进行短路处理，并对双倍速率同步动态随机存储器进行读写操作，随后记录双倍速率同步动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果，测试结果如下表所示：

可以在研发阶段通过智能设备死机时的死机结果来查询上述表格，从而定位死机问题对应的存在异常或受到干扰的信号线，进而加快研发进度。

进一步地，在上述实施例中，测试结果包括屏幕显示结果和串口打印提示。

其中，屏幕显示结果包括画面显示和屏幕变色。

画面显示包括画面消失、画面静止和画面闪屏。

屏幕变色后的颜色包括绿色、红色、蓝色、白色和灰色。

串口打印提示包括串口打印卡死并无报错打印，以及串口打印内核出错并拿不到数据。

以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。